JPS6276529A - Method for detecting bending of lead wire in flat-pack type ic - Google Patents
Method for detecting bending of lead wire in flat-pack type icInfo
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Landscapes
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- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
- Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)
Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、フラットパック型ICをプリント基板に実装
する際等にICのリード線の曲がりを検出する方法に関
するものである。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION Field of the Invention The present invention relates to a method for detecting bends in lead wires of an IC when a flat pack type IC is mounted on a printed circuit board.
従来の技術
ICは実装機によってプリント基板上に実装されるのが
普通であるが、デュアルインラインパッケージ型ICに
おいてはリード線間の間隔が不均一になるようなリード
線の曲がりがあると正常な実装ができない。そのために
デュアルインラインパッケージ型ICの実装については
特開昭59−139699号公報に記載されているよう
に、−次元イメージセンサによるリード線間の間隔の測
定によってリード線の曲がりを判定する装置を使用して
リード線の不良を実装前に判定し、後の工程に不良品が
流れることを防止することが従来から行われていた。Conventional ICs are usually mounted on a printed circuit board using a mounting machine, but in dual-in-line packaged ICs, it is normal to have bends in the lead wires that result in uneven spacing between the lead wires. Cannot be implemented. For this purpose, as described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 139699/1989, a device is used to determine the bending of lead wires by measuring the distance between the lead wires using a -dimensional image sensor for mounting dual in-line packaged ICs. Conventionally, defective lead wires are determined before mounting to prevent defective products from being passed on to subsequent processes.
発明が解決しようとする問題点
しかし、フラットパック型ICのリード線はDIP型I
Cのリード線とは異なり、その自由端部がプリント基板
に平行に延びており、実装時にリード線がプリント基板
の表面から浮いた状態となるように曲がって、半田付は
工程で支障が出ることが多い。Problems to be Solved by the Invention However, the lead wires of flat pack type ICs are DIP type I.
Unlike the lead wire in C, its free end extends parallel to the printed circuit board, and during mounting, the lead wire is bent so that it is floating above the surface of the printed circuit board, causing problems in the soldering process. There are many things.
このような曲がりはり一ト線間の間隔の不均一としては
表れないため、その判定には上記公報に記載されている
ようなリード線間の間隔を測定して良否を判定する技術
は適用できない。Since such bending does not appear as unevenness in the spacing between lead wires, the technology described in the above publication, which measures the spacing between lead wires to determine pass/fail, cannot be applied. .
本発明はこのような事情を背景として、フラットバック
型ICのリード線の曲がりの判別を簡便かつ安価に行い
得る方法を提供するために為されたものである。Against this background, the present invention has been made in order to provide a simple and inexpensive method for determining the bending of lead wires of flatback type ICs.
問題点を解決するための手段
本発明は、上述の問題点を解決すべく、フラットバンク
型ICの本体部を半透明板に向かって押圧することによ
ってそれのリード線の自由端部を半透明板に密着させる
とともに、そのフラットパック型1c側から半透明板側
に向けて光を照射し、半透明板に生ずるリード線の影を
半透明板の裏側から撮像して得られた情報と、リード線
に曲がりのない正常なフラットパック型ICに対応した
基準情報とを比較し、半透明板への押圧時に自由端部が
半透明板に密着しないリード線があってそれの明瞭な影
が半透明板上に生じないために前記両情報が一致しない
場合にはリード線が曲がっていると判断するようにした
ものである。Means for Solving the Problems In order to solve the above-mentioned problems, the present invention makes the free ends of the lead wires translucent by pressing the main body of a flat bank IC toward a translucent plate. Information obtained by placing the lead wire in close contact with the board, irradiating light from the flat pack mold 1c side toward the semi-transparent board side, and imaging the shadow of the lead wire appearing on the semi-transparent board from the back side of the semi-transparent board; Comparing the standard information with the standard information corresponding to a normal flat-pack IC with no bends in the lead wires, it was found that there was a lead wire whose free end did not come into close contact with the translucent plate when pressed against the translucent plate, and there was a clear shadow of the lead wire. Since this does not occur on the semi-transparent plate, if the two pieces of information do not match, it is determined that the lead wire is bent.
