JPS6281874A - 光ビ−ム走査装置 - Google Patents
光ビ−ム走査装置Info
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- JPS6281874A JPS6281874A JP22033985A JP22033985A JPS6281874A JP S6281874 A JPS6281874 A JP S6281874A JP 22033985 A JP22033985 A JP 22033985A JP 22033985 A JP22033985 A JP 22033985A JP S6281874 A JPS6281874 A JP S6281874A
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- light
- light beam
- laser
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- Pending
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- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
- Mechanical Optical Scanning Systems (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、例えばレーザビームプリンタ等に用いられる
光ビーム走査装置に関し、特に光ビーム走査装置の光ビ
ーム出力強度調節の改良に関する。
光ビーム走査装置に関し、特に光ビーム走査装置の光ビ
ーム出力強度調節の改良に関する。
し開示の概要]
本明細占及び図面は、例えばレーザビームプリンタ等に
用いられる光ビーム走査装置において、光ビームを発す
る発光部と、該発光部を駆動する発光駆動部と、前記発
光部からの光ビームを結像する結像光学系と、該結像光
学系により光ビームの像を結像される結像媒体と、光路
上に設けられた複数の受光素子と、光ビーム発光強度調
整り段とを有し、前記光ビームを受光した前記受光素子
の数を発光駆動部における光ビームの発光出力を調整す
るための情報とする”j¥により、簡単な構成で、高速
に出力強度の調整を行う基のでさる技術を開示する。
用いられる光ビーム走査装置において、光ビームを発す
る発光部と、該発光部を駆動する発光駆動部と、前記発
光部からの光ビームを結像する結像光学系と、該結像光
学系により光ビームの像を結像される結像媒体と、光路
上に設けられた複数の受光素子と、光ビーム発光強度調
整り段とを有し、前記光ビームを受光した前記受光素子
の数を発光駆動部における光ビームの発光出力を調整す
るための情報とする”j¥により、簡単な構成で、高速
に出力強度の調整を行う基のでさる技術を開示する。
[従来の技術]
従来の例えばレーザービームプリンタの光ビーム走査装
置は、光源であるレーザ発生装置と、それを走査する回
転ポリゴンミラーと、走査ビームを感光ドラム表面の母
線上に集光するfθレンズと、水モ同助信号等を生成す
るために走査ビームの特定位ごを検出するビーム検出装
置等より構成されている。この光ビーム走査装置におけ
るビーム検出は、高速で走査している光ビームを高い応
答速度で検出する東が必要であり、その為には適正なレ
ーザ出力の制御が必要である。そこで従来では、レーザ
出力制御のためには例えばピンフォトタイオード笠の光
検出器により、光ビームを検出し、その出力信号のアナ
ログ値により光源の光出力を制御する方法が知られてい
る。又、簡易な方法としては、結像位置に専用の光出力
検出器(レーザパワーチェッカ)を設置して光出力を検
出していた。しかしながら、ビンフォトタイオードの電
化蓄積に要する時間のために、リアルタイムでの出力信
号の制御は困難であった。
置は、光源であるレーザ発生装置と、それを走査する回
転ポリゴンミラーと、走査ビームを感光ドラム表面の母
線上に集光するfθレンズと、水モ同助信号等を生成す
るために走査ビームの特定位ごを検出するビーム検出装
置等より構成されている。この光ビーム走査装置におけ
るビーム検出は、高速で走査している光ビームを高い応
答速度で検出する東が必要であり、その為には適正なレ
ーザ出力の制御が必要である。そこで従来では、レーザ
出力制御のためには例えばピンフォトタイオード笠の光
検出器により、光ビームを検出し、その出力信号のアナ
ログ値により光源の光出力を制御する方法が知られてい
る。又、簡易な方法としては、結像位置に専用の光出力
検出器(レーザパワーチェッカ)を設置して光出力を検
出していた。しかしながら、ビンフォトタイオードの電
化蓄積に要する時間のために、リアルタイムでの出力信
号の制御は困難であった。
−・方、画像を形成するにあたり、被走査媒体上(感光
ドラム)におけるレーザ光の径、即ちビームスポット径
が大きく画質に影響を!Fえる。そして、このレーザビ
ームのスポット径は走査媒体−Lでの光ビーム強度及び
ビームの焦点調節に大きく依存する。そこで従来では、
先ずこのスポット径の検出は、例えば撮像菅笠を結像位
とに設置し、レーザ光の走査を停止し、その静+h像を
観61噂することにより行ない、そのに−で焦点調節を
行っていた。
ドラム)におけるレーザ光の径、即ちビームスポット径
が大きく画質に影響を!Fえる。そして、このレーザビ
ームのスポット径は走査媒体−Lでの光ビーム強度及び
ビームの焦点調節に大きく依存する。そこで従来では、
先ずこのスポット径の検出は、例えば撮像菅笠を結像位
とに設置し、レーザ光の走査を停止し、その静+h像を
観61噂することにより行ない、そのに−で焦点調節を
行っていた。
このように従来では特殊な装置を用いてビーム出力の検
出、焦点調整の検証等を行っていたので、それらの調整
も複雑かつ¥数がかかった。
出、焦点調整の検証等を行っていたので、それらの調整
も複雑かつ¥数がかかった。
ところが上記のような特殊装置による調整も、工場出荷
時又は設備の整った特別な試験室では余り問題とならな
い。しかしながら、光ビームのビーム強度特に複数の発
光部(マルチビーム)を有するレーザ光の結像位置にお
