JPS6285218A - 光シヤツタアレイおよびその製造方法 - Google Patents
光シヤツタアレイおよびその製造方法Info
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- JPS6285218A JPS6285218A JP22105685A JP22105685A JPS6285218A JP S6285218 A JPS6285218 A JP S6285218A JP 22105685 A JP22105685 A JP 22105685A JP 22105685 A JP22105685 A JP 22105685A JP S6285218 A JPS6285218 A JP S6285218A
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- optical shutter
- shutter array
- grooves
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
技術分野
本発明は、電気光学効果を利用した光シャッタに関し、
特に駆動電圧の低い電極を有する光シャッタアレイおよ
びその製造方法に関する。
特に駆動電圧の低い電極を有する光シャッタアレイおよ
びその製造方法に関する。
従来技術
近年、PLZT等の電気光学効果を発揮する電気光学材
料が開発されている。ここで電気光学効果とは、印加さ
れた直流または低周波(光周波に比べて)の電界によっ
て媒質の屈折率が変化する現象をいう。
料が開発されている。ここで電気光学効果とは、印加さ
れた直流または低周波(光周波に比べて)の電界によっ
て媒質の屈折率が変化する現象をいう。
このような電気光学材料の代表例としては、9765/
35の比率からなるPLZT (La9原f%Pb7.
r03 / PbTi0= 65 / 35 (モル比
))の透明セラミックスが周知である。
35の比率からなるPLZT (La9原f%Pb7.
r03 / PbTi0= 65 / 35 (モル比
))の透明セラミックスが周知である。
このPLZTを利用したものとし゛C光シャッタがある
。光シャッタは板状のPLZT素子の片面に一定間隔を
隔てた一対の平面電極を形成したものを、偏光方向が互
いに直行する偏光fと検光f−の間に設置した構造とな
っており、電極への印加電圧の0N−OFFによって偏
光子側から入射する光の透過、遮断を制御することがで
きるものである。
。光シャッタは板状のPLZT素子の片面に一定間隔を
隔てた一対の平面電極を形成したものを、偏光方向が互
いに直行する偏光fと検光f−の間に設置した構造とな
っており、電極への印加電圧の0N−OFFによって偏
光子側から入射する光の透過、遮断を制御することがで
きるものである。
このような光シャッタにおいて、偏光イー側より強度1
o、波長λなる単色光を入射させると、検光fを通過す
る光の強度■は次式(1)で表わされる。
o、波長λなる単色光を入射させると、検光fを通過す
る光の強度■は次式(1)で表わされる。
1=Io 5in2 (”jΔn) ”(1)こ
こで、L :光が通過する電気光学効果を有する素rの
厚み(=有効光路長) Δn:複屈折 IO二人射光強度 ■ =出射光強度 (1)式において、ΔnL=λ/2となるように複屈折
を選らへばI = I Oとなり、系を通過する尤の強
度Iは最大となる。このとき複屈折Δnは素rに印加す
る電界の大きさによって変えることができる。例えば、
素fが2次の電気光学効果を有する場合、複屈折Δnは
印加する電界(E)の2乗に比例して変化lノ、次式(
2)で表わすことができる。
こで、L :光が通過する電気光学効果を有する素rの
厚み(=有効光路長) Δn:複屈折 IO二人射光強度 ■ =出射光強度 (1)式において、ΔnL=λ/2となるように複屈折
を選らへばI = I Oとなり、系を通過する尤の強
度Iは最大となる。このとき複屈折Δnは素rに印加す
る電界の大きさによって変えることができる。例えば、
素fが2次の電気光学効果を有する場合、複屈折Δnは
印加する電界(E)の2乗に比例して変化lノ、次式(
2)で表わすことができる。
ここで、R:電気光学定数
E:電界強度
n:屈折率
したがって、
なる大きさの矩形波電圧を印加すると、透過光強度■は
Oから最大値IOに変化することになる。
Oから最大値IOに変化することになる。
(3)式を満足するEを5−える電圧VをV (1/2
)とr膝き、半波長電圧と呼ぶ、、T−波長電圧が光シ
ャッタアレイの駆動電圧に関係する。
)とr膝き、半波長電圧と呼ぶ、、T−波長電圧が光シ
ャッタアレイの駆動電圧に関係する。
したがフて、電界強度Eを大きくすれば、複屈折Δnは
大となり、■は大となる。また、(■効光路長りを大き
くできれば゛ト波長電圧が小さくなり、低値の駆動電圧
でも■が大となる。
大となり、■は大となる。また、(■効光路長りを大き
くできれば゛ト波長電圧が小さくなり、低値の駆動電圧
でも■が大となる。
■が大となれば、印加電圧の0N−OFFによる出射光
のコントラストが高まるから、有効光路長を長くできれ
ば、より低値の電圧で光シャッタアレイが駆動できる。
のコントラストが高まるから、有効光路長を長くできれ
ば、より低値の電圧で光シャッタアレイが駆動できる。
ところで、従来PLZT等の電気光学材料に形成される
電極2は、第3図に示すように金属蒸着等で形成される
・Y面電極であり、電極の幅をWとすると、Lを大とす
るためにはWを大きくとる必要があるが、電極幅Wを大
きくすることには限界がある。特に光シャッタアレイを
高密度化し分解能のよい鯖密な画像をつるためには、1
つの画素を小さくする必要があり、電極幅Wは50μl
以ド、時には5μmという小さいものも要求される。こ
のため従来の光シャッタアレイにおいては、Eを高値に
設定して高い!をうることが行われていた。しかし、E
が高いとエネルギー消費が人きくなるし、デバイスとし
て設計する場合にも問題点が多く、約15〜25にV/
cm以りでは、式(2)の関係がくずれ始めるとも1ニ
ーわれている。
電極2は、第3図に示すように金属蒸着等で形成される
・Y面電極であり、電極の幅をWとすると、Lを大とす
るためにはWを大きくとる必要があるが、電極幅Wを大
きくすることには限界がある。特に光シャッタアレイを
高密度化し分解能のよい鯖密な画像をつるためには、1
つの画素を小さくする必要があり、電極幅Wは50μl
以ド、時には5μmという小さいものも要求される。こ
のため従来の光シャッタアレイにおいては、Eを高値に
設定して高い!をうることが行われていた。しかし、E
が高いとエネルギー消費が人きくなるし、デバイスとし
て設計する場合にも問題点が多く、約15〜25にV/
cm以りでは、式(2)の関係がくずれ始めるとも1ニ
ーわれている。
PLZT光シャッタアレイを実用化するためには、必要
駆動電圧を低減化する必要があり、現在市販の単一シャ
ッタにおけるV(L/2)は280V程度であるので、
光シャッタアレイにおいてはV(1/2)を80v以F
とすることが切望されている。
駆動電圧を低減化する必要があり、現在市販の単一シャ
ッタにおけるV(L/2)は280V程度であるので、
光シャッタアレイにおいてはV(1/2)を80v以F
とすることが切望されている。
このような下面電極に対して、第4図、第5図に示す溝
型電極が提案されている(特開昭58−82221号、
44”85秋応物学会Y−槁東栗10氏他)。
型電極が提案されている(特開昭58−82221号、
44”85秋応物学会Y−槁東栗10氏他)。
ここで、溝型電極とは、PLZT基板に形成された溝に
導電性物質を埋設した構造の電極をいう。
導電性物質を埋設した構造の電極をいう。
第4図に示す溝型電極は、フォトリソグラフィ技術によ
りPLZT基板を11(,41等の強酸でウェットエツ
チングして形成するものであり、第5図に示ず溝型電極
はPLZT基板上にダイシングソー等を用いて機械加工
して溝を形成するものである。このような溝型電極とす
ることにより有効光路長りを大とし半波長電圧を下げよ
うとするものである。
りPLZT基板を11(,41等の強酸でウェットエツ
チングして形成するものであり、第5図に示ず溝型電極
はPLZT基板上にダイシングソー等を用いて機械加工
して溝を形成するものである。このような溝型電極とす
ることにより有効光路長りを大とし半波長電圧を下げよ
うとするものである。
しかし、これらの溝型電極のうち、ウェットエツチング
により溝を形成したものは、実際に作製できる溝深さD
は、深いものでも10μmu後であり、50μm以−ヒ
の溝を作ることはほとんど不可能である。そのため、有
効光路長りをこれ以F大きくすることはできない。
により溝を形成したものは、実際に作製できる溝深さD
は、深いものでも10μmu後であり、50μm以−ヒ
の溝を作ることはほとんど不可能である。そのため、有
効光路長りをこれ以F大きくすることはできない。
また、第5図に示すように、ダイシングソー等を用いて
機械加工して溝を形成する場合においても、Au等の金
属をスパッタリングによって蒸着しているので、溝の巾
が狭くて、深さが深い溝電極の場合、溝内の壁面に金属
膜を充分付着できない。後に実施例で述べる実験結果に
よると、電極として形成できるものは、巾401.1m
の溝では、せいぜい深さ20μm@後の有効光路長に相
当するものができるにすぎない。巾40μ謹で深さ50
μmを越えると金属を充分に付着することができず、電
極が形成できなかった。このため駆動電力が充分にはド
がらないという欠点がある。
機械加工して溝を形成する場合においても、Au等の金
属をスパッタリングによって蒸着しているので、溝の巾
