JPS6288943A - 排気ガス分析計 - Google Patents
排気ガス分析計Info
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- JPS6288943A JPS6288943A JP23009985A JP23009985A JPS6288943A JP S6288943 A JPS6288943 A JP S6288943A JP 23009985 A JP23009985 A JP 23009985A JP 23009985 A JP23009985 A JP 23009985A JP S6288943 A JPS6288943 A JP S6288943A
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/35—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
- G01N21/37—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light using pneumatic detection
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は内燃機関などの排気ガスの濃度を分析する排気
ガス分析計に係り、特にスパンガスを用いずにスパン較
正をすることのできる赤外線分析法を利用した排気ガス
分析計に関する。
ガス分析計に係り、特にスパンガスを用いずにスパン較
正をすることのできる赤外線分析法を利用した排気ガス
分析計に関する。
赤外線分析法を利用した排気ガス分析計は、主として、
分析しようとするサンプルガスを流入するサンプルセル
と、含有する一酸化炭素などのガス濃度がゼロまたは一
定のガスである比較ガスが封入された比較セルと、これ
らの２つのセルにそれぞれ赤外線を照射する光源と、こ
れらのセル内のガスを通過した赤外光を断続なるチョッ
パと、これらの断続された２つの信号を比較してガス濃
度の出力信号を出す検出器からなっている。この種の排
気ガス分析計によってサンプルガスの濃度を分析しよう
とする場合には、あらかじめ既知濃度の複数種数のシリ
ンダガスを用いて、このガス濃度と検出器による出力と
の関係を較正しキャリブレーション曲線を作成しておく
必要があり、このいわゆるスパン較正にはシリンダガス
を多種類必要とし、これらのシリンダガスの管理に多大
な工数を費やしていた。
分析しようとするサンプルガスを流入するサンプルセル
と、含有する一酸化炭素などのガス濃度がゼロまたは一
定のガスである比較ガスが封入された比較セルと、これ
らの２つのセルにそれぞれ赤外線を照射する光源と、こ
れらのセル内のガスを通過した赤外光を断続なるチョッ
パと、これらの断続された２つの信号を比較してガス濃
度の出力信号を出す検出器からなっている。この種の排
気ガス分析計によってサンプルガスの濃度を分析しよう
とする場合には、あらかじめ既知濃度の複数種数のシリ
ンダガスを用いて、このガス濃度と検出器による出力と
の関係を較正しキャリブレーション曲線を作成しておく
必要があり、このいわゆるスパン較正にはシリンダガス
を多種類必要とし、これらのシリンダガスの管理に多大
な工数を費やしていた。
この問題を解決するためスパン較正時にシリンダガスを
使わずに、既知濃度のシリンダガスを流したときにガス
に吸収されずに検出器に到達する赤外線の光量に一致さ
せるように、赤外線光路中に遮光板を設けて赤外線の光
量を調整することが行なわれている。しかしながら従来
行なわれていたこの遮光板方式のスパン較正によると、
遮光板を赤外線光路へ挿入する手段が１枚ずつのスライ
ド方式であったため、挿入位置がずれて正確なスパン較
正ができず、また遮光板によっては検出器に赤外線が均
一に照射されないため、キャリブレーション曲線が不正
確になるという問題があった。
使わずに、既知濃度のシリンダガスを流したときにガス
