JPS6283466A - イオン処理装置用熱伝導体 - Google Patents
イオン処理装置用熱伝導体Info
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- JPS6283466A JPS6283466A JP22258985A JP22258985A JPS6283466A JP S6283466 A JPS6283466 A JP S6283466A JP 22258985 A JP22258985 A JP 22258985A JP 22258985 A JP22258985 A JP 22258985A JP S6283466 A JPS6283466 A JP S6283466A
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Landscapes
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- Physical Vapour Deposition (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
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Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、イオン注入装置、イオン注入と真空蒸着と
を併用するイオン蒸着薄膜形成装置、イオンビームエツ
チング装置等のイオン処理装置に用いられて、ウェハ等
のターゲット材料とその支持体との間の熱伝導を図る熱
伝導体に関する。
を併用するイオン蒸着薄膜形成装置、イオンビームエツ
チング装置等のイオン処理装置に用いられて、ウェハ等
のターゲット材料とその支持体との間の熱伝導を図る熱
伝導体に関する。
イオン注入装置等において、真空中でウェハにイオンビ
ー11を照射すると、当該ウェハは非常に高温度になる
。例えば200KV、1mAのイオン注入装置において
は、ウェハに注入されるエネルギーは200 (KV)
xi (mA) −200〔W〕にもなり、また雰囲
気が真空であるため、当該ウェハの温度は数百℃まで1
−饗して輻射による放熱と釣り合うようになる。
ー11を照射すると、当該ウェハは非常に高温度になる
。例えば200KV、1mAのイオン注入装置において
は、ウェハに注入されるエネルギーは200 (KV)
xi (mA) −200〔W〕にもなり、また雰囲
気が真空であるため、当該ウェハの温度は数百℃まで1
−饗して輻射による放熱と釣り合うようになる。
そこでこれを防止するため、従来から例えば第4図に示
すようなウェハホルダ2が用いられている。このウェハ
ホルダ2は、例えば生産用クイブのイオン注入装置に用
いられるものであり、−)二面中央部がやや凸面をした
(図には表れていない)支持体(冷却プラテンあるいは
冷却用バンキングプレートとも呼ぶ)4の上面にシリコ
ーンゴムから成る熱伝導体8を設置し、その十にウェハ
(例えばシリコンウェハ)12をうエバ押え10によっ
て押さえ付ける構造をしており、当該熱伝導体8によっ
てうエバ12の熱を支持体4へ伝達して冷却するように
している。尚、6は冷却水等の冷却媒体を通すための通
路であり、14は前述したイオンビームである。
すようなウェハホルダ2が用いられている。このウェハ
ホルダ2は、例えば生産用クイブのイオン注入装置に用
いられるものであり、−)二面中央部がやや凸面をした
(図には表れていない)支持体(冷却プラテンあるいは
冷却用バンキングプレートとも呼ぶ)4の上面にシリコ
ーンゴムから成る熱伝導体8を設置し、その十にウェハ
(例えばシリコンウェハ)12をうエバ押え10によっ
て押さえ付ける構造をしており、当該熱伝導体8によっ
てうエバ12の熱を支持体4へ伝達して冷却するように
している。尚、6は冷却水等の冷却媒体を通すための通
路であり、14は前述したイオンビームである。
その場合、熱伝導体8としてシリコーンゴムを用いるの
は、シリコーンゴムは可撓性を有しておリ、ウェハI2
を押し付けると当該シリコーンゴムは変形してウェハ1
2および支持体4に密着して接触面積が拡大し、これに
よって熱伝導性が良好になるからである。また支持体4
のに血中央部をやや凸面にしているのは、ウェハ12の
