JPS6286770A - Semiconductor pressure sensor manufacturing method - Google Patents
Semiconductor pressure sensor manufacturing methodInfo
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- JPS6286770A JPS6286770A JP22629685A JP22629685A JPS6286770A JP S6286770 A JPS6286770 A JP S6286770A JP 22629685 A JP22629685 A JP 22629685A JP 22629685 A JP22629685 A JP 22629685A JP S6286770 A JPS6286770 A JP S6286770A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。(57) [Abstract] This bulletin contains application data before electronic filing, so abstract data is not recorded.
Description
【発明の詳細な説明】
導体圧力センサ特にカテーテルの先端に実装可能な超小
型の半導体圧力センサの製造方法に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a method of manufacturing a conductive pressure sensor, particularly an ultra-small semiconductor pressure sensor that can be mounted at the tip of a catheter.
用[0) 工業計測用などの分野で急速に高まってい
る。これらに対応できる唯一のものとしてピエゾ抵抗効
果を利用したシリコン・ダイアフラム型の圧カセ/すが
注目されている。その理由は次の多(の利点または可能
性による。即ち■ 大量生産可能■ 低価格■ 高精度
■ 高信頼性■ 小型軽量■ 多機能化可能等である。Use [0] It is rapidly increasing in fields such as industrial measurement. A silicon diaphragm type pressure cassette that utilizes the piezoresistive effect is attracting attention as the only one that can meet these requirements. The reason for this is due to the following advantages or possibilities: ■ Mass production possible ■ Low price ■ High precision ■ High reliability ■ Small size and light weight ■ Multifunctionality possible.
その中でも最近特に注目されているのが[a) 医療
用として■ 小型軽量を利用したカテーテル先端型血圧
センナである。これはICU (集中処置室)などの重
症患者の体内に挿入して心臓内や血管内の局所部位の血
圧を精密に測定しようとするものである。Among these, the ones that have recently attracted particular attention are (a) For medical use: ■ Catheter-tip blood pressure sensors that are small and lightweight. This device is intended to be inserted into the body of a critically ill patient such as an ICU (intensive care unit) to accurately measure blood pressure at local sites within the heart or blood vessels.
第3図にカテーテル先端型血圧センサの一例を示す。(
a)がその断面構造図で、[1))は平面模式図である
。FIG. 3 shows an example of a catheter tip type blood pressure sensor. (
a) is a cross-sectional structural diagram thereof, and [1)) is a schematic plan view.
このようなカテーテルは直径が1.0〜2.4 mx程
度の非常に細長いものでシリコン・ダイアフラム型の圧
力上ンサチツプ(1)がセラミック基板(2)上に固定
され感圧部たるダイアフラムQ3)には上部から被測定
圧たる血圧が加わり、下部は空気孔(力からナイロン製
などの伝導用チューブ(3)を介して大気圧に開放され
ている。電気的にはチップ(1)上の金属パット9とボ
ンディングワイヤー(8)によりセラミック基板上の金
属配線(9)とが接線されさらにハンダ付けされたリー
ド線α〔により外部のモニタとつながっている。またボ
ンディングワイヤーなど切断等の破損が心配な部分は硬
質性樹脂(4)、例えばエポキシ樹脂によって補強され
、他の部分は適切な軟度を持たせるために軟質性樹脂(
5)例えばウレタン樹脂により形成されている。さらに
採血及び心拍出量の測定等に用いるルーメンα2と呼ば
れる穴とそれに付属するポリエチレン製などのチューブ
aυがありセンサチップ(1)のダイアフラム部(1■
の上も含めてカテーテルの外壁(6)はウレタン系樹脂
でコーティングされている。Such a catheter is extremely long and thin with a diameter of about 1.0 to 2.4 mx, and has a silicon diaphragm-type pressure sensor chip (1) fixed on a ceramic substrate (2) and a diaphragm Q3 (pressure sensitive part). Blood pressure, which is the pressure to be measured, is applied from the top, and the bottom is open to atmospheric pressure via an air hole (power conduction tube (3) made of nylon, etc.).Electrically, the pressure on the chip (1) The metal pad 9 and the bonding wire (8) are connected to the metal wiring (9) on the ceramic substrate, and are further connected to the external monitor by the soldered lead wire α.Also, the bonding wire is not damaged due to cutting. Areas of concern are reinforced with a hard resin (4), such as epoxy resin, while other areas are reinforced with a soft resin (4) to provide appropriate softness.