作用
半透明板に物体を押し付け、物体側から半透明板側に向
けて光を照射し、半透明板の裏側から見れば物体の半透
明板に密着している部分には濃い確然とした影が生ずる
のであるが、半透明板から浮き上がっている部分におい
ては影が薄くぼやけたものとなる。したがって、影の濃
さあるいは明瞭さが一定以上であるか否かによって物体
が半透明板に密着しているか否かを判定することができ
る。本発明はこの影の判定を撮像装置を用いて自動的に
行うものである。Action: An object is pressed against the translucent plate, and light is irradiated from the object side to the translucent plate side. When viewed from the back of the translucent plate, the parts of the object that are in close contact with the translucent plate are clearly illuminated. A shadow is cast, but the shadow becomes thin and blurry in the areas that are raised from the translucent plate. Therefore, it is possible to determine whether an object is in close contact with the translucent plate depending on whether the darkness or clarity of the shadow is above a certain level. The present invention automatically performs this shadow determination using an imaging device.
発明の効果
本発明の方法によれば、フラットバック型ICの実装に
先立ってリード線の曲がりを検出し、曲がったリード線
を有する不良ICを排除することによって実装が終了し
た時点でのプリント基板の不良率を著しく低減させるこ
とができる。Effects of the Invention According to the method of the present invention, bends in lead wires are detected prior to mounting a flatback type IC, and defective ICs having bent lead wires are eliminated, thereby preventing printed circuit boards from being damaged when mounting is completed. The defective rate can be significantly reduced.
また、リード線の曲がりをフラットバンク型ICの本体
を半透明板に向かって押圧した状態で検出するため、フ
ラットバック型ICを実装した場合に半田付は不良が発
生するおそれのある曲がりのみを検出することができる
。−口にリード線の曲がりといっても正常な位置より下
方に曲がっている場合と上方に曲がっている場合とがあ
り、下方に曲がっている場合にはIC本体をプリント基
板に押圧した場合に弾性変形によって正常な姿勢に戻り
、半田付は不良が発生するおそれはないのであるが、上
方に曲がっている場合には、上記のような弾性変形を期
待することができないために半田付は不良が発生ずるの
であり、このような曲がりのみを確実に検出し得ること
が望ましいのである。In addition, since bends in the lead wires are detected while the main body of the flat bank IC is pressed against the translucent plate, soldering only detects bends that may cause defects when the flat back IC is mounted. can be detected. - Even though the lead wire is bent, there are cases where it is bent downward from the normal position and cases where it is bent upward.If the lead wire is bent downward, it may occur when the IC body is pressed against the printed circuit board. It returns to its normal position due to elastic deformation, and there is no risk of defective soldering. However, if the soldering is bent upwards, elastic deformation as described above cannot be expected and the soldering is defective. Therefore, it is desirable to be able to reliably detect only such bends.
また、IC本体に直角な方向のリード線曲がりを、通常
考えられるようにrc本体に平行な方向からではなく、
IC本体に直角な方向からの撮像によって検出するもの
であることも本発明の特長の一つである。IC本体に平
行な方向からの撮像によってリード線の曲がりを検出す
る場合には、上記のように半田付は不良の原因となる可
能性のある曲がりのみを検出することが困難である上、
IC本体に平行な方向に多数並んでいるリード線の全て
に撮像装置の焦点を合わせることが困難であるのに対し
て、本発明の方法に従えば、不都合なリード線の曲がり
のみを簡便に検出することができるのである。Also, the lead wire bends in the direction perpendicular to the IC body, not from the direction parallel to the RC body as is usually thought.
Another feature of the present invention is that it is detected by imaging from a direction perpendicular to the IC body. When detecting lead wire bends by imaging from a direction parallel to the IC body, it is difficult to detect only bends that may cause soldering defects as described above.
While it is difficult to focus an imaging device on all of the many lead wires that are lined up parallel to the IC body, the method of the present invention allows you to easily correct only the inconvenient bends in the lead wires. It can be detected.
