JPS6298403A - プロセス制御用アナログ，システムの検査方法及び装置 - Google Patents
プロセス制御用アナログ，システムの検査方法及び装置Info
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- JPS6298403A JPS6298403A JP61248253A JP24825386A JPS6298403A JP S6298403 A JPS6298403 A JP S6298403A JP 61248253 A JP61248253 A JP 61248253A JP 24825386 A JP24825386 A JP 24825386A JP S6298403 A JPS6298403 A JP S6298403A
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- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B23/00—Testing or monitoring of control systems or parts thereof
- G05B23/02—Electric testing or monitoring
- G05B23/0205—Electric testing or monitoring by means of a monitoring system capable of detecting and responding to faults
- G05B23/0218—Electric testing or monitoring by means of a monitoring system capable of detecting and responding to faults characterised by the fault detection method dealing with either existing or incipient faults
- G05B23/0224—Process history based detection method, e.g. whereby history implies the availability of large amounts of data
- G05B23/0227—Qualitative history assessment, whereby the type of data acted upon, e.g. waveforms, images or patterns, is not relevant, e.g. rule based assessment; if-then decisions
- G05B23/0235—Qualitative history assessment, whereby the type of data acted upon, e.g. waveforms, images or patterns, is not relevant, e.g. rule based assessment; if-then decisions based on a comparison with predetermined threshold or range, e.g. "classical methods", carried out during normal operation; threshold adaptation or choice; when or how to compare with the threshold
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
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- G05B23/02—Electric testing or monitoring
- G05B23/0205—Electric testing or monitoring by means of a monitoring system capable of detecting and responding to faults
- G05B23/0259—Electric testing or monitoring by means of a monitoring system capable of detecting and responding to faults characterized by the response to fault detection
- G05B23/0286—Modifications to the monitored process, e.g. stopping operation or adapting control
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- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Automation & Control Theory (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Monitoring And Testing Of Nuclear Reactors (AREA)
- Testing And Monitoring For Control Systems (AREA)
- Selective Calling Equipment (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
光列□ＱＡＬ量□
この発明は、各々が選ばれたプロセス・パラメータを監
視するよう働く複数個のチャンネルから成るプロセス保
護及び制御用アナログ・システムを検査するための方法
及び装置に関する。
視するよう働く複数個のチャンネルから成るプロセス保
護及び制御用アナログ・システムを検査するための方法
及び装置に関する。
このような保護及び制御用システムは例えば原子炉出力
発生プラントを含む種々の工業設備において使用される
。この、Ｌうなシステムは、高度の信頼性てもって正確
に動作することが必要とされる。
発生プラントを含む種々の工業設備において使用される
。この、Ｌうなシステムは、高度の信頼性てもって正確
に動作することが必要とされる。
システムが応答を発生ずべき故障や他の状態をシミュレ
ートする信号をチャンネル入力に供給し、そしてこのよ
うな応答が発生されるか否かを観察することによって、
各チャンネルを周期的に検査することが知られている。
ートする信号をチャンネル入力に供給し、そしてこのよ
うな応答が発生されるか否かを観察することによって、
各チャンネルを周期的に検査することが知られている。
原子炉出力発生設備におけるようなある場合には、スプ
リアスな責常状態の指示に対する応答を避けることを含
む、異常状態への応答の信頼性は、幾つかの、例えば４
つの監視チャンネルにおいて別々に特定の臨界状態を監
視し、そして異常状態か事実発生したか否かを決定する
ためにチャンネルの出力における制御信号を比較するこ
とによって改善される。−例として、４つのチャンネル
の内のいずれか２つが異常状態を示す出力信号を出力し
たならば、異常状態が存在すると仮定され、そして原子
炉の運転停止を発生するなどによってシステムが応答す
るようにされている。従って幾つかの内の１つだけのチ
ャンネルにおける異常状態出力信号はスプリアスとして
処理される。
リアスな責常状態の指示に対する応答を避けることを含
む、異常状態への応答の信頼性は、幾つかの、例えば４
つの監視チャンネルにおいて別々に特定の臨界状態を監
視し、そして異常状態か事実発生したか否かを決定する
ためにチャンネルの出力における制御信号を比較するこ
とによって改善される。−例として、４つのチャンネル
の内のいずれか２つが異常状態を示す出力信号を出力し
たならば、異常状態が存在すると仮定され、そして原子
炉の運転停止を発生するなどによってシステムが応答す
るようにされている。従って幾つかの内の１つだけのチ
ャンネルにおける異常状態出力信号はスプリアスとして
処理される。
現行では、このようなシステムは手動で、１チヤンネル
に付き２時間はかかる手順によって検査されており、該
手順は、チャンネルが応答する欠陥状態を表示する入力
信号を、検査中のチャンネルに与えることを含む。検査
下のチャンネルの出力に周常状態出力信号が現れると、
チャンネルが動作していると言うことを示す。
に付き２時間はかかる手順によって検査されており、該
手順は、チャンネルが応答する欠陥状態を表示する入力
信号を、検査中のチャンネルに与えることを含む。検査
下のチャンネルの出力に周常状態出力信号が現れると、
チャンネルが動作していると言うことを示す。
しかしながら、かかる検査手順が極度に時間がかかると
言う事実に加うるに、この手順は、もし検査中いずれか
の他の関連のチャンネルがスプリアスな異常状態信号を
発生した場合に、システムは異常状態が実際に存在した
かのごとく応答すると言う欠点を有している。
言う事実に加うるに、この手順は、もし検査中いずれか
の他の関連のチャンネルがスプリアスな異常状態信号を
発生した場合に、システムは異常状態が実際に存在した
かのごとく応答すると言う欠点を有している。
ル朋プ１−梨−
この発明はかかるシステムを検査するために必要な時間
を減することである。
を減することである。
この発明はまた検査中スプリアスな出力信号に対するシ
ステムの応答の可能性を滅５、そして各検査の結果の表
示及び永久的なドキュメンテーションを容易にし、同時
に人間の誤りに対するこのような検査の弱点を減じてい
る。
ステムの応答の可能性を滅５、そして各検査の結果の表
示及び永久的なドキュメンテーションを容易にし、同時
に人間の誤りに対するこのような検査の弱点を減じてい
る。
この発明の広範な概念によれば、プロセスを制御するア
ナログ・システムが複数個のチャンネルで構成され、各
チャンネルは、通常は監視されるべきアナログ信号を受
信するように接続される入力端子と、前記入力端子に与
えられるアナログ信＝８− 号から制御信号を引き出すための少なくとも１つの信号
監視要素く５２．５４）と、通常はプロセスを制御する
ための別の装置に制御信号を与えるよう、少なくとも１
つの要素（５４）に回路内で接続される出力端子とを備
えるようにした、プロセス制御用の前記アナログ・シス
テムを検査するための方法において、 前記各チャンネルを個別に検査するために、監視される
べき信号の代わりに少なくとも１つの検査信号を受信す
るようにチャンネル入力端子を切り換える段階と、 前記チャンネル入力端子に少なくとも１つの検査信号を
与える段階と、 前記少なくとも１つの検査信号に対する前記少なくとも
１つの要素の応答を監視する段階と、前記チャンネル入
力端子が前記少なくとも１つの検査信号を受けるように
切り換えられている時間中、前記チャンネル出力端子が
模擬された制御信号を提起するようにする段階と、 を備え、ここに前記模擬された制御信号は、前記入力及
び出力端子が正常な接続状態にあるときに生じる前記制
御信号に対応し、かつ監視されるべき前記信号は通常の
プロセス動作を示す値を有していることを特徴とするプ
ロセス制御用アナログ・システムの検査方法が提供され
る。
ナログ・システムが複数個のチャンネルで構成され、各
チャンネルは、通常は監視されるべきアナログ信号を受
信するように接続される入力端子と、前記入力端子に与
えられるアナログ信＝８− 号から制御信号を引き出すための少なくとも１つの信号
監視要素く５２．５４）と、通常はプロセスを制御する
ための別の装置に制御信号を与えるよう、少なくとも１
つの要素（５４）に回路内で接続される出力端子とを備
えるようにした、プロセス制御用の前記アナログ・シス
テムを検査するための方法において、 前記各チャンネルを個別に検査するために、監視される
べき信号の代わりに少なくとも１つの検査信号を受信す
るようにチャンネル入力端子を切り換える段階と、 前記チャンネル入力端子に少なくとも１つの検査信号を
与える段階と、 前記少なくとも１つの検査信号に対する前記少なくとも
１つの要素の応答を監視する段階と、前記チャンネル入
力端子が前記少なくとも１つの検査信号を受けるように
切り換えられている時間中、前記チャンネル出力端子が
模擬された制御信号を提起するようにする段階と、 を備え、ここに前記模擬された制御信号は、前記入力及
び出力端子が正常な接続状態にあるときに生じる前記制
御信号に対応し、かつ監視されるべき前記信号は通常の
プロセス動作を示す値を有していることを特徴とするプ
ロセス制御用アナログ・システムの検査方法が提供され
る。
この発明によればまた、通常は監視されるべき信号を受
信するように接続された入力端子と、該入力端子に通常
は接続されて該入力端子に与えられる信号から制御信号
を引き出す入力、及び出力を有する少なくとも１つの信
号監視要素（５２，５４）と、通常はプロセス制御装置
に制御信号を与えるように前記要素の前記出力に回路内
で接続される出力端子とを含Ａ７だプロセス制御用アナ
ログ・システムのチャンネルを検査するために、検査信
号を与えるための少なくとも１つの入力コネクタく７２
）、及び検査応答信号を受けるための少なくとも１つの
出力コネクタ（７８）を含む検査コネクタ手段（３６）
を備えｌ：検査装置において、前記チャンネル内で接続
されるスイッチ部材（５６，５８，６０，６２）を含ん
だ電気的に制御可能の切り換え手段であって、前記スイ
ッチ手段が前記要素の前記入力を前記入力端子に、そし
て前記要素の前記出力を前記出力端子に接続する通常の
動作状態と、前記スイッチ部材が前記要素の前記入力を
前記入力端子から、そして前記要素の前記出力を前記出
力端子から外すと共に、前記要素の前記入力を前記入力
コネクタに、そして前記要素の前記出力を前記出力端子
に接続する検査状態との間で切り換え可能な前記切り換
え手段を備えたことを特徴とするプロセス制御用アナロ
グ・システムのチャンネルの検査装置が提供される。
信するように接続された入力端子と、該入力端子に通常
は接続されて該入力端子に与えられる信号から制御信号
を引き出す入力、及び出力を有する少なくとも１つの信
号監視要素（５２，５４）と、通常はプロセス制御装置
に制御信号を与えるように前記要素の前記出力に回路内
で接続される出力端子とを含Ａ７だプロセス制御用アナ
ログ・システムのチャンネルを検査するために、検査信
号を与えるための少なくとも１つの入力コネクタく７２
）、及び検査応答信号を受けるための少なくとも１つの
出力コネクタ（７８）を含む検査コネクタ手段（３６）
を備えｌ：検査装置において、前記チャンネル内で接続
されるスイッチ部材（５６，５８，６０，６２）を含ん
だ電気的に制御可能の切り換え手段であって、前記スイ
ッチ手段が前記要素の前記入力を前記入力端子に、そし
て前記要素の前記出力を前記出力端子に接続する通常の
動作状態と、前記スイッチ部材が前記要素の前記入力を
前記入力端子から、そして前記要素の前記出力を前記出
力端子から外すと共に、前記要素の前記入力を前記入力
コネクタに、そして前記要素の前記出力を前記出力端子
に接続する検査状態との間で切り換え可能な前記切り換
え手段を備えたことを特徴とするプロセス制御用アナロ
グ・システムのチャンネルの検査装置が提供される。
この発明は、添付図面と共に為される以下の実施例の説
明から容易に理解されるであろう。
明から容易に理解されるであろう。
、／
一１１＝
好−３内力−火Ｊ１例イグ説−朋−
第１図は、マイクロプロセッサを基にしたデータ収集兼
解析装置６によって検査されるプロセス保護及び制御用
アナログ装置４の１つのチャンネル２をブロックダイア
ダラム形態で示しており、データ収集兼解析装置６は、
ディジタル構成要素、ディジタル／アナログ変換器８及
びアナログ／ディジタル変換器１０から構成される。
解析装置６によって検査されるプロセス保護及び制御用
アナログ装置４の１つのチャンネル２をブロックダイア
ダラム形態で示しており、データ収集兼解析装置６は、
ディジタル構成要素、ディジタル／アナログ変換器８及
びアナログ／ディジタル変換器１０から構成される。
ディジタル構成要素６は例えば、中央処理装置として働
くマイクロプロセッサ１４と、ディスク・ドライブや他
の入力／出力装置１６と、検査結果のハード・コピーを
提供するＸ−Ｙプロッタのような装置１８と、キーボー
ドや対話型のタッチスクリーンもしくは他の入力部材を
有したＣＲＴを基にしたグラフィック・ターミナル２０
と、電源２２と、ＲＴＤ及び抵抗ランプ（勾配）・シミ
ュレーションのような種々の型の検査信号を発生ずる自
己較正装ｆｆ２／ｌとを含んでいて良い。
くマイクロプロセッサ１４と、ディスク・ドライブや他
の入力／出力装置１６と、検査結果のハード・コピーを
提供するＸ−Ｙプロッタのような装置１８と、キーボー
ドや対話型のタッチスクリーンもしくは他の入力部材を
有したＣＲＴを基にしたグラフィック・ターミナル２０
と、電源２２と、ＲＴＤ及び抵抗ランプ（勾配）・シミ
ュレーションのような種々の型の検査信号を発生ずる自
己較正装ｆｆ２／ｌとを含んでいて良い。
データ収集兼解析装置６は、一群の伝送導体３２と一群
の受信導体３４とからなる多数導体ケ、 −１，２，
− 一ブル３０を介してチャンネル２と通信する。ケーブル
３０は、チャンネル２が部分を形成するアナログ・シス
テム４を収容するキャビネットに装着されたコネクタ３
６と、チャンネル２と関連した端部において合わさる。
の受信導体３４とからなる多数導体ケ、 −１，２，
− 一ブル３０を介してチャンネル２と通信する。ケーブル
３０は、チャンネル２が部分を形成するアナログ・シス
テム４を収容するキャビネットに装着されたコネクタ３
６と、チャンネル２と関連した端部において合わさる。
各チャンネル２はそれ自身と関連したコネクタを有して
おり、各々のコネクタ３６は、１一つまたは２つ以上の
ジャンパ・ワイヤによって個々にコード化されるのが好
ましい。各々のジャンパ・ワイヤは、装置６が適当な検
査プログラムだけを受は入れるように該装置６によって
解釈され得る方法で、２つのコネクタービンを一緒にシ
ョートしている。
おり、各々のコネクタ３６は、１一つまたは２つ以上の
ジャンパ・ワイヤによって個々にコード化されるのが好
ましい。各々のジャンパ・ワイヤは、装置６が適当な検
査プログラムだけを受は入れるように該装置６によって
解釈され得る方法で、２つのコネクタービンを一緒にシ
ョートしている。
ケーブル３０が選ばれたチャンネル２のコネクタ３６と
合わされると、ディスク・ドライブ１６はそのチャンネ
ルのための必要な検査情報を含む選ばれたディスクでも
ってロードされ得、そしてこの情報はマイクロ・プロセ
ッサ］４にロードされる。
合わされると、ディスク・ドライブ１６はそのチャンネ
ルのための必要な検査情報を含む選ばれたディスクでも
ってロードされ得、そしてこの情報はマイクロ・プロセ
ッサ］４にロードされる。
第２図はこの発明によって検査されるよう装備された例
示的なアナログ・システノ＼・チャンネルを示している
。このチャンネルは信号源５０、すなわちタンク内の流
体レベルのような選ばれたパラメータを監視するトラン
スジューサに接続されており、そして電流−電圧変換器
５２及びスレショールド検出器５４から構成されている
。正常な動作において検出器５４からの出力信号は、タ
ンク流体レベルか所定の高さ以下である時に高い値を有
し、その流体レベルが所定の高さ以上である時に低い値
を有する３、それ故、例えば検出器５Ａからの低い出力
電圧が所望の状態を表示する。
示的なアナログ・システノ＼・チャンネルを示している
。このチャンネルは信号源５０、すなわちタンク内の流
体レベルのような選ばれたパラメータを監視するトラン
スジューサに接続されており、そして電流−電圧変換器
５２及びスレショールド検出器５４から構成されている
。正常な動作において検出器５４からの出力信号は、タ
ンク流体レベルか所定の高さ以下である時に高い値を有
し、その流体レベルが所定の高さ以上である時に低い値
を有する３、それ故、例えば検出器５Ａからの低い出力
電圧が所望の状態を表示する。
この発明に従ってこのチＡ・ンネルを検査するのを可能
とするために、送信器ずなわち信号源５０からのヂャン
ネル入力とチャンネル出力とを、通常動作中に接続され
る制御装置から外し、検査信号が変換器５２の入力に与
えられるのを可能とし、そして変換器５２及び検出器５
４からの出力信号が監視されるのを可能とするように適
当数の遠隔制御可能なスイッチが設けられている。
とするために、送信器ずなわち信号源５０からのヂャン
ネル入力とチャンネル出力とを、通常動作中に接続され
る制御装置から外し、検査信号が変換器５２の入力に与
えられるのを可能とし、そして変換器５２及び検出器５
４からの出力信号が監視されるのを可能とするように適
当数の遠隔制御可能なスイッチが設けられている。
これらのスイッチは以下のものを含んでいる：通常、信
号源５０を変換器５０に接続し、そして変換器５２を信
号源５０から外してコネクタ３６のコネクタ・ピン７２
に接続するよう切り換え可能なスイッチ５６； 通常、変換器５２の入力をシステム・キャビネツ１−に
の検査点８０に接続し、そして変換器５２の入力をコネ
クタ３６のコネクタ・ピン７４に接続するよう切り換え
可能なスイッチ５８；通常、変換器５２の出力をシステ
ム・キャビネツ１〜Ｆ、の検査点８２に接続し、そして
変換器５２の出力をコネクタ３６のコネクタ・ピン７６
に接続するよう切り換え可能なスイッチ６０：そして通
常、スレショールド検出器５４の出力部分をそれと関連
した制御装置に接続し、そして検出器５／′Ｉの出力を
コネクタ３６のコネクタ・ピン７８に接続するよう切り
換え可能なスイッチ６２゜検査点８０及び８２はチャン
ネルを収容したキャビネット］二に装着されており、か
つチャンネルの通常の動作中接近可能である。ピン７２
．７／Ｉ、７６及び７８は、検査装置、すなわちデータ
収集兼解析装置６との接続用の、チャンネルと関連した
コネクタ３６の部分である。
号源５０を変換器５０に接続し、そして変換器５２を信
号源５０から外してコネクタ３６のコネクタ・ピン７２
に接続するよう切り換え可能なスイッチ５６； 通常、変換器５２の入力をシステム・キャビネツ１−に
の検査点８０に接続し、そして変換器５２の入力をコネ
クタ３６のコネクタ・ピン７４に接続するよう切り換え
可能なスイッチ５８；通常、変換器５２の出力をシステ
ム・キャビネツ１〜Ｆ、の検査点８２に接続し、そして
変換器５２の出力をコネクタ３６のコネクタ・ピン７６
に接続するよう切り換え可能なスイッチ６０：そして通
常、スレショールド検出器５４の出力部分をそれと関連
した制御装置に接続し、そして検出器５／′Ｉの出力を
コネクタ３６のコネクタ・ピン７８に接続するよう切り
換え可能なスイッチ６２゜検査点８０及び８２はチャン
ネルを収容したキャビネット］二に装着されており、か
つチャンネルの通常の動作中接近可能である。ピン７２
．７／Ｉ、７６及び７８は、検査装置、すなわちデータ
収集兼解析装置６との接続用の、チャンネルと関連した
コネクタ３６の部分である。
スイッチ５６．５８．６０及び６２は、リレーコイル８
６．８８．９０及び９２によって附勢されるリレースイ
ッチであり、各コイルは、コネクタ３６の２つのピン９
４．９６； ９８．１００；１０２．１０４：そして１
０６．１０８のそれぞれの間に接続される。
６．８８．９０及び９２によって附勢されるリレースイ
ッチであり、各コイルは、コネクタ３６の２つのピン９
４．９６； ９８．１００；１０２．１０４：そして１
０６．１０８のそれぞれの間に接続される。
スイッチ５６．５８．６０及び６２は通常は一致して動
作されるので、これらのスイッチをただ１つの動作コイ
ルを有するただ１つのリレーに組み込むことも可能であ
るであイ）う。このことはもちろん検査手続きを実行す
るよう設けられた構造を簡単にしそしてコネクタ３６内
に必要とされるコネクタ・ピンの数を減するであろう。
作されるので、これらのスイッチをただ１つの動作コイ
ルを有するただ１つのリレーに組み込むことも可能であ
るであイ）う。このことはもちろん検査手続きを実行す
るよう設けられた構造を簡単にしそしてコネクタ３６内
に必要とされるコネクタ・ピンの数を減するであろう。
第２図に示されたチャンネルを検査するために、第１国
のケーブル３０はコネクタ３６に接続され、適当なディ
スクもしくは他の情報記憶媒体が装置１６内に挿入され
、そして装置６が動作されるであろう。動作の開始時に
システムはまず、そのチャンネルのための正しい情報記
憶媒体が例えばコネクタ３６の特定のコード化に基づい
て挿入されているかどうかを決定するであろう。
のケーブル３０はコネクタ３６に接続され、適当なディ
スクもしくは他の情報記憶媒体が装置１６内に挿入され
、そして装置６が動作されるであろう。動作の開始時に
システムはまず、そのチャンネルのための正しい情報記
憶媒体が例えばコネクタ３６の特定のコード化に基づい
て挿入されているかどうかを決定するであろう。
その後適当な検査信号が導体３２を介してコネクタ３６
に与えられて、最初にリレー８６．８８．９０及び９２
を附勢し、そして次ぎにコネクタ・ピン７２にあらかじ
め選択された検査信号のシーケンスを与える。これらの
信号が与えられている間、ピン７４．７６及び７８」二
の応答信号が導体３４及び変換器１０を介して装置１４
．１８及び２０に与えられ、チャンネル応答を監視する
。
に与えられて、最初にリレー８６．８８．９０及び９２
を附勢し、そして次ぎにコネクタ・ピン７２にあらかじ
め選択された検査信号のシーケンスを与える。これらの
信号が与えられている間、ピン７４．７６及び７８」二
の応答信号が導体３４及び変換器１０を介して装置１４
．１８及び２０に与えられ、チャンネル応答を監視する
。
コネクタ・ピン７２に与えられる信号はＣＰＵ］４の制
御のもとに、かつ装置１６内の情報記憶媒体によって与
えられる情報に応答して、装置２４によって発生される
。
御のもとに、かつ装置１６内の情報記憶媒体によって与
えられる情報に応答して、装置２４によって発生される
。
コネクタ・ピン７２に与えられる検査信号に応答してコ
ネクタ・ピン７４．７６及び７８に現れる信号は引き続
く読み出し及び解析のなめに装置１６における情報記憶
媒体に記録され得る。
ネクタ・ピン７４．７６及び７８に現れる信号は引き続
く読み出し及び解析のなめに装置１６における情報記憶
媒体に記録され得る。
装置１６に挿入される情報記憶媒体上に収容された情報
は、コネクタ・ビン７２に与えられた各信号に対する、
各コネクタ・ビン７４．７６及び７８における応答信号
のための、与えられた公称値を含み得る。出力ビンの１
つにおいて引き出された測定された値が与えられた公称
値の所定のパーセンテージ内にない場合には、装置６は
故障がチャンネル内に存在すると言うことをシステム・
オペレータに信号し、それにより適当な修正動作が取ら
れ得る。もし７すべでの出力信号が予め決められた制限
内にあるならば、装置は自動的にその通常動作モードに
チャンネルを復帰させ、それによりケーブル３０はコネ
クタ３６から外され得、そして次のチャンネルの検査が
始められ６）る。
は、コネクタ・ビン７２に与えられた各信号に対する、
各コネクタ・ビン７４．７６及び７８における応答信号
のための、与えられた公称値を含み得る。出力ビンの１
つにおいて引き出された測定された値が与えられた公称
値の所定のパーセンテージ内にない場合には、装置６は
故障がチャンネル内に存在すると言うことをシステム・
オペレータに信号し、それにより適当な修正動作が取ら
れ得る。もし７すべでの出力信号が予め決められた制限
内にあるならば、装置は自動的にその通常動作モードに
チャンネルを復帰させ、それによりケーブル３０はコネ
クタ３６から外され得、そして次のチャンネルの検査が
始められ６）る。
検査動作中、スイッチ６２は、チャンネル出力が開回路
であるような位置にあり、それ故チャンネルの出力にゼ
ロ電圧が現れる。もし、チャンネルが正常状態を監視し
ているときのチャンネル出力における電圧が、ゼロ電圧
レベルに対応１〜でいるならば、次に検査中には、検査
下のチャンネルは、信号源５０が受は入れ可能な出力信
号を出力していると言うことを示す信号を、そのチャン
ネルの関連の制御装置に供給し続ける。
であるような位置にあり、それ故チャンネルの出力にゼ
ロ電圧が現れる。もし、チャンネルが正常状態を監視し
ているときのチャンネル出力における電圧が、ゼロ電圧
レベルに対応１〜でいるならば、次に検査中には、検査
下のチャンネルは、信号源５０が受は入れ可能な出力信
号を出力していると言うことを示す信号を、そのチャン
ネルの関連の制御装置に供給し続ける。
もしこのような場合でなけれは、ずなわちチャンネル出
力におけるゼロ電圧レベルが、アナログ・システムの応
答すべき異常状態を示しているならば、次にさらなるリ
レースイッチが第２図の破線に示されるように提供され
得、これはリレーコイル９２によってスイッチ６２と並
列に動作され、かつコイル９２の附勢下で、チャンネル
出力に接続され、信号源５０からの正常状態出力に対応
する信号をコネクタ３６を介して該チャンネル出力に与
える。
力におけるゼロ電圧レベルが、アナログ・システムの応
答すべき異常状態を示しているならば、次にさらなるリ
レースイッチが第２図の破線に示されるように提供され
得、これはリレーコイル９２によってスイッチ６２と並
列に動作され、かつコイル９２の附勢下で、チャンネル
出力に接続され、信号源５０からの正常状態出力に対応
する信号をコネクタ３６を介して該チャンネル出力に与
える。
第２図に示されたシステム・チャンネルは、各々がそれ
ぞれのチャンネルの構成要素を含む幾つかのカードと、
リレー及び関連の検査点を含むカードとによって構成さ
れ得る。ケーブル３０がコネクタ３６に接続された後、
そして適当な情報媒体が装置１６に挿入され′／：：後
、ｃ２ ｐ Ｕ １．４は、関連の検査カートのアドレ
スに対応した一連の検査語の発生を行う。これら語を認
識すると、テスタを各カードの関連の信号点すなわち検
査点に接続するよう第２図のリレーを附勢する。オペレ
ータは次に監視されるべきこれら検査点を選択すること
ができ、これによりＣＰＵはリレーコイル８６〜９２を
附勢するためにシフｌ−・レジスタ内にクロックもしく
は記録される一連のビットの流れの発生をトリガする。
ぞれのチャンネルの構成要素を含む幾つかのカードと、
リレー及び関連の検査点を含むカードとによって構成さ
れ得る。ケーブル３０がコネクタ３６に接続された後、
そして適当な情報媒体が装置１６に挿入され′／：：後
、ｃ２ ｐ Ｕ １．４は、関連の検査カートのアドレ
スに対応した一連の検査語の発生を行う。これら語を認
識すると、テスタを各カードの関連の信号点すなわち検
査点に接続するよう第２図のリレーを附勢する。オペレ
ータは次に監視されるべきこれら検査点を選択すること
ができ、これによりＣＰＵはリレーコイル８６〜９２を
附勢するためにシフｌ−・レジスタ内にクロックもしく
は記録される一連のビットの流れの発生をトリガする。
上述のステップが行わわている間、検査装置は安全遮断
線を介してすべてのリレー接点５６〜６２の切り換え状
態を監視することができる。いずれかの接点がその検査
状態から、ずなわち関連のリレーコイルが附勢している
ということに対応する検査状態から切り換えられたなら
ば、関連の安全遮断線上に生じる信号は、正当なスイッ
チ状態すなわち切り換え状態が設定されるまで、すべて
のさらなる検査動作を停止するように働く。この時点に
おいては、正しいチャンネル及び検査点が係合されたと
言うことを確実にするために、検査前信号が注入される
。
線を介してすべてのリレー接点５６〜６２の切り換え状
態を監視することができる。いずれかの接点がその検査
状態から、ずなわち関連のリレーコイルが附勢している
ということに対応する検査状態から切り換えられたなら
ば、関連の安全遮断線上に生じる信号は、正当なスイッ
チ状態すなわち切り換え状態が設定されるまで、すべて
のさらなる検査動作を停止するように働く。この時点に
おいては、正しいチャンネル及び検査点が係合されたと
言うことを確実にするために、検査前信号が注入される
。
正しい接続が為されかつリレー制御スイッチがそれらの
正し７い状態にあると言うことが一度確立されると、装
置６は装Ｗ２４によって与えられる検査信号を注入する
。この信号は、チャンネル内の進み／遅れ回路網の較正
をチェックするために望まれるランプ（勾配）信号であ
り得る。しかし、なから、これは２０００秒までの離間
間隔を必要とし得る。
正し７い状態にあると言うことが一度確立されると、装
置６は装Ｗ２４によって与えられる検査信号を注入する
。この信号は、チャンネル内の進み／遅れ回路網の較正
をチェックするために望まれるランプ（勾配）信号であ
り得る。しかし、なから、これは２０００秒までの離間
間隔を必要とし得る。
このような検査の期間を減するなめに、進み／遅れ関数
の逆（ｉｎｖｅｒｓｅ）に等価な回路網を通してランプ
信号が通過する場合に発生される信号と対応した注入信
号を使用することができ、それ故、対応のランプ信号は
かかる進み／遅れ回路網の出力に現れる。
の逆（ｉｎｖｅｒｓｅ）に等価な回路網を通してランプ
信号が通過する場合に発生される信号と対応した注入信
号を使用することができ、それ故、対応のランプ信号は
かかる進み／遅れ回路網の出力に現れる。
進み／＊れ回路網は既知の装置であり、それにおいて出
力信号の位相は選ばれた対応において入力信号の位相と
異なっている。
力信号の位相は選ばれた対応において入力信号の位相と
異なっている。
第３図は、逆の進み／′Ｉｇれ信号１１０と、該信号１
］０が、正当に動作している特定の進み／遅れ回路網の
入力に与えられる場合に該回路網の出力に現れるランプ
信号１］２とに対する、電圧Ｖ対時刻Ｔの波形を示す。
］０が、正当に動作している特定の進み／遅れ回路網の
入力に与えられる場合に該回路網の出力に現れるランプ
信号１］２とに対する、電圧Ｖ対時刻Ｔの波形を示す。
検査下のアナログ・チャンネルの部分を形成するかかる
進み／遅れ回路網を検査するために、ドライブ］６内に
ロードされたディスク１−に記憶されている検査情報（
」、波形１１０及び１１２の表示と、進み／′ｊ！れ回
路網の時間）］Ｙ☆Ｉ〔特性に関する情報とを収容して
いる。その回路網を検査するために、波形１１０は記憶
されｌ：ぜｔ報から装置２４内に発生され、そして声、
み／遅ｆ）、、 ｊＩｌｌ路網人力に１１−えられる。
進み／遅れ回路網を検査するために、ドライブ］６内に
ロードされたディスク１−に記憶されている検査情報（
」、波形１１０及び１１２の表示と、進み／′ｊ！れ回
路網の時間）］Ｙ☆Ｉ〔特性に関する情報とを収容して
いる。その回路網を検査するために、波形１１０は記憶
されｌ：ぜｔ報から装置２４内に発生され、そして声、
み／遅ｆ）、、 ｊＩｌｌ路網人力に１１−えられる。
回路網が正当に動作している場合に波形１１２の形態を
有すイ、はずである結県の出力信号は、装置６内におい
てティジタル形態に変換され、回路網の固有の時間遅延
を考慮して、波形１１２の記憶された表示と比較される
。その結果がある許容限界内で一致を示すならは、その
進み／遅れ回路網は動作しているみなされる。
有すイ、はずである結県の出力信号は、装置６内におい
てティジタル形態に変換され、回路網の固有の時間遅延
を考慮して、波形１１２の記憶された表示と比較される
。その結果がある許容限界内で一致を示すならは、その
進み／遅れ回路網は動作しているみなされる。
装置６は、各選ばれた検査点においてチャンネルのアナ
ログ応答をサンプリングし、そのアナログ・サンプルを
ディジタル値に変換１−７、そしてこれを、その検査点
に現れるべき信号に対する予めプログラム化された制限
と比較する。もしいずれかのサンプル値が予めプログラ
ム化された範囲の外にあるのを発見されたならば、装Ｎ
６は、欠陥応答の指示を与−える前に例えば２回のよう
な幾つかの伺加的な回数、同じ検査を行うようにプログ
ラノ、化され得る。もしいずれのサンプル値も予めプロ
グラム化された範囲内にあれば、装置６内に与えられて
いるプログラムは次ぎの検査点に進む。
ログ応答をサンプリングし、そのアナログ・サンプルを
ディジタル値に変換１−７、そしてこれを、その検査点
に現れるべき信号に対する予めプログラム化された制限
と比較する。もしいずれかのサンプル値が予めプログラ
ム化された範囲の外にあるのを発見されたならば、装Ｎ
６は、欠陥応答の指示を与−える前に例えば２回のよう
な幾つかの伺加的な回数、同じ検査を行うようにプログ
ラノ、化され得る。もしいずれのサンプル値も予めプロ
グラム化された範囲内にあれば、装置６内に与えられて
いるプログラムは次ぎの検査点に進む。
すべての点が検査されてしまった後に、装置６はチャン
ネルをその通常動作モードに復帰させるクリア信号を発
生し７得る。チャンネルがこのように復帰されてしまっ
たということを確実にするなめに、チャンネル入力が検
査システムに未だ接続されているならば通常はチャンネ
ルの出力状態に変化を生じるであろう極端な値を与える
入力信号を提供することができる。もしかかる変化が生
じなければ、チャンネルはクリアされているということ
が結論され、次きのチャンネルの検査を行うことかでき
る５、 この発明による方法及び装置はマイクロプロセラザを基
にしたテスタを使用１−ており、該テスタは次ぎに、各
チャンネルを絶縁もしくは分離し、所望のチャンネルが
検査モードに入ったということを確認し、アナログ検査
信号を注入しかつｊ７すばれた検査点におけるチャンネ
ルの応答を監視し、実際の応答値及び応答時間を、プロ
グラム化された公称値もしくはそれら公称値の範囲と比
に！ Ｌ、なんらかの欠陥応答の発生についてオペレー
タに警報し、チャンネルが検査の完了時にそのチャンネ
ルの通常の動作モードに復帰したということを確認し、
そして検査結果の表示及びドキュメンテーションを提供
するように動作する。
ネルをその通常動作モードに復帰させるクリア信号を発
生し７得る。チャンネルがこのように復帰されてしまっ
たということを確実にするなめに、チャンネル入力が検
査システムに未だ接続されているならば通常はチャンネ
ルの出力状態に変化を生じるであろう極端な値を与える
入力信号を提供することができる。もしかかる変化が生
じなければ、チャンネルはクリアされているということ
が結論され、次きのチャンネルの検査を行うことかでき
る５、 この発明による方法及び装置はマイクロプロセラザを基
にしたテスタを使用１−ており、該テスタは次ぎに、各
チャンネルを絶縁もしくは分離し、所望のチャンネルが
検査モードに入ったということを確認し、アナログ検査
信号を注入しかつｊ７すばれた検査点におけるチャンネ
ルの応答を監視し、実際の応答値及び応答時間を、プロ
グラム化された公称値もしくはそれら公称値の範囲と比
に！ Ｌ、なんらかの欠陥応答の発生についてオペレー
タに警報し、チャンネルが検査の完了時にそのチャンネ
ルの通常の動作モードに復帰したということを確認し、
そして検査結果の表示及びドキュメンテーションを提供
するように動作する。
この発明の詳細な説明は種々の変更、変化及び適応が可
能であり、そして同じことは特許請求の範囲の同等物の
意味及び範囲内に包含されるよう意図されていることを
理解ずべきである。
能であり、そして同じことは特許請求の範囲の同等物の
意味及び範囲内に包含されるよう意図されていることを
理解ずべきである。
第１図はこの発明を使用してチャンネル検査を行うため
の検査装置の実施例を示すブロック回路図、第２図は、
この発明の一実施例による検査信号を扱う要素を装備し
た代表的なシステム・チャンネルを示す回路図、第３図
はこの発明の一実施例による検査動作の１つの型を示す
波形図である。 図において、２はチャンネル、４はプロセス保護及び制
御用アナログ・システム、６はデータ収集兼解析装置、
８はディジタル／アナログ変換器、１０はアナログ／デ
ィジタル変換器、１４はマイクロプロセッサ、１６は入
力／出力装置、１８はＸ−Ｙプロッタ、２０はグラフィ
ック・ターミナル、２２は電源、２４は自己較正装置、
３０は多数導体ケーブル、３２は一群の伝送導体、３４
は一群の受信導体、３６はコネクタ、５０は信号源、５
２は電流−電圧変換器、５４はスレショールド検出器、
５６．５８．６０及び６２はスイッチ、７２．７４．７
６及び７８はコネクタ・ピン、８６．８８．９０及び９
２はリレーコイルである。 特許出願人 ウェスチングハウス・エレク１〜リック
・コーポレーション
の検査装置の実施例を示すブロック回路図、第２図は、
この発明の一実施例による検査信号を扱う要素を装備し
た代表的なシステム・チャンネルを示す回路図、第３図
はこの発明の一実施例による検査動作の１つの型を示す
波形図である。 図において、２はチャンネル、４はプロセス保護及び制
御用アナログ・システム、６はデータ収集兼解析装置、
８はディジタル／アナログ変換器、１０はアナログ／デ
ィジタル変換器、１４はマイクロプロセッサ、１６は入
力／出力装置、１８はＸ−Ｙプロッタ、２０はグラフィ
ック・ターミナル、２２は電源、２４は自己較正装置、
３０は多数導体ケーブル、３２は一群の伝送導体、３４
は一群の受信導体、３６はコネクタ、５０は信号源、５
２は電流−電圧変換器、５４はスレショールド検出器、
５６．５８．６０及び６２はスイッチ、７２．７４．７
６及び７８はコネクタ・ピン、８６．８８．９０及び９
２はリレーコイルである。 特許出願人 ウェスチングハウス・エレク１〜リック
・コーポレーション
Claims (12)
- （１）プロセスを制御するアナログ・システムが複数個
のチャンネルで構成され、各チャンネルは、通常は監視
されるべきアナログ信号を受信するように接続される入
力端子と、前記入力端子に与えられるアナログ信号から
制御信号を引き出すための少なくとも１つの信号監視要
素（５２、５４）と、通常はプロセスを制御するための
別の装置に制御信号を与えるよう、少なくとも１つの要
素（５４）に回路内で接続される出力端子とを備えるよ
うにした、プロセス制御用の前記アナログ・システムを
検査するための方法において、 前記各チャンネルを個別に検査するために、監視される
べき信号の代わりに少なくとも１つの検査信号を受信す
るようにチャンネル入力端子を切り換える段階と、 前記チャンネル入力端子に少なくとも１つの検査信号を
与える段階と、 前記少なくとも１つの検査信号に対する前記少なくとも
１つの要素の応答を監視する段階と、前記チャンネル入
力端子が前記少なくとも１つの検査信号を受けるように
切り換えられている時間中、前記チャンネル出力端子が
模擬された制御信号を提起するようにする段階と、 を備え、ここに前記模擬された制御信号は、前記入力及
び出力端子が正常な接続状態にあるときに生じる前記制
御信号に対応し、かつ監視されるべき前記信号は通常の
プロセス動作を示す値を有していることを特徴とするプ
ロセス制御用アナログ・システムの検査方法。 - （２）前記各チャンネルにはそれぞれ前記チャンネル入
力端子及び前記要素の出力に接続される電気的に制御可
能なスイッチ（５６、６２）が設けられ、前記切り換え
る段階は前記スイッチを電気的に制御する段階を含んだ
特許請求の範囲第１項記載のプロセス制御用アナログ・
システムの検査方法。 - （３）前記監視する段階は、データ収集兼解析装置（６
）によって行われ、各チャンネルには多数ピンのコネク
タ（３６）が設けられ、そして前記データ収集兼解析装
置（６）には、前記方法を行うために各チャンネルに接
続可能な多数導体ケーブル（３０）が設けられている特
許請求の範囲第２項記載のプロセス制御用アナログ・シ
ステムの検査方法。 - （４）前記少なくとも１つの検査信号を与える段階は、
前記データ収集兼解析装置（６）における検査信号を発
生することによって行われるようにした特許請求の範囲
第３項記載のプロセス制御用アナログ・システムの検査
方法。 - （５）前記模擬された制御信号は前記データ収集兼解析
装置（６）において発生されるようにした特許請求の範
囲第４項記載のプロセス制御用アナログ・システムの検
査方法。 - （６）前記データ収集兼解析装置（６）の前記多数導体
ケーブル（３０）を前記選ばれたチャンネルの前記コネ
クタ（３６）に接続する段階を含み、該段階は次に、前
記少なくとも１つの検査信号を与える段階、前記監視す
る段階、及び前記提起するようにする段階を行う前に、
前記データ収集兼解析装置（６）から前記選ばれたチャ
ンネルに、前記スイッチ（５６、６２）を制御するため
の切り換え信号を導くことによって、前記切り換える段
階を行うようにした特許請求の範囲第５項記載のプロセ
ス制御用アナログ・システムの検査方法。 - （７）前記切り換える段階はさらに、前記少なくとも１
つの要素（５４）から前記出力端子を外す段階を含んで
いる特許請求の範囲第６項記載のプロセス制御用アナロ
グ・システムの検査方法。 - （８）通常は監視されるべき信号を受信するように接続
された入力端子と、該入力端子に通常は接続されて該入
力端子に与えられる信号から制御信号を引き出す入力、
及び出力を有する少なくとも１つの信号監視要素（５２
、５４）と、通常はプロセス制御装置に制御信号を与え
るように前記要素の前記出力に回路内で接続される出力
端子とを含んだプロセス制御用アナログ・システムのチ
ャンネルを検査するために、 検査信号を与えるための少なくとも１つの入力コネクタ
（７２）、及び検査応答信号を受けるための少なくとも
１つの出力コネクタ（７８）を含む検査コネクタ手段（
３６）を備えた検査装置において、前記チャンネル内で
接続されるスイッチ部材（５６、５８、６０、６２）を
含んだ電気的に制御可能の切り換え手段であって、前記
スイッチ手段が前記要素の前記入力を前記入力端子に、
そして前記要素の前記出力を前記出力端子に接続する通
常の動作状態と、前記スイッチ部材が前記要素の前記入
力を前記入力端子から、そして前記要素の前記出力を前
記出力端子から外すと共に、前記要素の前記入力を前記
入力コネクタに、そして前記要素の前記出力を前記出力
端子に接続する検査状態との間で切り換え可能な前記切
り換え手段を備えたことを特徴とするプロセス制御用ア
ナログ・システムのチャンネルの検査装置。 - （９）前記切り換え手段は、検査開始信号に応答して前
記スイッチ部材を検査状態に切り換える制御部材（８６
、８８、９０、９２）を備え、前記コネクタ手段は、検
査開始信号を前記制御部材に供給するように前記制御部
材に接続される検査開始信号用のコネクタを含んだ特許
請求の範囲第８項記載のプロセス制御用アナログ・シス
テムのチャンネルの検査装置。 - （１０）前記切り換え手段は、前記制御部材を構成する
コイル（８６、８８、９０、９２）と、前記スイッチ部
材を構成するリレー・スイッチ（５６、５８、６０、６
２）とからなるリレーを備えている特許請求の範囲第９
項記載のプロセス制御用アナログ・システムのチャンネ
ルの検査装置。 - （１１）前記切り換え手段は、前記コネクタ手段に接続
され、選ばれた信号を前記出力端子に与えるように前記
制御部材によって検査状態に切り換え可能のさらなるス
イッチ部材を備えている特許請求の範囲第９項記載のプ
ロセス制御用アナログ・システムのチャンネルの検査装
置。 - （１２）前記コネクタ手段（３６）は、前記チャンネル
を識別するよう電気的に検出可能の態様でコード化され
る特許請求の範囲第８項記載のプロセス制御用アナログ
・システムのチャンネルの検査装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US06/788,982 US4692298A (en) | 1985-10-18 | 1985-10-18 | Analog process control system testing |
| US788982 | 1991-11-07 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6298403A true JPS6298403A (ja) | 1987-05-07 |
Family
ID=25146200
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61248253A Pending JPS6298403A (ja) | 1985-10-18 | 1986-10-18 | プロセス制御用アナログ，システムの検査方法及び装置 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4692298A (ja) |
| JP (1) | JPS6298403A (ja) |
| FR (1) | FR2588978B1 (ja) |
| IT (1) | IT1197360B (ja) |
Families Citing this family (17)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4832900A (en) * | 1986-02-18 | 1989-05-23 | Westinghouse Electric Corp. | Test tool for a reactor vessel fluid level instrumentation |
| US4762663A (en) * | 1986-04-08 | 1988-08-09 | Westinghouse Electric Corp. | Self-testing monitoring circuit |
| FR2639443B1 (fr) * | 1988-11-24 | 1991-02-15 | Aerospatiale | Procede automatique d'analyse de signaux dans un systeme asservi industriel et dispositif de mise en oeuvre du procede |
| US6167547A (en) * | 1996-06-20 | 2000-12-26 | Ce Nuclear Power Llc | Automatic self-test system utilizing multi-sensor, multi-channel redundant monitoring and control circuits |
| NL1009161C2 (nl) * | 1998-05-14 | 1999-11-16 | Abb Lummus Global B V | Werkwijze en inrichting voor het testen van een procesbeveiligingssysteem en afzonderlijke componenten van het systeem. |
| AU767442B2 (en) * | 1999-03-25 | 2003-11-13 | Fluor Technologies Corporation | Simulator cart |
| WO2001053841A1 (en) * | 2000-01-24 | 2001-07-26 | Fluor Corporation | Control system simulation, testing, and operator training |
| DE10035174A1 (de) * | 2000-05-18 | 2001-12-06 | Siemens Ag | Peripheriebaustein mit hoher Fehlersicherheit für speicherprogrammierbare Steuerungen |
| RU2243494C2 (ru) * | 2003-03-19 | 2004-12-27 | Государственное унитарное предприятие "Конструкторское бюро приборостроения" | Способ контроля параметров управляемой ракеты, вращающейся по крену, и автоматизированная система контроля для его осуществления (варианты) |
| RU2289781C1 (ru) * | 2005-06-01 | 2006-12-20 | Государственное унитарное предприятие "Конструкторское бюро приборостроения" | Способ контроля параметров аппаратуры управляемой ракеты и автоматизированная система контроля для его осуществления |
| RU2315944C1 (ru) * | 2006-05-29 | 2008-01-27 | Государственное унитарное предприятие "Конструкторское бюро приборостроения" | Способ взведения бортовых систем управляемой ракеты и устройство для его осуществления |
| RU2316719C1 (ru) * | 2006-08-21 | 2008-02-10 | Государственное унитарное предприятие "Конструкторское бюро приборостроения" | Способ контроля параметров управляемой ракеты и автоматизированная система контроля параметров управляемой ракеты для его реализации |
| RU2325306C1 (ru) * | 2006-09-06 | 2008-05-27 | Василий Васильевич Ефанов | Способ функционирования информационно-вычислительной системы ракеты и устройство для его осуществления |
| RU2333449C1 (ru) * | 2006-12-04 | 2008-09-10 | Государственное унитарное предприятие "Конструкторское бюро приборостроения" | Способ автономной отработки системы полуактивного самонаведения летательных аппаратов и устройство для его осуществления |
| RU2332634C1 (ru) * | 2007-02-21 | 2008-08-27 | Василий Васильевич Ефанов | Способ функционирования информационно-вычислительной системы ракеты и устройство для его осуществления |
| RU2438098C1 (ru) * | 2010-07-16 | 2011-12-27 | Открытое акционерное общество "Акционерная Компания "Туламашзавод" | Способ контроля параметров управляемой ракеты, вращающейся по углу крена, и автоматизированная система контроля для его осуществления |
| CN107578835B (zh) * | 2017-08-31 | 2019-07-23 | 中广核工程有限公司 | 一种核电厂保护系统定期测试的监控系统及方法 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5829013A (ja) * | 1981-08-13 | 1983-02-21 | Yokogawa Hokushin Electric Corp | 安全保護系の試験回路 |
Family Cites Families (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4397021A (en) * | 1981-06-15 | 1983-08-02 | Westinghouse Electric Corp. | Multi-processor automatic test system |
| EP0090757A2 (en) * | 1982-03-29 | 1983-10-05 | Carrier Corporation | Field service test for an electronic control |
| US4509132A (en) * | 1982-06-11 | 1985-04-02 | The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration | Method and apparatus for transfer function simulator for testing complex systems |
| US4571689A (en) * | 1982-10-20 | 1986-02-18 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force | Multiple thermocouple testing device |
| US4561093A (en) * | 1983-02-22 | 1985-12-24 | Otis Elevator Company | Servicing a software-controlled elevator |
| DE3310403A1 (de) * | 1983-03-19 | 1984-09-20 | Joh. Vaillant Gmbh U. Co, 5630 Remscheid | Testverfahren fuer die pruefung eines steuer- oder regelgeraetes |
-
1985
- 1985-10-18 US US06/788,982 patent/US4692298A/en not_active Expired - Fee Related
-
1986
- 1986-10-07 IT IT21920/86A patent/IT1197360B/it active
- 1986-10-17 FR FR868614483A patent/FR2588978B1/fr not_active Expired
- 1986-10-18 JP JP61248253A patent/JPS6298403A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5829013A (ja) * | 1981-08-13 | 1983-02-21 | Yokogawa Hokushin Electric Corp | 安全保護系の試験回路 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| IT8621920A0 (it) | 1986-10-07 |
| FR2588978A1 (fr) | 1987-04-24 |
| IT8621920A1 (it) | 1988-04-07 |
| US4692298A (en) | 1987-09-08 |
| IT1197360B (it) | 1988-11-30 |
| FR2588978B1 (fr) | 1989-04-28 |
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