JPS628071A - ガス入ランプ試験装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明の分野 本発明はガス人ランプ及び点灯器具を含むガス人ランプ
装置の試験装置に関連する。

ガス人ランプと点灯器具の組合せ製電の故障は。

ランプ又は点灯器具内の部品の故障か又は無送電によっ
て起こる。この故障の原因を調べるため通常、ランプが
故障しているかどうかを調べるためランプを交換する。

もしランプの故障がなければ点灯器具を全部外して回路
部品を点検する。このような作業は不経済で時間もかか
る◎ 供給電圧１通電性及び点灯器具のランプ保持ソケットな
どを簡単に試験する製電に関する多くの研究が従来性わ
れている。又誘導結合又は容量結合によってランプを非
破壊的に試験したり、又ソケットアセンブリを試験する
種々の研究も従来性われている。

しかし全ランプ装置の故障修理が短時間で行われる能率
のよい２ンプ／点灯器具試験器に対する要望は依然とし
て存在する。

米国特許第４，３５６，４４２号明細書に示される多モ
ード式電圧−通電試験装置は、第１及び第２試験用端子
、スピーカ、制御入力、制御トランジスタ。

及び＠１及び第２抵抗器を含む電池式発振器を有し、こ
の試験装置の単極フェースモードでは、試験すべき電圧
源は第１試験用端子に接続される。

米国特許！　３．６８８５８５号明細書に示されるけい
光ランプ試験器は、高周波発振回路を保持する管状ハウ
ジングと、誘導電界を発生して近くのけい光ランプを点
灯するタンクコイルとを含んでいる。

米国特許第４，４９６，９０５号明細書に示される高圧
ナトリウムランプ点灯器具試験装置は選択的に点灯器具
内の電気的故障を電気的に検査するもので。

故障ランプ、故障し九回路始動盤及び故障した安全抵抗
及びコンデンサの個別指示を発生する装置である。

米国特許第３，５９４，６３６号明細書に示される分析
器は、安全抵抗や配線を外すことなく、安全抵抗の電圧
出力を試験したり、又配線及びソケットの短絡、接地及
び導通性を試験するものである。

米国％　杵築２，６３０，５５１−１ｉ）　及び＄　２
，７５６，３８４号の明細書に示される可搬式の視覚指
示試験装置は、けい光灯点灯器具の安全抵抗、けい光管
及び始動素子の試験を行なうものである。

他の従来技術の例は下記の米国特許明細書に開示されて
いる： ｊＪＥ　２，４１５，５０２　号：　第２，７５４，４
７６　号：　第３，３６１，９５８　号：第３４０７．
１２３　号；　ｉ　＆９６７．１９１　号：　＠　４，
０２１，７２７　号：第４゜２５９．６３５　号：　ｍ
４，２７６．５０９−ｊ）　；　第４３３４．１８７　
号：　第４，３６１゜８００号；第４．３６６４３４号
；第４４０９．５４１号：第４，４３４．４０１号；第
４，４４５，０８４　号；第４４７３．７９６号及び第
４．５０　ａ’３９０号。

本発明の要約 本発明はガス人ランプ、例えばけい光、水銀。

高圧又は低圧のナトリウム、ネオン又はハロゲン化金属
のランプ、及び供給電圧の存否、並びに各種回路部品０
例えばフィラメント、安全抵抗、始動イグナイタ、コン
デンサ、抵抗器及びランプと点灯器具の配線を試験する
ランプ試験装置に関連する。

このランプ試験装置は、ランプ試験回路装置とランプ／
点灯器具試鋏回路装置で構成され、聴覚／視覚式指示器
を含み、この指示器はランプ探針（プローブ）及び第１
及び第２電気探針と組合わせて直流電源に接続される。

上記のランプ試験回路装置は、ランプ探針と電源との間
に作動スイッチを経て電気的に接続された高周波インピ
ーダンス整合発振器を含む。作動スイッチを圧下すると
、電源は高周波インピーダンス整合発振器を付勢して高
周波電界信号を発生し、この信号がランプの基部即ちベ
ースの近くに維持されるか又は接触するとランプ内のガ
ス品質に関する視覚表示を与える。

ラン１／点灯器具試験回路装置は、電圧制御非安定形マ
ルチバイブレータを含ｔｒ。

この非安定形マルチバイブレータは指示器に接続される
。この指示器は、上記の電圧制御非安定形マルチバイブ
レータから送られる出力信号を受信するため並列に接続
された発光ダイオードと拡声器即ちスピーカとを含む。