ける光強度は、初期状態において各々簿しく設定しても
、時間の経過に従い低下してくる。その低下の程度は、
マルチビームにおいては各ビームにより異なり、それに
より当然光ビームの光出力のばらつきにより画像に影響
をかえることとなる。
時又は設備の整った特別な試験室では余り問題とならな
い。しかしながら、光ビームのビーム強度特に複数の発
光部(マルチビーム)を有するレーザ光の結像位置にお
ける光強度は、初期状態において各々簿しく設定しても
、時間の経過に従い低下してくる。その低下の程度は、
マルチビームにおいては各ビームにより異なり、それに
より当然光ビームの光出力のばらつきにより画像に影響
をかえることとなる。
又、結像位置におけるレーザスポット径についても、初
期状態においての設定スポット径に対し、装置本体の環
境変動に対する熱1膨張あるいは振動簿による焦点位置
の移動、又レーザ装置の交換、ポリゴンミラーの交換等
により焦点位置が変化し、最適スポット径が得られなく
なる。いわゆるこれらの経年変化に対しては再度出力、
焦点等を調整しない限り鮮明な画像を得るrtsは出来
ない。しかし現場で、再度調整しようにも前記特殊な装
置を現場まで運ぶ・バは困難である。
期状態においての設定スポット径に対し、装置本体の環
境変動に対する熱1膨張あるいは振動簿による焦点位置
の移動、又レーザ装置の交換、ポリゴンミラーの交換等
により焦点位置が変化し、最適スポット径が得られなく
なる。いわゆるこれらの経年変化に対しては再度出力、
焦点等を調整しない限り鮮明な画像を得るrtsは出来
ない。しかし現場で、再度調整しようにも前記特殊な装
置を現場まで運ぶ・バは困難である。
[発明が解決しようとする問題点]
即ち、従来技術においては光ビームの結像位置における
強度調整は簡単な構成で行う°バは出来なかったのであ
る。そこで、本発明は上述の欠点を除去するためになさ
れたもので、その目的は簡単な構成により容易にかつ高
速に光ビームの結像位置における強度調整が行える光ビ
ーム走査装置を提供する所にある。
強度調整は簡単な構成で行う°バは出来なかったのであ
る。そこで、本発明は上述の欠点を除去するためになさ
れたもので、その目的は簡単な構成により容易にかつ高
速に光ビームの結像位置における強度調整が行える光ビ
ーム走査装置を提供する所にある。
[問題点を解決するためのL段J
L記目的を達成するための−F段として例えば第1図に
示す実施例の光ビーム走査装置の構成は、光ビーム10
0を発する発光部101と、発光部101を駆動する発
光駆動部105と、発光部101からの光ビーム100
を結像する結像光学系102と、結像光学系102によ
り光ビームの像を結像される所の例えば感光ドラム等の
結像媒体103と、光路Hに設けられ、発光部lotか
ら結像媒体103までの距離と略同じ距離位置に設けら
れた複数の受光素子アレー104と、光ビーム100の
発光強度を調整する発光強度調整り段106とを有する
。
示す実施例の光ビーム走査装置の構成は、光ビーム10
0を発する発光部101と、発光部101を駆動する発
光駆動部105と、発光部101からの光ビーム100
を結像する結像光学系102と、結像光学系102によ
り光ビームの像を結像される所の例えば感光ドラム等の
結像媒体103と、光路Hに設けられ、発光部lotか
ら結像媒体103までの距離と略同じ距離位置に設けら
れた複数の受光素子アレー104と、光ビーム100の
発光強度を調整する発光強度調整り段106とを有する
。
[作用〕
第1図のような構成の下に、光ビーム100を受光した
受光素子アレー104の素子の数は結像媒体103 、
、l、における光ビームの強度を反映する°バとなり、
従って前記数が所定の数となるように発光強度調整r一
段106が光ビーム100の結像媒体103 、l二に
おけるビーム強度を調整する。このように強度調整の度
合がデジタル値なので調整のだめの制御が容易である。
受光素子アレー104の素子の数は結像媒体103 、
、l、における光ビームの強度を反映する°バとなり、
従って前記数が所定の数となるように発光強度調整r一
段106が光ビーム100の結像媒体103 、l二に
おけるビーム強度を調整する。このように強度調整の度
合がデジタル値なので調整のだめの制御が容易である。
「実施例」
以下、添付図面を参照しながら本発明に係る実施例を更
に詳細に説明する。
に詳細に説明する。
第2図は光ビーム装置の一例としてのレーザビームプリ
ンタの光走査方法を示す斜視図である。
ンタの光走査方法を示す斜視図である。
半導体レーザ装置lは記録すべき2値情報により変調さ
れた光ビームを発する。゛ト導体レーザ装置Iより発せ
られた光束はコリメータレンズ2によってモ行光束に集
光され、一定回転数で矢印8方向へ回転しているポリゴ
ンミラー3の表面で反射されて走査される。一定の角速
度で走査された光束はfOレンズ4を通過した後、感光
ドラム5の表面上へ集光され、更に矢印9方向へ一定の
線速度で走査され、感光ドラム5面上に走査線像11を
形成する。
れた光ビームを発する。゛ト導体レーザ装置Iより発せ
られた光束はコリメータレンズ2によってモ行光束に集
光され、一定回転数で矢印8方向へ回転しているポリゴ
ンミラー3の表面で反射されて走査される。一定の角速
度で走査された光束はfOレンズ4を通過した後、感光
ドラム5の表面上へ集光され、更に矢印9方向へ一定の
線速度で走査され、感光ドラム5面上に走査線像11を
形成する。
走査ビーム10を検出するビーム検出装置は、走査ビー
ム10の光路の特定位置に設けられた反射ミラー6とそ
の反射ビームを受光する光検出器7より成り、走査ビー
ムlOは一走査ごとに反射ミラー6で反射され、fOレ
ンズ4の焦点に置かれた光検出器7で受光される。光検
出器7は記録すべき情報を半導体レーザ装置1へ送出す
る開始の時点を決定する働きをなし、後述する制御回路
により受光時から一定時1n1後に記録信号開始(H3
YNC)の信号を発生する。この信号を受けて、半導体
レーザ装置1は後述の変調回路により記録回線に応じて
明暗に変調されたレーザービームを発し、矢印12方向
へ回転する感光ドラム5ヒに潜像を形成する。
ム10の光路の特定位置に設けられた反射ミラー6とそ
の反射ビームを受光する光検出器7より成り、走査ビー
ムlOは一走査ごとに反射ミラー6で反射され、fOレ
ンズ4の焦点に置かれた光検出器7で受光される。光検
出器7は記録すべき情報を半導体レーザ装置1へ送出す
る開始の時点を決定する働きをなし、後述する制御回路
により受光時から一定時1n1後に記録信号開始(H3
YNC)の信号を発生する。この信号を受けて、半導体
レーザ装置1は後述の変調回路により記録回線に応じて
明暗に変調されたレーザービームを発し、矢印12方向
へ回転する感光ドラム5ヒに潜像を形成する。
第3図は実施例の光ビーム走査装置の主要制御部のブロ
ック図である。第3図のブロック図は機能上4つに別れ
、それら4つのブロックとは、レーザを出力する部分と
(x、26簿)、発せられたレーザを受光する部分(7
,14,15−1〜15−n′7F)と、B D (B
EAM DETECT) 、 HS Y N C信号等
を形成する部分(16,19,20’i)と、焦点調節
をする部分(13,24,25′″gと、全体を制御す
るCPU等の制御部分(22゜23.30.31等)と
である。
ック図である。第3図のブロック図は機能上4つに別れ
、それら4つのブロックとは、レーザを出力する部分と
(x、26簿)、発せられたレーザを受光する部分(7
,14,15−1〜15−n′7F)と、B D (B
EAM DETECT) 、 HS Y N C信号等
を形成する部分(16,19,20’i)と、焦点調節
をする部分(13,24,25′″gと、全体を制御す
るCPU等の制御部分(22゜23.30.31等)と
である。
先ず、7は光検出器(第2図)であるところのn個の受
光素子(例えばビンフォトタイオード)からなるビンフ
ォトアレー、14は抵抗アレー、15−1〜15−nま
では、光ビームを検出するためにビンフォトアレー7か
ら出力した信号を分離するだめのコンパレータ、16は
コンパレータ15−1〜15−nからの出力の論理和を
とってBD(BEAM DETECT)信号とするため
のORゲート、17はコンパレータ(15−1〜15−
n)のためのノS準′市圧源、18は基準CLK、19
はカウンタ。
光素子(例えばビンフォトタイオード)からなるビンフ
ォトアレー、14は抵抗アレー、15−1〜15−nま
では、光ビームを検出するためにビンフォトアレー7か
ら出力した信号を分離するだめのコンパレータ、16は
コンパレータ15−1〜15−nからの出力の論理和を
とってBD(BEAM DETECT)信号とするため
のORゲート、17はコンパレータ(15−1〜15−
n)のためのノS準′市圧源、18は基準CLK、19
はカウンタ。
20はnビットのラッチである。これらにより、n個の
受光素子の受光状態がラッチ20にラッチされる。
受光素子の受光状態がラッチ20にラッチされる。
レーザを出力する部分は次の構成より成る。半導体レー
ザ装置1をドライブするレーザドライブ回路26、レー
ザビームが帰線する間ブランキング信号を出力して情報
データVI DEOをORゲート29−1〜29−nに
よりブランキングするためのブランキング回路28等で
ある。尚、レーザトドライブ回路26の詳細を第7図に
示す。又、半導体レーザ装置lの゛ト導体レーザは便宜
上3つの半導体素子にて示した。
ザ装置1をドライブするレーザドライブ回路26、レー
ザビームが帰線する間ブランキング信号を出力して情報
データVI DEOをORゲート29−1〜29−nに
よりブランキングするためのブランキング回路28等で
ある。尚、レーザトドライブ回路26の詳細を第7図に
示す。又、半導体レーザ装置lの゛ト導体レーザは便宜
上3つの半導体素子にて示した。
焦点調節するためのブロックは、ステッピングモータ(
SM)13、及び5M13を駆動するドライバ回路24
、焦点調節のためのレンズの動きの限界を定めるスイッ
チ5x(iE方向リミット)、S2(負方向リミット)
等から成る。
SM)13、及び5M13を駆動するドライバ回路24
、焦点調節のためのレンズの動きの限界を定めるスイッ
チ5x(iE方向リミット)、S2(負方向リミット)
等から成る。
制御ブロックは中央処理装置22、第9図に示した如き
制ML順のプログラムを記憶するROM30、ワーキン
グ用データを蓄えるRAM31、ラッチ20のラッチパ
ターンを入力するI10ボー121、ドライバ回路24
を駆動するためのI10ボート23、レーザドライブ回
路26を駆動するI10ポート25である。
制ML順のプログラムを記憶するROM30、ワーキン
グ用データを蓄えるRAM31、ラッチ20のラッチパ
ターンを入力するI10ボー121、ドライバ回路24
を駆動するためのI10ボート23、レーザドライブ回
路26を駆動するI10ポート25である。
く光ビーム検出の基本動作〉
第4図は光検出器7を構成する受光素子(ビンフォトタ
イオード)と゛ト導体レーザからの3つのレーザビーム
40−a、40−b、40−cとの関係を示す。個々の
受光素子の大きさはレーザスキャン方向に対して平行な
セル長文と、分割されたlチップのサイズdであって、
l>dとなる関係で作られており、このような構造にし
たのはdのセルサイズを小さくして分解能を上げたいが
、受光光;IYを増大させねばならないので、dが小さ
い分立を大きくして受光光j4を少なくてもすむように
したためである。
イオード)と゛ト導体レーザからの3つのレーザビーム
40−a、40−b、40−cとの関係を示す。個々の
受光素子の大きさはレーザスキャン方向に対して平行な
セル長文と、分割されたlチップのサイズdであって、
l>dとなる関係で作られており、このような構造にし
たのはdのセルサイズを小さくして分解能を上げたいが
、受光光;IYを増大させねばならないので、dが小さ
い分立を大きくして受光光j4を少なくてもすむように
したためである。
第5図(a)〜(b)に各受光素子の出力即ちコンパレ
ータ15−1〜15−nへの入力電圧を示す。ビンフォ
トアレイの各受光素子のサイズdは約15umで、レー
ザのビームは約60umである。VRはコンパレータ1
5−1〜15−nの基牛電圧値である。従ってVRを超
えるような出力のレーザ光の人力が1つでもあると、O
Rゲートの出力(BD)は“O°゛となり、カウンタ1
9をクリアする。カウンタ19はクリアされると、基僧
