JPS6276249A - 荷電粒子エネルギ−分析装置 - Google Patents
荷電粒子エネルギ−分析装置Info
- Publication number
- JPS6276249A JPS6276249A JP60218462A JP21846285A JPS6276249A JP S6276249 A JPS6276249 A JP S6276249A JP 60218462 A JP60218462 A JP 60218462A JP 21846285 A JP21846285 A JP 21846285A JP S6276249 A JPS6276249 A JP S6276249A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- hole
- energy analyzer
- sample
- hemisphere
- charged particle
- Prior art date
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- Pending
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- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は表面分析の分野において、電子やイオンの粒子
エネルギーを測定するエネルギー分析装置に関するもの
である。
エネルギーを測定するエネルギー分析装置に関するもの
である。
このようなエネルギー分析装置は、X線励起によって物
質表面から放出された光電子を分析するX線光電子分光
装置(ESCA、XPS’)を初め、オージェ電子分光
装置(AES)、二次イオン質量分析装置(S I M
S)などにおいて使用されている。
質表面から放出された光電子を分析するX線光電子分光
装置(ESCA、XPS’)を初め、オージェ電子分光
装置(AES)、二次イオン質量分析装置(S I M
S)などにおいて使用されている。
(従来の技術)
従来のエネルギーアナライザの1種である静電球面形エ
ネルギーアナライザでは、第6図に示されるように、通
常はエネルギーアナライザ2の前段に収束レンズ系4を
必要とする。第6図はX線光電子分光装置に用いられる
場合を例示している。
ネルギーアナライザでは、第6図に示されるように、通
常はエネルギーアナライザ2の前段に収束レンズ系4を
必要とする。第6図はX線光電子分光装置に用いられる
場合を例示している。
6はX線源、8は試料、10は入口スリット、12は出
口スリット、14は検出器である。
口スリット、14は検出器である。
このような静電球面形エネルギーアナライザの1つの利
点は三次元立体収束性をもつことである。
点は三次元立体収束性をもつことである。
すなわち、入口スリット10から入射した電子(X線光
電子分光の場合は電子であるが、他の場合にはイオンの
こともある)は、紙面内のθの広がりを持つものだけで
はなく、紙面に垂直の方向においては180°近く広が
って入射した電子も収集可能である。
電子分光の場合は電子であるが、他の場合にはイオンの
こともある)は、紙面内のθの広がりを持つものだけで
はなく、紙面に垂直の方向においては180°近く広が
って入射した電子も収集可能である。
(発明が解決しようとする問題点)
しかし、前述したようにレンズ系4があるため、紙面に
垂直な方向でも角度θの範囲の電子しか入射させること
しかできず、強度的には数分の−から十分の一程度とな
っており、効率よく電子を利用していない。
垂直な方向でも角度θの範囲の電子しか入射させること
しかできず、強度的には数分の−から十分の一程度とな
っており、効率よく電子を利用していない。
収束レンズ系4はまた、電子などの粒子のエネルギーに
対する感度変化の問題を発生する。レンズ系4による感
度のエネルギー依存性は第5図の破線の曲線16で示さ
れるようになり、特に低エネルギー電子の通過特性は極
めて悪い。これは定量性に大きな影響を与える。
対する感度変化の問題を発生する。レンズ系4による感
度のエネルギー依存性は第5図の破線の曲線16で示さ
れるようになり、特に低エネルギー電子の通過特性は極
めて悪い。これは定量性に大きな影響を与える。
本発明は、レンズ系のないエネルギーアナライザにより
試料から放出された電子を有効に利用し感度を向上させ
ること、及び電子などの粒子のエネルギーに対する感度
変化をなくすことを目的とするものである。
試料から放出された電子を有効に利用し感度を向上させ
ること、及び電子などの粒子のエネルギーに対する感度
変化をなくすことを目的とするものである。