ランプ／点灯器具試験回路装ｆｊＩｔは活性モード又は
非活性モードで動作し、非活性モードでは電源は排流し
ないようになっている。

ランプ内の種々のガスの品質全検査するため。

ランプ探針にはランプの基部の電界発生器、及びこれに
連結された伸縮性アンテナが設けられる。

けい光ランプ、低圧ナトリウム又はネオンランプを検査
する場合は上記の電界発生器をランプに接近して保持す
る。次に作動スイッチを圧下すると。

高周波インピーダンス整合発振器が電界を発生してラン
プ内のガスを励起する。又水銀ランプ、高圧ナトリウム
ランプ、ハロゲン化金属ランプなどを検査する場合は電
界発生器を直接ランプの基部に接触させる。ここで作動
スイッチを圧下して高周波インピーダンス整合発掘器を
付勢すると、電界を発生してランプ内のガスを励起する
。ランプの発光はランプ内のガスの品質が良好であるこ
とを示す。もしランプが発光しなければ、又は発光が明
滅すれば、ランプ内のガスの品質が不良である証拠であ
る。もしこの試験でランプ内のガスの品質が適正動作に
適したものであれば、ランプは下記のように導通検査を
する。

ランプのフィラメント導通試験を行なった後。

第１及び第２探針金使用して点灯器具内の種々の回路素
子と電源電圧の試験をする。上記の探針は＠１及び第２
探針ソケツト内に設けられたわにロクリップでよい。聴
覚／視覚指示器は、電圧制御非安定マルチバイブレータ
から送られる出力信号を受信するように並列に接続され
た聴覚指示器と視覚指示器を含み、それぞれ対応する聴
覚及び視覚試験表示を発生する。

ソケットの検査には、一方の探針金ソケットの中心接点
に接触させ、別の探針をソケットのねじ溝に接触させる
。迅速に低下する音声が聞かれよう。持続音の発生又は
無音声は故障した点灯器具の証拠である。

コンデンサの試験は両線針をコンデンサの両端子に接続
して行われる。高音が発生し、もしコンデンサが充電を
完了すれば直ちに音声が止まる。

両線針の接続を反転して再び試験する。この二種類の接
続で充電が示さｎるとこのコンデンサは良好と考えられ
る。もし連続音が聞かれた場合はこのコンデンサけ１シ
ヨート”した不良品である。

もし音が発生しなければ、このコンデンサは”オーブン
１で、これも不良品と考えられる。

交流電圧試験では変調ブザー音又は間欠音を発生するで
あろう。直流電圧試験では反転極性位置でのみ非変調音
を発生する。正しい極性接続では音は発生しない。

第１及び第２図に示されるように１本発明けけい光灯、
水銀灯、高圧及び低圧のナトリウム灯。

ネオン又はハロゲン化金属のようなガス人ランプＡ、及
び供給電圧の存否０種々の回路部品１例えばフィラメン
ト、安全抵抗、始動イグナイタ、コンデンサ及び抵抗器
、及びランプＡと点灯器具（図示せず）の配線導通性を
選択的に試験する装置１０に関連する。

第１ないし第３図に示されるように、このガスランプ試
験装置１０はランプ試験回路装置ｆ１２とランプ／点灯
器具試験回路装置１４とで構成され。

第１及び第２電気探針、即ち２０と２２と組合わせて直
流電源１６に接続される。う”７１７点灯器、具試験回
路装置１４けハウジング２６内に収容された聴覚／視覚
指示器２４を含む。

第３図に示されるように、ランプ試験回路装置１２は高
周波インピーダンス整合発振器２８を含み、該発振器は
作動スイッチ３０を経てラン１探針１８と電源１６との
間に接続される。スイッチ３０の圧下によってこれを作
動すると、電源１６は高周波インピーダンス整合発振器
１６を付勢して高周波電界信号を発生し、ランプ人の基
部の近く、又はこれに接触してこの信号が維持されると
ランプＡ内のガスの品質に対する視覚表示を与える。高
周波インピーダンス整合発振器２８は変圧器３２＃　ト
ランジスタ３４．第１コンデンサ３６゜第２コンデンサ
３８．抵抗器４０及びダイオード４２を含む。