5) For example, it is made of urethane resin. Furthermore, there is a hole called lumen α2 used for blood collection and measurement of cardiac output, and an attached tube aυ made of polyethylene.
The outer wall (6) of the catheter, including the top thereof, is coated with urethane resin.
さて、第4図にこのようなカテーテル先端型血圧センサ
のセンサチツプ装着部の断面図を示すがこの図からも明
らかなようにカテーテルの径を小さくするにはセンサチ
ップ(1)そのもののサイズを小さくしなくてはならな
い。一般には同図(C)に示すような表裏両面に垂直な
側面を持つセンサチップを用いるが[a)、(blの如
く斜面と称すべき表裏両面とは垂直には交わらない側面
を持つセンサチップによりスペースを有効利用する方法
も提案されている。しかし、この方法もカテーテルの径
が2.0朋以下になってきたときには本質的な解決メと
はなり得ない。これはカテーテルの径に対して、センサ
チップの厚さが無視できなくなるからである。一般の半
導体集積回路の製造で用いる基板はそり、割れ等を防ぐ
ためにその径が大きくなればなる程厚くなっている。例
えば2インチ基板で厚さは約300μm、 3インチ
で400μm 4インチで500μm、5インチで65
0μm等である。Now, Fig. 4 shows a cross-sectional view of the sensor chip attachment part of such a catheter tip type blood pressure sensor.As is clear from this figure, in order to reduce the diameter of the catheter, the size of the sensor chip (1) itself must be reduced. I have to. Generally, a sensor chip with side surfaces perpendicular to both the front and back surfaces as shown in Figure (C) is used [a), but a sensor chip with side surfaces that do not intersect perpendicularly to the front and back surfaces, which should be called slopes as shown in (bl). A method of effectively utilizing space has also been proposed. However, this method cannot be an essential solution when the diameter of the catheter becomes less than 2.0 mm. This is because the thickness of the sensor chip cannot be ignored.In order to prevent warping, cracking, etc., the substrate used in the manufacture of general semiconductor integrated circuits becomes thicker as the diameter increases.For example, a 2-inch substrate The thickness is approximately 300 μm, 400 μm for 3 inches, 500 μm for 4 inches, and 65 μm for 5 inches.
0 μm, etc.
研磨等により基板を薄くすると、どうしてもそり、割れ
が生じ全体としての歩留りが著しく低下する。If the substrate is made thinner by polishing or the like, warping and cracking inevitably occur, which significantly reduces the overall yield.
このため非常に小さなセンサを製造するときにはできる
だけ小さな径の基板を用いその基板厚さをそり、割れが
生じない範囲でできる限り薄くしている。例えば厚さ約
180μmで2インチ径の基板を用いる。しかしこれで
は小型化には限界があり、作業効率も悪(低価格化にも
限界がある。またセンサチップ切り出し後研磨する方法
も考えられるが微小なチップを取り扱うのが困難で実用
性に乏しい。For this reason, when manufacturing very small sensors, a substrate with the smallest possible diameter is used and the thickness of the substrate is warped to make it as thin as possible without causing cracks. For example, a substrate with a thickness of about 180 μm and a diameter of 2 inches is used. However, this has limits on miniaturization and poor work efficiency (there is also a limit on lowering prices.Also, a method of polishing the sensor chip after cutting it out could be considered, but it is difficult to handle tiny chips and is impractical. .
この問題を解決するものとして第2図に示すような半導
体圧力センサの製造方法が提案されている。この方法は
径の大きい厚い基板を用いてもセンサチップを切り出す
前に同図(b)に示すように任意の厚さのセンサチップ
形成領域(ICJを形成しておきこの領域に図[0)の
ように超小型の半導体圧力センサ(1)を作り込むこと
により最終的に図(cl)のような高精度な圧力センサ
が製造できるとしている。To solve this problem, a method of manufacturing a semiconductor pressure sensor as shown in FIG. 2 has been proposed. Even if a thick substrate with a large diameter is used, this method can be applied by forming a sensor chip forming area (ICJ) of an arbitrary thickness as shown in Figure (b) before cutting out the sensor chip. By manufacturing an ultra-small semiconductor pressure sensor (1) as shown in FIG.
しかし、この方法では図(b)のセンサチップ形成領域
α9の形成と図tc)のダイアフラムαJの形成と2度
も一般のプレナー加工技術にはない特有の3次元加工を
行なわなくてはならないなど複雑な加工を必要とし未だ
実用性の高い簡便な方法は提案されていない。However, with this method, it is necessary to perform two unique three-dimensional machining processes that are not found in general planar machining techniques: forming the sensor chip forming region α9 in Figure (b) and forming the diaphragm αJ in Figure tc). This method requires complicated processing, and a simple and highly practical method has not yet been proposed.
本発明は、センサチップ自体の形状、寸法と比較して充
分太き(、かつ厚い半導体結晶基板を用い、該基板内に
センサチップ形成領域たる薄板部を形成する工程と、該
薄板部にセンサチップ構成要素たるダイアフラム及び拡
散抵抗等を形成する工程とセンサチップを切出す工程を
有する半導体圧力センナ製造方法において、耐アルカリ
液性に優れた層を形成する工程と、その上に半導体結晶
をエピタキシャル成長する工程を少な(とも2回繰り返
した後に、上記薄板部形成工程とダイアフラム形成工程
及びセンサチップ切出し工程に相当する工程を、アルカ
リ系のエツチング液を用いた異方性エツチングにより1
工程で実現することを特徴とし、その目的は、カテーテ
ル等の非常に狭い場所に実装して、安全にかつ安定して
高精度な測定を行うことができる超小型の半導体圧力セ
ンサを製造する具体的な方法を提供するにある。The present invention uses a semiconductor crystal substrate that is sufficiently thick (and thick) compared to the shape and dimensions of the sensor chip itself, and a process of forming a thin plate portion serving as a sensor chip formation area in the substrate, and a step of forming a sensor chip on the thin plate portion. A semiconductor pressure sensor manufacturing method that includes a step of forming a diaphragm and a diffused resistor, etc., which are chip components, and a step of cutting out a sensor chip, includes a step of forming a layer with excellent alkaline liquid resistance, and epitaxial growth of a semiconductor crystal on the layer. After repeating the steps twice, the steps corresponding to the thin plate forming step, diaphragm forming step, and sensor chip cutting out step are performed once by anisotropic etching using an alkaline etching solution.
The purpose is to manufacture an ultra-small semiconductor pressure sensor that can be mounted in a very narrow space such as a catheter and perform safe, stable, and highly accurate measurements. It is to provide a method.
本発明では、第2図に示すような従来技術による半導体
圧力センサの製造方法のうち図(b)のセンサチップ形
成領域の形成工程図[C1のダイアフラム形成工程図[
d)のセンサチップ切り出し工程の3工程を1つの工程
内に統合整理することにより製造工程の煩雑化を防ぎ非
常に実用性の高いものとしている。In the present invention, in the method of manufacturing a semiconductor pressure sensor according to the prior art as shown in FIG.
By integrating and arranging the three processes of the sensor chip cutting process in d) into one process, the manufacturing process is prevented from becoming complicated and is highly practical.
即ち本発明の方法は、ダイアフラムの形成に最もよく用
いられるシリコン単結晶基板をアルカリ系の液により異
方性エツチングする加工方法を最大限に利用し基板内に
埋め込んだエツチング停止層と表裏両面に形成した保護
膜をマスクとして組み合せることによって、1度のエツ
チング工程において、センサチップ形成領域とダイアフ
ラムを形成するとともにセンサチップの切り出しを行う
方法である。That is, the method of the present invention makes full use of the processing method of anisotropically etching a silicon single crystal substrate using an alkaline solution, which is most commonly used for forming a diaphragm, and etching an etching stop layer embedded in the substrate and etching both the front and back surfaces. In this method, the formed protective film is used as a mask to form a sensor chip forming region and a diaphragm and to cut out the sensor chip in one etching process.
(ホ)実施例 以下本発明を具体的な実施例に基づき”説明する。(e) Examples The present invention will be explained below based on specific examples.
第1図は本発明の一実施例たる半導体圧力センナの製造
方法を模式的に説明する図で必要な構成要素のみを表示
しである。図は工程順に表示しであるのでこれに従って
説明する。FIG. 1 is a diagram schematically explaining a method of manufacturing a semiconductor pressure sensor according to an embodiment of the present invention, and only necessary components are shown. The figures are shown in the order of the steps, so the explanation will be given accordingly.
[a)図の状態までにn′″型の(9)面を表面とする
シリコン単結晶基板α力にセンサチップ形成用のエツチ
ング停止層Cυとダイアフラム形成用のエツチング停止
層(1)を埋め込んでおく。実際にはシリコン単結晶基
板にエツチング停止層としてボロン高濃度層(ボロン濃
度が7. Q X 1019ions 7cm3以上の
層)を2μm 程度形成した上にn−型シリコン単結晶
層をエピタキシャル成長(以下エビ成長という)させ、
その上に再びボロン高濃度層を2μm程度形成し、さら
にn一層をエビ成長させることにより、シリコン基板α
aは(a)図のような状態となる。[a) As shown in the figure, an etching stop layer Cυ for forming a sensor chip and an etching stop layer (1) for forming a diaphragm are embedded in a silicon single crystal substrate α having an n′″ type (9) plane as a surface. In practice, a high boron concentration layer (a layer with a boron concentration of 7. (hereinafter referred to as shrimp growth),
On top of that, a high boron concentration layer of about 2 μm is formed again, and a further n layer is grown to form a silicon substrate α.
A is in a state as shown in (a).
即ち、最初に形成したボロン高濃度層がセンサチップ形
成用のエツチング停止層Qυとなり、次に形成した層が
ダイアフラム形成用の停止層(イ)となる。そして最終
的に製造されるセンサチップの形状はほぼこのときに決
定される。つまり、センサチップの厚さは2度のエビ成
長の厚さとセンサチップ形成用のエツチング停止層CD
の厚さの和で決定され、ダイアフラムの厚さは2度目の
エビ成長の厚さとダイアフラム形成用のエツチング停止
層(20の厚さの和で決定されるからである。またその
大きさはセンサチップ形成用のエツチング停止層01)
のパターンと2度のエビ成長の厚さの比により決定され
る。That is, the boron high concentration layer formed first becomes the etching stop layer Qυ for forming the sensor chip, and the layer formed next becomes the stop layer (A) for forming the diaphragm. The shape of the sensor chip to be finally manufactured is almost determined at this time. In other words, the thickness of the sensor chip is the thickness of two degrees of shrimp growth and the etching stop layer CD for forming the sensor chip.
The thickness of the diaphragm is determined by the sum of the thickness of the second shrimp growth and the thickness of the etching stop layer (20) for forming the diaphragm. Etching stop layer for chip formation 01)
It is determined by the ratio of the pattern of the shrimp and the thickness of the two shrimp growths.
一方、それらの設計値に対する誤差要因としては、エビ
成長の制御精度、ボロン高濃度層の拡散見積りの誤差、
異方性エツチングの(111)面方向のエツチング深さ
見積りの誤差等しか考えられず、そしてこれらは各々非
常に小さな値であるため、全体として高精度の加工が行
なえる。On the other hand, the error factors for these design values include the control accuracy of shrimp growth, the error in estimating the diffusion of boron-rich layer,
Only errors in estimating the etching depth in the (111) plane direction of anisotropic etching can be considered, and since each of these is a very small value, highly accurate processing can be performed as a whole.
fb)図の工程において、半導体圧力センサの構成要素
を基板内に作り込む。即ちシリコン基板(+4)の表面
に感圧素子たるピエゾ抵抗(I■を形成しこれを表面保
護膜Q8)を介して形成するAlパット”a7)と、拡
散リード部α0により電気的に接続された状態にする。fb) In the process shown in the figure, the components of the semiconductor pressure sensor are built into the substrate. That is, a piezoresistor (I) as a pressure-sensitive element is formed on the surface of the silicon substrate (+4), which is electrically connected to an Al pad "a7) formed via a surface protective film Q8) by a diffusion lead part α0. state.
このとき裏面にも保護膜(24)を形成するが表面の保
護膜(慢と同様に熱酸化膜を一般に用いる。At this time, a protective film (24) is also formed on the back surface, but a thermal oxide film is generally used as the protective film on the front surface (similar to the protective film 24).
tc+図の工程において表面の保護膜α段をパターニン
グしてセンサチップ切り出し用のエツチング領域@と、
裏面の保護膜C)4)をパターニングしてセンサチップ
形成領域用のエツチング領域(23)を形成する。また
図には表示してないが実際にはAlパツビ(1ηの上は
CVD (化学蒸気析出法)による5102膜などの
保護膜で覆っておく。tc + In the process shown in the figure, the protective film α stage on the surface is patterned to form an etching region @ for cutting out the sensor chip,
The protective film C)4) on the back surface is patterned to form an etching region (23) for a sensor chip formation region. Also, although not shown in the figure, in reality, the top of Al Patubi (1η) is covered with a protective film such as 5102 film made by CVD (chemical vapor deposition).
+41図の工程が本発明を特徴づける工程であって、ア
ルカリ系の液で裏面のエツチング領域(23)から工ツ
チングし、センサチップ形成用エツチング停止層(21
)が存在する面で仮想的にセンサチップ形成領域が形成
されこの停止層eυが存在しない部分ではさらにエツチ
ングが進行してダイアフラム形成用エツチング停止層(
2■で停止することによりダイアフラムが形成されさら
に表面のセンサチップ切り出し用のエツチング領域(2
21かも進行してきたエツチング穴と貫通することによ
りセンサチップの切り出しが行なわれる。The process shown in Fig.
A sensor chip forming region is virtually formed on the surface where the stop layer eυ exists, and etching progresses further in the area where the stop layer eυ does not exist, forming an etching stop layer for diaphragm formation (
By stopping at 2■, a diaphragm is formed and an etching area (2) for cutting out the sensor chip on the surface is formed.
The sensor chip is cut out by penetrating the etching hole 21 that has progressed.
このとき用いるエツチング液としては、KOf(ヒドラ
ジン(Nf(2、NH2) 等を主成分とする液も有
力であるがエツチング停止層として用いるボロン高濃度
層(20,21) との選択性等からエチレンジアミ
7 (H2N、・CH2,・CH2、’ NH2)とピ
ロカテコール(06H4(OH) 2)及び水(H2O
)の混合液に触媒としてピラジン(04H4N2)を少
量混入させた液が最適である。As the etching solution used at this time, a solution whose main component is KOf (hydrazine (Nf(2, NH2), etc.) is also effective, but due to its selectivity with the boron high concentration layer (20, 21) used as an etching stop layer, etc. Ethylenediami7 (H2N, ・CH2, ・CH2, 'NH2) and pyrocatechol (06H4(OH)2) and water (H2O
) and mixed with a small amount of pyrazine (04H4N2) as a catalyst is most suitable.
またセンサチップ切り出し後にAJパッドαη上の保護
膜を除去しなくてはならないがチップの状態でフォト処
理を行なうのは大変困難なので予めアルカリ系の液に耐
える別の膜をパターニングして形成しておきこの膜をマ
スクとして保護膜をエツチングにより除去する。In addition, after cutting out the sensor chip, the protective film on the AJ pad αη must be removed, but since it is very difficult to perform photo processing on the chip, a separate film that can withstand alkaline liquids must be patterned and formed in advance. The protective film is removed by etching using this film as a mask.
本発明により、最外径が1.0〜1.5龍程度のカテー
テルに装着可能な超小型の半導体圧力センサの製造が初
めて量産に対応可能な形で可能となった。The present invention has made it possible for the first time to manufacture an ultra-small semiconductor pressure sensor that can be attached to a catheter with an outermost diameter of approximately 1.0 to 1.5 mm in a form that is compatible with mass production.
工程的には一般の半導体圧カセンサQ製造方法と比較し
て付属的に必要となる工程は若干あるが基本的にはボロ
/高濃度層形成工程とエピタキシャル成長工程が各々1
工程づつ増えるだけで本発明による製造方法が実現でき
るので製造コスト的には少額の増加に押えられる。In terms of process, there are some additional processes required compared to the general semiconductor pressure sensor Q manufacturing method, but basically there is one boro/high concentration layer formation process and one epitaxial growth process.
Since the manufacturing method according to the present invention can be realized by only adding steps one by one, the increase in manufacturing costs can be suppressed to a small amount.
チップの大きさとしては、従来は2インチ基板を用いて
厚さ約180μmのセンサチップを製造するのが限界で
あったのに対し、50μmあるいはそれ以下の厚さのセ
ンサチップの製造が可能となりセンサチップの加工能力
そのものよりもその実装技術の側にチップ小型化のため
の限界が移りている。In terms of chip size, conventionally the limit was to manufacture sensor chips with a thickness of approximately 180 μm using a 2-inch substrate, but now it is possible to manufacture sensor chips with a thickness of 50 μm or less. The limit for chip miniaturization has shifted to the mounting technology rather than the sensor chip processing capability itself.
また量産という意味でも径の小さな基板を用い°る必要
がなくなり、5インチ程度の径の基板を用いて生産性の
向上を図ることが可能となった。Also, in terms of mass production, it is no longer necessary to use substrates with a small diameter, and it has become possible to improve productivity by using substrates with a diameter of about 5 inches.
以上から、多目的に応用できる超小型の圧力センナが低
価格で大量に生産できるようになったので例えばカテー
テル先端型の血圧センサとして応用した場合にはこのセ
/すの使い捨て化を実現し利用範囲を飛躍的に拡大する
ものである。From the above, ultra-compact pressure sensors that can be used for multiple purposes can now be produced in large quantities at low cost.For example, when applied as a catheter tip-type blood pressure sensor, this sensor can be made disposable and can be used in a wide range of applications. This will dramatically expand the
第1図は本発明の一実施例たる半導体圧力センサの製造
方法を模式的に説明する図である。
第2図は従来技術による半導体圧力センナの製造方法を
説明する図である。
第3図はカテーテル先端型血圧センナの構造を示す図で
(aJは断面図、[blは平面模式図である。
第4図は第3図のカテーテル先端型血圧センナのセンサ
チップ装着部の断面図である。
1 半導体圧力センサ 15 ピエゾ抵抗2 セラ
ミック基板 16 拡散ソー1部3 大気圧伝達
用チューブ 171J パッド4 硬質性樹脂
18 表面保護膜5 軟質性樹脂
19 センサチップ形6 カテーテル外壁
成領域7 空気孔 20 グイアフ
ラム形成8 ポンディングワイヤー 用エツ
チング停止9 金属配線 層
10 リード線 21 センサチ
ッズ杉成用11 ルーメン用チューブ エ
ツチング亭止層12 ルーメン 22
表面エツチング領域13 ダイアフラム 23
裏面エツチング領域14 シリコン単結晶基板 2
4 裏面保護膜特許出願人 住友電気工業株式会社
(外5名)FIG. 1 is a diagram schematically explaining a method of manufacturing a semiconductor pressure sensor according to an embodiment of the present invention. FIG. 2 is a diagram illustrating a method of manufacturing a semiconductor pressure sensor according to the prior art. Figure 3 is a diagram showing the structure of the catheter tip type blood pressure sensor (aJ is a sectional view, [bl is a schematic plan view). Figure 4 is a cross section of the sensor chip attachment part of the catheter tip type blood pressure sensor in Figure 3. It is a diagram. 1 Semiconductor pressure sensor 15 Piezoresistor 2 Ceramic substrate 16 Diffusion saw 1 part 3 Atmospheric pressure transmission tube 171J Pad 4 Hard resin
18 Surface protective film 5 Soft resin
19 Sensor chip type 6 Catheter outer wall
Formation area 7 Air hole 20 Guiaphram formation 8 Etching stop for bonding wire 9 Metal wiring layer 10 Lead wire 21 Sensor chips cedar formation 11 Lumen tube Etching stop layer 12 Lumen 22
Surface etching area 13 Diaphragm 23
Back side etching region 14 Silicon single crystal substrate 2
4 Back protective film patent applicant Sumitomo Electric Industries, Ltd. (5 others)
Claims (3)
きくかつ厚い半導体結晶基板を用い、該基板内にセンサ
チツプ形成領域たる薄板部を形成する工程と、該薄板部
にセンサチツプ構成要素たるダイアフラム及び拡散抵抗
等を形成する工程と、センサチツプを切り出す工程を有
する半導体圧力センサ製造方法において、耐アルカリ液
性に優れた層を形成する工程と、その上に半導体結晶を
エピタキシヤル成長する工程を少なくとも2回繰り返し
た後に、上記薄板部形成工程とダイアフラム形成工程及
びセンサチツプ切り出し工程に相当する工程をアルカリ
系のエツチング液を用いた異方性エツチングにより1工
程で実現することを特徴とする半導体圧力センサ製造方
法。(1) Using a semiconductor crystal substrate that is sufficiently large and thick compared to the shape and dimensions of the sensor chip itself, forming a thin plate part that is the sensor chip forming area in the substrate, and a diaphragm and diffusion that are the constituent elements of the sensor chip in the thin plate part. In a method for manufacturing a semiconductor pressure sensor, which includes a step of forming a resistor, etc., and a step of cutting out a sensor chip, the step of forming a layer having excellent alkaline liquid resistance and the step of epitaxially growing a semiconductor crystal thereon are performed at least twice. After repeating the steps, the steps corresponding to the thin plate forming step, diaphragm forming step, and sensor chip cutting out step are realized in one step by anisotropic etching using an alkaline etching liquid. .
面を表画とする基板である、特許請求の範囲第1項記載
の半導体圧力センサ製造方法。(2) The semiconductor crystal plate is silicon single crystal (100)
The semiconductor pressure sensor manufacturing method according to claim 1, wherein the substrate is a substrate having a surface as a front image.
テコール及び水の混合液もしくは、この混合液に若干の
触媒を加えたものである、特許請求の範囲第1項及び第
2項のいずれかに記載の半導体圧力センサ製造方法。(3) The alkaline liquid is a mixture of ethylenediamine, pyrocatechol, and water, or a mixture containing a small amount of catalyst, according to any one of claims 1 and 2. A method for manufacturing a semiconductor pressure sensor.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22629685A JPS6286770A (en) | 1985-10-11 | 1985-10-11 | Semiconductor pressure sensor manufacturing method |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22629685A JPS6286770A (en) | 1985-10-11 | 1985-10-11 | Semiconductor pressure sensor manufacturing method |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6286770A true JPS6286770A (en) | 1987-04-21 |
Family
ID=16842984
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP22629685A Pending JPS6286770A (en) | 1985-10-11 | 1985-10-11 | Semiconductor pressure sensor manufacturing method |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6286770A (en) |
-
1985
- 1985-10-11 JP JP22629685A patent/JPS6286770A/en active Pending
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