CLKにより、所定の時間後に水モ同期信号HSYNC
)を出力する。このH3YNCによってランチ20にコ
ンパレータ15−1〜15−nの各デジタル出カイ直が
ラッチされる。このようにして、ラッチされたラッチ2
0の内容を第6図(a)。
ータ15−1〜15−nへの入力電圧を示す。ビンフォ
トアレイの各受光素子のサイズdは約15umで、レー
ザのビームは約60umである。VRはコンパレータ1
5−1〜15−nの基牛電圧値である。従ってVRを超
えるような出力のレーザ光の人力が1つでもあると、O
Rゲートの出力(BD)は“O°゛となり、カウンタ1
9をクリアする。カウンタ19はクリアされると、基僧
CLKにより、所定の時間後に水モ同期信号HSYNC
)を出力する。このH3YNCによってランチ20にコ
ンパレータ15−1〜15−nの各デジタル出カイ直が
ラッチされる。このようにして、ラッチされたラッチ2
0の内容を第6図(a)。
(b)に示す。容易に了解されるようにラッチ20の内
容はビームの出力(強度)及びビームスポット径を反映
する。
容はビームの出力(強度)及びビームスポット径を反映
する。
〈焦点調節〉
次に焦点it!1ffiについて説明する。本実施例の
焦点調節はある1つのビームのビーム%i(これはラッ
チ20にラッチされたi!I!続する°“1°゛の個数
である)が、所定の幅(例えば、幅l)を持つように焦
点を調節するものである。本実施例では3つのビームを
用いているが、例えば第5図(a)の最初のビームを焦
点調整のための注目ビームとすると、焦点が合った時の
ビームの幅が“1゛′となるように、ステッピングモー
タ13を作動して、fOレンズ4の焦点をずらす。こう
して!7’S5図(b)のようなビーム出力が得られる
と、第6図(b)のようなデジタル値の受光パターンが
ラッチ20に得られる。ステッピングモータを1ステツ
プずつ作動して、fOレンズ4を移動して、移動の度に
ラッチ20に格納された受光パターンが°゛1°′であ
るか否かを調べるものである。こうして、光ビーム走査
装置のビームの焦点位置を自動的に移動させ、最適スポ
ット径を得るIGができる。本例では焦点が合った時の
ビーム幅を°1″としているが1 これは焦点が合って
いない時は少なくとも゛°1゛以ヒである筈であり、逆
に“O°゛となる程ビームが弱くなる1〜は極めて起こ
りずらいので、幅が” 1 ”以下である場合は考慮す
る必要がない。
焦点調節はある1つのビームのビーム%i(これはラッ
チ20にラッチされたi!I!続する°“1°゛の個数
である)が、所定の幅(例えば、幅l)を持つように焦
点を調節するものである。本実施例では3つのビームを
用いているが、例えば第5図(a)の最初のビームを焦
点調整のための注目ビームとすると、焦点が合った時の
ビームの幅が“1゛′となるように、ステッピングモー
タ13を作動して、fOレンズ4の焦点をずらす。こう
して!7’S5図(b)のようなビーム出力が得られる
と、第6図(b)のようなデジタル値の受光パターンが
ラッチ20に得られる。ステッピングモータを1ステツ
プずつ作動して、fOレンズ4を移動して、移動の度に
ラッチ20に格納された受光パターンが°゛1°′であ
るか否かを調べるものである。こうして、光ビーム走査
装置のビームの焦点位置を自動的に移動させ、最適スポ
ット径を得るIGができる。本例では焦点が合った時の
ビーム幅を°1″としているが1 これは焦点が合って
いない時は少なくとも゛°1゛以ヒである筈であり、逆
に“O°゛となる程ビームが弱くなる1〜は極めて起こ
りずらいので、幅が” 1 ”以下である場合は考慮す
る必要がない。
又、マルチビームの場合のレーザ素Y−はその製造段階
である程度アライン(ALIGN )が取れているので
1複数のビームのうちの1つのビームに注[]シて、こ
れにノ、(すいて焦点調整を行っても差支えない。
である程度アライン(ALIGN )が取れているので
1複数のビームのうちの1つのビームに注[]シて、こ
れにノ、(すいて焦点調整を行っても差支えない。
〈レーザ出力の調整〉
以」二のように焦点調節した時は、レーザビームが1つ
である光ビーム走査装置の場合は、ビーム強度は適in
に調整されたものと考える11ができる。しかし発光素
子が多数あり、従ってレーザビームも多数出力される時
は1つのビームの焦点調整のみでは、各ビームの結像位
置におけるビーム強度が適正に調整されたとは−rえな
い。そこで、ビームが複数ある時は前述したように1つ
のビームについて焦点調整しく又は、焦点が合っている
ものと仮定し)だLで、CPU22はピンクオドアレイ
7の各出力信号から各ビームの光出力(ビーム幅)を計
算し、それぞれを所定の値(第8図(a)の比較テーブ
ル50)と比較する。ここで、相互の出力の差を補正す
る為に、後述するようにレーザドライブ回路26に信号
を送り、これによりレーザチップ1から発振される各光
ビームの光出力を同じにする。この時の設定光賃は、R
OM30に持たれたビーム光量のパターン(第8図(a
)のレーザドライブ電流テーブル51)に基づいて設定
される。
である光ビーム走査装置の場合は、ビーム強度は適in
に調整されたものと考える11ができる。しかし発光素
子が多数あり、従ってレーザビームも多数出力される時
は1つのビームの焦点調整のみでは、各ビームの結像位
置におけるビーム強度が適正に調整されたとは−rえな
い。そこで、ビームが複数ある時は前述したように1つ
のビームについて焦点調整しく又は、焦点が合っている
ものと仮定し)だLで、CPU22はピンクオドアレイ
7の各出力信号から各ビームの光出力(ビーム幅)を計
算し、それぞれを所定の値(第8図(a)の比較テーブ
ル50)と比較する。ここで、相互の出力の差を補正す
る為に、後述するようにレーザドライブ回路26に信号
を送り、これによりレーザチップ1から発振される各光
ビームの光出力を同じにする。この時の設定光賃は、R
OM30に持たれたビーム光量のパターン(第8図(a
)のレーザドライブ電流テーブル51)に基づいて設定
される。
レーザドライブ回路26の内部を、第7図を川いて説明
する。尚、第7図のレーザドライブ回路26はレーザ素
子が3つの場合を例としている。
する。尚、第7図のレーザドライブ回路26はレーザ素
子が3つの場合を例としている。
CPU22はROM30のレーザドライブ電流テーブル
51の1つを読み出して、読出した値をI10ポート2
5を介してレーザドライブ回路26に送出する。送出さ
れたデータはラッチ43a〜43cにラッチされ、その
データに応じた電圧がD/A変換器42a〜42cから
出力され、更にその電圧値に応じて定電流ドライバ41
a〜41cはレーザ発光素子のドライブ電流を可変する
。SW回路40a〜40cは、定電流ドライバ41a〜
41cのドライブ電流に応じてビデオ信り29−a、
29−b、 29−cのSW倍信号レーザの各素子の発
光峻の変換及び光量の可変を行なう。
51の1つを読み出して、読出した値をI10ポート2
5を介してレーザドライブ回路26に送出する。送出さ
れたデータはラッチ43a〜43cにラッチされ、その
データに応じた電圧がD/A変換器42a〜42cから
出力され、更にその電圧値に応じて定電流ドライバ41
a〜41cはレーザ発光素子のドライブ電流を可変する
。SW回路40a〜40cは、定電流ドライバ41a〜
41cのドライブ電流に応じてビデオ信り29−a、
29−b、 29−cのSW倍信号レーザの各素子の発
光峻の変換及び光量の可変を行なう。
こうして、各ビーム間の光出力の間のばらつきを補正す
べくレーザの光源を制御し、これにより常に均一した光
Am:で最適スポットflのビームを被走査媒体上に得
る・lGができる。
べくレーザの光源を制御し、これにより常に均一した光
Am:で最適スポットflのビームを被走査媒体上に得
る・lGができる。
第8図(a)はROM30内に格納されている比較テー
ブル50、レーザドライブ電流テーブル51、及び第9
図(a)、(b)の如き手順のプログラム52の構成を
示す。比較テーブル50は第8図(b)に示すようにm
個のテーブルから構成され、これらの個々のテーブルと
ランチ20から読み取った受光パターンとを比較する。
ブル50、レーザドライブ電流テーブル51、及び第9
図(a)、(b)の如き手順のプログラム52の構成を
示す。比較テーブル50は第8図(b)に示すようにm
個のテーブルから構成され、これらの個々のテーブルと
ランチ20から読み取った受光パターンとを比較する。
比較テーブル50の個々のテーブルの値は例えば次のよ
うに決定してもよい、各レーザ素子からのレーザ出力を
ずらして、そのずれた出力状態でラッチ20に得た受光
パターンを個々のテーブル値として比較テーブル50に
格納する。そして、前述した意図的にずらしたレーザ出
力を適正に補正するようなレーザドライブ電流の値を第
8図(b)の如く、個々の比較テーブルと対応ずけて前
もって用意しておく。従って、出力調整する時に得られ
る受光パターンと一致するような比較テーブルが見付か
れば、その比較テーブルに対応するレーザドライブ電流
値をレーザドライブ電流テーブル51から読み出して、
その値をレーザドライブ回路26にセットする。
うに決定してもよい、各レーザ素子からのレーザ出力を
ずらして、そのずれた出力状態でラッチ20に得た受光
パターンを個々のテーブル値として比較テーブル50に
格納する。そして、前述した意図的にずらしたレーザ出
力を適正に補正するようなレーザドライブ電流の値を第
8図(b)の如く、個々の比較テーブルと対応ずけて前
もって用意しておく。従って、出力調整する時に得られ
る受光パターンと一致するような比較テーブルが見付か
れば、その比較テーブルに対応するレーザドライブ電流
値をレーザドライブ電流テーブル51から読み出して、
その値をレーザドライブ回路26にセットする。
く1υ制御手順〉
第9図はROM30に格納されている所の実施例に係る
制御手順のマクロレベルのフローチャートである。7j
S9図(a)の制御手順は主に焦点調節に係るもので、
第9図(b)のそれは出力調整の制御に係るものである
。尚、これらのマクロレベルのルーチンから不図示のマ
イクロレベルのルーチンとの間の制御はHSYNCによ
る割り込み(第3図のCPU22のINT端子)によっ
てなされる。
制御手順のマクロレベルのフローチャートである。7j
S9図(a)の制御手順は主に焦点調節に係るもので、
第9図(b)のそれは出力調整の制御に係るものである
。尚、これらのマクロレベルのルーチンから不図示のマ
イクロレベルのルーチンとの間の制御はHSYNCによ
る割り込み(第3図のCPU22のINT端子)によっ
てなされる。
その他制外手順に係るフラグ類を第8図(C)を用いて
説明すると、RAM31内にはFOCUSフラグ32、
FWD/REVフラグ33、受光パターンレジスタ34
、エラーフラグ35等が格納される。FOCUSフラグ
32は焦点調整が終了した19を示すフラグであり、そ
の初期値はO” である、FWD/REV7ラグ33は
ステッピングモータ13のステップ方向を示すフラグで
ある。FWD/REVフラグ33が“1°゛の時は焦点
が前進するように、0°′である時は焦点が後退するよ
うにステッピングモータ13が動作fOレンズ4を動か
すものであって、その初期値は’ l ” 、つまり前
進である。受光パターンレジスタ34はラッチ20に読
み込んだ最新の受光パターンを一時的に格納しておくレ
ジスタである。尚、に記のこれらのフラグの初期(iα
セットは第9図(a)、(c)には不図示の初期化ルー
チンでなされる。
説明すると、RAM31内にはFOCUSフラグ32、
FWD/REVフラグ33、受光パターンレジスタ34
、エラーフラグ35等が格納される。FOCUSフラグ
32は焦点調整が終了した19を示すフラグであり、そ
の初期値はO” である、FWD/REV7ラグ33は
ステッピングモータ13のステップ方向を示すフラグで
ある。FWD/REVフラグ33が“1°゛の時は焦点
が前進するように、0°′である時は焦点が後退するよ
うにステッピングモータ13が動作fOレンズ4を動か
すものであって、その初期値は’ l ” 、つまり前
進である。受光パターンレジスタ34はラッチ20に読
み込んだ最新の受光パターンを一時的に格納しておくレ
ジスタである。尚、に記のこれらのフラグの初期(iα
セットは第9図(a)、(c)には不図示の初期化ルー
チンでなされる。
(焦点調整制御〉
先ず、ステップSlでFOCUSフラグ32のセット状
態を調べる。最初はこのフラグ32はセントしていない
からステップS2へ進み、ラッチ20の内容をI10ボ
ート21を介して読み込む。次にステップS2で読み込
んだ値から注目ビームのビーム幅を検出する。今、第6
図(a)のように注目ビーム(ビーム40−a)の幅が
“2″であると検出されたとする。そこで、ステップS
6でその受光パターンを受光パターンレジスタ34に退
避しておく0次にステップS8で、ステッピングモータ
13を1ステップ動かす。この時FWD/REVフラグ
33は“1 ”であるから、ステッピングモータ13は
焦点位置が前進するように動作する。ステップ510(
次のH3YNC′、!1込)で、ラッチ20の受光パタ
ーンを読み込み。
態を調べる。最初はこのフラグ32はセントしていない
からステップS2へ進み、ラッチ20の内容をI10ボ
ート21を介して読み込む。次にステップS2で読み込
んだ値から注目ビームのビーム幅を検出する。今、第6
図(a)のように注目ビーム(ビーム40−a)の幅が
“2″であると検出されたとする。そこで、ステップS
6でその受光パターンを受光パターンレジスタ34に退
避しておく0次にステップS8で、ステッピングモータ
13を1ステップ動かす。この時FWD/REVフラグ
33は“1 ”であるから、ステッピングモータ13は
焦点位置が前進するように動作する。ステップ510(
次のH3YNC′、!1込)で、ラッチ20の受光パタ
ーンを読み込み。
ステップS12でこの読み取った受光パターンにおける
注目ビームの受光幅が所定の幅であるか否かを判断する
0本例ではこの所定幅は“1 ”であるとして説明する
。ステップS12での判断によりフローは2つに別れる
。
注目ビームの受光幅が所定の幅であるか否かを判断する
0本例ではこの所定幅は“1 ”であるとして説明する
。ステップS12での判断によりフローは2つに別れる
。
く所定幅に等しいか又は短い時〉
この時は焦点が合ったのであるから、フローはステップ
S24へ進んで、焦点調整が終了した4tを示すFOC
USフラグ32をセットして1次の出力調整ルーチン(
第9図(b))へ進む。尚、ステップS1でFOCUS
フラグが°l′であるか否かを調べるのは、次のような
場合を考慮してである。即ち、焦点調整はステッピング
モータ13の駆動により行われるため、光ビーム走査装
置の通常の動作時にリアルタイムで焦点調整する11は
不可能であるが、前述したように光ビームの出力調整は
可能である。そこで、一度焦点調整が済んだ後はFOC
USフラグ32をセットしておき、通常時はステップS
lから第9図(b)のステップ530へ進み、リアルタ
イムで出力調整を行うのである。
S24へ進んで、焦点調整が終了した4tを示すFOC
USフラグ32をセットして1次の出力調整ルーチン(
第9図(b))へ進む。尚、ステップS1でFOCUS
フラグが°l′であるか否かを調べるのは、次のような
場合を考慮してである。即ち、焦点調整はステッピング
モータ13の駆動により行われるため、光ビーム走査装
置の通常の動作時にリアルタイムで焦点調整する11は
不可能であるが、前述したように光ビームの出力調整は
可能である。そこで、一度焦点調整が済んだ後はFOC
USフラグ32をセットしておき、通常時はステップS
lから第9図(b)のステップ530へ進み、リアルタ
イムで出力調整を行うのである。
く所定幅より長い時〉
この時は焦点は合っていないのであるから、ステップ5
14へ進み、ステップSIOで読み込んだ受光幅と受光
パターンレジスタ34に退避しておいた受光幅とを比較
して、ステップS8におけるステッピングモータ13に
よる焦点位置の移動が受光幅を短くする方向への移動、
即ち焦点がより合致する方向への移動であったかを判断
する。
14へ進み、ステップSIOで読み込んだ受光幅と受光
パターンレジスタ34に退避しておいた受光幅とを比較
して、ステップS8におけるステッピングモータ13に
よる焦点位置の移動が受光幅を短くする方向への移動、
即ち焦点がより合致する方向への移動であったかを判断
する。
ステップS14での判断がYESであるならば、ステッ
プS20で正方向リミットスイッチS1が閉じているか
を調べる。このスイッチが閉していたならば、ステップ
522へ進む、これは、現在の焦点調整のずれの程度が
焦点位置を更に前進させねばならないのに、前進不濠で
ある“バを示すリミットスイッチSlの閉じた状態を検
知した1vは焦点調節が不可能な程に焦点がすれている
・li−を示している。それで、ステップS22でエラ
ーフラグ35をセー2トする。フィー2千Slが閉じて
いないのであれば、ステップS6へ戻り、ステップS1
0で読み込んだラッチ20の内容を受光パターンレジス
タ34へ退避させておく。そしてステップS8で、FW
D/REVフラグ33に従って(今度は前進)ステッピ
ングモータ13を駆動して、fOレンズ4の焦点を調整
する。
プS20で正方向リミットスイッチS1が閉じているか
を調べる。このスイッチが閉していたならば、ステップ
522へ進む、これは、現在の焦点調整のずれの程度が
焦点位置を更に前進させねばならないのに、前進不濠で
ある“バを示すリミットスイッチSlの閉じた状態を検
知した1vは焦点調節が不可能な程に焦点がすれている
・li−を示している。それで、ステップS22でエラ
ーフラグ35をセー2トする。フィー2千Slが閉じて
いないのであれば、ステップS6へ戻り、ステップS1
0で読み込んだラッチ20の内容を受光パターンレジス
タ34へ退避させておく。そしてステップS8で、FW
D/REVフラグ33に従って(今度は前進)ステッピ
ングモータ13を駆動して、fOレンズ4の焦点を調整
する。
ステップSL4での判断がNOである時、即ちステッピ
ングモータ13の駆動によるfOレンズ4の焦点位置が
ビンフォトアレー7の位置より更に前へ行ってしまった
のであるから、ステップS16 テF W D / R
E V 7 ラグ33を°’O”ニして、次の焦点位置
移動に備える。次にステップ318で、ステップS20
の時と同様な意味で負方向リミ、トスインチS2が閉じ
ているかを調べる。閉じていなければステップS6へ戻
り、ステップS10で読み込んだラッチ20の内容を受
光パターンレジスタ34へ退避させ、ステップS8へ進
みステッピングモータ13を1ステップ動かす。今度は
FWD/REVフラグ33が“°O“。
ングモータ13の駆動によるfOレンズ4の焦点位置が
ビンフォトアレー7の位置より更に前へ行ってしまった
のであるから、ステップS16 テF W D / R
E V 7 ラグ33を°’O”ニして、次の焦点位置
移動に備える。次にステップ318で、ステップS20
の時と同様な意味で負方向リミ、トスインチS2が閉じ
ているかを調べる。閉じていなければステップS6へ戻
り、ステップS10で読み込んだラッチ20の内容を受
光パターンレジスタ34へ退避させ、ステップS8へ進
みステッピングモータ13を1ステップ動かす。今度は
FWD/REVフラグ33が“°O“。
であるから、fOレンズ4の焦点位置を後退させる“1
1となる。
1となる。
以り説明した動作をステップS12でビーム幅が所定の
幅である・1¥を検出するまで繰り返す。
幅である・1¥を検出するまで繰り返す。
り113力調整制御)
第9図(b)に従って説明する。この第9図(b)の制
御フローは便宜上第9図(a)の焦点調整フローの続き
としであるが、独ケした制御フローとしてあってもよい
。
御フローは便宜上第9図(a)の焦点調整フローの続き
としであるが、独ケした制御フローとしてあってもよい
。
先ず、ステップ530で比較テーブル50内をステップ
SIOで読み込んだラッチ2oの受光パターンと同じも
のを探す。そのようなテーブルが比較テーブル50内に
あれば、前述したように出力調整は完了していないので
あるから、ステップS34へ進み、そのテーブルに対応
するレーザドライブ電流テーブル51内のレーザドライ
ブ電流データ(第8図(b)参照)を読み込んで、ステ
ップ336で前述したように、I10ポート25を介し
てレーザドライブ回路26ヘレーザドライブ′市流のテ
ークをセットして、更にステップ838でラッチ20の
内容を読み込んでステップS30へJズる。
SIOで読み込んだラッチ2oの受光パターンと同じも
のを探す。そのようなテーブルが比較テーブル50内に
あれば、前述したように出力調整は完了していないので
あるから、ステップS34へ進み、そのテーブルに対応
するレーザドライブ電流テーブル51内のレーザドライ
ブ電流データ(第8図(b)参照)を読み込んで、ステ
ップ336で前述したように、I10ポート25を介し
てレーザドライブ回路26ヘレーザドライブ′市流のテ
ークをセットして、更にステップ838でラッチ20の
内容を読み込んでステップS30へJズる。
ステップ330へノズって、ラッチ20から読み込んだ
受光パターンが比較テーブル50内のいずれとも一致し
なくなった時は出力調整が完了したのであるから出力調
整制御フローは終でする。
受光パターンが比較テーブル50内のいずれとも一致し
なくなった時は出力調整が完了したのであるから出力調
整制御フローは終でする。
これらの動作により、結像位置における光ビームは所望
するスポット径の各々とともに均一の光出力をもったビ
ームとなり得る。特に、光ビームの出力制御を常時行え
ば、常に−・定した光量が自動的に得られる%となる。
するスポット径の各々とともに均一の光出力をもったビ
ームとなり得る。特に、光ビームの出力制御を常時行え
ば、常に−・定した光量が自動的に得られる%となる。
以上の動作は、本実施例においては、複数の発光部をも
つマルチレーザについて説明してきたが、単独の発光部
をもつレーザに関しても同様な制御が可能であることは
、容易に理解できる。
つマルチレーザについて説明してきたが、単独の発光部
をもつレーザに関しても同様な制御が可能であることは
、容易に理解できる。
又、前記実施例は光検知器にピンフォトアレイを用いて
いるが、これを検知信吟が時系列に発生するCCDセン
サを用いて、同様な動作を行なうこともできる。又、レ
ーザビームプリンタに限定されるものでもないバは明ら
かである。
いるが、これを検知信吟が時系列に発生するCCDセン
サを用いて、同様な動作を行なうこともできる。又、レ
ーザビームプリンタに限定されるものでもないバは明ら
かである。
以上説明した本実施例の光ビーム走査装置の特徴を列挙
すると、 (1)光ビームの光量が常に一定になる為、安定した画
像が得られる。
すると、 (1)光ビームの光量が常に一定になる為、安定した画
像が得られる。
(2)複数の発光部を持つアレイレーザにおいて、各ビ
ーム光ら1及びスポット径が同じに保たれる為に、画像
のムラ等が解消される。
ーム光ら1及びスポット径が同じに保たれる為に、画像
のムラ等が解消される。
(3)環境変化、温度差による光路長の変化に対応して
、自動的に所望のビームが得られる。
、自動的に所望のビームが得られる。
(4)レーザ装置、ポリゴンミラー笠の交換によっても
、光学系等の再調整が不要であり、従来のように特殊な
装置を用いる“1覧なく光ビーム走査装置内に組み込ま
れた簡単なr段により現場での作業がOf能となる。
、光学系等の再調整が不要であり、従来のように特殊な
装置を用いる“1覧なく光ビーム走査装置内に組み込ま
れた簡単なr段により現場での作業がOf能となる。
[発明の効果]
以上説明したように本発明によれば、結像媒体ににおけ
る光ビームの強度調整を、光路上に設けられた複数の受
光素子の受光した素子の数に基すいて行うために、簡単
な構成で容易にかつ高速に強度調整が可能となった。
る光ビームの強度調整を、光路上に設けられた複数の受
光素子の受光した素子の数に基すいて行うために、簡単
な構成で容易にかつ高速に強度調整が可能となった。
第1図は本発明に係る実施例の基本構成図、第2図は本
実施例の光路及び焦点調節を説明する図、 第3図は実施例の制御のための主要回路ブロック図、 :Jr、4図はレーザビームと受光素子−との関係を説
明する図、 第5図(a)、(b)は各受光素子の出力゛市川を示す
図。 第6図(a)、(b)はラッチ20に格納された受光パ
ターンの図、 第7図はレーザドライブ回路の詳細図、第8図(a)(
b)はROM内の構成図、第8図(c)はRAM内の構
成図、 第9図(a)(b)は実施例の制御ト順に係るフローチ
ャートである。 図中、1・・・レーザ発生装置、2・・・コリメータレ
ンズ、3・・・ポリゴンミラー、4・・・fOレンズ、
5・・・感光ドラム、6・・・反射ミラー、7・・・光
検出塁、13・・・ステッピングモータ、14・・・抵
抗アレー、15−1〜15−n・・−:Iンバレータ、
16−ORゲート、17・・・基僧′屯圧源、18・・
・基牛CLK、19・・・カウンタ、20・・・ラッチ
、21,23.25・・・I10ポート、22・・・C
PU、24・・・ドライブ回路、26・・・レーザドラ
イブ回路、28・・・ブランキング回路、30・・・R
OM、31・・・RAM、32・・・FOCUSフラグ
、33・・・FWD/REVフラグ、34・・・受光パ
ターンレジスタ、35・・・エラーフラグ、 40
a 〜40 c−5W回路、41 a 〜41 c一定
′It!、流ドライバ、42a〜42C・・・D/Aコ
ンバータ、43a〜43c・・・ラッチ、50・・・比
較テーブル、51・・・レーザドライブ電流テーブル、
52・・・プログラム、100・・・光ビーム、101
・・・発光部、102・・・結像光学系、103・・・
結像媒体、104・・・受光素子アレー、105・・・
発光駆動部、106・・・発光強度調整−L段である。 第6図 や7図 0c
実施例の光路及び焦点調節を説明する図、 第3図は実施例の制御のための主要回路ブロック図、 :Jr、4図はレーザビームと受光素子−との関係を説
明する図、 第5図(a)、(b)は各受光素子の出力゛市川を示す
図。 第6図(a)、(b)はラッチ20に格納された受光パ
ターンの図、 第7図はレーザドライブ回路の詳細図、第8図(a)(
b)はROM内の構成図、第8図(c)はRAM内の構
成図、 第9図(a)(b)は実施例の制御ト順に係るフローチ
ャートである。 図中、1・・・レーザ発生装置、2・・・コリメータレ
ンズ、3・・・ポリゴンミラー、4・・・fOレンズ、
5・・・感光ドラム、6・・・反射ミラー、7・・・光
検出塁、13・・・ステッピングモータ、14・・・抵
抗アレー、15−1〜15−n・・−:Iンバレータ、
16−ORゲート、17・・・基僧′屯圧源、18・・
・基牛CLK、19・・・カウンタ、20・・・ラッチ
、21,23.25・・・I10ポート、22・・・C
PU、24・・・ドライブ回路、26・・・レーザドラ
イブ回路、28・・・ブランキング回路、30・・・R
OM、31・・・RAM、32・・・FOCUSフラグ
、33・・・FWD/REVフラグ、34・・・受光パ
ターンレジスタ、35・・・エラーフラグ、 40
a 〜40 c−5W回路、41 a 〜41 c一定
′It!、流ドライバ、42a〜42C・・・D/Aコ
ンバータ、43a〜43c・・・ラッチ、50・・・比
較テーブル、51・・・レーザドライブ電流テーブル、
52・・・プログラム、100・・・光ビーム、101
・・・発光部、102・・・結像光学系、103・・・
結像媒体、104・・・受光素子アレー、105・・・
発光駆動部、106・・・発光強度調整−L段である。 第6図 や7図 0c
Claims (4)
- (1)光ビームを発する発光部と、該発光部を駆動する
発光駆動部と、前記発光部からの光ビームを結像する結
像光学系と、該結像光学系により光ビームの像を結像さ
れる結像媒体と、光路上に設けられた複数の受光素子と
、光ビーム発光強度調整手段とを有し、該光ビーム発光
強度調整手段は前記光ビームを受光した前記受光素子の
数を発光駆動部における光ビームの発光出力調整のため
の情報とする事を特徴とする光ビーム走査装置。 - (2)発光部は縦に略1列状に並んだ複数の発光素子か
らなる事を特徴とする特許請求の範囲第1項に記載の光
ビーム走査装置。 - (3)発光駆動部は発光出力制御部を備え、該発光出力
制御部は光ビームを受光した受光素子の数が所定の数と
なるように発光出力を制御する事を特徴とする特許請求
の範囲第1項に記載の光ビーム走査装置。 - (4)発光部は縦に略1列状に並んだ複数の発光素子か
らなり、発光駆動部は前記複数の発光素子の個々に対応
した複数の発光出力制御部を備え、個々の発光出力制御
部は個々の光ビームを受光した受光素子の数が夫々所定
の数となるように発光出力を制御する事を特徴とする特
許請求の範囲第1項に記載の光ビーム走査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22033985A JPS6281874A (ja) | 1985-10-04 | 1985-10-04 | 光ビ−ム走査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22033985A JPS6281874A (ja) | 1985-10-04 | 1985-10-04 | 光ビ−ム走査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6281874A true JPS6281874A (ja) | 1987-04-15 |
Family
ID=16749596
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP22033985A Pending JPS6281874A (ja) | 1985-10-04 | 1985-10-04 | 光ビ−ム走査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6281874A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8223812B2 (en) | 2007-05-15 | 2012-07-17 | Canon Kabushiki Kaisha | Optical scanning apparatus |
-
1985
- 1985-10-04 JP JP22033985A patent/JPS6281874A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8223812B2 (en) | 2007-05-15 | 2012-07-17 | Canon Kabushiki Kaisha | Optical scanning apparatus |
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