が狭くて、深さが深い溝電極の場合、溝内の壁面に金属
膜を充分付着できない。後に実施例で述べる実験結果に
よると、電極として形成できるものは、巾401.1m
の溝では、せいぜい深さ20μm@後の有効光路長に相
当するものができるにすぎない。巾40μ謹で深さ50
μmを越えると金属を充分に付着することができず、電
極が形成できなかった。このため駆動電力が充分にはド
がらないという欠点がある。
さらに、金属蒸着等によって形成される溝電極からはワ
イヤポンディングなどによる接続用電極部の取出しが困
難であり、対策が望まれている。
イヤポンディングなどによる接続用電極部の取出しが困
難であり、対策が望まれている。
また、f面電極やウェットエツチング等により形成され
た電極は、第3図、第4図に点線で示すように、電極が
比較的表面部に存在するため、また比較的高電圧を印加
しなければならないため、PLZT基板1内への電界4
の湾曲が大きく、このため1組の電極を1画素としてシ
ャッタアレイを形成した場合、ある画素の湾曲した電界
が隣接する他の画素の電極へと漏れてしまう、いわゆる
クロストークがおこり、このためSN比が悪化する欠点
がある。
た電極は、第3図、第4図に点線で示すように、電極が
比較的表面部に存在するため、また比較的高電圧を印加
しなければならないため、PLZT基板1内への電界4
の湾曲が大きく、このため1組の電極を1画素としてシ
ャッタアレイを形成した場合、ある画素の湾曲した電界
が隣接する他の画素の電極へと漏れてしまう、いわゆる
クロストークがおこり、このためSN比が悪化する欠点
がある。
〈発明の目的〉
本発明の目的は、このような欠点を改善し、電極を基板
内に深く設け、これにより駆動電圧を低下させるととも
に、隣接電極間のクロストークを防市することのできる
光シャッタアレイおよびその製造方法を提供するもので
ある。
内に深く設け、これにより駆動電圧を低下させるととも
に、隣接電極間のクロストークを防市することのできる
光シャッタアレイおよびその製造方法を提供するもので
ある。
〈発明の構成〉
以上の目的を達成する第1の発明は、電気光学効果を発
揮する電気光学材料製の透明基板と、該基板に形成され
た少なくとも2本の平行溝に導電性樹脂を充填してなる
電極とを打することを特徴′とする光シャッタアレイで
ある。
揮する電気光学材料製の透明基板と、該基板に形成され
た少なくとも2本の平行溝に導電性樹脂を充填してなる
電極とを打することを特徴′とする光シャッタアレイで
ある。
また、第2の発明は、電気光学効果を発揮する電気光学
材料製の透明基板に、少なくとも2本の平行溝を形成し
、この溝内に過剰の導電性樹脂を充填した後、表面を研
磨してf滑化することを特徴とする光シャッタアレイの
製造方法である。
材料製の透明基板に、少なくとも2本の平行溝を形成し
、この溝内に過剰の導電性樹脂を充填した後、表面を研
磨してf滑化することを特徴とする光シャッタアレイの
製造方法である。
ここで、前記溝は深さ50μm以上であることが好まし
い。
い。
本発明を添付図面に示す好適な実施例につき以ドに詳細
に説明する。
に説明する。
本発明の光シャッタアレイにおいて、第1図に示すよう
に、透明な電気光学効果で基板1を形成酸する。溝12
は基板1表面に平行かつ等間隔に形成され、表面に組直
方向に深さを持ち、その深さは50μm以上、巾10〜
50μlとするのが良い。溝12の巾は後に述べる導電
性樹脂充填のために、導電性樹脂中の粒子の粒径の倍以
上の巾とするのが良いが、できるだけ狭い方が光シャッ
タアレイの−・画素(第7図に示す7−1゜7−2)が
小さくできる。
に、透明な電気光学効果で基板1を形成酸する。溝12
は基板1表面に平行かつ等間隔に形成され、表面に組直
方向に深さを持ち、その深さは50μm以上、巾10〜
50μlとするのが良い。溝12の巾は後に述べる導電
性樹脂充填のために、導電性樹脂中の粒子の粒径の倍以
上の巾とするのが良いが、できるだけ狭い方が光シャッ
タアレイの−・画素(第7図に示す7−1゜7−2)が
小さくできる。
満12には導電性樹脂3が充填される。導電性樹脂は導
電性が良いものであればいかなるものを用いてもよいが
、Ag、 Au、 Cu等をフィラーとするポリイミド
樹脂、エポキシ樹脂等が好ましい。
電性が良いものであればいかなるものを用いてもよいが
、Ag、 Au、 Cu等をフィラーとするポリイミド
樹脂、エポキシ樹脂等が好ましい。
電気光学材料としては、9/65/35の比率h’ 6
f、t 6 P L Z T (L a 9原7−%
、PbZrO3/PbTiO3= 65 / 35 (
モル比))の透明セラミックスを用いるのが最も好まし
い。
f、t 6 P L Z T (L a 9原7−%
、PbZrO3/PbTiO3= 65 / 35 (
モル比))の透明セラミックスを用いるのが最も好まし
い。