(問題点を解決するための手段)
一実施例を示す第1図を参照して説明すると、本発明の
エネルギー分析装置では、静電球面形エネルギーアナラ
イザ(20)の外球面(22a)をもつ外半球(20a
>の先端を内球面(22b)をもつ内半球(20b)の
先端よりも球の反射側に延ばし、外半球(20a)の一
部に線源(6)を取りつける穴(22)を設け、その穴
(22)の軸とエネルギーアナライザ(20)の軌道中
心が交わる位置に分析試料(8)を置けるようにすると
ともに、出口スリット(12)を分析試料(8)の位置
と180度反対側の軌道中心上に位置決めしている。
エネルギー分析装置では、静電球面形エネルギーアナラ
イザ(20)の外球面(22a)をもつ外半球(20a
>の先端を内球面(22b)をもつ内半球(20b)の
先端よりも球の反射側に延ばし、外半球(20a)の一
部に線源(6)を取りつける穴(22)を設け、その穴
(22)の軸とエネルギーアナライザ(20)の軌道中
心が交わる位置に分析試料(8)を置けるようにすると
ともに、出口スリット(12)を分析試料(8)の位置
と180度反対側の軌道中心上に位置決めしている。
(作用)
外半球(20a)の先端を内半球(20b)の先端より
球の反対側に延ばしたのは曲率中心(0)を通る面内付
近に置かれた試料に線源をできるだけ近づけ、試料面上
での照射輝度を高め感度を上げるためである。これによ
り第6図のような構造よりも機械的設計が楽になる。
球の反対側に延ばしたのは曲率中心(0)を通る面内付
近に置かれた試料に線源をできるだけ近づけ、試料面上
での照射輝度を高め感度を上げるためである。これによ
り第6図のような構造よりも機械的設計が楽になる。
試料(8)から放出された荷電粒子は、紙面内の広がり
0分だけではなく、紙面に垂直な面内では180°近い
広がりのものが検出器(14)に入り、第6図にような
従来のものと比較すると感度が向上する。
0分だけではなく、紙面に垂直な面内では180°近い
広がりのものが検出器(14)に入り、第6図にような
従来のものと比較すると感度が向上する。
また、試料(8)とエネルギーアナライザ(20)の間
に収束レンズ系を設けない。そのため感度のエネルギー
特性は第5図の実線18で示されるような平坦なものと
なる。
に収束レンズ系を設けない。そのため感度のエネルギー
特性は第5図の実線18で示されるような平坦なものと
なる。
(実施例)
第1図は本発明をX線光電子分光装置に適用した例を表
わす。
わす。
20は静電球面形エネルギーアナライザであり、外球面
22aをもつ外半球20aと、内球面22bをもつ内半
球20bとから構成されている。外半球20aの先端は
、球面22a、22bの曲率中心0を含む平面(内半球
20bの端面)より球の反対側(図では下側)に延びて
いる。
22aをもつ外半球20aと、内球面22bをもつ内半
球20bとから構成されている。外半球20aの先端は
、球面22a、22bの曲率中心0を含む平面(内半球
20bの端面)より球の反対側(図では下側)に延びて
いる。
外半球20aの先端部分には線源を挿入できるだけの丸
い穴24があけられ、その穴24には線源の一例として
X線銃6が挿入されている。
い穴24があけられ、その穴24には線源の一例として
X線銃6が挿入されている。
試料8は、このエネルギーアナライザ2oの軌道中心と
穴24の中心軸とが交わる位置に置かれる。10は入口
スリット、12は出口スリット、14は検出器としての
チャンネルトロンである。
穴24の中心軸とが交わる位置に置かれる。10は入口
スリット、12は出口スリット、14は検出器としての
チャンネルトロンである。
第2図にこのエネルギーアナライザ2oの入口部分が拡
大して示されている。穴24をあけることによって引き
起されるエネルギーアナライザ内部の電界の乱れを防ぐ
ために、穴24にはグリッド26の張られた円板28が
取りつけられ、外球面22a1円板28の枠及びグリッ
ド26が同−球面内にあるように設計されている。
大して示されている。穴24をあけることによって引き
起されるエネルギーアナライザ内部の電界の乱れを防ぐ
ために、穴24にはグリッド26の張られた円板28が
取りつけられ、外球面22a1円板28の枠及びグリッ
ド26が同−球面内にあるように設計されている。
なお、穴24に挿入される線源がX線銃である場合には
、グリッド26に代えて、アルミニウム箔のようなX線
窓を設けてもよい。また、後述の第4図に示されるよう
に、励起線の通過する穴24aを線源が挿入される穴2
4より小さくして、数mm以内程度にできる場合は、そ
の穴24aにはグリッドなどを設けなくてもよい。
、グリッド26に代えて、アルミニウム箔のようなX線
