JPS6283627A - デジタル温度検出装置 - Google Patents
デジタル温度検出装置Info
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- JPS6283627A JPS6283627A JP22369485A JP22369485A JPS6283627A JP S6283627 A JPS6283627 A JP S6283627A JP 22369485 A JP22369485 A JP 22369485A JP 22369485 A JP22369485 A JP 22369485A JP S6283627 A JPS6283627 A JP S6283627A
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 9
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 13
- 230000003321 amplification Effects 0.000 abstract description 4
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 abstract description 4
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 238000009529 body temperature measurement Methods 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- PXXKQOPKNFECSZ-UHFFFAOYSA-N platinum rhodium Chemical compound [Rh].[Pt] PXXKQOPKNFECSZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000009194 climbing Effects 0.000 description 1
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- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 1
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発唱は、デジタル温間検出装置に関するもので、更に
述べれば、1oooc前後の特に±0.IC以下の高精
度測定を行ない、拡散炉などの高温炉の温度制御を行な
うだめのデジタル温度検出装置に関するものである。
述べれば、1oooc前後の特に±0.IC以下の高精
度測定を行ない、拡散炉などの高温炉の温度制御を行な
うだめのデジタル温度検出装置に関するものである。
従来の技術
ウェハは、拡散炉などの高温炉により熱処理されるが、
良質の半導体装置を製造するには炉内の温度が、常に目
標温度であることが要求される。
良質の半導体装置を製造するには炉内の温度が、常に目
標温度であることが要求される。
そこで、炉内の温度を制御しなければならないが、その
だめには、炉内の温度を高精度に測定する必要がある。
だめには、炉内の温度を高精度に測定する必要がある。
従来、この温度測定には、白金ロジウムセンサ(温度検
出器)が用いられるが、この温度検出器は、1oooc
で約10mVと微小電圧しか発生しないので、第2図に
示す様に、この出力電圧を直流増幅器で数100倍増幅
した後、アナログ−デジタル変換回路(A/Dコンバー
タ)に加え、そして、A/Dコンバータの出力を中央処
理装置(CPU)に入れて処理している。
出器)が用いられるが、この温度検出器は、1oooc
で約10mVと微小電圧しか発生しないので、第2図に
示す様に、この出力電圧を直流増幅器で数100倍増幅
した後、アナログ−デジタル変換回路(A/Dコンバー
タ)に加え、そして、A/Dコンバータの出力を中央処
理装置(CPU)に入れて処理している。
発6八が解決しようとする問題点
従来例の温度検出方法では、高精度測定を行なう為には
、直流増幅器とA/Dコンバータに高精度のものが必要
となる。
、直流増幅器とA/Dコンバータに高精度のものが必要
となる。
しかし、A/Dコンバータは、デジタル−アナログ変換
回路(D/Aコンバータ)に比べて精度の高いものを得
ることができず、例えば、OC〜1400tll’の温
度範囲を14ビツトのA/Dコンバータを用いて測定す
ると、その測定限界は、約0.085rである。
回路(D/Aコンバータ)に比べて精度の高いものを得
ることができず、例えば、OC〜1400tll’の温
度範囲を14ビツトのA/Dコンバータを用いて測定す
ると、その測定限界は、約0.085rである。
又、この温度限界(1,085cを確保する為には。
直流増幅器の増幅度は、0.006チ以下の精度が必要
となるが、このようにしても安定して前記精度を得るこ
とができない。
となるが、このようにしても安定して前記精度を得るこ
とができない。
このように、従来の測定力°法では、oO〜1400C
の温度範囲で0.02〜0.03C以下の高精度測定は
、不可能であった。
の温度範囲で0.02〜0.03C以下の高精度測定は
、不可能であった。
木登1ハは、上記事情に鑑み、高精度測定可能なデジタ
ル温度検出器の提供を目的とする。
ル温度検出器の提供を目的とする。
問題点を解決するだめの手段
本発明は、被測定物の温度に比例した出力をする温度検
出器と、基準電圧発生器との出力を比較器に入力し、前
記比較器の出力をA、/Dコンバータに入力せしめるこ
とを特徴とするデジタル温度測定器である。
出器と、基準電圧発生器との出力を比較器に入力し、前
記比較器の出力をA、/Dコンバータに入力せしめるこ
とを特徴とするデジタル温度測定器である。
作 用
基準電圧発生器の出力を設定し、この出方を比較器に入
力すると共に、温度検出器の出力を前記比較器に入力す
ると、両出力に差があると比較器は出力し、A/Dコン
バータに入力するが、両出力に差がない時、即ち、被測
定物の温度が、目標温度と一致している時は比較器は出
力せず、従って、A/Dコンバータの出力はゼロとなる
。
力すると共に、温度検出器の出力を前記比較器に入力す
ると、両出力に差があると比較器は出力し、A/Dコン
バータに入力するが、両出力に差がない時、即ち、被測
定物の温度が、目標温度と一致している時は比較器は出
力せず、従って、A/Dコンバータの出力はゼロとなる
。
又、両出力間に差が生じた場合は、比較器の出力がなく
なるまで基準電圧発生器の出力を制御して、被測定物の
温度を知ることができる。
なるまで基準電圧発生器の出力を制御して、被測定物の
温度を知ることができる。
実施例
本疼6ハの一実施例を添附図面により説明する。
図において1は、拡散炉などの被測定物で、この被測定
物lの温度は、温度検出器2により実測される。この温
度検出器2は、例えば、白金ロジウムセンサにより構成
され、この出力は比較器3に加えられる。
物lの温度は、温度検出器2により実測される。この温
度検出器2は、例えば、白金ロジウムセンサにより構成
され、この出力は比較器3に加えられる。
基準電圧発生器4は、目標温度に比例した電圧を発生さ
せて、比較器3に加えるもので、D/Aコンバータによ
り構成されている。このD/Aコンバータには16ビツ
トのものヲ用い、00〜1400Cの測定範囲を約0.
02rの分解能で測定する。
せて、比較器3に加えるもので、D/Aコンバータによ
り構成されている。このD/Aコンバータには16ビツ
トのものヲ用い、00〜1400Cの測定範囲を約0.
02rの分解能で測定する。
D/Aコンバータu、、外sがらのデジタルコントロー
ル信号Cにより目標温度に比例する出力が発生するが、
この出力電圧は、温度検出器2の出力電圧と逆極性であ
る。
ル信号Cにより目標温度に比例する出力が発生するが、
この出力電圧は、温度検出器2の出力電圧と逆極性であ
る。
比較器3は、直流増幅器5を介してA/Dコンバータ6
に接続され、更にA/Dコンバータ6はCPU7に接続
されている。
に接続され、更にA/Dコンバータ6はCPU7に接続
されている。
比較器3は、温度検出器2と基準電圧発生器の出力電圧
の絶対値が等しい時、即ち、被測定物の温度と目標温度
が一致している時は、出力電圧はOボルトとなり、これ
を直流増幅器で増幅しても0ボルトなので、増幅度の誤
差が、1〜2チと太きくでも測定精度に何等影響がない
。
の絶対値が等しい時、即ち、被測定物の温度と目標温度
が一致している時は、出力電圧はOボルトとなり、これ
を直流増幅器で増幅しても0ボルトなので、増幅度の誤
差が、1〜2チと太きくでも測定精度に何等影響がない
。
前記両出力電圧間に差が生じた時、即ち、被測定物の温
度と目標温度が一致しない時には、比較器が電圧を出力
し1、その出力電圧は、直流増幅器5により増幅された
後、A/Dコンバータ6に入る。このA/Dコンバータ
6id、mll定温度の例えば、±IOCの温度範囲を
測定でされば良いので、10ビツトのものを用いれば、
0.02Cの高精度で測定できる。A/Dコンバータ
6の出力と、D/Aコンバータのコントロール信号Cを
CPU7で計算処理し、温度の測定結果を出し、必要な
制御が行なわれる。
度と目標温度が一致しない時には、比較器が電圧を出力
し1、その出力電圧は、直流増幅器5により増幅された
後、A/Dコンバータ6に入る。このA/Dコンバータ
6id、mll定温度の例えば、±IOCの温度範囲を
測定でされば良いので、10ビツトのものを用いれば、
0.02Cの高精度で測定できる。A/Dコンバータ
6の出力と、D/Aコンバータのコントロール信号Cを
CPU7で計算処理し、温度の測定結果を出し、必要な
制御が行なわれる。
又、比較器3の出力がある場合、即ち、被測定物の温度
と目標温度が一致しない場合には、デジタルコントロー
ル信号Cにより基準電圧発生器4の出力を制御して比較
器3の出力をOボルトにすることにより、被測定物の温
度を精確に知ることができる。即ち、この0ホルトにな
った時は、基準電圧発生器4の出力と温度検出器の出力
の絶対値が等しいので、基準電圧発生器4の出力に対応
する温度は、被測定物の温度と等しいのである。
と目標温度が一致しない場合には、デジタルコントロー
ル信号Cにより基準電圧発生器4の出力を制御して比較
器3の出力をOボルトにすることにより、被測定物の温
度を精確に知ることができる。即ち、この0ホルトにな
った時は、基準電圧発生器4の出力と温度検出器の出力
の絶対値が等しいので、基準電圧発生器4の出力に対応
する温度は、被測定物の温度と等しいのである。
他の実施例
本め吐tま、上記実施例に限定されるものではなく、汐
りえは、次の様にしてもよい。
りえは、次の様にしてもよい。
(D基準電圧発生器は、D/Aコンバータを用いなくて
もよく、安定した直流電圧発生源であればどの様なもの
−Cもよい。
もよく、安定した直流電圧発生源であればどの様なもの
−Cもよい。
(2)直流増幅器としてチョッパー凰増幅器を用いると
、測定精度の向上を図ることができる。
、測定精度の向上を図ることができる。
(3)温度検出器と、基準′亀圧発生器の出力正圧の極
性を同じにしで、比較器に差動増幅器を用いてもよい。
性を同じにしで、比較器に差動増幅器を用いてもよい。
(4)温度検出器の出力は、電流のものを用いても良い
。この場合、基準電圧発生器の出力も電流となるが、こ
のように電流出力にすると、電圧に比べ抵抗の影響がな
いので、測定をより一増高鞘度に行なうことができる。
。この場合、基準電圧発生器の出力も電流となるが、こ
のように電流出力にすると、電圧に比べ抵抗の影響がな
いので、測定をより一増高鞘度に行なうことができる。
語11ハの効果
本杷明は、以上の様に、温度検出器と基準′電圧発生器
の出力を比較して被測定物の温度を測定するので、高精
度測定を行なうことができる。
の出力を比較して被測定物の温度を測定するので、高精
度測定を行なうことができる。
即ち、比較器の出力が、0ホルトの時、目標温度と被測
定物の温度が一致するので、この時の基準電圧発生器の
出力によυ、被測定物の温度を高精度に測定することが
できる。
定物の温度が一致するので、この時の基準電圧発生器の
出力によυ、被測定物の温度を高精度に測定することが
できる。
第1図は、木登8Aの実施例を示すブロック図、第2図
は、従来例を示すブロック図である。 2・・・・・・温度検出器 3・・・・・・比較器
は、従来例を示すブロック図である。 2・・・・・・温度検出器 3・・・・・・比較器
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、被測定物の温度に比例した出力をする温度検出器と
、基準電圧発生器との出力を、比較器に入力し、前記比
較器の出力をA/Dコンバータに入力せしめることを特
徴とするデジタル温度測定装置。 2、基準電圧発生器は、D/Aコンバータであることを
特徴とする特許請求の範囲第1項記載のデジタル温度検
出装置。 3、基準電圧発生器は、電流を出力することを特徴とす
る特許請求の範囲第1項記載のデジタル温度検出装置。 4、温度検出器は、電流を出力することを特徴とする特
許請求の範囲第1項記載のデジタル温度検出装置。 5、温度検出器と基準電圧発生器との出力は、逆極性で
あることを特徴とするデジタル温度検出装置。 6、温度検出器と基準電圧発生器との出力は、同極性で
あることを特徴とするデジタル温度検出装置。 7、比較器は、直流増幅器を介してA/Dコンバータに
接続されていることを特徴とするデジタル温度検出装置
。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60223694A JPH0812114B2 (ja) | 1985-10-09 | 1985-10-09 | デジタル温度検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60223694A JPH0812114B2 (ja) | 1985-10-09 | 1985-10-09 | デジタル温度検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6283627A true JPS6283627A (ja) | 1987-04-17 |
| JPH0812114B2 JPH0812114B2 (ja) | 1996-02-07 |
Family
ID=16802181
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60223694A Expired - Lifetime JPH0812114B2 (ja) | 1985-10-09 | 1985-10-09 | デジタル温度検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0812114B2 (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4985774A (en) * | 1988-01-20 | 1991-01-15 | Minolta Camera Kabushiki Kaisha | Image sensing device having direct drainage of unwanted charges |
