JPS6284762U - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6284762U JPS6284762U JP17574385U JP17574385U JPS6284762U JP S6284762 U JPS6284762 U JP S6284762U JP 17574385 U JP17574385 U JP 17574385U JP 17574385 U JP17574385 U JP 17574385U JP S6284762 U JPS6284762 U JP S6284762U
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- guide block
- lead
- component
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- 230000037431 insertion Effects 0.000 claims description 2
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 2
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Description
第１図は本考案のマルチプローバの実施例を示
す断面図、第２図ａは従来例を示す平面図、ｂ，
ｃは接触不良を示で図である。 第１図において、２はプローブピン、５は部品
リード、１０はガイドブロツク、１１はピン挿入
孔である。
す断面図、第２図ａは従来例を示す平面図、ｂ，
ｃは接触不良を示で図である。 第１図において、２はプローブピン、５は部品
リード、１０はガイドブロツク、１１はピン挿入
孔である。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 基板３の凹凸をガイドとして各部品リード５の
位置毎にピン挿入孔１１を開口したガイドブロツ
ク１０を有し、 該ガイドブロツク１０により複数本のプローブ
ピン２と部品リード５を位置決めして同時に接触
する電気特性試験用マルチプローバ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17574385U JPS6284762U (ja) | 1985-11-15 | 1985-11-15 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17574385U JPS6284762U (ja) | 1985-11-15 | 1985-11-15 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6284762U true JPS6284762U (ja) | 1987-05-29 |
Family
ID=31115342
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17574385U Pending JPS6284762U (ja) | 1985-11-15 | 1985-11-15 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6284762U (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2015117991A (ja) * | 2013-12-18 | 2015-06-25 | アキム株式会社 | プローブユニットおよびそれを用いた温度特性計測装置 |
-
1985
- 1985-11-15 JP JP17574385U patent/JPS6284762U/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2015117991A (ja) * | 2013-12-18 | 2015-06-25 | アキム株式会社 | プローブユニットおよびそれを用いた温度特性計測装置 |
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