JPS6273435A - デイスク傾き検出装置 - Google Patents
デイスク傾き検出装置Info
- Publication number
- JPS6273435A JPS6273435A JP21023285A JP21023285A JPS6273435A JP S6273435 A JPS6273435 A JP S6273435A JP 21023285 A JP21023285 A JP 21023285A JP 21023285 A JP21023285 A JP 21023285A JP S6273435 A JPS6273435 A JP S6273435A
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- Japan
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- disc
- tilt
- light
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は、ビデオディスクプレーヤの如き光学式ディス
ク再生装置に係り、特に該再生装置においてディスクの
傾きを検出するためのディスク傾き検出袋ＲＫ関する。
ク再生装置に係り、特に該再生装置においてディスクの
傾きを検出するためのディスク傾き検出袋ＲＫ関する。
ビデオディスクプレーヤなど、光学式ディスク再生装置
において、ディスクの変形などでディスク面と、情報読
取用レーザビームが相対的にある傾斜角を持つ場合があ
る。このまま再生すると、ディスク面における情報トラ
ック間でクロストークが生じるなどの欠陥が表われるた
め、このディスク傾きを検知し、補正を行う機構を設け
ることが必要である。
において、ディスクの変形などでディスク面と、情報読
取用レーザビームが相対的にある傾斜角を持つ場合があ
る。このまま再生すると、ディスク面における情報トラ
ック間でクロストークが生じるなどの欠陥が表われるた
め、このディスク傾きを検知し、補正を行う機構を設け
ることが必要である。
第８図は、実開昭５８−１８３６３９号公報において示
される如き従来の光学式ディスク再生装置におけるプレ
ーヤの構成を示す概要図であり、第９図は、そのピック
アップ部分の拡大側’ｄｌ１図である。
される如き従来の光学式ディスク再生装置におけるプレ
ーヤの構成を示す概要図であり、第９図は、そのピック
アップ部分の拡大側’ｄｌ１図である。
ここで、１はディスク、２はピックアップベース、３は
アクチュエータ、４は対物レンズ、５はディスク傾き検
出系、５Ａは発光素子、５Ｂ１゜５Ｂ２はそれぞれ受光
素子、６はディスクモータ、７はターンテーブル、８は
コンパレータ、である。
アクチュエータ、４は対物レンズ、５はディスク傾き検
出系、５Ａは発光素子、５Ｂ１゜５Ｂ２はそれぞれ受光
素子、６はディスクモータ、７はターンテーブル、８は
コンパレータ、である。
さてディスク傾き検出系５において、発光素子５Ａより
出た光は、ディスク１０面で反射し、２分割された受光
素子５Ｂ１．５８２に入る。こ、二でディスク１が傾い
た場合、それぞれの受光素子５Ｂ１．５８２に入る光量
が変化するため、両光に！全比較しているコンパレータ
８からの出力信号が変化し、そのことによりディスクの
傾き量全検出することができる。
出た光は、ディスク１０面で反射し、２分割された受光
素子５Ｂ１．５８２に入る。こ、二でディスク１が傾い
た場合、それぞれの受光素子５Ｂ１．５８２に入る光量
が変化するため、両光に！全比較しているコンパレータ
８からの出力信号が変化し、そのことによりディスクの
傾き量全検出することができる。
さらに別の補正機構（図示せず）でディスクの傾き量を
補正することＫより、ディスクｌの面と、対物レンズ４
から出たレーザビームを常に直角に保つことができる。
補正することＫより、ディスクｌの面と、対物レンズ４
から出たレーザビームを常に直角に保つことができる。
以上のように、従来の装置では、ディスク傾きｆｆ１ｔ