実施例
以下、本発明の一実施例方法をその実施に好適に使用し
得る装置とともに説明する。EXAMPLE Hereinafter, a method according to an embodiment of the present invention will be described along with an apparatus that can be suitably used for carrying out the method.
第1図は、リード線曲がり検出装置を概略的に示す図で
あり、図中10は本体フレームである。FIG. 1 is a diagram schematically showing a lead wire bending detection device, and 10 in the figure is a main body frame.
本体フレーム10から水平に支持板12が伸び出され、
その中央部には開口14が形成されている。A support plate 12 extends horizontally from the main body frame 10,
An opening 14 is formed in the center thereof.
そして、開口14を覆う状態で半透明板16が配置され
、支持板12によって支持されている。半透明板16と
しては例えばアクリル樹脂製の市販品を使用することが
できる。A semi-transparent plate 16 is arranged to cover the opening 14 and is supported by the support plate 12. As the translucent plate 16, for example, a commercially available product made of acrylic resin can be used.
半透明板16の上方には、照明器18が配設されている
。照明器18は、本体フレーム10から水平に伸び出し
たアーム20に下向きに取り付けられており、半透明板
16を上側から下側へ透過する光を照射するようになっ
ている。半透明板16の下方には撮像装置としてのテレ
ビカメラ22が配設され、半透明板16を間に挟んで照
明器18と対向する状態で本体フレーム10に取り付け
られている。An illuminator 18 is arranged above the semi-transparent plate 16. The illuminator 18 is attached downward to an arm 20 extending horizontally from the main body frame 10, and is configured to irradiate light that passes through the semi-transparent plate 16 from the upper side to the lower side. A television camera 22 as an imaging device is disposed below the semi-transparent plate 16, and is attached to the main body frame 10 facing the illuminator 18 with the semi-transparent plate 16 in between.
検査対象物であるフラットパンク型IC2B (以下、
単にIC2Bという)は保持へフド30により保持され
て部品供給装置からプリント基板上へ搬送される途中で
リード線曲がり検出装置へ搬入される。保持ヘッド30
は、第2図に示すように、移動体32に対して昇降可能
に取り付けられ、エアシリンダ33によって昇降させら
れるヘッド本体34を備えている。移動体32は図示を
省略するX方向サーボモータとY方向サーボモータとに
よって水平面内において互いに直交するX軸方向とY軸
方向とに任意の距離移動させられるようになっており、
ヘッド本体34はXY平面内の任意の位置に正確に位置
決めされ得るようになっている。The object to be inspected is the flat-punk IC2B (hereinafter referred to as
The IC2B (simply referred to as IC2B) is held by a holding hood 30 and is carried into a lead wire bending detection device while being conveyed from the component supply device onto the printed circuit board. Holding head 30
As shown in FIG. 2, the head body 34 is attached to a movable body 32 so as to be movable up and down, and is moved up and down by an air cylinder 33. The movable body 32 can be moved any distance in the X-axis direction and the Y-axis direction, which are perpendicular to each other, in a horizontal plane by an X-direction servo motor and a Y-direction servo motor (not shown).
The head main body 34 can be accurately positioned at any position within the XY plane.
ヘッド本体34には回転筒36が垂直軸線まわりに回転
可能に取り付けられ、その回転筒36と一体的に形成さ
れたギヤ38がピニオン40と噛み合わされている。ピ
ニオン40はサーボモータ42の出力軸に固定されてお
り、サーボモータ42によって回転筒36が任意の角度
回転させられるようになっている。回転筒36の中央を
貫通する大向には2枚のガラス板44.46が軸方向に
一定の距離を隔てて互いに平行に配設されている。A rotary cylinder 36 is attached to the head body 34 so as to be rotatable around a vertical axis, and a gear 38 formed integrally with the rotary cylinder 36 is meshed with a pinion 40 . The pinion 40 is fixed to the output shaft of a servo motor 42, so that the servo motor 42 can rotate the rotary cylinder 36 at any angle. Two glass plates 44 and 46 are arranged parallel to each other at a certain distance in the axial direction in the direction extending through the center of the rotary cylinder 36.
ガラス板44.46には反射防止コーティングが施され
、回転筒36の軸方向に光が良好に透過するようにされ
ている。また、ガラス板44.46と回転筒36とに囲
まれた空間は気密室48とされており、この気密室48
は回転筒36の回転位置いかんを問わずバキュームホー
ス50と連通状態を保つようにされている。バキューム
ホース50は図示しない電磁制御弁を経て真空源に接続
されている。The glass plates 44 and 46 are coated with an antireflection coating to allow good light transmission in the axial direction of the rotary cylinder 36. Further, the space surrounded by the glass plates 44 and 46 and the rotating cylinder 36 is an airtight chamber 48.
is adapted to maintain communication with the vacuum hose 50 regardless of the rotational position of the rotating cylinder 36. The vacuum hose 50 is connected to a vacuum source via an electromagnetic control valve (not shown).
下側のガラス板44の中央には、吸着管52が取り付け
られている。吸着管52はガラス板44に対して直角に
固定された第−管54とその内側に摺動可能に嵌合され
た第二管56とを備えている。第二管56は図示しない
スプリングによって常には第−管54から一定量突出し
た位置に保たれており、このスプリングの付勢力より大
きい押し込み力が作用した場合には第−管54内に引き
込むようにされている。これは本保持ヘッド30がIC
2Bを吸着するためにこれに当接する際や、IC2Bを
プリント基板上に載置する際にIC28やプリント基板
に無理な力がかかることを回避するために採られている
措置である。吸着管52内には、前記気密室48に連通
し、かつ第二管56の下端に開口する吸引通路が形成さ
れており、気密室48が真空源に連通させられたときI
C2日を吸着して保持し得るようになっている。A suction tube 52 is attached to the center of the lower glass plate 44. The suction tube 52 includes a first tube 54 fixed perpendicularly to the glass plate 44 and a second tube 56 slidably fitted inside the first tube 54 . The second tube 56 is always maintained at a position protruding from the first tube 54 by a certain amount by a spring (not shown), and is pulled into the second tube 54 when a pushing force greater than the biasing force of this spring is applied. It is being done. This means that the main holding head 30 is
This measure is taken to avoid applying excessive force to the IC 28 and the printed circuit board when the IC 28 is brought into contact with the IC 28 to attract it or when the IC 2B is mounted on the printed circuit board. A suction passage that communicates with the airtight chamber 48 and opens at the lower end of the second tube 56 is formed in the adsorption tube 52, and when the airtight chamber 48 is brought into communication with a vacuum source, I
It is designed to be able to adsorb and retain C2 days.
保持ヘッド30はエアシリンダ33によりヘッド本体3
4が下降させられることによって吸着管52に保持した
IC28を半透明板16に押圧するものであるが、この
際の押圧力は、IC28がプリント基板に半田付けされ
る際に押圧装置によってIC28に加えられる押圧力と
等しいことが望ましい。そこで、ヘッド本体34がスプ
リング60によって上方へ吊り上げられるとともに、エ
アシリンダ33へのエア通路に調圧弁が設けられ、調圧
弁の調節操作によって押圧力を所望の値に設定できるよ
うにされている。The holding head 30 is attached to the head body 3 by an air cylinder 33.
4 is lowered to press the IC 28 held in the suction tube 52 against the semi-transparent plate 16. The pressing force at this time is the same as that applied to the IC 28 by the pressing device when the IC 28 is soldered to the printed circuit board. It is desirable that the pressure be equal to the applied pressing force. Therefore, the head main body 34 is lifted upward by a spring 60, and a pressure regulating valve is provided in the air passage to the air cylinder 33, so that the pressing force can be set to a desired value by adjusting the pressure regulating valve.
前記テレビカメラ22は第3図に示すように、2値化回
路66に接続されており、テレビカメラ22で1最像さ
れたIC28の影が一連の2値信号に変換される。2値
化回路66は、曲がり判定装置68に接続されており、
この判定装置68には基準情報設定装置7pが接続され
ている。基準情報設定装置70には、検査対象であるI
C28の全てのリード線が正常である場合にテレビカメ
ラ22で撮像される影が2値化された情報が予め設定さ
れており、曲がり判定装置68は基準情報設定装置70
から供給される基準情報と2値化回路66から供給され
る検査対象IC28の影が2値化された情報と比較し、
これらの情報が予め定められた判定基準以上に食い違っ
ている場合には、検査対象■C28のリード線が曲がっ
ていると判定して、実装機制御部72に不良検出信号を
供給するようにされている。As shown in FIG. 3, the television camera 22 is connected to a binarization circuit 66, and the shadow of the IC 28 that is imaged by the television camera 22 is converted into a series of binary signals. The binarization circuit 66 is connected to a bend determination device 68,
A reference information setting device 7p is connected to this determination device 68. The reference information setting device 70 has I
Information in which the shadow imaged by the television camera 22 is binarized when all the lead wires of C28 are normal is set in advance, and the bending determination device 68 is set in advance by the reference information setting device 70.
Compare the reference information supplied from the binarization circuit 66 with the binarized information of the shadow of the IC 28 to be inspected supplied from the binarization circuit 66,
If these pieces of information differ by more than a predetermined criterion, it is determined that the lead wire of the inspection target C28 is bent, and a defect detection signal is supplied to the mounting machine control section 72. ing.
次に、本す−ド線曲がり検出装置を使用してリード線の
曲がりを検出する方法を説明する。Next, a method of detecting lead wire bending using this lead wire bending detection device will be explained.
保持ヘッド30が半透明板16上の所定の位置にIC2
8を位置決めし、予め定められた力で押圧した後、照明
器18から光が照射される。IC28が半透明板16に
押圧されるといっても、第4図から明らかなように、I
C本体80とリード線82のIC本体80に近い基端部
とは半透明板16から離れており、リード線82の自由
端部のみが半透明板16に密着する。したがって、照明
器18から光が照射された際、IC本体80およびリー
ド線82の基端部においては、半透明板16上に生ずる
これらの影84が第5図に破線で示すようにぼやけたも
のとなる。これに対してリード線82の自由端部は半透
明板】6に密着しているため、これの影86は第5図に
実線で示すように濃くかつ確然としたものとなる。そし
て、第4図に示すように、自由端部が上向きに曲がった
リード線82aが存在すればこのリード線82aの自由
端部の影86aはIC本体80等の影84と同様にぼや
けたものとなる。The holding head 30 holds the IC2 at a predetermined position on the translucent plate 16.
8 is positioned and pressed with a predetermined force, light is emitted from the illuminator 18. Even though the IC 28 is pressed against the semi-transparent plate 16, as is clear from FIG.
The C main body 80 and the base end portion of the lead wire 82 near the IC main body 80 are separated from the semi-transparent plate 16, and only the free end portion of the lead wire 82 is in close contact with the semi-transparent plate 16. Therefore, when light is irradiated from the illuminator 18, the shadows 84 that appear on the semi-transparent plate 16 at the base ends of the IC body 80 and the lead wires 82 become blurred as shown by broken lines in FIG. Become something. On the other hand, since the free end portion of the lead wire 82 is in close contact with the translucent plate 6, the shadow 86 thereof becomes dark and definite as shown by the solid line in FIG. As shown in FIG. 4, if there is a lead wire 82a whose free end is bent upward, the shadow 86a of the free end of this lead wire 82a will be blurred like the shadow 84 of the IC body 80, etc. becomes.