に吸収されずに検出器に到達する赤外線の光量に一致さ
せるように、赤外線光路中に遮光板を設けて赤外線の光
量を調整することが行なわれている。しかしながら従来
行なわれていたこの遮光板方式のスパン較正によると、
遮光板を赤外線光路へ挿入する手段が１枚ずつのスライ
ド方式であったため、挿入位置がずれて正確なスパン較
正ができず、また遮光板によっては検出器に赤外線が均
一に照射されないため、キャリブレーション曲線が不正
確になるという問題があった。
さらにまたサンプルセルの汚れによって赤外線の光量が
変化し、正確な分析という点でも問題があることが指摘
されていた。
変化し、正確な分析という点でも問題があることが指摘
されていた。
本発明は、前述のとおり、従来の排気ガス分析計におけ
るスパン較正時において問題となっていた遮光板の挿入
位置のずれや赤外線の照射の不均一性、及びサンプルセ
ルの汚れなどにより発生するスパン較正の誤差の問題を
解決し、スパンガスを使用することなく正確なスパン較
正を行なうことのできる赤外線を利用した排気ガス分析
計を提供することを目的としている。
るスパン較正時において問題となっていた遮光板の挿入
位置のずれや赤外線の照射の不均一性、及びサンプルセ
ルの汚れなどにより発生するスパン較正の誤差の問題を
解決し、スパンガスを使用することなく正確なスパン較
正を行なうことのできる赤外線を利用した排気ガス分析
計を提供することを目的としている。
本発明は光源から発生する赤外線の一方をサンプルガス
により吸収させ、他方を濃度ゼロまたは一定の比較ガス
により吸収させ、これらの２つの赤外線光路のエネルギ
ー差を検出器により検出して排気ガスの濃度分析を行な
う排気ガス分析計において、サンプルガス通過赤外線光
路中に、スパンガスを流したときと同等の光量に前記赤
外線を減光させる減光率の異なる複数個の減光フィルタ
を例えば、モータによって回転される円板に同心状にあ
るいは複数枚重ねた支持板に配設し、前記赤外線光路中
に進出自在に設けるとともに、該減光フィルタの前記赤
外線光路中への正確な停止を確保するためのマグネット
を配備したことを特徴とする排ガス分析計であり、また
、前記サンプルガスおよび比較ガスのセルを恒温槽内に
収容し、サンプルセルに汚れの発生を防止した排ガス分
析計である。
により吸収させ、他方を濃度ゼロまたは一定の比較ガス
により吸収させ、これらの２つの赤外線光路のエネルギ
ー差を検出器により検出して排気ガスの濃度分析を行な
う排気ガス分析計において、サンプルガス通過赤外線光
路中に、スパンガスを流したときと同等の光量に前記赤
外線を減光させる減光率の異なる複数個の減光フィルタ
を例えば、モータによって回転される円板に同心状にあ
るいは複数枚重ねた支持板に配設し、前記赤外線光路中
に進出自在に設けるとともに、該減光フィルタの前記赤
外線光路中への正確な停止を確保するためのマグネット
を配備したことを特徴とする排ガス分析計であり、また
、前記サンプルガスおよび比較ガスのセルを恒温槽内に
収容し、サンプルセルに汚れの発生を防止した排ガス分
析計である。
上記の構成によると、スパンガスを使用することなく排
気ガス分析計のスパン較正を行うことができる。またフ
ィルタを赤外線光路の正しい位置に置くことができるの
で、赤外線を均一に検出器に照射することができるとと
もにサンプルセルのｌりれも発生しないため正確な濃度
−出力のキャリブレーション曲線を得ることができる。
気ガス分析計のスパン較正を行うことができる。またフ
ィルタを赤外線光路の正しい位置に置くことができるの
で、赤外線を均一に検出器に照射することができるとと
もにサンプルセルのｌりれも発生しないため正確な濃度
−出力のキャリブレーション曲線を得ることができる。
以下本発明の実施例について図面を参照して詳細に説明
する。
する。
（第１の実施例）
第１図は本発明に係る排気ガス分析計の第１の実施例を
示す縦断面図である。赤外線を安定かつ連続的に放射す
る１対の光源１，２の下部には、それぞれに対向する位
置にサンプルセル３及び比較セル４が設けられている。
示す縦断面図である。赤外線を安定かつ連続的に放射す
る１対の光源１，２の下部には、それぞれに対向する位
置にサンプルセル３及び比較セル４が設けられている。
このサンプルセル３にはガス濃度をＭｌｌｌ定すべきサ
ンプルガス５が導入され、サンプルガス５中の成分によ
る赤外線の吸収を起こさせるサンプルガス５と赤外線と
の接触部が形成されている。比較セル４中にはゼロガス
または一定濃度のガスが封入されており、常に一定量の
赤外線を通過させて前記サンプルセル３を通過する赤外
線の光量と比較されるようになっている。これらのサン
プルセル３及び比較セル４は恒温槽６内に収納され、約
１５ｏ°乃至２００ ℃の範囲内で加熱保温されている
。サンプルセル３の下面には減光フィルタ板７が回動可
能に設けられている。この減光フィルタ板７は第２図に
示すように円板状に形成されており、同心状に穴７ａと
減光率の異なる５個のフィルタ７ ｂ、７ ｃｔ７ ｄ
、７ ｅ１７ｆが設けられている。そして減光フィルタ
板７の外周上で前記穴７ａ及びフィルタ７ｂ乃至７ｆに
整合する位置には固定マグネット８ｍに対応してそれぞ
れ停止位置を決めるマグネット８ａ、８ｂ、８ｃ、８ｄ
、８ｅ、８ｆが取り付けられている。
ンプルガス５が導入され、サンプルガス５中の成分によ
る赤外線の吸収を起こさせるサンプルガス５と赤外線と
の接触部が形成されている。比較セル４中にはゼロガス
または一定濃度のガスが封入されており、常に一定量の
赤外線を通過させて前記サンプルセル３を通過する赤外
線の光量と比較されるようになっている。これらのサン
プルセル３及び比較セル４は恒温槽６内に収納され、約
１５ｏ°乃至２００ ℃の範囲内で加熱保温されている
。サンプルセル３の下面には減光フィルタ板７が回動可
能に設けられている。この減光フィルタ板７は第２図に
示すように円板状に形成されており、同心状に穴７ａと
減光率の異なる５個のフィルタ７ ｂ、７ ｃｔ７ ｄ
、７ ｅ１７ｆが設けられている。そして減光フィルタ
板７の外周上で前記穴７ａ及びフィルタ７ｂ乃至７ｆに
整合する位置には固定マグネット８ｍに対応してそれぞ
れ停止位置を決めるマグネット８ａ、８ｂ、８ｃ、８ｄ
、８ｅ、８ｆが取り付けられている。
またこれらの穴７ａ及びフィルタ７ｂ乃至７ｆの径は前
記サンプルセル３の赤外線放射口３ａの内径より大きく
形成されている。前記減光フィルタ板７はモータ９によ
り回転駆動されるようになっており、前記穴７ａ及びフ
ィルタ７ｂ乃至７ｆのピッチサークルが前記サンプルセ
ル３の赤外線放射口３ａの中心を通るように配設されて
いる。１０はサンプルセル３及び比較セル４を通過した
赤外線を断続光にするチョッパで、チョッパモータ１１
によって定速回転されている。サンプルセル３と比較セ
ル４を通過しチョッパ９で断続光にされた赤外線は検出
器１２に形成された左右の受光室１２ａ及び１２ｂにそ
れぞれ到達するようになっている。この検出器１２の受
光室１２ａ及び１２ｂの間には可動膜１２ｃが形成され
ていて、受光室１２ａと１２ｂで吸収されたエネルギの
差に相当する分だけ圧力差となって可動膜１２ｃに変位
を与える。そしてこの変位を電気的に検出してプリアン
プ１３により増巾して出力信号をとり出すように構成さ
れている。
記サンプルセル３の赤外線放射口３ａの内径より大きく
形成されている。前記減光フィルタ板７はモータ９によ
り回転駆動されるようになっており、前記穴７ａ及びフ
ィルタ７ｂ乃至７ｆのピッチサークルが前記サンプルセ
ル３の赤外線放射口３ａの中心を通るように配設されて
いる。１０はサンプルセル３及び比較セル４を通過した
赤外線を断続光にするチョッパで、チョッパモータ１１
によって定速回転されている。サンプルセル３と比較セ
ル４を通過しチョッパ９で断続光にされた赤外線は検出
器１２に形成された左右の受光室１２ａ及び１２ｂにそ
れぞれ到達するようになっている。この検出器１２の受
光室１２ａ及び１２ｂの間には可動膜１２ｃが形成され
ていて、受光室１２ａと１２ｂで吸収されたエネルギの
差に相当する分だけ圧力差となって可動膜１２ｃに変位
を与える。そしてこの変位を電気的に検出してプリアン
プ１３により増巾して出力信号をとり出すように構成さ
れている。
次に本実施例の動作を説明する。比較セル４にはゼロガ
スが封入されているとする。排気ガス分析計のゼロ較正
を行なう場合は、サンプルセル３にゼロガスを流し、減
光フィルタ板７の外周上のマグネット８ａと固定マグネ
ット８ｍによって。
スが封入されているとする。排気ガス分析計のゼロ較正
を行なう場合は、サンプルセル３にゼロガスを流し、減
光フィルタ板７の外周上のマグネット８ａと固定マグネ
ット８ｍによって。
サンプルセル３の赤外線放射口３ａと孔７ａとを正確に
位置合わせする。この状態において赤外線の光路は正確
に検出器１２に入射され、正しくゼロ較正が行なわれる
。次にスパン較正を行なう場合は、ゼロ較正を行なう場
合と同様にサンプルセル３にゼロガスを流す。そして減
光フィルタ板７のフィルタ７ｂが赤外線光路に正確に一
致した状態でスパン較正が行なわれる。なおこ゛のフィ
ルタ７ｂは予めスパンガスによって出力値を確認してお
く必要があり、この、ときの出力値が較正値となる。次
に減光フィルタ板７に配置された減光率の異なるフィル
タ７ｃ、７ｄ、７ｅ、７ｆを同様に順次光路中に挿入し
、検出器により出力値を求めて第３図に示すようなキャ
リブレーション曲線を作る。このときにサンプルセル３
には常にゼロガスを流しておく。
位置合わせする。この状態において赤外線の光路は正確
に検出器１２に入射され、正しくゼロ較正が行なわれる
。次にスパン較正を行なう場合は、ゼロ較正を行なう場
合と同様にサンプルセル３にゼロガスを流す。そして減
光フィルタ板７のフィルタ７ｂが赤外線光路に正確に一
致した状態でスパン較正が行なわれる。なおこ゛のフィ
ルタ７ｂは予めスパンガスによって出力値を確認してお
く必要があり、この、ときの出力値が較正値となる。次
に減光フィルタ板７に配置された減光率の異なるフィル
タ７ｃ、７ｄ、７ｅ、７ｆを同様に順次光路中に挿入し
、検出器により出力値を求めて第３図に示すようなキャ
リブレーション曲線を作る。このときにサンプルセル３
には常にゼロガスを流しておく。
サンプルガス５を測定する場合は、サンプルガス５をサ
ンプルセル３内に流し、減光フィルタ板７の穴７ａが光
路に正確に一致した状態で検出器１２により出力値を求
め、第３図に示すキャリブレーション曲線によってサン
プルガス５のガス濃度を求める。この間サンプルセル３
及び比較セル４は恒温槽６によって常に１５０’〜２０
０℃位に加熱保温されている。
ンプルセル３内に流し、減光フィルタ板７の穴７ａが光
路に正確に一致した状態で検出器１２により出力値を求
め、第３図に示すキャリブレーション曲線によってサン
プルガス５のガス濃度を求める。この間サンプルセル３
及び比較セル４は恒温槽６によって常に１５０’〜２０
０℃位に加熱保温されている。
本実施例によれば、スパン較正用のフィルタを位置ずれ
がなく正確に赤外線光路に挿入できる。
がなく正確に赤外線光路に挿入できる。
また赤外線を均一に検出器１２へ到達させることができ
るので、精度よくスパン較正を行なうことができる。同
様にキャリブレーション曲線もシリンダガスを使用する
ことなく正確に作成することができる。さらにまたサン
プルセル３及び比較セル４は加熱保温されているので、
ガスによる汚れを防止することができ、汚れによるドリ
フトがなくなり、正確な排気ガス分析が可能となる。
るので、精度よくスパン較正を行なうことができる。同
様にキャリブレーション曲線もシリンダガスを使用する
ことなく正確に作成することができる。さらにまたサン
プルセル３及び比較セル４は加熱保温されているので、
ガスによる汚れを防止することができ、汚れによるドリ
フトがなくなり、正確な排気ガス分析が可能となる。
（第２の実施例）
第４図は本発明の第２の実施例を示す縦断面図である。
該図において第１図に示す第１の実施例と同一または同
等部分には同一符号を付して示し、説明を省略する。本
実施例は本発明をクロスフロ一式赤外線排気ガス分析計
に応用した場合である。
等部分には同一符号を付して示し、説明を省略する。本
実施例は本発明をクロスフロ一式赤外線排気ガス分析計
に応用した場合である。
クロスフロ一式の場合は一定周期で回転するロータリバ
ルブ１４によって２本のサンプルセル１５゜１６に交互
にサンプルガスとゼロガスを流して。
ルブ１４によって２本のサンプルセル１５゜１６に交互
にサンプルガスとゼロガスを流して。
サンプルガスそのものの赤外線の吸収によって生ずる変
調効果を利用して、検出器１２によって出力差を検知す
るようにしたものである。この場合もキャリブレーショ
ンガスを用いずに減光フィルタ板１７によってゼロ較正
及びスパン較正を行なう。この減光フィルタ板１７は第
５図に示すように扇状に開くように多段に重ねられた支
持板にフィルタ１７ａ、１７ｂ、１７ｃが設けられてい
る。
調効果を利用して、検出器１２によって出力差を検知す
るようにしたものである。この場合もキャリブレーショ
ンガスを用いずに減光フィルタ板１７によってゼロ較正
及びスパン較正を行なう。この減光フィルタ板１７は第
５図に示すように扇状に開くように多段に重ねられた支
持板にフィルタ１７ａ、１７ｂ、１７ｃが設けられてい
る。
そしてこの減光フィルタ板１７は扇形のかなめ部を中心
としてモータ９により、前記ロータリバルブ１４と連動
して１８０度回動するようになっている。この減光フィ
ルタ板１７の外周の前記フィルタｌ ７ａ、］、７ｂ、
ｌ ７ｃの中心と整合する位置にはそれぞれマグネット
１８ａ、１８ｂ、Ｌ８ｃが設けられており、固定マグネ
ット１９に吸引されてフィルタ１７ ａ、１７ ｂ、１
７ ｃの中心が赤外線光路の中心に正確に位置するよう
に構成されている。
としてモータ９により、前記ロータリバルブ１４と連動
して１８０度回動するようになっている。この減光フィ
ルタ板１７の外周の前記フィルタｌ ７ａ、］、７ｂ、
ｌ ７ｃの中心と整合する位置にはそれぞれマグネット
１８ａ、１８ｂ、Ｌ８ｃが設けられており、固定マグネ
ット１９に吸引されてフィルタ１７ ａ、１７ ｂ、１
７ ｃの中心が赤外線光路の中心に正確に位置するよう
に構成されている。
このフィルタ１７ａはスパンガスによって吸収されずし
こ検出器１２に到達する赤外線の光量と同等の光量に減
光するフィルタで、予め既知濃度のスパンガスによって
減光量は較正されている。
こ検出器１２に到達する赤外線の光量と同等の光量に減
光するフィルタで、予め既知濃度のスパンガスによって
減光量は較正されている。
次に本実施例の動作を説明する。ゼロ較正時及びサンプ
ルａ１す定時には、フィルタ１７ ａ、１７ ｂ。
ルａ１す定時には、フィルタ１７ ａ、１７ ｂ。
１７ｃは２つの赤外線光路から外されていて、光源１，
２からの赤外線は減光されることなく検出器１２に導か
れる。一方スパン較正時においてはサンプルセル１５，
１６をゼロガス状態とし、フィルタ１７ａはロータリバ
ルブ１４に同期されたモータ９による減光フィルタ板１
７の回転と、マグネット１８ａと１９の吸引によって、
サンプルセル１５，１６の赤外線光路に正しく交互に挿
入される。従って光源１，２からの赤外線はフィルタ１
７ａによってスパンガスを流したときと同じ光量に減光
されたのち検出器１２に導かれる。この場合サンプル測
定時には２本のサンプルセル１５゜１６の両方にサンプ
ルガスが流れ、セル間の汚れた状態が同じになるのでセ
ルの汚れによるゼロドリフトがないので、セルの汚れを
防止するための恒温槽は不要である。その他の効果は第
１の実施例と同様である６ なお、本実施例では減光フィルタ板１７に３個のフィル
タ１７ａ、１７ｂ、１７ｃを設けた場合について説明し
たが、測定濃度範囲内で減光率を変えたフィルタを複数
個組み合せて、前記赤外線光路中に進出させて所定の減
光率を得ることができる また第１および第２の実施例では減光フィルタを５個お
よび３個設けた場合について説明したが。
２からの赤外線は減光されることなく検出器１２に導か
れる。一方スパン較正時においてはサンプルセル１５，
１６をゼロガス状態とし、フィルタ１７ａはロータリバ
ルブ１４に同期されたモータ９による減光フィルタ板１
７の回転と、マグネット１８ａと１９の吸引によって、
サンプルセル１５，１６の赤外線光路に正しく交互に挿
入される。従って光源１，２からの赤外線はフィルタ１
７ａによってスパンガスを流したときと同じ光量に減光
されたのち検出器１２に導かれる。この場合サンプル測
定時には２本のサンプルセル１５゜１６の両方にサンプ
ルガスが流れ、セル間の汚れた状態が同じになるのでセ
ルの汚れによるゼロドリフトがないので、セルの汚れを
防止するための恒温槽は不要である。その他の効果は第
１の実施例と同様である６ なお、本実施例では減光フィルタ板１７に３個のフィル
タ１７ａ、１７ｂ、１７ｃを設けた場合について説明し
たが、測定濃度範囲内で減光率を変えたフィルタを複数
個組み合せて、前記赤外線光路中に進出させて所定の減
光率を得ることができる また第１および第２の実施例では減光フィルタを５個お
よび３個設けた場合について説明したが。
この減光フィルタの数はそれらに限定されるものではな
いことは当然である。
いことは当然である。
また本実施例では、赤外線の光源を２つ設けた例につい
て説明したが、第６図に示すように１つの光源１でこの
光源の上方に反射ミラー２０を設けて２つの赤外線光路
を形成することも可能であり、さらに前記減光フィルタ
を例えば第７図に示すように扇形の支持板に配設し、サ
ンプルセルの上方に進出自在に設けて、減光した後の赤
外線をサンプルセル２６，２７を通過吸収させるように
しても同様の効果を得ることができる。
て説明したが、第６図に示すように１つの光源１でこの
光源の上方に反射ミラー２０を設けて２つの赤外線光路
を形成することも可能であり、さらに前記減光フィルタ
を例えば第７図に示すように扇形の支持板に配設し、サ
ンプルセルの上方に進出自在に設けて、減光した後の赤
外線をサンプルセル２６，２７を通過吸収させるように
しても同様の効果を得ることができる。
上述したとおり、本発明によれば、非分散型ダブルビー
ム赤外線分析法を利用した排気ガス分析計の、サンプル
ガス通過後の赤外線光路中で検出器の前に、減光率の異
なる複数個のフィルタを設けた減光フィルタ板を設けた
ので、キャリブレーションガスを使用することなく正確
なスパン較正を行なうことができる。
ム赤外線分析法を利用した排気ガス分析計の、サンプル
ガス通過後の赤外線光路中で検出器の前に、減光率の異
なる複数個のフィルタを設けた減光フィルタ板を設けた
ので、キャリブレーションガスを使用することなく正確
なスパン較正を行なうことができる。
第１図は本発明に係る排気ガス分析計の一実施例を示す
縦断面図、第２図は第１図の減光フィルタ板を示す平面
図、第３図は本実施例により得られたキャリブレーショ
ン曲線の一例を示すグラフ。 第４図は本発明の他の実施例を示す概略縦断面図、第５
図は第４図の減光フィルタ部を示すｉｌＺ而図面あり、
第６図および第７図は他の実施例を示す図である。 １．２・・光源 ３．４．．１５．托、２６，２７．２８・・・サンプル
セル５・・・サンプルガス ６・・・恒温槽 ７．１７．２９・・・減光フィルタ支持板７ｂ、７ｃ、
７ｄ、７ｅ、７ｆ、１６ ａ 、１６ ｂ 、１６ ｃ
・・・減光フィルタ８．１８，１９．３０・・・マグ
ネット１２・・・検出器 ９・・・モータ ２０・・・反射ミラー
縦断面図、第２図は第１図の減光フィルタ板を示す平面
図、第３図は本実施例により得られたキャリブレーショ
ン曲線の一例を示すグラフ。 第４図は本発明の他の実施例を示す概略縦断面図、第５
図は第４図の減光フィルタ部を示すｉｌＺ而図面あり、
第６図および第７図は他の実施例を示す図である。 １．２・・光源 ３．４．．１５．托、２６，２７．２８・・・サンプル
セル５・・・サンプルガス ６・・・恒温槽 ７．１７．２９・・・減光フィルタ支持板７ｂ、７ｃ、
７ｄ、７ｅ、７ｆ、１６ ａ 、１６ ｂ 、１６ ｃ
・・・減光フィルタ８．１８，１９．３０・・・マグ
ネット１２・・・検出器 ９・・・モータ ２０・・・反射ミラー
Claims (4)
- （１）光源から発生する赤外線の一方をサンプルガスに
通過吸収させ、他方を濃度ゼロまたは一定濃度の比較ガ
スに通過吸収させ、これら２つの赤外線光路のエネルギ
ー差を検出器により検出して排気ガスの濃度分析を行う
排気ガス分析計において、前記サンプルガス通過赤外線
光路中に、スパンガスを流したときと同等の光量に前記
赤外線を減光させる減光率の異なる複数個の減光フィル
タを前記赤外線光路中に進出自在に設けるとともに、該
減光フィルタの前記赤外線光路中への正確な停止を確保
するためのマグネットを配備したことを特徴とする排ガ
ス分析計。 - （２）前記減光フィルタが、モータによって駆動される
円板に同心状に配設されたことを特徴とする特許請求の
範囲第１項記載の排気ガス分析計。 - （３）前記減光フィルタを、複数枚重ねられた支持板に
配設し、１枚または複数枚組合せて前記赤外線光路中に
進出させ、所定の減光率を得るようにしたことを特徴と
する特許請求の範囲第１項記載の排ガス分析計。 - （４）前記サンプルガスおよび比較ガスのセルが恒温槽
内に収容されていることを特徴とする特許請求の範囲第
１項ないし第３項のいずれか記載の排ガスの分析計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23009985A JPS6288943A (ja) | 1985-10-16 | 1985-10-16 | 排気ガス分析計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23009985A JPS6288943A (ja) | 1985-10-16 | 1985-10-16 | 排気ガス分析計 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6288943A true JPS6288943A (ja) | 1987-04-23 |
Family
ID=16902534
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23009985A Pending JPS6288943A (ja) | 1985-10-16 | 1985-10-16 | 排気ガス分析計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6288943A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH05256768A (ja) * | 1992-03-11 | 1993-10-05 | Tokyo Electric Power Co Inc:The | ガス濃度測定方法およびその測定装置 |
| JPH05256769A (ja) * | 1992-03-11 | 1993-10-05 | Tokyo Electric Power Co Inc:The | ガス濃度測定方法およびその測定装置 |
-
1985
- 1985-10-16 JP JP23009985A patent/JPS6288943A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH05256768A (ja) * | 1992-03-11 | 1993-10-05 | Tokyo Electric Power Co Inc:The | ガス濃度測定方法およびその測定装置 |
| JPH05256769A (ja) * | 1992-03-11 | 1993-10-05 | Tokyo Electric Power Co Inc:The | ガス濃度測定方法およびその測定装置 |
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