−容易に検知できるが、受光素子が２分割された別々の
ものであるため、素子間に若干の特性の相違があると、
傾き量の正蓚な検出が困難になる。
−容易に検知できるが、受光素子が２分割された別々の
ものであるため、素子間に若干の特性の相違があると、
傾き量の正蓚な検出が困難になる。
ディスク変形の検出蓋としてはきわめて微景（Ｏｒ程程
度なものが要求されるため、たとえば経時変化（受光素
子は経時変化？起こしゃすい）で相互の特性が変化した
場合などでは、傾き針の正確な検出が困難となり、従っ
てその補正も出来なくなるから正常な機能維持が困難で
ある。
度なものが要求されるため、たとえば経時変化（受光素
子は経時変化？起こしゃすい）で相互の特性が変化した
場合などでは、傾き針の正確な検出が困難となり、従っ
てその補正も出来なくなるから正常な機能維持が困難で
ある。
本発明の目的は、素子の経時変化の影響を受けずに、長
期的【常に安定的に、ディスクの傾き量を検出すること
のできるディスク傾き検出装置を提供することにある。
期的【常に安定的に、ディスクの傾き量を検出すること
のできるディスク傾き検出装置を提供することにある。
そこで本発明においては、受光素子を、−個の位置検出
半導体素子とし、発光素子と受光素子の間にレンズなど
を組み込み、位置検出半導体素子上にスポットを結ぶよ
うにする。ディスクが傾いた場合、スポット位置が同じ
位置検出半導体素子上で変化するため、傾き量を容易に
出力信号として取り出すことができる。この場合、受光
素子が一個であるため、従来問題となった２個の素子間
の特性の相違による誤検出などの問題がなく、常に安定
にディスクの傾き量を検出することができる。
半導体素子とし、発光素子と受光素子の間にレンズなど
を組み込み、位置検出半導体素子上にスポットを結ぶよ
うにする。ディスクが傾いた場合、スポット位置が同じ
位置検出半導体素子上で変化するため、傾き量を容易に
出力信号として取り出すことができる。この場合、受光
素子が一個であるため、従来問題となった２個の素子間
の特性の相違による誤検出などの問題がなく、常に安定
にディスクの傾き量を検出することができる。
以下、本発明の一実施例を図を＃照して説明する。
第１図は、本発明の一実施例を含むディスクプレーヤ全
体の構成１示す斜視図である。ここで、１はディスク、
２はピックアップベース、３はアクチュエータ、４は対
物レンズ、５はディスク傾き検出系、６はディスクモー
タ、７Ｖｉターンテーブル、９は検出回路である。
体の構成１示す斜視図である。ここで、１はディスク、
２はピックアップベース、３はアクチュエータ、４は対
物レンズ、５はディスク傾き検出系、６はディスクモー
タ、７Ｖｉターンテーブル、９は検出回路である。
次番′こ、第２図は＠１図におけるピックアップ部の上
面図、第３図は第２図において矢印Ｘ−Ｘ方向より見た
側面図である。ここで５Ａは発光素子、５Ｃけ位置検出
半導体素子、５Ｄはレンズである。
面図、第３図は第２図において矢印Ｘ−Ｘ方向より見た
側面図である。ここで５Ａは発光素子、５Ｃけ位置検出
半導体素子、５Ｄはレンズである。
レンズ５Ｄは、必要に応じて１個または′ｆＭ数設置さ
れるもので発光素子５Ａから出た光が、ディスク１で反
射し、位置検出半導体素子５Ｃ上でスポットを結ぶよう
に機能するものである。
れるもので発光素子５Ａから出た光が、ディスク１で反
射し、位置検出半導体素子５Ｃ上でスポットを結ぶよう
に機能するものである。
次に第４図は、第２図において矢印Ｙ−Ｙ方向より見た
側面図である。ここで、ディスク１が変形し、Δθ１だ
け角度が傾いた場合、発光素子５人から出た光は、ディ
スク１で反射する際、２Δθｌの角度で反射し、位置検
出半導体素子５Ｃ上のスポットの照射位置が変化する。
側面図である。ここで、ディスク１が変形し、Δθ１だ
け角度が傾いた場合、発光素子５人から出た光は、ディ
スク１で反射する際、２Δθｌの角度で反射し、位置検
出半導体素子５Ｃ上のスポットの照射位置が変化する。