第３図に示されるように、ランプ／点灯器具試験回路装
［１４は、米国特許第４，３５６，４４２号明細書に示
されるものと類似の電圧制御非安定形マルチバイブレー
タ４４を含む。このマルチバイブレータ４４は第１トラ
ンジスタ４６．第２）、ｙンジスタ４８．第１ベースコ
ンデンサ５０．第２ペースコンデンサ５２．第１．第２
．第３．第４及び第５抵抗器、即ち５４，５６．５８．
６０及び６２゜並びに可変抵抗器６４．　ＰＴＣ（感温
素子）６６及びツェナ・ダイオード６８を含む。

電圧制御非安定形マルチバイブレータ４４の出力は指示
器２４に送られる。指示器２４Ｈ発光ダイオード７０と
ランプ増幅器又はトランジスタ７ス及びスビーカフ４と
スピーカ増幅器又はトランジスタ７６を含み、これらは
マルチバイブレータ４４の信号を受信するため並列に接
続されるう視覚指示器は又抵抗器７８を含み、又聴覚指
示器も第１゜第２及び第３抵抗器、即ち８０．８２及び
８４を含む。電圧制御非安定形マルチバイブレータ４４
は直流電源及び第１探針２０とｆｓ２探針２２に並列に
接続さｎているからマルチバイブレータ４４は直流モー
ドでも交流モードでも動作する。

ランプ／点灯器具試験回路装置１４は活性モードでも非
活性モードでも動作するように構成され。

非活性そ−ドでは電源１６は排流しない。詳記すれば、
第１トランジスタ４６０発光ダイオード７０及びスピー
カトランジスタ７６は第１探針２ｏから信号が送られな
ければペース電流がないため１オフ１状態で、又第２ト
ランジスタ４８は直流電源１６から電気的に分離される
。

継続的試験で指示器出力信号は抵抗に反比例すガス入ラ
ンプの種々のガスの品質を試験するため、ランプ探針１
８には電界発生器８６と、これに脱着可能に連結された
伸縮式アンテナ８８が設けられる。けい光ランプ、低圧
ナトリタムランプ又はネオンランプＡを試験する場合に
はアンテナ８８をランプＡの近くに保持する。次に作動
スイッチ３０を圧下）ると、高周波インピーダンス整合
発振器２８は電界を発生してランプ内のガスを励起する
。水銀ランプ、高圧ナトリウムランプ又はハロゲン化金
属ランプＡ１に試験する場合は電界発生器８６は第２図
に示すように直接ランプの基部Ｂに接触させる。作動ス
イッチ３０を圧下して高周波インピーダンス整合発振器
２８ｔ−付勢すると電界が発生されてランプＡ内のガス
を励起する。

ランプＡの点灯はランプ内のガスの品質が良好であるこ
とを示す。もしランプＡが点灯しなかったり明滅するこ
とはランプ内のガスの品質が適正動作に適しないことを
示す。もしこの試験でランプＡ内のガスの品質が適正動
作に適している場合には電気探針２０と２２を使用して
導通性を試験する。これらの電気探針はランプのフィラ
メントに接続される。適正導通性は、フィラメントの抵
抗に反比例した一定の音声を発生する。

フィラメントの導通性を試験した後、ランプ点灯器具の
種々の回路素子と供給電圧を電気探針２０と２２を使用
して試験する。これらの探針はわにロクリップなどを有
し、これらのクリップはそれぞれソケツ）９０と９２に
連結される。聴覚／視覚指示器２４は電圧制御非安定形
マルチバイブレータ４４の出力信号を受信するように並
列に接続された視覚及び聴覚指示器を含むからそれぞれ
対応する聴覚及び視覚表示を発生する。前記のように１
回路製電の特殊構成、音調及び音声周波数は試験する抵
抗に反比例する。従って音調が高くなればなるほど試験
する構成要素の抵抗は低くなり。

又逆に音声が低くなればなるほど試験する構成要素の抵
抗は高くなる。

ランプソケットを試験する場合は探針２０又は２２の何
れか一方をソケットの中心に接触させ。

他の探針をソケットのねじ溝に接触させる。急激に低下
する音声が聞かれよう。一定の音声又は完全な無音は故
障した点灯装置を示す。

コンデンサ類は探針２０と２２をコンデンサの両極に接
触して試験する。初期音声が高ピツチで現われ、コンデ
ンサが充電すると急速に音声が停止する。次に探針２０
と２２を反転して試験する。