窓を設けてもよい。また、後述の第4図に示されるよう
に、励起線の通過する穴24aを線源が挿入される穴2
4より小さくして、数mm以内程度にできる場合は、そ
の穴24aにはグリッドなどを設けなくてもよい。
第3図は他の実施例を表わす。第4図は第3図のx−y
線断面図である。
線断面図である。
外半球20aには線源を挿入する穴24が、4個あけら
れ、各穴24には線源30,32,34゜36が挿入さ
れている。A−Dは試料8が線源30.32,34.3
6により励起される位置を表わしている。試料励起位置
A−Dと180度反対側の軌道中心37上の位置a−d
にはそれぞれ出口スリット12が設けられている。出口
スリット12に続いて所定の検出器又は次段の分光手段
が設けられる。
れ、各穴24には線源30,32,34゜36が挿入さ
れている。A−Dは試料8が線源30.32,34.3
6により励起される位置を表わしている。試料励起位置
A−Dと180度反対側の軌道中心37上の位置a−d
にはそれぞれ出口スリット12が設けられている。出口
スリット12に続いて所定の検出器又は次段の分光手段
が設けられる。
第4図は二次イオン質量分析装置の例であり、線源30
としてイオン銃を使用し、出口スリット12に続いて四
重極質量分析計38及び検出器としてのチャネルトロン
40が設けられている。
としてイオン銃を使用し、出口スリット12に続いて四
重極質量分析計38及び検出器としてのチャネルトロン
40が設けられている。
試料8は分析手段に応じて簡単に移動できるように曲率
中心0を中心として回転する回転板42上に保持されて
いる。
中心0を中心として回転する回転板42上に保持されて
いる。
静電球面形エネルギーアナライザは三次元立体収束性を
有する。すなわち、第4図に示される入口スリット10
及び曲率中心Oを通る面内の軌道中心から出た粒子はど
の向きであっても曲率中心0を中心とする点対称の位置
に収差なく収束する(ただしエネルギーアナライザ20
に所定の電圧がかかっているものとし、また端面効果を
除く)。
有する。すなわち、第4図に示される入口スリット10
及び曲率中心Oを通る面内の軌道中心から出た粒子はど
の向きであっても曲率中心0を中心とする点対称の位置
に収差なく収束する(ただしエネルギーアナライザ20
に所定の電圧がかかっているものとし、また端面効果を
除く)。
したがって、第3図に示されるように4つの線源30.
32,34.36で励起され、A、B、C。
32,34.36で励起され、A、B、C。
Dから出た粒子はそれぞれに対応する点at bjC,
dへ収束する。このように、複数の線源と複数の検出器
を同時に取りつけても相互的な影響はなく、個々の分析
手段を実現させることができる。
dへ収束する。このように、複数の線源と複数の検出器
を同時に取りつけても相互的な影響はなく、個々の分析
手段を実現させることができる。
静電球面形エネルギーアナライザの軌道半径は通常10
0mm前後であり、その場合第3図のようなものは十分
実現する。軌道半径を200mm程度にすればこの2倍
程度の線源と検出器等を十分取りつけることができる。
0mm前後であり、その場合第3図のようなものは十分
実現する。軌道半径を200mm程度にすればこの2倍
程度の線源と検出器等を十分取りつけることができる。
線gA−Dをそれぞれイオン銃、X線銃、電子銃、紫外
線銃とすれば、二次イオン質量分析装置、X線光電子分
光装置、オージェ電子分光装置及び真空紫外光電子分光
装置(UPS)を備えた複合表面分析装置が実現できる
。
線銃とすれば、二次イオン質量分析装置、X線光電子分
光装置、オージェ電子分光装置及び真空紫外光電子分光
装置(UPS)を備えた複合表面分析装置が実現できる
。
従来のエネルギーアナライザは荷電粒子の入射孔は1つ
でそれに対応する射出孔も1つであった。
でそれに対応する射出孔も1つであった。
特に表面分析の分野では1つの分析試料に対して多くの
分析手段(例えば二次イオン質量分析、X線光電子分光
、オージェ電子分光、イオン散乱スペクトルなど)を駆
使しなければいけない場合が多い。そのような要求を1
台の装置で満足させるには、高価なアナライザを多数個
必要とし、高価になると同時に、種々の制限事項のため
性能も不十分なものとなった。
分析手段(例えば二次イオン質量分析、X線光電子分光
、オージェ電子分光、イオン散乱スペクトルなど)を駆
使しなければいけない場合が多い。そのような要求を1
台の装置で満足させるには、高価なアナライザを多数個
必要とし、高価になると同時に、種々の制限事項のため
性能も不十分なものとなった。
本実施例によれば、多くの分析手法が同一エネルギーア
ナライザで実現され、高性能でコンパクトになり、コス