第５図は、この状態を上部から見た図で、スポット光５
Ｅがディスクが傾くに従って、位置検出半導体素子５Ｃ
上の照射位置（Ｘｌ）が変化する様子を示すものである
。
Ｅがディスクが傾くに従って、位置検出半導体素子５Ｃ
上の照射位置（Ｘｌ）が変化する様子を示すものである
。
次に位置検出半導体素子の動作原理を第６図および第７
図を用いて説明する。
図を用いて説明する。
位置検出半導体素子とは、高比抵抗ｎ層（ｉ／Ｉ）の表
面に高比抵抗の１層を、裏面にｎ層層を配した構造にな
っており、ｐｎ接合のラテラル・茶ホトエフェクト（Ｌ
ａｔｅｒａｌ Ｐｈｏｔｏｅｆｆｅｃｔ ） ＠利用シ
タ光点位置検出受光素子であり、その断面構造は第６図
に示す通りである。
面に高比抵抗の１層を、裏面にｎ層層を配した構造にな
っており、ｐｎ接合のラテラル・茶ホトエフェクト（Ｌ
ａｔｅｒａｌ Ｐｈｏｔｏｅｆｆｅｃｔ ） ＠利用シ
タ光点位置検出受光素子であり、その断面構造は第６図
に示す通りである。
ここで、光スポットの入射Φにより半導体内に発生した
キャリアは、空乏層内の電界でドリフトされ、正孔はｐ
層へ、電子はｎ層へ達する。ｐ層に注入された正孔は抵
抗几ｌおよび几２を流れる成分に分割され、電流’Ａ
ｅ ＩＢとして電極Ａ、Ｂより取り出される。
キャリアは、空乏層内の電界でドリフトされ、正孔はｐ
層へ、電子はｎ層へ達する。ｐ層に注入された正孔は抵
抗几ｌおよび几２を流れる成分に分割され、電流’Ａ
ｅ ＩＢとして電極Ａ、Ｂより取り出される。
電極Ａ、Ｂ間の距離を！、抵抗を几ｐ、Ｑ点での光生成
電流を特徴とする特許 ＩＡ＝（（助＋ｌ１％Ｌ ）／（Ｒｐ＋２ ａＬ月ＸＩ
Ｏ・・・・・・（１）Ｉｎ＝（（凡１＋ ”Ｌ ）／（
Ｒｐ＋ ２几り月ｘ１．） ・・−（２）Ｉｏ−Ｚ。
電流を特徴とする特許 ＩＡ＝（（助＋ｌ１％Ｌ ）／（Ｒｐ＋２ ａＬ月ＸＩ
Ｏ・・・・・・（１）Ｉｎ＝（（凡１＋ ”Ｌ ）／（
Ｒｐ＋ ２几り月ｘ１．） ・・−（２）Ｉｏ−Ｚ。
＋ＩＢ ・・・・・・
（３）また、抵抗” １ ＋ Ｒ２はＱ点から電極Ａ、
Ｂまでの距離に比例し、次式で表わされる０ Ｒ１＝（卯／２）Ｘ（１＋（２／／）Ｘ２）
・・・・・・（４）Ｒｚ＝（都／２ ）Ｘ （１−（２
／／ ）Ｘ２ ） ・・・・・・（５）実際には
、光源５Ａと位置検出半導体素子５Ｃとの距離は常に変
動しているため、入射光のエネルギーは常に変化してい
る。この影響を除くため、各々の出力電流を入射エネル
ギーで正規化し、出力電流の差と和の比を位置信号とす
る。上記（１）〜（５）式より（６）式が得られる。
（３）また、抵抗” １ ＋ Ｒ２はＱ点から電極Ａ、
Ｂまでの距離に比例し、次式で表わされる０ Ｒ１＝（卯／２）Ｘ（１＋（２／／）Ｘ２）
・・・・・・（４）Ｒｚ＝（都／２ ）Ｘ （１−（２
／／ ）Ｘ２ ） ・・・・・・（５）実際には
、光源５Ａと位置検出半導体素子５Ｃとの距離は常に変
動しているため、入射光のエネルギーは常に変化してい
る。この影響を除くため、各々の出力電流を入射エネル
ギーで正規化し、出力電流の差と和の比を位置信号とす
る。上記（１）〜（５）式より（６）式が得られる。
（ＩＢ−ＩＡ）／（ｆＢ＋ＩＡ）−（凡ｐ／（Ｒｐ＋２
几Ｌ）Ｘ（２／Ａり・Ｘ）・・・・・・（６） （６）式を演算することにより、入射光強度に依存せず
に光点位ｔｔを求めることができる。
几Ｌ）Ｘ（２／Ａり・Ｘ）・・・・・・（６） （６）式を演算することにより、入射光強度に依存せず
に光点位ｔｔを求めることができる。
第７図は、出力ｔ？１ｆＪｏ差と、スポット光の照射位
置を示す特性図で、出力電流を計ることにより照射位置
さらには、ディスクの傾き角度を知ることができる。
置を示す特性図で、出力電流を計ることにより照射位置
さらには、ディスクの傾き角度を知ることができる。
ここで位置分解能は多少の変化はあるが、光電流３μ人
のとき１／４０００程度である。これを角度変化で表わ
すとｏ、ｏｏｉ〜０．００４°程度となり、十分な分解
能を持つ。
のとき１／４０００程度である。これを角度変化で表わ