この両位置で充電が示されればコンデンサは良好と考え
られる。もし連続音が聞かれればコンデンサは１シヨー
ト１した不良品である。もし音が現われなければこのコ
ンデンサは１開放１した不良品であると考えられる。

交流電圧試験は発光ダイオード７００発光を伴う発振ブ
ザー音又は間欠音を発生する。直流電圧試験は０発光ダ
イオード７００発光を伴う逆極性位置のみにおける定常
音を発生する。正しい極性では音声を発生しない。

点灯器具回路の導通性はランプ導通性試験と同様に試験
する。

上記の鎖目的及び他の鎖目的は本発明の範囲内で各構成
の変更によって達成されるから上記の説明及び図示の実
施例は本発明の例示にすぎず１本発明を限定するもので
はない。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明のガス人ランプ試験装置の正面図で、伸
縮式電界放射アンテナを伸長した状態を示す。 第２図Ｆｉ電界放射器を使用するランプ試験装置の正面
図である。 第３図は本発明のガス人ランプ試験製電の詳細回路図で
ある。 １０・・・ランプ試験装！、１２・・・ランプ試験回路
装置。 １４・・・ランプ／点灯器具試験回路装置、１６・・・
直流電源。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、ガス入ランプ及びランプ点灯装置を試験する装置で
   、ランプ探針と電源との間に電気的に接続されてランプ
   内のガスの品質を選択的に試験するガス試験回路装置、
   第１及び第２電気探針と電源との間に電気的に接続され
   、供給電圧の存否、及びランプと点灯器具の各種回路部
   品を選択的に試験するランプ／点灯器具試験回路装置、
   及び供給電圧の存否、及びランプと点灯器具内で試験さ
   れる各種回路部品の状態の各特性表示を与える指示器、
   を含むガス入ランプ試験装置。 ２、上記第１項記載の装置で、ガス試験回路装置が、高
   周波電界信号を発生し、上記ランプ探針がランプの近く
   に保持された時、ランプ内のガスを励起して該ガスの品
   質の表示を与える高周波発振器を含むガス入ランプ試験
   装置。 ３、上記第２項記載の装置で、ランプ探針が該高周波発
   振器に電気的に接続された基部電磁波放射器を含むガス
   入ランプ試験装置。 ４、上記第３項記載の装置で、ランプ探針が更に、基部
   電磁波放射器に電気的に接続されて高周波電界信号列を
   送り出す伸縮アンテナを含むガス入ランプ試験装置。 ５、上記第１項記載の装置で、ランプ／点灯器具試験回
   路装置が、電源と第１及び第２電気探針に接続され、か
   つ電源電圧の信号、又は各種回路部品から送られる信号
   を指示器に供給する電圧制御発振器を含むガス入ランプ
   試験装置。 ６、上記第５項記載の装置で、指示器が、電圧制御発振
   器に並列に接続されて各種対応信号を発生する視覚及び
   聴覚指示器を含むガス入ランプ試験装置。 ７、上記第６項記載の装置で、視覚指示器が、第１電気
   探針と電源に接続された発光ダイオードと増幅器とを含
   むガス入ランプ試験装着。 ８、上記第７項記載の装置で、聴覚指示器が、第２電気
   探針と電源に接続されたスピーカと増幅器とを含むガス
   入ランプ試験装置。 ９、上記第８項記載の装置で、視覚指示器の増幅器と、
   聴覚指示器の増幅器がそれぞれトランジスタであるガス
   入ランプ試験装置。 １０、上記第５項記載の装置で、電圧制御発振器が非安
   定形マルチバイブレータであるガス入ランプ試験装置。 １１、上記第１０項記載の装置で、非安定形マルチバイ
   ブレータが、第１電気探針からの信号を受信するように
   これに接続された第１トランジスタ、及び電源から電気
   的に絶縁されて第２電気探針に接続された第２トランジ
   スタを含み、ランプ／点灯器具試験回路装置は上記第１
   探針からの信号がない場合には電源から電流が流れない
   ように構成されているガス入ランプ試験装置。 １２、上記第１項記載の装置で、指示器が、試験回路部
   品の抵抗値に逆比例する音声を発生する回路を含んでい
   るガス入ランプ試験装置。