この他にも、7/65/35,8/65/35.8/4
0/60,12/40/60゜10/65/35の比率
からなるPLZT。
0/60,12/40/60゜10/65/35の比率
からなるPLZT。
10/65/35の比率からなるPLHT、4/60/
40.8/6O/40の比率からなるPBLNや、S
B N 、 LiTaO3、LiNbO3、にH2P
O4、KO2PO4、BNN、 KTNも用いることが
可能である。
40.8/6O/40の比率からなるPBLNや、S
B N 、 LiTaO3、LiNbO3、にH2P
O4、KO2PO4、BNN、 KTNも用いることが
可能である。
このような電気光学材料は誘起される屈折率変化量が、
電界の1乗に比例する−・時電気光学効果(ポッケルス
効果)と、電界の2乗に比例する二次電気光学効果(カ
ー効果)を発揮するものかあり、いずれを利用すること
も可能であるが、−7次電気光学効果を発揮するものが
好ましい。
電界の1乗に比例する−・時電気光学効果(ポッケルス
効果)と、電界の2乗に比例する二次電気光学効果(カ
ー効果)を発揮するものかあり、いずれを利用すること
も可能であるが、−7次電気光学効果を発揮するものが
好ましい。
本発明の光シャッタアレイの製造法を以ドに述べる。
第2a図に示す基板1に溝12を形成する(第2b図参
照)。溝12の形成はH(4等を用いる基板1のウェッ
トエツチングによって行ってもよいが、好ましくはダイ
シングソー等を用いる機械加玉、またはドライエツチン
グ加工によって溝12f!−形成する。機械加重によれ
ば巾10μl〜50μmで、深さ50μ1以上の加りが
容易である。機械加H&アニール1)で加1’、 5i
をとり除く(第2c図参照)。
照)。溝12の形成はH(4等を用いる基板1のウェッ
トエツチングによって行ってもよいが、好ましくはダイ
シングソー等を用いる機械加玉、またはドライエツチン
グ加工によって溝12f!−形成する。機械加重によれ
ば巾10μl〜50μmで、深さ50μ1以上の加りが
容易である。機械加H&アニール1)で加1’、 5i
をとり除く(第2c図参照)。
第2d図に刀くずように、溝12に導電性樹脂3を充填
する。充填は溝12の体積以上の4電性樹脂3を過剰に
充填する。
する。充填は溝12の体積以上の4電性樹脂3を過剰に
充填する。
溝内に過剰に充填した導電性樹脂3を加熱等により硬化
させる(第2e谷照)。次に基板1表面を研磨して過剰
の導電性樹脂3を除き、表面を平−滑化1−る(第2f
図参照)。
させる(第2e谷照)。次に基板1表面を研磨して過剰
の導電性樹脂3を除き、表面を平−滑化1−る(第2f
図参照)。
〈発明の作用〉
第8図に示すように、第1の発明の光シャッタアレイの
入射光19側に偏光f14を、出射光20側に検光F1
5をIノーいに平行に対向して配置する。このとき偏光
f−14の偏光面の方向は、矢印16で示す方向であり
、検光子15の偏光面の方向は、これと直交する矢印1
7で示す方向である。
入射光19側に偏光f14を、出射光20側に検光F1
5をIノーいに平行に対向して配置する。このとき偏光
f−14の偏光面の方向は、矢印16で示す方向であり
、検光子15の偏光面の方向は、これと直交する矢印1
7で示す方向である。
偏光f−14に入射光19である平行光束を直交的に入
射させる。この入射光束は自然偏光である。
射させる。この入射光束は自然偏光である。
すると、偏光子14を透過した平行光束は、偏光%14
の作用により直線偏光とされ、その偏光面は16の方向
となる。
の作用により直線偏光とされ、その偏光面は16の方向
となる。
そして、直線偏光された平行光束は、光シャッタアレイ
の駆動部21を透過するが、そのとき、電極に電圧が印
加されていなけば、透過光の偏光状態に何の変化も生じ
ない。従って偏光状態を変化させずに透過した光は、検
光子15に到達すると、この検光7’−15の偏光面の
方向と、到達した光の偏光方向とが直交することにより
、検光子15により遮断される。即ち常閉の状態となっ
ている。
の駆動部21を透過するが、そのとき、電極に電圧が印
加されていなけば、透過光の偏光状態に何の変化も生じ
ない。従って偏光状態を変化させずに透過した光は、検
光子15に到達すると、この検光7’−15の偏光面の
方向と、到達した光の偏光方向とが直交することにより
、検光子15により遮断される。即ち常閉の状態となっ
ている。
光シャッタアレイの電極2に電圧が印加されていると、
駆動部21に電界が作用し、電気光学効果を生じる。
駆動部21に電界が作用し、電気光学効果を生じる。
この電気光学効果により、常光線と%常光線との間には
位相のずれが発生し、この部分を透過した光は、一般に
楕円偏光となる。
位相のずれが発生し、この部分を透過した光は、一般に
楕円偏光となる。
このように楕円偏光した光は、その内に、矢印17で示
す方向の偏光成分を有しているので、この偏光成分の光