周囲をウェハ押え10で押圧した場合、ウェハ12の中
央部にも荷重がかがりウェハ12の全体が均一・に冷却
されるようにするためである。
は、シリコーンゴムは可撓性を有しておリ、ウェハI2
を押し付けると当該シリコーンゴムは変形してウェハ1
2および支持体4に密着して接触面積が拡大し、これに
よって熱伝導性が良好になるからである。また支持体4
のに血中央部をやや凸面にしているのは、ウェハ12の
周囲をウェハ押え10で押圧した場合、ウェハ12の中
央部にも荷重がかがりウェハ12の全体が均一・に冷却
されるようにするためである。
ところが、熱伝導体8として使用されているシリコーン
ゴムシートは、上記のように可撓性を有しているものの
、ウェハ12と支持体4との間の間隙の不拘−性乙こ応
して変形する量は必ずしも十分なものではなく、従って
ウェハ12と支持体4との間の熱転i iト(−分では
なかった。これは、シリコーンゴムは弾性変形はするけ
れども晴性変形はゼす、従って間隙の小さい所から大き
い所に流動変形してウェハ12と支持体4とに完全に密
着するということがないことに大きな原因がある。
ゴムシートは、上記のように可撓性を有しているものの
、ウェハ12と支持体4との間の間隙の不拘−性乙こ応
して変形する量は必ずしも十分なものではなく、従って
ウェハ12と支持体4との間の熱転i iト(−分では
なかった。これは、シリコーンゴムは弾性変形はするけ
れども晴性変形はゼす、従って間隙の小さい所から大き
い所に流動変形してウェハ12と支持体4とに完全に密
着するということがないことに大きな原因がある。
そのため、前述のような注入条件下におけるウェハ12
の温度を100°C稈度以丁に川1えることは従来は不
可能であった。
の温度を100°C稈度以丁に川1えることは従来は不
可能であった。
そこでこの発明は、ウェハ等のターリ−)]材利とその
支持体との間の熱伝導をシリコーンゴムシートよりも向
上さゼることかできる熱伝導体を提イJ(することをL
I的とする。
支持体との間の熱伝導をシリコーンゴムシートよりも向
上さゼることかできる熱伝導体を提イJ(することをL
I的とする。
この発明の熱伝導体は、内部に流動1ノロA 11が密
封され少なくともターゲット+4籾の当接面がシリコー
ンゴムシー1〜より成ることを特徴とする。
封され少なくともターゲット+4籾の当接面がシリコー
ンゴムシー1〜より成ることを特徴とする。
シリコーンゴムシートで密封している流動性材料は外力
に応じて流動変形するため、当該熱伝導体はウェハ等の
ターゲット材宇1とその支持体とにほぼ完全に密着する
。従って当該熱伝導体によれば、ウェハ等のターゲノI
11とその支持体との間の熱伝導がシリコーンゴJ、シ
ートのみの場合に比べて向上する。
に応じて流動変形するため、当該熱伝導体はウェハ等の
ターゲット材宇1とその支持体とにほぼ完全に密着する
。従って当該熱伝導体によれば、ウェハ等のターゲノI
11とその支持体との間の熱伝導がシリコーンゴJ、シ
ートのみの場合に比べて向上する。
第1図は、この発明の一実施例に係る熱伝導体を示す概
略断面図である。この実施例に係る熱伝導体18は、例
えば前述したようなウェハホルダ2の熱伝導体8の代わ
りに用いられるものであって、シリコーンゴムシートを
2重構造として上下のシリコーンゴムシート20a、2
Ob間に流動性材料22を密封して成る。
略断面図である。この実施例に係る熱伝導体18は、例
えば前述したようなウェハホルダ2の熱伝導体8の代わ
りに用いられるものであって、シリコーンゴムシートを
2重構造として上下のシリコーンゴムシート20a、2
Ob間に流動性材料22を密封して成る。
シリコーンゴムシート20a、20bは、流動性材料2
2の流動変形をできるだけ妨げないようにするため、厚
さが薄い方が好ましい。
2の流動変形をできるだけ妨げないようにするため、厚
さが薄い方が好ましい。
シリコーンゴムシート20a、20bの間隔ヲ保持する
ために、両者間にスペーサを配設しても良い。
ために、両者間にスペーサを配設しても良い。
)ん動性材料22としては、使用雰囲気の真空度よりも
低い飽和蒸気圧のものが好ましい。そのような流動性+
4f122は、真空中で殆ど蒸発しないからである。例
えば、イオン注入装置においては当該熱伝導体18は1
0−’〜10−’T o r r程度の真空度の雰囲気
において使用されるので、流動性材料22としては飽和