したがって、半透明板16上に生ずるIC28の影をテ
レビカメラ22で撮像し、このテレビカメラ22の出力
信号のうち影の濃い部分に対応する信号は0、薄い部分
並びに影が生じていない部分に対応する信号は1となる
ように2値化すれば、IC28のリード線82の自由端
部の像を表す一連の2値化信号が得られる。そのように
2値化回路66のしきい値を予め定めてお(のである。Therefore, the shadow of the IC 28 appearing on the semi-transparent plate 16 is imaged by the television camera 22, and among the output signals of the television camera 22, the signal corresponding to the dark portion of the shadow is 0, and the signal corresponding to the thin portion and the portion without the shadow is 0. If the corresponding signals are binarized to 1, a series of binarized signals representing the image of the free end of the lead wire 82 of the IC 28 is obtained. In this way, the threshold value of the binarization circuit 66 is determined in advance.
上記のようにして得られた検査対象IC2Bに関する情
報を曲がり判定装置68によって基準情報設定装置70
から供給される基準情報と比較するのであるが、本実施
例においては、IC28が保持ヘッド30によって半透
明板16上の予め定められた位置に正確に位置決めされ
るようになっているため、両情報が一致するか否かを比
較することは極めて容易である。そして、多数のリード
線82のうち自由端部が半透明板16に密着しないもの
が1本でもあれば、上記両情報は明瞭に不一致となるた
め、曲がり判定装置68はリード線82に曲がりがある
と判定する。また、リード線82がIC本体80に平行
な平面内において曲がっている場合にも、リード線82
の自由端部の影86の情報が基準情報設定装置70から
供給される基準情報と不一致となるため、曲がり判定装
置68はこの不一致の度合が予め定められた判定基準を
越えた場合にもリード線82が曲がっているものと判定
する。The information regarding the IC 2B to be tested obtained as described above is sent to the reference information setting device 70 by the bending determination device 68.
In this embodiment, since the IC 28 is accurately positioned at a predetermined position on the translucent plate 16 by the holding head 30, both It is extremely easy to compare whether the information matches or not. If even one of the many lead wires 82 does not have a free end that is in close contact with the semi-transparent plate 16, the above two pieces of information will clearly disagree, so the bend determination device 68 will determine whether the lead wire 82 is bent. It is determined that there is. Further, even when the lead wire 82 is bent in a plane parallel to the IC body 80, the lead wire 82
Since the information on the shadow 86 of the free end of the curve does not match the reference information supplied from the reference information setting device 70, the bending determination device 68 also performs a lead-in when the degree of discrepancy exceeds a predetermined criterion. It is determined that the line 82 is bent.
曲がり判定装置68はリード線82が曲がっているもの
と判定した場合には不良検出信号を実装機制御部72に
供給するため、実装機制御部72はこの不良検出信号に
基づいて不良IC28を排除し、プリント基板には実装
しないように実装機を制御する。したがって、リード線
82の曲がった不良IC28がプリント基板に実装され
て半田付は不良が発生し、あるいは予定外の回路にリー
ド線82が接続されて不良品が発生することが未然に防
止されることとなる。When the bend determination device 68 determines that the lead wire 82 is bent, it supplies a defect detection signal to the mounting machine control section 72, so the mounting machine control section 72 eliminates defective ICs 28 based on this defect detection signal. However, the mounting machine is controlled so that it does not mount on the printed circuit board. Therefore, it is possible to prevent a defective IC 28 with a bent lead wire 82 from being mounted on a printed circuit board, resulting in defective soldering, or from the lead wire 82 being connected to an unintended circuit, resulting in a defective product. That will happen.
本実施例においては、半透明板16上に生ずるリード線
82の影をテレビカメラ22によって撮像し、その結果
得られた情報の全体と基準情報設定装置70に設定され
ている基準情報とが比較されるようになっているため、
検査すべきIC28の形状寸法が変わった場合にも基準
情報も変えればよく、撮像装置の位置変更などの機械部
分の段取り替えを行うことなく検出作業を行うことがで
き、また、リード線82の影86が基準情報と完全には
一致していなくても、半田付けに支障が生じない程度で
あれば合格とするなどきめこまかな検出を行うことがで
きる利点がある。In this embodiment, the shadow of the lead wire 82 appearing on the semi-transparent plate 16 is imaged by the television camera 22, and the entire information obtained as a result is compared with the reference information set in the reference information setting device 70. Because it is designed to be
Even if the shape and dimensions of the IC 28 to be inspected change, the reference information only needs to be changed, and the detection work can be performed without changing the setup of the mechanical part such as changing the position of the imaging device. Even if the shadow 86 does not completely match the reference information, there is an advantage that detailed detection can be performed, such as passing the test as long as it does not interfere with soldering.
しかしながら、例えば第5図において影86の直線A−
Aの部分の状態を見るだけでもこの直線A−Aに沿って
並んでいるリード線82の曲がりは一応検出し得るため
、IC本体80の各−辺に沿って並んでいる各群のリー
ド線82についてそれぞれ1本あるいは複数本の直線に
沿った部分の情報をそれらに対応する基準情報と比較す
ることによってリード線82の曲がりを検出することが
可能である。この場合には描像素子としてテレビカメラ
を使用し、そのテレビカメラから得られた情報のうち各
直線に沿った情報のみを取り出して基準情報と比較する
ことも可能であり、また、安価な一次元イメージセンサ
を使用してリード線82の各直線に沿った部分の影のみ
を撮像して、その結果得られた情報を基準情報と比較す
ることも可能である。また、情報自体も影の位置や幅に
関する情報を含むことは必ずしも不可欠ではなく、例え
ば半透明板16上に明瞭に表れている影の数を情報とし
て使用することも可能である。However, for example, in FIG.
Since bending of the lead wires 82 lined up along this straight line A-A can be detected just by looking at the state of the part A, the lead wires of each group lined up along each side of the IC body 80 can be detected. It is possible to detect a bend in the lead wire 82 by comparing information about a portion along one or more straight lines of the lead wire 82 with the corresponding reference information. In this case, it is possible to use a television camera as the imaging element, extract only the information along each straight line from the information obtained from the television camera, and compare it with reference information. It is also possible to image only the shadow of the portion along each straight line of the lead wire 82 using an image sensor and compare the information obtained as a result with reference information. Furthermore, it is not essential that the information itself includes information regarding the position and width of the shadows; for example, it is also possible to use the number of shadows clearly appearing on the semi-transparent plate 16 as the information.
また、前記実施例においては、IC2Bを部品供給装置
からプリント基板上へ搬送する保持ヘッド30自体によ
ってIC28が半透明板16に押し付けられるようにさ
れていたが、保持ヘッド30が半透明板16上にIC2
8を位置決め載置した後、専用の押圧装置が作動してI
C28を半透明板16に向かって押圧するようにするこ
とも可能である。Furthermore, in the embodiment described above, the IC 28 was pressed against the semitransparent plate 16 by the holding head 30 itself that conveys the IC 2B from the component supply device onto the printed circuit board. to IC2
After positioning and placing 8, a dedicated pressing device is activated to
It is also possible to press C28 toward the translucent plate 16.
さらに、前記実施例においては、ICをプリント基板上
に実装する実装機にリード線画がり検出装置が設けられ
ており、ICのプリント基板に対する実装の直前にリー
ド線の曲がりが検出されるようになっているため、曲が
り検出後にリード線が他部材に接触するなどして曲がる
おそれが殆どな(、完°成プリント基板の不良品の発生
率を著しく小さくし得る利点があるのであるが、実装機
とは別個にリード線画がり検出装置を設けることも可能
である。Furthermore, in the above embodiment, the mounting machine that mounts the IC on the printed circuit board is equipped with a lead line image detection device, and the bending of the lead wire is detected immediately before the IC is mounted on the printed circuit board. As a result, there is almost no risk of the lead wires bending due to contact with other parts after bending is detected. It is also possible to provide a lead line drawing detection device separately.
IC28の半透明板16に対する押し付は方向も下向き
に限定されるわけではなく、上向きあるいは横向きに押
圧するようにすることも可能である。The direction in which the IC 28 is pressed against the translucent plate 16 is not limited to the downward direction, but it is also possible to press the IC 28 upward or sideways.
その他、−々例示することはしないが、当業者の知識に
基づいて種々の変形、改良を施した態様で本発明を実施
し得ることは勿論である。Although other examples will not be given, it goes without saying that the present invention can be implemented with various modifications and improvements based on the knowledge of those skilled in the art.