は、検光i’−15を透過して出Q4光20となる。
す方向の偏光成分を有しているので、この偏光成分の光
は、検光i’−15を透過して出Q4光20となる。
第8図に示す例と異なり、偏光/−14と検光F−15
の偏光面のJJ′向を同一になるように偏光f14と検
光f−is4互いにir−行に対向して配置した場合に
は、光シャッタアレイの電極に電圧を印加すると透過光
は検光子15により遮断され、電極に電圧を印加しない
と透過光はさらに検光f−15を透過する。このような
常開の状態とすることもできる。
の偏光面のJJ′向を同一になるように偏光f14と検
光f−is4互いにir−行に対向して配置した場合に
は、光シャッタアレイの電極に電圧を印加すると透過光
は検光子15により遮断され、電極に電圧を印加しない
と透過光はさらに検光f−15を透過する。このような
常開の状態とすることもできる。
このように電極への印加電圧の0N−OFFによって光
シャッタアレイの光の透過、遮断を制御することができ
る。
シャッタアレイの光の透過、遮断を制御することができ
る。
また、印加電圧を制御することにより、透過光の強度を
ル制御することもできる。
ル制御することもできる。
第3図に示すような従来の゛P−面2ig極の光シャッ
タアレイでは、電界4のもぐり込みを生じ、隣接画素間
でクロストークを生じることかあったが、本発明の光シ
ャッタアレイでは電極が基板内部まで到達するような比
較的深い溝に4電性樹脂が充填して形成されているので
、基板内深部においても直線的に電界が生じ、隣接画素
間でクロストークを生じることが少なくなる。さらに溝
の深さを深くすればするほど有効光路長を長くとること
ができ、光シャッタは低い駆動電圧で駆動するようにな
る。
タアレイでは、電界4のもぐり込みを生じ、隣接画素間
でクロストークを生じることかあったが、本発明の光シ
ャッタアレイでは電極が基板内部まで到達するような比
較的深い溝に4電性樹脂が充填して形成されているので
、基板内深部においても直線的に電界が生じ、隣接画素
間でクロストークを生じることが少なくなる。さらに溝
の深さを深くすればするほど有効光路長を長くとること
ができ、光シャッタは低い駆動電圧で駆動するようにな
る。
また、深い溝内に形成された電極は基板を補強する作用
をも付加的に果たす。
をも付加的に果たす。
この光シャッタアレイは、1例としてハードコピー用の
プリンタに利用することができる。これは、光シャッタ
アレイの出射光側に集光性光伝送体アレイ、感光体、現
像装置および転写チャージャーを備えたプリンタを配置
しく図示せず)、光シャッタアレイの光の透過、遮断の
制御によって紙面に印字を行うものである。
プリンタに利用することができる。これは、光シャッタ
アレイの出射光側に集光性光伝送体アレイ、感光体、現
像装置および転写チャージャーを備えたプリンタを配置
しく図示せず)、光シャッタアレイの光の透過、遮断の
制御によって紙面に印字を行うものである。
く実 施 例〉
実施例1
モトローラ社製のPLZTウェハ(組成9/65/35
.0.3 mmtX 21nchφ)をディスコ社製D
AD−2H/6型ダイシングソー(ブレードMBC−Z
l 060.5G、8 mm XO,Q15 mmX
40mm、7ランジPS4924、回転数30000r
p+w 、切断速度2 mw/5ec)を用いてダイシ
ングし、10 mmX 10 ma+X O,3mmの
PLZTチップを得た。
.0.3 mmtX 21nchφ)をディスコ社製D
AD−2H/6型ダイシングソー(ブレードMBC−Z
l 060.5G、8 mm XO,Q15 mmX
40mm、7ランジPS4924、回転数30000r
p+w 、切断速度2 mw/5ec)を用いてダイシ
ングし、10 mmX 10 ma+X O,3mmの
PLZTチップを得た。
次にこのPLZTチップに前記のダイシングソーを用い
て巾40μm、深さ50μIで深さ方向がチップ表面に
垂直な溝をピッチ100μmで、7行に30本作製した
。
て巾40μm、深さ50μIで深さ方向がチップ表面に
垂直な溝をピッチ100μmで、7行に30本作製した
。
このチップを電気炉内に装入して空気中で500℃で5
時間の熱処理をして歪を除去した。
時間の熱処理をして歪を除去した。
次にこのチップの溝に室町化学工業製導電製接着剤レッ
クスポンドT−700を溝からあふれでるまで過剰に充
填した後、チップをオーブン内に装入して100℃で2
時間、空気中で加熱して接着剤を硬化させた。
クスポンドT−700を溝からあふれでるまで過剰に充
填した後、チップをオーブン内に装入して100℃で2
時間、空気中で加熱して接着剤を硬化させた。
さらにマルト−社製ML−150型研磨機を型砕磨機ッ
プ表面の過剰な接着剤を研削し、PLZT表面を研磨し
てPLZTシャッタアレイを作製した。
プ表面の過剰な接着剤を研削し、PLZT表面を研磨し