蒸気圧が1O−7Torr程度以下のものが好ましい。
低い飽和蒸気圧のものが好ましい。そのような流動性+
4f122は、真空中で殆ど蒸発しないからである。例
えば、イオン注入装置においては当該熱伝導体18は1
0−’〜10−’T o r r程度の真空度の雰囲気
において使用されるので、流動性材料22としては飽和
蒸気圧が1O−7Torr程度以下のものが好ましい。
また流動性材料22としては、熱伝導率ができるだけ高
いもの、少なくともシリコーンゴムと同程度のものが好
ましい。
いもの、少なくともシリコーンゴムと同程度のものが好
ましい。
上記のような条件に適合する流動性材料22としては、
例えばシリコーングリス、フッ素系グリス等が挙げられ
る。特にシリコーングリスは、常温以下でも固化せずに
使用でき、洗浄、取扱い等も簡単である。またシリコー
ンゴムシー1−202 。
例えばシリコーングリス、フッ素系グリス等が挙げられ
る。特にシリコーングリスは、常温以下でも固化せずに
使用でき、洗浄、取扱い等も簡単である。またシリコー
ンゴムシー1−202 。
20bと同系の材料であり、ウェハの一般的なヰ4質で
あるシリコンとも同系であるため、ウェハへの不純物混
入の問題等が少ない。
あるシリコンとも同系であるため、ウェハへの不純物混
入の問題等が少ない。
上記のような熱伝導体18においては、流動性材料22
は外力に応して流動変形するため、例えば当該熱伝導体
18を前述したウェハホルダ2に用いた場合、ウェハ1
2と支持体4との間の不均一な間隙を十分に埋めつくし
て両者にほぼ完全に密着する。その結果ウェハ12から
支持体4への熱伝導が良くなりウェハ12の冷却能力が
向−卜する。また、当該熱伝導体18はウェハI2や支
持体4に均等に接触するため、熱伝導の均一性も犬幅に
向トする。
は外力に応して流動変形するため、例えば当該熱伝導体
18を前述したウェハホルダ2に用いた場合、ウェハ1
2と支持体4との間の不均一な間隙を十分に埋めつくし
て両者にほぼ完全に密着する。その結果ウェハ12から
支持体4への熱伝導が良くなりウェハ12の冷却能力が
向−卜する。また、当該熱伝導体18はウェハI2や支
持体4に均等に接触するため、熱伝導の均一性も犬幅に
向トする。
例えば、上記のようなウェハホルダ2に用いて2QOK
Vx1mAのイオン注入を行うような場合、S7エハ1
2の温度は約80℃程度にまで低下−さゼることか可能
となる。その結果、例えばウェハ12の表面に設けられ
ているレジスト(図示省略)に熱影響のないイオン注入
が可能となる。
Vx1mAのイオン注入を行うような場合、S7エハ1
2の温度は約80℃程度にまで低下−さゼることか可能
となる。その結果、例えばウェハ12の表面に設けられ
ているレジスト(図示省略)に熱影響のないイオン注入
が可能となる。
第2図は、他の実施例に係る熱伝導体を示す概略断面図
である。この実施例に係る熱伝導体28は、連i1孔に
流動性材料22を充填したポーラスな三次元連続多孔体
32を内部に有するシリコーンゴムシート30より成っ
ている。
である。この実施例に係る熱伝導体28は、連i1孔に
流動性材料22を充填したポーラスな三次元連続多孔体
32を内部に有するシリコーンゴムシート30より成っ
ている。
三次元連続多孔体32ばシリ:1−ンゴムシート30と
一体形成しても良く、その場合は、形成後、連通孔内の
ガスと流動性材料22の置換を行う。
一体形成しても良く、その場合は、形成後、連通孔内の
ガスと流動性材料22の置換を行う。
第3図は、更に他の実施例に係る熱伝導体を示す概略断
面図である。この実施例に係る熱伝導体38は、金属板
32とシリコーンゴムシー1−40の間に流動性材料2
2を充填している。金属板32とシリコーンゴムシート
40とは接着又はOUングを介して気密締結する。当該
熱伝導体38の使用に際しては、シリJ1−ンゴムシー
ト40側をターゲット材料の当+i tlIiとする。
面図である。この実施例に係る熱伝導体38は、金属板
32とシリコーンゴムシー1−40の間に流動性材料2
2を充填している。金属板32とシリコーンゴムシート
40とは接着又はOUングを介して気密締結する。当該
熱伝導体38の使用に際しては、シリJ1−ンゴムシー
ト40側をターゲット材料の当+i tlIiとする。
尚、上記のような各熱伝導体は、l−に例示し7たよう
なウェハホルダ2以外のウェハホルダ、あるいはハツチ