第1図は本発明の方法の実施に使用されるリード線画が
り検出装置の一例を概略的に示す正面図(一部断面)で
ある。第2図は上記リード線画がり検出装置の一部を構
成する保持ヘッドの正面断面図である。第3図は上記リ
ード線画がり検出装置の情報処理部を示すブロック図で
ある。第4図はフラットバック型ICが半透明板に押圧
された状態を示す正面図であり、第5図は半透明板上に
生ずるICの影を示す説明図である。
16:半透明板 18:照明器
22:テレビカメラ
28;フラットパックIC
30:保持ヘッド 32:移動体
52:吸着管 80:IC本体82:リード線
84:IC本体の影86:リード線の半透明板
に密着した部分の影86a:リード線の半透明板に密着
していない部分の影
第1図
nFIG. 1 is a front view (partially in cross-section) schematically showing an example of a lead wire drawing edge detection device used to carry out the method of the present invention. FIG. 2 is a front cross-sectional view of a holding head that constitutes a part of the lead line edge detection device. FIG. 3 is a block diagram showing the information processing section of the lead line drawing edge detection device. FIG. 4 is a front view showing a state in which a flat back type IC is pressed against a semi-transparent plate, and FIG. 5 is an explanatory diagram showing a shadow of the IC formed on the semi-transparent plate. 16: Transparent plate 18: Illuminator 22: TV camera 28; Flat pack IC 30: Holding head 32: Moving body 52: Suction tube 80: IC body 82: Lead wire 84: Shadow of IC body 86: Half of lead wire Shadow 86a of the part of the lead wire that is in close contact with the transparent plate: Shadow of the part of the lead wire that is not in close contact with the semi-transparent plate (Fig. 1n)
Claims (1)
圧することによってそれのリード線の自由端部を半透明
板に密着させるとともに、そのフラットパック型IC側
から半透明板側に向けて光を照射し、半透明板に生ずる
リード線の影を半透明板の裏側から撮像して得られた情
報と、リード線に曲がりのない正常なフラットパック型
ICに対応した基準情報とを比較し、前記半透明板への
押圧時に自由端部が半透明板に密着しないリード線があ
ってそれの明瞭な影が半透明板上に生じないために前記
両情報が一致しない場合にはリード線が曲がっていると
判断することを特徴とするフラットパック型ICのリー
ド線曲がり検出方法。By pressing the main body of the flat-pack IC toward the translucent plate, the free ends of the lead wires are brought into close contact with the translucent plate, and light is directed from the flat-pack IC side toward the translucent plate. The information obtained by imaging the shadow of the lead wires on the semi-transparent board from the back side of the semi-transparent board was compared with the reference information corresponding to a normal flat pack IC with no bends in the lead wires. , If the two pieces of information do not match because there is a lead wire whose free end does not come into close contact with the translucent plate and its clear shadow does not appear on the translucent plate when pressed against the translucent plate, the lead wire A lead wire bend detection method for a flat pack type IC, characterized in that it is determined that the lead wire is bent.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21558385A JPS6276529A (en) | 1985-09-27 | 1985-09-27 | Method for detecting bending of lead wire in flat-pack type ic |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21558385A JPS6276529A (en) | 1985-09-27 | 1985-09-27 | Method for detecting bending of lead wire in flat-pack type ic |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6276529A true JPS6276529A (en) | 1987-04-08 |
| JPH0257341B2 JPH0257341B2 (en) | 1990-12-04 |
Family
ID=16674838
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP21558385A Granted JPS6276529A (en) | 1985-09-27 | 1985-09-27 | Method for detecting bending of lead wire in flat-pack type ic |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6276529A (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0255106U (en) * | 1988-10-14 | 1990-04-20 |
-
1985
- 1985-09-27 JP JP21558385A patent/JPS6276529A/en active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0255106U (en) * | 1988-10-14 | 1990-04-20 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0257341B2 (en) | 1990-12-04 |
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