JPS6290568A - 表面電位測定装置 - Google Patents
表面電位測定装置Info
- Publication number
- JPS6290568A JPS6290568A JP60181826A JP18182685A JPS6290568A JP S6290568 A JPS6290568 A JP S6290568A JP 60181826 A JP60181826 A JP 60181826A JP 18182685 A JP18182685 A JP 18182685A JP S6290568 A JPS6290568 A JP S6290568A
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- Japan
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- measured
- surface potential
- value
- offset
- measurement
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- Control Or Security For Electrophotography (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔技術分野〕
本発明は、電子複写機等に用いられる被測定体の表面電
位測定手段に関する。
位測定手段に関する。
一般に、電子複写機等に使用される光導電物質を用いた
感光体は、経時変化などによる帯電不均衡の感度シフト
が生じやすく、感光体表面電位を制御する手段を付加し
て表面電位を常に一定範囲内に設定することが望ましい
、従って、感光体の表面電位を測定する表面電位計が必
要である。
感光体は、経時変化などによる帯電不均衡の感度シフト
が生じやすく、感光体表面電位を制御する手段を付加し
て表面電位を常に一定範囲内に設定することが望ましい
、従って、感光体の表面電位を測定する表面電位計が必
要である。
表面電位計としては、被測定体である感光体とこれに正
対した電位測定電極との間に生ずる電界を断続的に遮蔽
することにより、被測定体表面と前記測定電極との差電
圧に比例した振幅を持つ交流信号を測定電極に誘起させ
、該信号を測定するものが知られており、このような構
成をした表面電位計は、他の方式のものに比較して、高
精度の測定が可使でしある。
対した電位測定電極との間に生ずる電界を断続的に遮蔽
することにより、被測定体表面と前記測定電極との差電
圧に比例した振幅を持つ交流信号を測定電極に誘起させ
、該信号を測定するものが知られており、このような構
成をした表面電位計は、他の方式のものに比較して、高
精度の測定が可使でしある。
しかしながら、上記の構成であっても電位測定電極に誘
起される交流信号は、極めて微小であり外乱の影響を受
けやすく、特に被測定体が０■のときの表面電位測定値
の誤差ｃ以下「オフセット」という）は、常に測定値に
重畳され、かつ測定値誤差成分のほとんどがオフセット
である。
起される交流信号は、極めて微小であり外乱の影響を受
けやすく、特に被測定体が０■のときの表面電位測定値
の誤差ｃ以下「オフセット」という）は、常に測定値に
重畳され、かつ測定値誤差成分のほとんどがオフセット
である。
本発明は、上記の事情に鑑みて、オフセ−／ ト成分を
測定して表面電位計の性能を保障することを目的とした
ものである。
測定して表面電位計の性能を保障することを目的とした
ものである。
以下、本発明の一実施例を図面を用いて説明する。
表面電位計１の主要構成を示す第２図において、被測定
体９に正対してその表面電位を測定する電位測定電極２
と同回路部３とは、前記電位計１の内部雑音から隔離す
る内部シールド４に内設されており、前記回路部３には
、アースされた検出抵抗５が設けられている。さらに、
外部電界の影響やノイズを防止する外部シールド６が、
前記測定電極２を被測定体９に対面させるための測定窓
７を穿設して内部シールド４を囲み遮蔽している。
体９に正対してその表面電位を測定する電位測定電極２
と同回路部３とは、前記電位計１の内部雑音から隔離す
る内部シールド４に内設されており、前記回路部３には
、アースされた検出抵抗５が設けられている。さらに、
外部電界の影響やノイズを防止する外部シールド６が、
前記測定電極２を被測定体９に対面させるための測定窓
７を穿設して内部シールド４を囲み遮蔽している。
また、測定窓７内において被測定体９と電位測定電極と
の間に介在し、断続的に振動する、チュー電極層極付き
音叉型の振動子８が設けである。
の間に介在し、断続的に振動する、チュー電極層極付き
音叉型の振動子８が設けである。
今、被測定体９の表面が正帯電しているとすれば、該被
測定体９と電位測定電極２との間に電界が生ずる。振動
子８はアースされており、該電界内において断続的に振
動することにより前記測定電極ｚ上に生じている電界の
面積を変動させる。
測定体９と電位測定電極２との間に電界が生ずる。振動
子８はアースされており、該電界内において断続的に振
動することにより前記測定電極ｚ上に生じている電界の
面積を変動させる。
そのため該測定電極２には、検出抵抗５を介してアース
から負電荷が周期的に出入するので、両端に交流信号が
誘起される。しかし、該交流信号は極・めて微小で１例
えば、検出抵抗５を２０ＭΩ程度としても、被測定体９
が数１００Ｖのときに誘起される交流信号はせいぜい数
ｍＶに過ぎない。
から負電荷が周期的に出入するので、両端に交流信号が
誘起される。しかし、該交流信号は極・めて微小で１例
えば、検出抵抗５を２０ＭΩ程度としても、被測定体９
が数１００Ｖのときに誘起される交流信号はせいぜい数
ｍＶに過ぎない。
従って、被測定体９と電位測定電極２との間の電界だけ
に限定するため、前記したように内、外部シールド４，
６で表面電位計１は覆われている。
に限定するため、前記したように内、外部シールド４，
６で表面電位計１は覆われている。
ところが、上記のような対策にもかかわらず。
ある程度のオフセット成分は残り、また、例えば汚れな
どの付着によりオフセットが変動することもある得る。
どの付着によりオフセットが変動することもある得る。
そのため、特に正確な測定が必要な場合には不十分なこ
とがあった。
とがあった。
そこで、実際の測定に先立ち被測定体９の表面を除電し
てその電位をＯＶにして測定すれば、その得られた測定
値はオフセット成分と考えられる。そして、それ以後の
表面電位測定値は、該オフセット値を減算することでオ
フセット成分を排除し正確な測定値が得られる。
てその電位をＯＶにして測定すれば、その得られた測定
値はオフセット成分と考えられる。そして、それ以後の
表面電位測定値は、該オフセット値を減算することでオ
フセット成分を排除し正確な測定値が得られる。
しかしながら、表面電位計１が極端な値を示す場合には
、何らかの別原因の故障による可能性もあり、単にオフ
セット成分を構成するとすれば、そのような故障が隠さ
れたまま見逃してしまうということになりかねない、そ
こで、オフセット成分が許容値を越えた場合、警告を発
するようにすることにより、前記の弊害を除去すること
にしたものである。
、何らかの別原因の故障による可能性もあり、単にオフ
セット成分を構成するとすれば、そのような故障が隠さ
れたまま見逃してしまうということになりかねない、そ
こで、オフセット成分が許容値を越えた場合、警告を発
するようにすることにより、前記の弊害を除去すること
にしたものである。
その構成を第１図に示す、１０は、被測定体９表面の帯
電を事前に排除する被測定体除電手段、１１は、被測定
体９の表面電位を測定する表面電位測定手段、１２は、
予め算出した基準のオフセット値を設定した基準値設定
手段、１３は、前記表面電位測定手段１１によりＯＶに
おいて測定されたオフセット値と基準のオフセット値と
を比べる比較手段、１４は、該比較手段により発せられ
る信号により、測定オフセット値が基準のものよりも高
い場合、異常を知らせる異常表示手段である。
電を事前に排除する被測定体除電手段、１１は、被測定
体９の表面電位を測定する表面電位測定手段、１２は、
予め算出した基準のオフセット値を設定した基準値設定
手段、１３は、前記表面電位測定手段１１によりＯＶに
おいて測定されたオフセット値と基準のオフセット値と
を比べる比較手段、１４は、該比較手段により発せられ
る信号により、測定オフセット値が基準のものよりも高
い場合、異常を知らせる異常表示手段である。
そこで、第３図のフローチャートにより、木実施例の回
路制御について述べる。なお、５ｔ−Ｓ９は、フローチ
ャートでの各ステップを示すものとする。
路制御について述べる。なお、５ｔ−Ｓ９は、フローチ
ャートでの各ステップを示すものとする。
まず、Ｓｌにおいて初期動作を行い、それまでの表面電
位装置のメモリなどをＯにする９次に。
位装置のメモリなどをＯにする９次に。
Ｓ２において校正モード、すなわち、除電モードである
か測定モードであるかを判別し、除電モードであれば、
Ｓ３に進み、被測定体除電手段１０により被測定体９の
表面を除電し電位を０とする。続いてＳ４において表面
電位測定手段１１により表面電位を測定し、その測定値
をオフセット４１１３Ｖｏｆｆとしてメモリに保存した
後、Ｓ２に帰る。
か測定モードであるかを判別し、除電モードであれば、
Ｓ３に進み、被測定体除電手段１０により被測定体９の
表面を除電し電位を０とする。続いてＳ４において表面
電位測定手段１１により表面電位を測定し、その測定値
をオフセット４１１３Ｖｏｆｆとしてメモリに保存した
後、Ｓ２に帰る。
Ｓ２において測定モードとなっている場合には、Ｓ５に
進み、比較手段１３により、前記オフセット値Ｖｏｆｆ
の絶対値が、基準値設定手段１２に予め設定された基準
値ＳＬと比べられ、基準値ＳＬの方が高い場合にはＳ７
に入り、表面電位が測定され、測定値Ｖ’ｍｅｓが得ら
れ１次の３８において校正手段により該測定値Ｖ′■ｅ
ｓかも先にメモリされたオフセット値Ｖｏｆｆを減算さ
れ真の測定値Ｖ ＩＩｅｓが得られて表示され、また、
メモリに格納されてＳ２に戻る。
進み、比較手段１３により、前記オフセット値Ｖｏｆｆ
の絶対値が、基準値設定手段１２に予め設定された基準
値ＳＬと比べられ、基準値ＳＬの方が高い場合にはＳ７
に入り、表面電位が測定され、測定値Ｖ’ｍｅｓが得ら
れ１次の３８において校正手段により該測定値Ｖ′■ｅ
ｓかも先にメモリされたオフセット値Ｖｏｆｆを減算さ
れ真の測定値Ｖ ＩＩｅｓが得られて表示され、また、
メモリに格納されてＳ２に戻る。
ただし、Ｓ５において基準値ＳＬよりもオフセットの絶
対値が高い場合には、Ｓ６に進みその異常は異常表示手
段１４によって表示された後、Ｓ７へ進むわけである。
対値が高い場合には、Ｓ６に進みその異常は異常表示手
段１４によって表示された後、Ｓ７へ進むわけである。
以上説明したように本発明は、上記の構成としたことに
より、オフセット成分を除去した真の表面電位を測定す
ることが可能となったばかりか、表面電位測定装置全体
の故障も発見できるようになり、該測定装置全体の性能
を保障し得るという効果がある。
より、オフセット成分を除去した真の表面電位を測定す
ることが可能となったばかりか、表面電位測定装置全体
の故障も発見できるようになり、該測定装置全体の性能
を保障し得るという効果がある。
第１図は、本発明の一実施例のブロック図、第２図は、
表面電位計の構成の説明図、第３図は。 実施例の制御動作のフローチャートである。 １・・・・・・・・・表面電位計 ９・・・・・・・・・被測定体 ｌＯ・・・・・・被測定体除電手段 １１・・・・・・表面電位測定手段 １２・・・・・・基準値設定手段 １３・・・・・・比較手段 １４・・・・・・異常表示手段
表面電位計の構成の説明図、第３図は。 実施例の制御動作のフローチャートである。 １・・・・・・・・・表面電位計 ９・・・・・・・・・被測定体 ｌＯ・・・・・・被測定体除電手段 １１・・・・・・表面電位測定手段 １２・・・・・・基準値設定手段 １３・・・・・・比較手段 １４・・・・・・異常表示手段
Claims (1)
- 被測定体の表面電位を測定する表面電位計と、被測定体
の表面の除電手段と、基準値設定手段と、前記表面電位
計による表面電位測定値と基準値との比較手段と、異常
表示手段とを有することを特徴とする表面電位測定手段
。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60181826A JPH079448B2 (ja) | 1985-08-21 | 1985-08-21 | 表面電位測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60181826A JPH079448B2 (ja) | 1985-08-21 | 1985-08-21 | 表面電位測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6290568A true JPS6290568A (ja) | 1987-04-25 |
| JPH079448B2 JPH079448B2 (ja) | 1995-02-01 |
Family
ID=16107489
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60181826A Expired - Lifetime JPH079448B2 (ja) | 1985-08-21 | 1985-08-21 | 表面電位測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH079448B2 (ja) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5437760A (en) * | 1977-08-30 | 1979-03-20 | Ricoh Co Ltd | Photoreceptor surface potential detector |
-
1985
- 1985-08-21 JP JP60181826A patent/JPH079448B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5437760A (en) * | 1977-08-30 | 1979-03-20 | Ricoh Co Ltd | Photoreceptor surface potential detector |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH079448B2 (ja) | 1995-02-01 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |