JPS631048B2 - - Google Patents
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- JPS631048B2 JPS631048B2 JP54122064A JP12206479A JPS631048B2 JP S631048 B2 JPS631048 B2 JP S631048B2 JP 54122064 A JP54122064 A JP 54122064A JP 12206479 A JP12206479 A JP 12206479A JP S631048 B2 JPS631048 B2 JP S631048B2
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Landscapes
- Measurement Of Radiation (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はコンピユーテツド・トモグラフイ装置
(以下CT装置と略称する)に使用される放射線検
出器に関する。
(以下CT装置と略称する)に使用される放射線検
出器に関する。
放射線を用いて人体の断層像を撮影する装置と
してCT装置がある。この装置は例えば第1図a,
bに示す如く偏平な扇状のフアンビームX線Fx
をパルス的に曝射するX線源1と、このX線を検
出する複数の放射線検出セルからなる放射線検出
器2とを被検体Pを挾んで対峙させ、且つこれら
X線源1及び放射線検出器2を前記被検体Pを中
心に互いに同方向に同一速度で回転移動させ、被
検体Pの断面の種々の方向に対するX線吸収デー
タを収集する。そして充分なデータを収集した
後、このデータを電子計算機等で解析し、被検体
断面の個々の位置に対するX線吸収率を算出して
その吸収率に応じた階調度で前記被検体断面の画
像を再構成したもので、組成に応じて2000段階に
も及ぶ階調度で分析できるので、軟質組織から硬
質組織に至る迄明確な断層像が得られる。
してCT装置がある。この装置は例えば第1図a,
bに示す如く偏平な扇状のフアンビームX線Fx
をパルス的に曝射するX線源1と、このX線を検
出する複数の放射線検出セルからなる放射線検出
器2とを被検体Pを挾んで対峙させ、且つこれら
X線源1及び放射線検出器2を前記被検体Pを中
心に互いに同方向に同一速度で回転移動させ、被
検体Pの断面の種々の方向に対するX線吸収デー
タを収集する。そして充分なデータを収集した
後、このデータを電子計算機等で解析し、被検体
断面の個々の位置に対するX線吸収率を算出して
その吸収率に応じた階調度で前記被検体断面の画
像を再構成したもので、組成に応じて2000段階に
も及ぶ階調度で分析できるので、軟質組織から硬
質組織に至る迄明確な断層像が得られる。
ところで、前記放射線検出器2としては、被検
体Pの断面を透過したX線のエネルギーを電離電
流として検出し、これをX線吸収データとして出
力するものが知られている。
体Pの断面を透過したX線のエネルギーを電離電
流として検出し、これをX線吸収データとして出
力するものが知られている。
即ち、このX線吸収データの収集に当つては電
離箱を構成する各放射線検出セルとX線源1とを
結ぶ直線(これを「X線パス」と称する)上を透
過して来たX線のエネルギーを電離電流として検
出してこれを所定の時間積分し、この積分値を所
定数の放電回路にて放電してその放電時間に対応
する値をX線吸収データとする。一つの角度位置
(方向)からの扇状のX線パスに対するデータ収
集が全て終ると次の角度位置に対するX線パスの
データ収集に移行するが、この間に前回のX線投
影による電離電流や積分値の放電等が完全に消
滅、終了していなければ次のデータ収集に誤差と
なつて表われてくる。即ち、X線ビームの曝射の
繰り返し周期は一般に放射線検出器のこれら回復
時間によつて制限を受けることになる。これは断
層像1画面当りのデータ収集時間(即ち撮影時
間)に大きな影響を及ぼす要因であり、撮影時間
の短縮を求められる今日、できる限りこれを短縮
しなければならない。また再構成画像の分解能は
放射線検出器のもつ感度、分解能で定まるため、
優れたCT装置とするには速い回復時間、高感度、
高分解能の放射線検出器を使用しなければならな
い。優れた高分解能、感度を得るためには、各放
射線検出セルを構成する電極板が放射線検出セル
の全長に亘つて互いに近接し、且つ一様に配設さ
れることが望ましい。又、高密度分解能、空間分
解能を得るためには各放射線検出セルの間隔を極
力狭くし、収集データを細分化しなければなら
ず、検出セル全体を多チヤンネル化することが必
要である。一般に、上記のような多チヤンネル検
出器に用いられる電極板は一様な厚さ(0.1〜0.2
mm程度)の矩形状のモリブデン板、或いはタング
ステン板のような重金属が使用される。そして、
その両端を所定のピツチ(0.6〜1.2mm程度)で溝
が切られている絶縁物(ガラスエポキシ板、セラ
ミツク等)のサポートに挿入することにより多チ
ヤンネル検出器が構成される。
離箱を構成する各放射線検出セルとX線源1とを
結ぶ直線(これを「X線パス」と称する)上を透
過して来たX線のエネルギーを電離電流として検
出してこれを所定の時間積分し、この積分値を所
定数の放電回路にて放電してその放電時間に対応
する値をX線吸収データとする。一つの角度位置
(方向)からの扇状のX線パスに対するデータ収
集が全て終ると次の角度位置に対するX線パスの
データ収集に移行するが、この間に前回のX線投
影による電離電流や積分値の放電等が完全に消
滅、終了していなければ次のデータ収集に誤差と
なつて表われてくる。即ち、X線ビームの曝射の
繰り返し周期は一般に放射線検出器のこれら回復
時間によつて制限を受けることになる。これは断
層像1画面当りのデータ収集時間(即ち撮影時
間)に大きな影響を及ぼす要因であり、撮影時間
の短縮を求められる今日、できる限りこれを短縮
しなければならない。また再構成画像の分解能は
放射線検出器のもつ感度、分解能で定まるため、
優れたCT装置とするには速い回復時間、高感度、
高分解能の放射線検出器を使用しなければならな
い。優れた高分解能、感度を得るためには、各放
射線検出セルを構成する電極板が放射線検出セル
の全長に亘つて互いに近接し、且つ一様に配設さ
れることが望ましい。又、高密度分解能、空間分
解能を得るためには各放射線検出セルの間隔を極
力狭くし、収集データを細分化しなければなら
ず、検出セル全体を多チヤンネル化することが必
要である。一般に、上記のような多チヤンネル検
出器に用いられる電極板は一様な厚さ(0.1〜0.2
mm程度)の矩形状のモリブデン板、或いはタング
ステン板のような重金属が使用される。そして、
その両端を所定のピツチ(0.6〜1.2mm程度)で溝
が切られている絶縁物(ガラスエポキシ板、セラ
ミツク等)のサポートに挿入することにより多チ
ヤンネル検出器が構成される。
第2図は多チヤンネル放射線検出器の一例を示
す斜視図であり、図中3は電極群その他を保持す
る円弧状箱形の本体、4はこの本体開口部を閉塞
する蓋である。これら本体3及び蓋4は内部に充
填される例えばXe(キセノン)ガス等の高圧ガス
に対して充分な強度及び気密を保持できるように
してある。この放射線検出器はフアンビームX線
Fxの広がり角θに対応して、その入射面側壁3
aの一部3bを他の部分より肉薄としてX線エネ
ルギーが内部の電極群に充分に到達するようにし
てある。第3図は第2図のA−A線矢視断面図で
あり、3cは電極群を配置するための空洞であ
る。
す斜視図であり、図中3は電極群その他を保持す
る円弧状箱形の本体、4はこの本体開口部を閉塞
する蓋である。これら本体3及び蓋4は内部に充
填される例えばXe(キセノン)ガス等の高圧ガス
に対して充分な強度及び気密を保持できるように
してある。この放射線検出器はフアンビームX線
Fxの広がり角θに対応して、その入射面側壁3
aの一部3bを他の部分より肉薄としてX線エネ
ルギーが内部の電極群に充分に到達するようにし
てある。第3図は第2図のA−A線矢視断面図で
あり、3cは電極群を配置するための空洞であ
る。
第4図は信号電極或いはバイアス電極として用
いられる電極板5を示すもので、例えばタングス
テン或いはモリブデンのような重金属からなる方
形の極めて薄い導電性板体の一部に突部即ちタブ
5aを形成している。タブ5aは信号電極板とし
て用いるときには電離電流の取出し口として、バ
イアス電極板として用いるときには高圧印加部と
しての役割をになつている。この電極板5を上述
した本体3の空洞部3cに交互に信号電極及び高
圧電極として順次挿入配置していく。即ち、電極
板5は、極めて微小間隔毎に支持部材としての絶
縁物質からなるサポートの表面に形成されている
支持溝に信号電極板、バイアス電極板が交互に挿
入され、しかる後に前記検出器本体3の空洞3c
に第5図の如く組み込まれる。6は前記電極板を
支持する電極サポート、7は信号電流を取り出し
て検出器外部の信号処理システムに供給するため
の信号電極板と蓋4に埋め込まれたターミナル8
とを結ぶリード線である。
いられる電極板5を示すもので、例えばタングス
テン或いはモリブデンのような重金属からなる方
形の極めて薄い導電性板体の一部に突部即ちタブ
5aを形成している。タブ5aは信号電極板とし
て用いるときには電離電流の取出し口として、バ
イアス電極板として用いるときには高圧印加部と
しての役割をになつている。この電極板5を上述
した本体3の空洞部3cに交互に信号電極及び高
圧電極として順次挿入配置していく。即ち、電極
板5は、極めて微小間隔毎に支持部材としての絶
縁物質からなるサポートの表面に形成されている
支持溝に信号電極板、バイアス電極板が交互に挿
入され、しかる後に前記検出器本体3の空洞3c
に第5図の如く組み込まれる。6は前記電極板を
支持する電極サポート、7は信号電流を取り出し
て検出器外部の信号処理システムに供給するため
の信号電極板と蓋4に埋め込まれたターミナル8
とを結ぶリード線である。
第6図は第5図をX線入射方向から見た図であ
り、9は一枚おきに電極サポート6に挿入された
バイアス電極に高圧を印加するためのリード線で
ある。
り、9は一枚おきに電極サポート6に挿入された
バイアス電極に高圧を印加するためのリード線で
ある。
ところで、CT装置におけるX線焦点と検出器
セル間の相対配置は非常に厳密な正確さが要求さ
れ、これが充分されない場合にはスノーリング等
のアーチフアクトとなり画質に悪影響を及ぼすこ
とになる。即ち、これは例え検出器容器内の各検
出セルが一様に配設されていたとしても容器その
ものがX線焦点に対し規定通りに取り付けられて
いない場合には顕著に表われる現象である。又、
逆にX線焦点と検出器容器は規定通り配設されて
いるが、容器内部の各検出セルが一様に配設され
ていない場合にも上記現象が生ずるものであり、
更に上記両者が競合して発生することもある。
セル間の相対配置は非常に厳密な正確さが要求さ
れ、これが充分されない場合にはスノーリング等
のアーチフアクトとなり画質に悪影響を及ぼすこ
とになる。即ち、これは例え検出器容器内の各検
出セルが一様に配設されていたとしても容器その
ものがX線焦点に対し規定通りに取り付けられて
いない場合には顕著に表われる現象である。又、
逆にX線焦点と検出器容器は規定通り配設されて
いるが、容器内部の各検出セルが一様に配設され
ていない場合にも上記現象が生ずるものであり、
更に上記両者が競合して発生することもある。
以上のことを図面を参照して更に詳細に説明す
る。第7図はX線焦点と検出セル群の理想的配置
を示すものであり、セル群5の先端後端はX線焦
点からr、r′なる同心円上にあり、かつ各セル間
の角度θ1は全て一様になつている。しかるに実際
には製造上のバラツキによりセル群は第8図に示
すように同心円上に並ばず、又角度がθ2だけずれ
ることもある。又、内部セル群の配置は正常であ
るにも拘わらず検出器容器3の初期設定ミスによ
り第9図に示すようにX線焦点とセルとの位置関
係がずれてしまうことがある。ここで電極板の厚
さやチヤンネルピツチ等の精度を5〜10μ程度に
抑えることができれば前記位置ずれによつてアー
チフアクトが生ずるのを防止することができるわ
けであるが、そのような高精度の検出器を製造す
ることは現在技術ではとても無理である。従つ
て、検出器取付の際のX線焦点との相対位置の位
置決め精度を向上させることにより、前記諸問題
を回避する以外に方法はないわけである。
る。第7図はX線焦点と検出セル群の理想的配置
を示すものであり、セル群5の先端後端はX線焦
点からr、r′なる同心円上にあり、かつ各セル間
の角度θ1は全て一様になつている。しかるに実際
には製造上のバラツキによりセル群は第8図に示
すように同心円上に並ばず、又角度がθ2だけずれ
ることもある。又、内部セル群の配置は正常であ
るにも拘わらず検出器容器3の初期設定ミスによ
り第9図に示すようにX線焦点とセルとの位置関
係がずれてしまうことがある。ここで電極板の厚
さやチヤンネルピツチ等の精度を5〜10μ程度に
抑えることができれば前記位置ずれによつてアー
チフアクトが生ずるのを防止することができるわ
けであるが、そのような高精度の検出器を製造す
ることは現在技術ではとても無理である。従つ
て、検出器取付の際のX線焦点との相対位置の位
置決め精度を向上させることにより、前記諸問題
を回避する以外に方法はないわけである。
本発明は前記事情に鑑みてなされたものであ
り、検出器自体に、X線焦点に対する相対位置を
補正するための微調整装置を取り付け、その調整
により各検出セルの製造上の個々のバラツキや検
出器容器自体のX線焦点に対する設定誤差を極力
小さくし、画質上に生ずるアーチフアクトを減少
させることを可能にした放射線検出器を提供する
ことを目的とするものである。
り、検出器自体に、X線焦点に対する相対位置を
補正するための微調整装置を取り付け、その調整
により各検出セルの製造上の個々のバラツキや検
出器容器自体のX線焦点に対する設定誤差を極力
小さくし、画質上に生ずるアーチフアクトを減少
させることを可能にした放射線検出器を提供する
ことを目的とするものである。
以下実施例により本発明を具体的に説明する。
第10図及び第11図は本発明に係る放射線検
出器の一実施例を示す説明図である。図中14は
略円筒形状を有する架台であり、その一部に放射
線検出器2が取付けられる。尚、この架台14の
検出器取付部に対向する面には図示しないX線源
が取付けられる。前記放射線検出器2は、検出器
容器本体3と、検出器蓋4とからなり、内部に検
出器セル群(図示せず)が収納されている。そし
て、検出器容器本体3は、その背壁部に固着され
た軸18を介して架台14内に埋め込まれた摺動
可能な軸受(例えばボール軸受)13に取付けら
れて、微小角度だけ回転することが可能に構成さ
れている。尚、この軸18は検出器容器本体3の
中心部であつて稍上方に位置して設けられてい
る。検出器容器本体3の両側タブ部3a,3aに
は上下に配設された円弧状の2個の長孔17a,
17bと17c,17dが対称的に配設されてお
り、下方タブ部3bの中央部には他の円弧状の長
孔17eが設けられている。そして、それら各長
孔17a〜17eに対応する位置の架台14の表
面にはネジ穴が設けられており、ネジ12a〜1
2eにより検出器容器本体3をネジ止めできるよ
うになつている。又、検出器容器本体3の両側タ
ブ部3a,3aの背面には、架台14に設けられ
た位置決めピン15a,15bに嵌合するガイド
用の円弧状の長溝16a,16bが対設されてお
り、位置決めの際の便宜が図れるようになつてい
る。ところで、前記検出器容器本体3に設けられ
た長孔17a〜17eのうち、側部タブ部3aに
設けられた長孔17b,17cは軸18を中心と
する第1の円の同一周面に沿つて設けられ、他の
長孔17a,17cは前記第1の円よりも僅かに
径の小さな円の同一円周面に沿つて設けられ、タ
ブ部3bに設けられた長孔17eは小径円dの円
周上に沿つて設けられている。又、ガイド孔16
a,16bは前記第2の円よりも僅かに径の小さ
な円eの周面に沿つて設けられている。このよう
にして検出器2が中心軸18を中心として微小回
動できるようになる。尚、架台14における検出
器2の配置される部分下部にはネジガイド部19
a,19bが対設されており、このネジガイド部
を介して調整ネジ11a,11bの先端が検出器
容器本体3の底部側面に当接されるようになつて
いる。
出器の一実施例を示す説明図である。図中14は
略円筒形状を有する架台であり、その一部に放射
線検出器2が取付けられる。尚、この架台14の
検出器取付部に対向する面には図示しないX線源
が取付けられる。前記放射線検出器2は、検出器
容器本体3と、検出器蓋4とからなり、内部に検
出器セル群(図示せず)が収納されている。そし
て、検出器容器本体3は、その背壁部に固着され
た軸18を介して架台14内に埋め込まれた摺動
可能な軸受(例えばボール軸受)13に取付けら
れて、微小角度だけ回転することが可能に構成さ
れている。尚、この軸18は検出器容器本体3の
中心部であつて稍上方に位置して設けられてい
る。検出器容器本体3の両側タブ部3a,3aに
は上下に配設された円弧状の2個の長孔17a,
17bと17c,17dが対称的に配設されてお
り、下方タブ部3bの中央部には他の円弧状の長
孔17eが設けられている。そして、それら各長
孔17a〜17eに対応する位置の架台14の表
面にはネジ穴が設けられており、ネジ12a〜1
2eにより検出器容器本体3をネジ止めできるよ
うになつている。又、検出器容器本体3の両側タ
ブ部3a,3aの背面には、架台14に設けられ
た位置決めピン15a,15bに嵌合するガイド
用の円弧状の長溝16a,16bが対設されてお
り、位置決めの際の便宜が図れるようになつてい
る。ところで、前記検出器容器本体3に設けられ
た長孔17a〜17eのうち、側部タブ部3aに
設けられた長孔17b,17cは軸18を中心と
する第1の円の同一周面に沿つて設けられ、他の
長孔17a,17cは前記第1の円よりも僅かに
径の小さな円の同一円周面に沿つて設けられ、タ
ブ部3bに設けられた長孔17eは小径円dの円
周上に沿つて設けられている。又、ガイド孔16
a,16bは前記第2の円よりも僅かに径の小さ
な円eの周面に沿つて設けられている。このよう
にして検出器2が中心軸18を中心として微小回
動できるようになる。尚、架台14における検出
器2の配置される部分下部にはネジガイド部19
a,19bが対設されており、このネジガイド部
を介して調整ネジ11a,11bの先端が検出器
容器本体3の底部側面に当接されるようになつて
いる。
上記構成の検出器は次のようにして取付けられ
る。先ず、検出器2を架台14に取付ける際に
は、中心軸18をボール軸受13内に挿入すると
共に、ガイド溝16a,16b内に位置決めピン
15a,15bが挿入されるようにする。そし
て、所定の位置決めをした後各長孔17a〜17
eを介してネジ12a〜12eを締め付け固定す
る。この場合、検出器2は中心軸18を介して架
台14上の軸受13に取付けられるのでX線焦点
と検出器2の中心との間の位置決めは極めて容易
に且つ正確に行われる。次に、概略位置決めを行
つた後、実際にX線を曝射して検出器から所望の
データを得て、該データを基にして検出セルの感
度のバラツキ状態を判断する。そして、このバラ
ツキを最小とするような最適な位置を見付け出
し、検出器2の位置の微調整を行う。即ち、検出
器容器内の検出セル群(300〜500チヤンネル程
度)は一様にX線焦点を中心とする同心円上にあ
り、且つ各セルはX線焦点をにらんでいることが
望ましく、それが充足されないと各チヤンネル間
の感度、線量に対する出力のリニアリテイや信号
電流の立上り特性に影響を及ぼし、最終的には画
質上のアーチフアクトを生じさせることになるか
ら、セル間の製造上のバラツキ、検出器の取付け
上の誤差等を最小にするような最適な位置を見付
け出し、調整することが必要となる。この場合、
前記各ネジ12a〜12e及び調整ネジ11a,
11bの操作により前記調整を簡単に行うことが
できる。即ち、ネジ12a〜12eを緩めた状態
で調整ネジ11a,11bを操作すれば、検出器
2は中心軸18を中心として、時計方向、反時計
方向に自由に微少回動可能になるため、微調整が
行える。このとき、円弧状の長孔17a〜17
e、ガイド溝16a,16b、軸受13は前記微
少回動を容易にするための機構として作用する。
このようにして位置決めを行なつた後、再び、各
ネジ12a〜12eの締付けを行い検出器2を固
定し、X線を曝射してデータを収集する。かかる
操作を繰り返すことにより最適な位置決めを行
う。従つて、例えば放射線検出器が前述第8図の
ようにセルの配置が不均衡となつていた場合で
も、そのバラツキに基づく検出感度の低下や線量
の不均衡は最小限に抑えられることになり、又前
述第9図の場合のようなX線焦点との間の中心位
置のずれは解消されることになる。
る。先ず、検出器2を架台14に取付ける際に
は、中心軸18をボール軸受13内に挿入すると
共に、ガイド溝16a,16b内に位置決めピン
15a,15bが挿入されるようにする。そし
て、所定の位置決めをした後各長孔17a〜17
eを介してネジ12a〜12eを締め付け固定す
る。この場合、検出器2は中心軸18を介して架
台14上の軸受13に取付けられるのでX線焦点
と検出器2の中心との間の位置決めは極めて容易
に且つ正確に行われる。次に、概略位置決めを行
つた後、実際にX線を曝射して検出器から所望の
データを得て、該データを基にして検出セルの感
度のバラツキ状態を判断する。そして、このバラ
ツキを最小とするような最適な位置を見付け出
し、検出器2の位置の微調整を行う。即ち、検出
器容器内の検出セル群(300〜500チヤンネル程
度)は一様にX線焦点を中心とする同心円上にあ
り、且つ各セルはX線焦点をにらんでいることが
望ましく、それが充足されないと各チヤンネル間
の感度、線量に対する出力のリニアリテイや信号
電流の立上り特性に影響を及ぼし、最終的には画
質上のアーチフアクトを生じさせることになるか
ら、セル間の製造上のバラツキ、検出器の取付け
上の誤差等を最小にするような最適な位置を見付
け出し、調整することが必要となる。この場合、
前記各ネジ12a〜12e及び調整ネジ11a,
11bの操作により前記調整を簡単に行うことが
できる。即ち、ネジ12a〜12eを緩めた状態
で調整ネジ11a,11bを操作すれば、検出器
2は中心軸18を中心として、時計方向、反時計
方向に自由に微少回動可能になるため、微調整が
行える。このとき、円弧状の長孔17a〜17
e、ガイド溝16a,16b、軸受13は前記微
少回動を容易にするための機構として作用する。
このようにして位置決めを行なつた後、再び、各
ネジ12a〜12eの締付けを行い検出器2を固
定し、X線を曝射してデータを収集する。かかる
操作を繰り返すことにより最適な位置決めを行
う。従つて、例えば放射線検出器が前述第8図の
ようにセルの配置が不均衡となつていた場合で
も、そのバラツキに基づく検出感度の低下や線量
の不均衡は最小限に抑えられることになり、又前
述第9図の場合のようなX線焦点との間の中心位
置のずれは解消されることになる。
以上詳述した本発明装置によれば、検出器自体
に、X線焦点に対する相対位置を補正するための
微調整装置を取付け、その調整により各検出セル
の製造上の個々のバラツキや検出器容器自体のX
線焦点に対する設定誤差を極力小さくし、画質上
に生ずるアーチフアクトを減少させることが可能
なX線検出器を提供することができる。
に、X線焦点に対する相対位置を補正するための
微調整装置を取付け、その調整により各検出セル
の製造上の個々のバラツキや検出器容器自体のX
線焦点に対する設定誤差を極力小さくし、画質上
に生ずるアーチフアクトを減少させることが可能
なX線検出器を提供することができる。
第1図a,bはCT装置の原理を説明するため
の図、第2図は従来の放射線検出器の一例を示す
斜視図、第3図はその断面図、第4図は同例にお
ける電極板の形状を示す図、第5図は同例におけ
る検出器容器とその内部に格納された電極の様子
を示す断面図、第6図は電極板支持状態の一例を
示す断面図、第7図は焦点と検出セル群の理想的
配置図、第8図は検出セル群の配列が乱れている
場合の説明図、第9図は検出器容器自体の配置が
不適当な場合の説明図、第10図は本発明の一実
施例を示す構成図、第11図はそのB−B線矢視
断面図である。 1……X線管、2……放射線検出器、3……検
出器容器本体、4……検出器蓋、11a,11b
……調整ネジ、12a〜12e……ネジ、13…
…軸受、14……架台、15a,15b……位置
決めビン、16a,16b……円弧状ガイド溝、
17a〜17e……円弧状長孔、18……中心
軸。
の図、第2図は従来の放射線検出器の一例を示す
斜視図、第3図はその断面図、第4図は同例にお
ける電極板の形状を示す図、第5図は同例におけ
る検出器容器とその内部に格納された電極の様子
を示す断面図、第6図は電極板支持状態の一例を
示す断面図、第7図は焦点と検出セル群の理想的
配置図、第8図は検出セル群の配列が乱れている
場合の説明図、第9図は検出器容器自体の配置が
不適当な場合の説明図、第10図は本発明の一実
施例を示す構成図、第11図はそのB−B線矢視
断面図である。 1……X線管、2……放射線検出器、3……検
出器容器本体、4……検出器蓋、11a,11b
……調整ネジ、12a〜12e……ネジ、13…
…軸受、14……架台、15a,15b……位置
決めビン、16a,16b……円弧状ガイド溝、
17a〜17e……円弧状長孔、18……中心
軸。
Claims (1)
- 1 円弧状箱形容器本体内部に長手方向に沿つて
複数の放射線検出セルが並設されると共に、放射
線源からの扇形状放射線を検出し得るように配設
される放射線検出器において、前記容器本体の中
心部に回動軸を設けると共に、前記容器本体の他
の部分に回動調整部材を配置することにより架台
への取付けの際の回動微調整を可能にしたことを
特徴とする放射線検出器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12206479A JPS5645640A (en) | 1979-09-25 | 1979-09-25 | Radioactive ray detector |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12206479A JPS5645640A (en) | 1979-09-25 | 1979-09-25 | Radioactive ray detector |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5645640A JPS5645640A (en) | 1981-04-25 |
| JPS631048B2 true JPS631048B2 (ja) | 1988-01-11 |
Family
ID=14826726
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12206479A Granted JPS5645640A (en) | 1979-09-25 | 1979-09-25 | Radioactive ray detector |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5645640A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2015182493A1 (ja) * | 2014-05-26 | 2015-12-03 | 株式会社 日立メディコ | X線ct装置 |
-
1979
- 1979-09-25 JP JP12206479A patent/JPS5645640A/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2015182493A1 (ja) * | 2014-05-26 | 2015-12-03 | 株式会社 日立メディコ | X線ct装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5645640A (en) | 1981-04-25 |
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