| US5010409A (en) * | 1987-01-06 | 1991-04-23 | Minolta Camera Kabushiki Kaisha | Image sensing system |
| US5227834A (en) * | 1987-01-06 | 1993-07-13 | Minolta Camera Kabushiki Kaisha | Image sensing system having a one chip solid state image device |
| JP2013527930A (ja) * | 2010-05-06 | 2013-07-04 | 日本テキサス・インスツルメンツ株式会社 | 温度を制御するため及び半導体チップのテストを可能にするための回路 |
| CN114323320A (zh) * | 2020-09-29 | 2022-04-12 | 浙江绍兴苏泊尔生活电器有限公司 | 温度检测电路、方法及家用电器 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4844292B2 (ja) * | 2006-08-28 | 2011-12-28 | トヨタ自動車株式会社 | 半導体モジュールの温度検出装置 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57170491U (ja) * | 1981-04-17 | 1982-10-27 | ||
| JPS60143335A (ja) * | 1983-12-29 | 1985-07-29 | Konishiroku Photo Ind Co Ltd | 感光材料マガジン |
-
1985
- 1985-10-09 JP JP60223694A patent/JPH0812114B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57170491U (ja) * | 1981-04-17 | 1982-10-27 | ||
| JPS60143335A (ja) * | 1983-12-29 | 1985-07-29 | Konishiroku Photo Ind Co Ltd | 感光材料マガジン |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5010409A (en) * | 1987-01-06 | 1991-04-23 | Minolta Camera Kabushiki Kaisha | Image sensing system |
| US5144449A (en) * | 1987-01-06 | 1992-09-01 | Minolta Camera Kabushiki Kaisha | Image sensing system |
| US5227834A (en) * | 1987-01-06 | 1993-07-13 | Minolta Camera Kabushiki Kaisha | Image sensing system having a one chip solid state image device |
| US5371567A (en) * | 1987-01-06 | 1994-12-06 | Minolta Camera Kabushiki Kaisha | Image sensing system |
| US5469239A (en) * | 1987-01-06 | 1995-11-21 | Minolta Camera Kabushiki Kaisha | Image sensing system |
| US4985774A (en) * | 1988-01-20 | 1991-01-15 | Minolta Camera Kabushiki Kaisha | Image sensing device having direct drainage of unwanted charges |
| JP2013527930A (ja) * | 2010-05-06 | 2013-07-04 | 日本テキサス・インスツルメンツ株式会社 | 温度を制御するため及び半導体チップのテストを可能にするための回路 |
| CN114323320A (zh) * | 2020-09-29 | 2022-04-12 | 浙江绍兴苏泊尔生活电器有限公司 | 温度检测电路、方法及家用电器 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0812114B2 (ja) | 1996-02-07 |
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