すとｏ、ｏｏｉ〜０．００４°程度となり、十分な分解
能を持つ。
以上でディスクの傾き角度を知ることができるが、さら
に別途補正機構（図示せず）により傾き量を補正するこ
とにより、ディスク１０面と、対物レンズ４から出たレ
ーザビームを常に直角に保つことができる。
に別途補正機構（図示せず）により傾き量を補正するこ
とにより、ディスク１０面と、対物レンズ４から出たレ
ーザビームを常に直角に保つことができる。
本発明の特徴は、ディスクの傾き角度を、−個の位置検
出半導体素子上の照射スポットの位置変化で検出するこ
とＫあり、従来２個の受光素子間の光量変化で検出して
いた場合に問題となった５７２個の素子間の特性の相違
による誤検出などの問題がなく、常に安定にディスクの
傾き量を検出することができる。
出半導体素子上の照射スポットの位置変化で検出するこ
とＫあり、従来２個の受光素子間の光量変化で検出して
いた場合に問題となった５７２個の素子間の特性の相違
による誤検出などの問題がなく、常に安定にディスクの
傾き量を検出することができる。
なお本例では、発光素子５Ａの光を絞り込み、スポット
光とするためレンズを用いたが、レンズの代りに、スリ
ットを用いる方法、あるいは、発光素子のみでスポット
光を得られるものでは、レンズ、スリット等を用いなく
とも、同様の効果を得ることができる。
光とするためレンズを用いたが、レンズの代りに、スリ
ットを用いる方法、あるいは、発光素子のみでスポット
光を得られるものでは、レンズ、スリット等を用いなく
とも、同様の効果を得ることができる。
本発明によれば、受光素子が一個であるため、従来問題
となった２個の素子間の特性の相違による誤検出などの
問題がなく、常に安定にディスクの傾き量を検出するこ
とができる、という効果がある。
となった２個の素子間の特性の相違による誤検出などの
問題がなく、常に安定にディスクの傾き量を検出するこ
とができる、という効果がある。
【図面の簡単な説明】
第１図は、本発明の一実施例を含むディスクプレーヤ全
体の構成を示す斜視図、第２図は第１図におけるピック
アップ部の上面図、第３図は第２図における矢印Ｘ−Ｘ
方向から見た側面図、第４図は第２図において矢印Ｙ−
Ｙ方向から見た側面図、第５図は第４図における検出系
の上面図、第６図は第５図における位置検出半導体素子
の構造を示す断面図、第７図は同特性図、＠８図は従来
のプレーヤの構成を示す概要図、第９図は第８図のピッ
クアップ部分の拡大側面図、である。 符号の説明 １・・・・・・ディスク、２・・・・・・ピックアップ
ベース、３・・・・・・アクチュエータ、４・・−・・
対物レンズ、５・・・・・・ディスク傾き検出系、５Ａ
・・・・・・発光素子、５Ｂ１．５Ｂ２・・・・・・受
光素子、５Ｃ・・・・・・位置検出半導体素子、５Ｄ・
・・・・・レンズ、５ｇ・・・・・・スポット光、６・
・・・・・ディスクモータ、７・・・・・・ターンテー
ブル、８・・・・・・コンパレータ、９・・・・・・検
出回路代理人 弁理士 並 木 昭 夫 第 １２ １ ティスフ 冨 ２ 図 第 ３ 図 ５Ｃ１江ｌ（すホ手４不紮） ＝Ｘ４図 ５Ａ間′Ｌ紮） ′ｇ５図 −〇 ＋ ５Ａ尤：原 ＩＦ５ の 貢 ７ 図 化１′姿工）
体の構成を示す斜視図、第２図は第１図におけるピック
アップ部の上面図、第３図は第２図における矢印Ｘ−Ｘ
方向から見た側面図、第４図は第２図において矢印Ｙ−
Ｙ方向から見た側面図、第５図は第４図における検出系
の上面図、第６図は第５図における位置検出半導体素子
の構造を示す断面図、第７図は同特性図、＠８図は従来
のプレーヤの構成を示す概要図、第９図は第８図のピッ
クアップ部分の拡大側面図、である。 符号の説明 １・・・・・・ディスク、２・・・・・・ピックアップ
ベース、３・・・・・・アクチュエータ、４・・−・・
対物レンズ、５・・・・・・ディスク傾き検出系、５Ａ
・・・・・・発光素子、５Ｂ１．５Ｂ２・・・・・・受
光素子、５Ｃ・・・・・・位置検出半導体素子、５Ｄ・
・・・・・レンズ、５ｇ・・・・・・スポット光、６・
・・・・・ディスクモータ、７・・・・・・ターンテー
ブル、８・・・・・・コンパレータ、９・・・・・・検
出回路代理人 弁理士 並 木 昭 夫 第 １２ １ ティスフ 冨 ２ 図 第 ３ 図 ５Ｃ１江ｌ（すホ手４不紮） ＝Ｘ４図 ５Ａ間′Ｌ紮） ′ｇ５図 −〇 ＋ ５Ａ尤：原 ＩＦ５ の 貢 ７ 図 化１′姿工）
Claims (1)
- １）ディスク面に対してスポット光を照射する手段と、
照射された該スポット光のディスク面からの反射スポッ
ト光を受光する単一の半導体素子と、ディスク面がそれ
までの位置から傾いたとき、反射スポット光の前記半導
体素子上における受光位置の変化分を検出する手段と、
から成り、検出された前記変化分から前記ディスクの傾
きを検出するようにしたことを特徴とするディスク傾き
検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21023285A JPS6273435A (ja) | 1985-09-25 | 1985-09-25 | デイスク傾き検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21023285A JPS6273435A (ja) | 1985-09-25 | 1985-09-25 | デイスク傾き検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6273435A true JPS6273435A (ja) | 1987-04-04 |
Family
ID=16585970
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP21023285A Pending JPS6273435A (ja) | 1985-09-25 | 1985-09-25 | デイスク傾き検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6273435A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5218597A (en) * | 1991-07-23 | 1993-06-08 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Optical reading and writing device |
| JPH0714988U (ja) * | 1993-08-19 | 1995-03-14 | 日高 和子 | 洗面台、洗濯機一体化装置 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS605431A (ja) * | 1983-06-21 | 1985-01-12 | Toshiba Corp | 情報記録媒体の傾き検出方式 |
-
1985
- 1985-09-25 JP JP21023285A patent/JPS6273435A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS605431A (ja) * | 1983-06-21 | 1985-01-12 | Toshiba Corp | 情報記録媒体の傾き検出方式 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5218597A (en) * | 1991-07-23 | 1993-06-08 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Optical reading and writing device |
| JPH0714988U (ja) * | 1993-08-19 | 1995-03-14 | 日高 和子 | 洗面台、洗濯機一体化装置 |
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