ト低下を実現できる。また分析手法の切替えによる測定
が容易である。
ナライザで実現され、高性能でコンパクトになり、コス
ト低下を実現できる。また分析手法の切替えによる測定
が容易である。
(発明の効果)
本発明は静電球面形エネルギーアナライザの外半球に穴
をあけて線源を挿入し、試料を励起するようにしたので
、試料と入口スリットの間にレンズ系を設ける必要がな
くなる。その結果1次のような効果を達成することがで
きる。
をあけて線源を挿入し、試料を励起するようにしたので
、試料と入口スリットの間にレンズ系を設ける必要がな
くなる。その結果1次のような効果を達成することがで
きる。
(1)レンズによる感度低下を含めると、約10倍の感
度向上が可能である。
度向上が可能である。
(2)エネルギーに対する感度変化がほとんどないから
、・定量分析精度が向上する。
、・定量分析精度が向上する。
第1図は本発明の一実施例を示す断面図、第2図は第1
図の入口部分の拡大断面図、第3図は他の実施例を示す
平面図、第4図は第3のX−Y線断面図、第5図はレン
ズ系を備えた場合と備えない場合の感度のエネルギー依
存性を示す図、第6図は従来のエネルギー分析装置を示
す断面図である。 6.30,32,34.36・・・・・・線源、8・・
・・・試料、 10・・・・・・入口スリット、 12・・・・・・出口スリット。 20・・・・・・静電球面形エネルギーアナライザ、2
0a・・・・・・外半球、 20b・・・・・内半球、 22a・・・・・・外球面、 22b・・・・・・内球面、 24・・・・・・線源挿入用の穴。
図の入口部分の拡大断面図、第3図は他の実施例を示す
平面図、第4図は第3のX−Y線断面図、第5図はレン
ズ系を備えた場合と備えない場合の感度のエネルギー依
存性を示す図、第6図は従来のエネルギー分析装置を示
す断面図である。 6.30,32,34.36・・・・・・線源、8・・
・・・試料、 10・・・・・・入口スリット、 12・・・・・・出口スリット。 20・・・・・・静電球面形エネルギーアナライザ、2
0a・・・・・・外半球、 20b・・・・・内半球、 22a・・・・・・外球面、 22b・・・・・・内球面、 24・・・・・・線源挿入用の穴。
Claims (3)
- (1)静電球面形エネルギーアナライザの外球面をもつ
外半球の先端を内球面をもつ内半球の先端よりも球の反
射側に延ばし、外半球の一部に線源を取りつける穴を設
け、その穴の軸とエネルギーアナライザの軌道中心が交
わる位置に分析試料を置けるようにするとともに、出口
スリットを分析試料の位置と180度反対側の軌道中心
上に位置決めしたことを特徴とする荷電粒子エネルギー
分析装置。 - (2)線源を取りつける穴を複数個設けて複数種の線源
を取りつけることができるようにし、各穴に対応する分
析試料の位置と180度反対側の軌道中心上にそれぞれ
出口スリットを設けた特許請求の範囲第1項記載の荷電
粒子エネルギー分析装置。 - (3)線源を取りつける外球の穴において、外球面と同
一の面内にその穴による荷電粒子軌道部の電界の乱れを
防ぐグリッドを設けた特許請求の範囲第1項又は第2項
記載の荷電粒子エネルギー分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60218462A JPS6276249A (ja) | 1985-09-30 | 1985-09-30 | 荷電粒子エネルギ−分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60218462A JPS6276249A (ja) | 1985-09-30 | 1985-09-30 | 荷電粒子エネルギ−分析装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6276249A true JPS6276249A (ja) | 1987-04-08 |
Family
ID=16720280
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60218462A Pending JPS6276249A (ja) | 1985-09-30 | 1985-09-30 | 荷電粒子エネルギ−分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6276249A (ja) |
-
1985
- 1985-09-30 JP JP60218462A patent/JPS6276249A/ja active Pending
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