式のA置におけるディスクとウェハとの間にも用いるこ
とができる。また、l〕記熟熱伝導体、上に例示したよ
うなイオン注入装置に限られることなく、一番初めに例
示した。L・うなイオン処理装置におしJるウェハ等の
ターゲット材料の冷却に広く使用することができるのは
勿論である。
なウェハホルダ2以外のウェハホルダ、あるいはハツチ
式のA置におけるディスクとウェハとの間にも用いるこ
とができる。また、l〕記熟熱伝導体、上に例示したよ
うなイオン注入装置に限られることなく、一番初めに例
示した。L・うなイオン処理装置におしJるウェハ等の
ターゲット材料の冷却に広く使用することができるのは
勿論である。
以トのようにこの発明によれば、ウェハ等のターゲソI
・材料とその支持体との間の熱伝導がシリコーンゴムシ
ートのみの場合に比べて向−[−すると共に、当該熱伝
導の均一性も向−卜する。
・材料とその支持体との間の熱伝導がシリコーンゴムシ
ートのみの場合に比べて向−[−すると共に、当該熱伝
導の均一性も向−卜する。
第1回〜第3図は、それぞれ、この発明の実施例に係る
熱伝導体を示す概略断面図である。第4図は、イオン注
入装置のウェハホルダの一例を示す断面図である。
熱伝導体を示す概略断面図である。第4図は、イオン注
入装置のウェハホルダの一例を示す断面図である。
Claims (1)
- (1)内部に流動性材料が密封され少なくともターゲッ
ト材料の当接面がシリコーンゴムシートより成ることを
特徴とするイオン処理装置用熱伝導体。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22258985A JPS6283466A (ja) | 1985-10-05 | 1985-10-05 | イオン処理装置用熱伝導体 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22258985A JPS6283466A (ja) | 1985-10-05 | 1985-10-05 | イオン処理装置用熱伝導体 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6283466A true JPS6283466A (ja) | 1987-04-16 |
Family
ID=16784837
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP22258985A Pending JPS6283466A (ja) | 1985-10-05 | 1985-10-05 | イオン処理装置用熱伝導体 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6283466A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6467908A (en) * | 1987-09-08 | 1989-03-14 | Sumitomo Metal Ind | Plasma processing device |
| US20080302059A1 (en) * | 2007-05-18 | 2008-12-11 | Cabot Corporation | Filling Fenestration Units |
-
1985
- 1985-10-05 JP JP22258985A patent/JPS6283466A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6467908A (en) * | 1987-09-08 | 1989-03-14 | Sumitomo Metal Ind | Plasma processing device |
| US20080302059A1 (en) * | 2007-05-18 | 2008-12-11 | Cabot Corporation | Filling Fenestration Units |
| US8628834B2 (en) * | 2007-05-18 | 2014-01-14 | Cabot Corporation | Filling fenestration units |
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