てPLZTシャッタアレイを作製した。
このシャッタアレイを日本マイクロニクス社製プローバ
ーを用いて直流電圧を印加してシャッタ動作をさせたと
ころ、単波長電圧は表1に示すとおりであった。表1の
結果をグラフに示したものが第6図である。測定方法は
第2g図に示すように隣接する電極にプローブ10を接
触させて行った。
ーを用いて直流電圧を印加してシャッタ動作をさせたと
ころ、単波長電圧は表1に示すとおりであった。表1の
結果をグラフに示したものが第6図である。測定方法は
第2g図に示すように隣接する電極にプローブ10を接
触させて行った。
実施例2
PLZTチップ表面に毛直な溝の溝深さを100μmと
し、その他の条件は実施例1と同様にして光シャッタア
レイを作製し、実施例1と同様に単波長電圧を測定した
。結果を表1に示し、第6図に表1の結果をグラフで示
した。
し、その他の条件は実施例1と同様にして光シャッタア
レイを作製し、実施例1と同様に単波長電圧を測定した
。結果を表1に示し、第6図に表1の結果をグラフで示
した。
実施例3
実施例1と同様なPLZT基板長さ30mm巾3000
μmXJ’、Iみ300 μmを用いて巾20μl×深
さ100μmの溝をピッチ50μlで下行に形成し、第
7図に示す画素7−1.7−2.7−3.7−4の光シ
ャッタアレイを構成し、光シャッタアレイ駆動を行った
ところ、クロストークが少なく鮮明な画像かえられた。
μmXJ’、Iみ300 μmを用いて巾20μl×深
さ100μmの溝をピッチ50μlで下行に形成し、第
7図に示す画素7−1.7−2.7−3.7−4の光シ
ャッタアレイを構成し、光シャッタアレイ駆動を行った
ところ、クロストークが少なく鮮明な画像かえられた。
これは、第1図に電界4を点線で示すように、PLZT
表面に垂直に形成された溝電極は、第3図に示す従来例
の電極に比して基板内での電界4の湾曲が少なく、駆動
電力も低くおさえることができ、1つの画素7−1から
他の画素7−2への電極間の電界のもぐり込みが少なく
、隣り合う画素7−1.7−2間のクロストークが防止
できるからである。
表面に垂直に形成された溝電極は、第3図に示す従来例
の電極に比して基板内での電界4の湾曲が少なく、駆動
電力も低くおさえることができ、1つの画素7−1から
他の画素7−2への電極間の電界のもぐり込みが少なく
、隣り合う画素7−1.7−2間のクロストークが防止
できるからである。
比較例1
別に比較のために実施例1と同じようにしてPLZT板
上に溝巾40μm、ピッチ100μmとし、溝深さ5μ
s、10μm、20μm、50μ1115100μmに
機械加重し、■層に金属Crを250人厚スパッタ蒸着
し、F層に金属Auをtooooλ厚にスパッタ蒸着し
たが、溝深さ50μm、100μmは溝内の壁面にスパ
ッタ膜が1分に付着しなかった。
上に溝巾40μm、ピッチ100μmとし、溝深さ5μ
s、10μm、20μm、50μ1115100μmに
機械加重し、■層に金属Crを250人厚スパッタ蒸着
し、F層に金属Auをtooooλ厚にスパッタ蒸着し
たが、溝深さ50μm、100μmは溝内の壁面にスパ
ッタ膜が1分に付着しなかった。
溝深さ5μI、10μl、20μICついて実施例と同
様に波長をかえて゛ト波長電圧を測定した。結果を表1
に示し、表1の結果を第6図に示す。
様に波長をかえて゛ト波長電圧を測定した。結果を表1
に示し、表1の結果を第6図に示す。
これにより、金属スパッタ蒸着により作製できる横電極
は、溝深さが50μl未満の浅い溝の場合に限られるこ
とがわかる。
は、溝深さが50μl未満の浅い溝の場合に限られるこ
とがわかる。
これに対し本発明の導電性樹脂を充填したものは50μ
l以上でも加重どおりの深い電極が形成されており、半
波長電圧が非常に低い値が得られ、駆動電圧がドがって
いる。
l以上でも加重どおりの深い電極が形成されており、半
波長電圧が非常に低い値が得られ、駆動電圧がドがって
いる。
表 1 電極溝深さと半波長電圧
〈発明の効果〉
本発明のシャッタアレイは、導電性樹脂が深い電極内に
完全に充填され、従来実現が不可能であフた有効光路長
が長い横電極を製作することができる。これにより駆動
電圧が下がり、電極形状が電界の湾曲を少なくし、電極
間のクロストークを防止することができる 本発明のシャッタアレイの製造法は、導電性樹脂を過剰
に充填し、硬化後に余分の樹脂を研磨して溝表面を平滑
化するので、従来スパッタで行っていた電極形成と異り
、有効光路長の長い横電極が容易に製造できる。しかも
基板上への溝形成を機械加重またはドライエツチングに
よって行えば、加り積度が良い。また、導電性樹脂を充
填するので、薄いデバイスに深い横電極を形成しても導
電性樹脂が補強材となり、デバイスの機械的強度をトげ
ることがなく、電極の取出しも容易である。
完全に充填され、従来実現が不可能であフた有効光路長
が長い横電極を製作することができる。これにより駆動
電圧が下がり、電極形状が電界の湾曲を少なくし、電極
間のクロストークを防止することができる 本発明のシャッタアレイの製造法は、導電性樹脂を過剰
に充填し、硬化後に余分の樹脂を研磨して溝表面を平滑
化するので、従来スパッタで行っていた電極形成と異り
、有効光路長の長い横電極が容易に製造できる。しかも
基板上への溝形成を機械加重またはドライエツチングに
よって行えば、加り積度が良い。また、導電性樹脂を充
填するので、薄いデバイスに深い横電極を形成しても導
電性樹脂が補強材となり、デバイスの機械的強度をトげ
ることがなく、電極の取出しも容易である。
第1図は、本発明の光シャッタアレイの線図的断面図で
ある。 第2図は、本発明の光シャッタアレイの製造力法を示す
図である。 第3図は、従来の・F面電極の線図的断面図である。 第4図は、従来のエツチング法による横電極の線図的断
面図である。。 第5図は、従来の金属スパッタ蒸着による横電極の線区
的断面図である。 第6図は、゛i半波長電圧溝深さの関係を示すクラ7で
ある。 第7図は、本発明の光シャッタアレイの1実施例を示す
斜面図である。 第8図は、光シャッタアレイの作用を説明するだめの線
図である。 符号の説明 1−P L ZT基板、2・・・電極、3・−・導電性
樹脂、4−・電界、6・・・金属スパッタ蒸着11Q、
7−1゜7−2.7−3.7−4・・・画素、8−・共
通電極、9−・個別電極、10・−プローブ、11−・
・電源。 12・・・溝、D・・・溝深さ、W・・・電極幅、し・
・・有効光路長、14−1を九F、15−・・検光子−
116,17・・・偏光面の方向、i s −・・電源
、19−・・入射光、20・−出射光、21−・・駆動
部特許出願人 富上写真フィルム株式会社FIG、
1 FI G、2a FI G、2b
FIG、2cFIG、6 潰深さD(μm) FIG、8 1問ト2ネ市汀−H−p4q (自発)昭和61年10
J’l 31 Fl l昭和6隼 2、発明の名称 光シャッタアレイおよびその製造方法 3。補正をする者 ′I■件との関係 特許出願人 件 所 神奈川県南足柄市中沼210番地名 称
(520)富ト写貞フィルム株式会社代表者 大
西 實 4、代理人 〒101電話861ー4498住 所
東京都「代[11[メ岩本町LI’rlZ番2叶丁ー
代口I岩本ビル 4階 氏 名 (8015)弁理上 渡 辺 望 稔 ど
] 。 工;・、 。 5、補正の対象
−図面 6、補正の内容 FIG、1 FIG、2a FIG、2b ′FI
G、2cd 12 ( FIG、6 溝深さD(刃m)
ある。 第2図は、本発明の光シャッタアレイの製造力法を示す
図である。 第3図は、従来の・F面電極の線図的断面図である。 第4図は、従来のエツチング法による横電極の線図的断
面図である。。 第5図は、従来の金属スパッタ蒸着による横電極の線区
的断面図である。 第6図は、゛i半波長電圧溝深さの関係を示すクラ7で
ある。 第7図は、本発明の光シャッタアレイの1実施例を示す
斜面図である。 第8図は、光シャッタアレイの作用を説明するだめの線
図である。 符号の説明 1−P L ZT基板、2・・・電極、3・−・導電性
樹脂、4−・電界、6・・・金属スパッタ蒸着11Q、
7−1゜7−2.7−3.7−4・・・画素、8−・共
通電極、9−・個別電極、10・−プローブ、11−・
・電源。 12・・・溝、D・・・溝深さ、W・・・電極幅、し・
・・有効光路長、14−1を九F、15−・・検光子−
116,17・・・偏光面の方向、i s −・・電源
、19−・・入射光、20・−出射光、21−・・駆動
部特許出願人 富上写真フィルム株式会社FIG、
1 FI G、2a FI G、2b
FIG、2cFIG、6 潰深さD(μm) FIG、8 1問ト2ネ市汀−H−p4q (自発)昭和61年10
J’l 31 Fl l昭和6隼 2、発明の名称 光シャッタアレイおよびその製造方法 3。補正をする者 ′I■件との関係 特許出願人 件 所 神奈川県南足柄市中沼210番地名 称
(520)富ト写貞フィルム株式会社代表者 大
西 實 4、代理人 〒101電話861ー4498住 所
東京都「代[11[メ岩本町LI’rlZ番2叶丁ー
代口I岩本ビル 4階 氏 名 (8015)弁理上 渡 辺 望 稔 ど
] 。 工;・、 。 5、補正の対象
−図面 6、補正の内容 FIG、1 FIG、2a FIG、2b ′FI
G、2cd 12 ( FIG、6 溝深さD(刃m)
Claims (6)
- (1)電気光学効果を発揮する電気光学材料製の透明基
板と、該基板に形成された少なくとも2本の平行溝に導
電性樹脂を充填してなる電極とを有することを特徴とす
る光シャッタアレイ。 - (2)前記溝は深さ50μm以上である特許請求の範囲
第1項に記載の光シャッタアレイ。 - (3)電気光学効果を発揮する電気光学材料製の透明基
板に、少なくとも2本の平行溝を形成し、この溝内に過
剰の導電性樹脂を充填した後、表面を研磨して平滑化す
ることを特徴とする光シャッタアレイの製造方法。 - (4)前記溝は深さ50μm以上である特許請求の範囲
第3項に記載の光シャッタアレイの製造方法。 - (5)前記少なくとも2本の溝の形成は機械研削加工に
より行う特許請求の範囲第3項または第4項に記載の光
シャッタアレイの製造方法。 - (6)前記少なくとも2本の溝の形成はドライエッチン
グ加工により行う特許請求の範囲第3項または第4項に
記載の光シャッタアレイの製造方法。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60221056A JPH061305B2 (ja) | 1985-10-03 | 1985-10-03 | 光シヤツタアレイおよびその製造方法 |
| US06/914,972 US4755415A (en) | 1985-10-03 | 1986-10-03 | Optical shutter array and method for making |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60221056A JPH061305B2 (ja) | 1985-10-03 | 1985-10-03 | 光シヤツタアレイおよびその製造方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6285218A true JPS6285218A (ja) | 1987-04-18 |
| JPH061305B2 JPH061305B2 (ja) | 1994-01-05 |
Family
ID=16760802
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60221056A Expired - Lifetime JPH061305B2 (ja) | 1985-10-03 | 1985-10-03 | 光シヤツタアレイおよびその製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH061305B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02280114A (ja) * | 1989-04-21 | 1990-11-16 | Nippon Steel Corp | Plzt透光性セラミックスへの溝型電極形成方法 |
| JPH03135520A (ja) * | 1989-10-20 | 1991-06-10 | Fujitsu General Ltd | Plzt表示装置の製造方法 |
| JP2009276625A (ja) * | 2008-05-15 | 2009-11-26 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 合成開口光偏向素子 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59104623A (ja) * | 1982-12-06 | 1984-06-16 | Murata Mfg Co Ltd | セラミツク素子及びその製造方法 |
-
1985
- 1985-10-03 JP JP60221056A patent/JPH061305B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59104623A (ja) * | 1982-12-06 | 1984-06-16 | Murata Mfg Co Ltd | セラミツク素子及びその製造方法 |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02280114A (ja) * | 1989-04-21 | 1990-11-16 | Nippon Steel Corp | Plzt透光性セラミックスへの溝型電極形成方法 |
| JPH03135520A (ja) * | 1989-10-20 | 1991-06-10 | Fujitsu General Ltd | Plzt表示装置の製造方法 |
| JP2009276625A (ja) * | 2008-05-15 | 2009-11-26 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 合成開口光偏向素子 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH061305B2 (ja) | 1994-01-05 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |