JPS6310925A - 信号伝送方法 - Google Patents
信号伝送方法Info
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- JPS6310925A JPS6310925A JP62142411A JP14241187A JPS6310925A JP S6310925 A JPS6310925 A JP S6310925A JP 62142411 A JP62142411 A JP 62142411A JP 14241187 A JP14241187 A JP 14241187A JP S6310925 A JPS6310925 A JP S6310925A
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- pulse
- signal transmission
- transmission method
- time
- Prior art date
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- G04—HOROLOGY
- G04F—TIME-INTERVAL MEASURING
- G04F13/00—Apparatus for measuring unknown time intervals by means not provided for in groups G04F5/00 - G04F10/00
- G04F13/02—Apparatus for measuring unknown time intervals by means not provided for in groups G04F5/00 - G04F10/00 using optical means
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R23/00—Arrangements for measuring frequencies; Arrangements for analysing frequency spectra
- G01R23/16—Spectrum analysis; Fourier analysis
- G01R23/17—Spectrum analysis; Fourier analysis with optical or acoustical auxiliary devices
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/26—Testing of individual semiconductor devices
- G01R31/265—Contactless testing
- G01R31/2656—Contactless testing using non-ionising electromagnetic radiation, e.g. optical radiation
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
孜朱分災
本発明は光通信に有用なデバイス及び材料中で生じた。
たとえばピコ秒及びサブピコ秒信号のような高速信号を
伝送するための方法に係る。
伝送するための方法に係る。
又訓Ｒ口り晟
計算及び通信用デバイスにおいて、より高い水準の動作
特性が探求されるにつれ、材料及びたとえば応答時間及
びパルス形状のようなデバイス特性を評価するための、
より高感度な方法と装置の必要がある。しかし、この点
において、現在得られる型の電子的サンプリングオシロ
スコープの開発は、応答速度のこれ以上の著しい改善は
望めない点に達していると評価される。その結果、特に
数百ピコ秒からサブピコ秒の範囲まで下がる時間依存性
のある特性をもつ信号を開発するため、別の方法が求め
られている。
特性が探求されるにつれ、材料及びたとえば応答時間及
びパルス形状のようなデバイス特性を評価するための、
より高感度な方法と装置の必要がある。しかし、この点
において、現在得られる型の電子的サンプリングオシロ
スコープの開発は、応答速度のこれ以上の著しい改善は
望めない点に達していると評価される。その結果、特に
数百ピコ秒からサブピコ秒の範囲まで下がる時間依存性
のある特性をもつ信号を開発するため、別の方法が求め
られている。
電子的サンプリングオシロスコープを用いるのとは別の
方式は、米国特許第４，４８２，８６３号に述べられて
いるような光パルスにより、デバイス又は光導電性材料
を照射すると、電気信号を発生することに基く、この方
式において、光パルスは電気的現象をサンプリングする
とともに発生させるための両方に用いられ、もし試験さ
れるデバイス又は材料がそれ自身光感応性なら、光パル
スは試験されているデバイス又は材料に直接入射するよ
う作ってもよい。この点に関してのそれ以上の詳細につ
いては、ピー・アール・スミス（Ｐ、Ｒ。
方式は、米国特許第４，４８２，８６３号に述べられて
いるような光パルスにより、デバイス又は光導電性材料
を照射すると、電気信号を発生することに基く、この方
式において、光パルスは電気的現象をサンプリングする
とともに発生させるための両方に用いられ、もし試験さ
れるデバイス又は材料がそれ自身光感応性なら、光パル
スは試験されているデバイス又は材料に直接入射するよ
う作ってもよい。この点に関してのそれ以上の詳細につ
いては、ピー・アール・スミス（Ｐ、Ｒ。
Ｓ ｗｉｔｈ）らによる論文″ピコ秒光電子によるＧ
ａ Ａ ｓ ｆ＆界効果トランジスタ電子インパルス応
答の測定″、アプライド・フィジックスレターズ（Ａｐ
ｐｌｉｅｄ Ｐｈｙｓｉｃｓ Ｌｅｔｔｅｒｓ）第３９
巻（１９８１）、７３９−７４１頁及びディー・エイチ
・オーストン（Ｄ、 Ｈ，Ａｕ５ｔｏｎ） らによる″
高速装置のためのピコ秒光電子″ル−ザ魯フォーカス・
マガジン（Ｌ ａｓｅｒ Ｆ ｏｃｕｓＭａｇａｚｉｎ
ｅ）、１９８２年４月、８９−９３頁を参照のこと。
ａ Ａ ｓ ｆ＆界効果トランジスタ電子インパルス応
答の測定″、アプライド・フィジックスレターズ（Ａｐ
ｐｌｉｅｄ Ｐｈｙｓｉｃｓ Ｌｅｔｔｅｒｓ）第３９
巻（１９８１）、７３９−７４１頁及びディー・エイチ
・オーストン（Ｄ、 Ｈ，Ａｕ５ｔｏｎ） らによる″
高速装置のためのピコ秒光電子″ル−ザ魯フォーカス・
マガジン（Ｌ ａｓｅｒ Ｆ ｏｃｕｓＭａｇａｚｉｎ
ｅ）、１９８２年４月、８９−９３頁を参照のこと。
超高速信号の評価の別の方式は、電子光学的サンプリン
グに基く。これは電界感応性技術を代表し、この場合超
短光パルスが電子光学媒体を同時に伝搬するとき、電気
的遷移の゛サンプリングゲート″として働く。この点に
関しては、米国特許第４，４４６，４２５号、ジェイ・
エイ・バルドマニス（Ｊ、Ａ、ＶａｌｄＩＩＩａｎｉｓ
）らによる論文、″゛ピコ秒電子光学サンプリングシス
テム”、アプライド・フィジックス・レターズ７ Ｐｈ
ｙｓｉｃｓ Ｌｅｔｔｅｒｓ）、第４１巻（１９８２）
、２１１−２１２頁及びジェイ・エイ・バルドマニス
（Ｊ 、 Ａ 、ｖａｌｄｍａｎｉｓ）らによる論文“
サブピコ秒電子光学サンプリング：Ｍ理及び応用″アイ
・イーイーイー・ジャーナル・オブ・カンタム・エレク
トロニクス（胆ＥＥ Ｊｏｕｒｎａｌ ｏｆ Ｑｕａｎ
ｔｕｍ Ｅｌｅｃｔｒｏｎｉｃｓ）、第ＱＥ−２２巻（
１９８６）、６９−７８頁を参照のこと。
グに基く。これは電界感応性技術を代表し、この場合超
短光パルスが電子光学媒体を同時に伝搬するとき、電気
的遷移の゛サンプリングゲート″として働く。この点に
関しては、米国特許第４，４４６，４２５号、ジェイ・
エイ・バルドマニス（Ｊ、Ａ、ＶａｌｄＩＩＩａｎｉｓ
）らによる論文、″゛ピコ秒電子光学サンプリングシス
テム”、アプライド・フィジックス・レターズ７ Ｐｈ
ｙｓｉｃｓ Ｌｅｔｔｅｒｓ）、第４１巻（１９８２）
、２１１−２１２頁及びジェイ・エイ・バルドマニス
（Ｊ 、 Ａ 、ｖａｌｄｍａｎｉｓ）らによる論文“
サブピコ秒電子光学サンプリング：Ｍ理及び応用″アイ
・イーイーイー・ジャーナル・オブ・カンタム・エレク
トロニクス（胆ＥＥ Ｊｏｕｒｎａｌ ｏｆ Ｑｕａｎ
ｔｕｍ Ｅｌｅｃｔｒｏｎｉｃｓ）、第ＱＥ−２２巻（
１９８６）、６９−７８頁を参照のこと。
引用した文献に述べられている方法は、パルスのくり返
し列をサンプリングすることに基いているが、くり返し
ではない信号を評価する方法も望まれている。そのよう
な後者の型の方法及びそれらを実行するための方法は。
し列をサンプリングすることに基いているが、くり返し
ではない信号を評価する方法も望まれている。そのよう
な後者の型の方法及びそれらを実行するための方法は。
潜在的に試験及び測定の目的に有用であるばかりでなく
、遠距離通信の分野でも有用である可能性がある。
、遠距離通信の分野でも有用である可能性がある。
発」Ｂ項既ヌ一
時間依存性のスペクトル変化を有する光パルスが、パル
スのスペクトル成分を変更するような時間依存性で振幅
変調される。パルスのスペクトル成分が決まると、変調
信号の表式が得られる。関心のある信号は典型的な場合
、数百ピコ秒からサブピコ秒の範囲の特性をもち、その
検出には、光と相互作用するあらゆる物理現象が含まれ
る。たとえば、電気的、磁気的又は電気磁気的現象はこ
の点に関して適切である。光パルスのスペクトル変化は
、本質的に一方向性が好ましい。すなわち。
スのスペクトル成分を変更するような時間依存性で振幅
変調される。パルスのスペクトル成分が決まると、変調
信号の表式が得られる。関心のある信号は典型的な場合
、数百ピコ秒からサブピコ秒の範囲の特性をもち、その
検出には、光と相互作用するあらゆる物理現象が含まれ
る。たとえば、電気的、磁気的又は電気磁気的現象はこ
の点に関して適切である。光パルスのスペクトル変化は
、本質的に一方向性が好ましい。すなわち。
雑音を別にして、パルス中の周波数は広がり拡大するか
、定常的に減少する。
、定常的に減少する。
このようにして得られる信号の表式は、たとえば試験し
ているデバイス又は材料の特性を決めるために関心がも
たれる。また、そのような表式は通信のために伝送され
るディジタル又はアナログ情報を含んでもよい。
ているデバイス又は材料の特性を決めるために関心がも
たれる。また、そのような表式は通信のために伝送され
るディジタル又はアナログ情報を含んでもよい。
矢」１鮭９」１児
第１図に示されるように、レーザ（１）、ビームスプリ
ッタ（２）、入力及び出力フォーカシングレンズ（４）
を有する周波数分散光ファイバ（３）、偏向器（５）、
光電子変調器（６）、補償器（７）、偏光分析器（８）
、スペクトル写真機（９）、スペクトルアナライザ（１
０）、固定長遅延を作る鏡（１１）及び同期をとるため
スペクトルアナライザ（８）に電気的に接触されたチョ
ッパ（１２）がある。チョッパ（１２）及び変調器（６
）の間の光路中に、試験すべきデバイス（１３）が置か
れる。
ッタ（２）、入力及び出力フォーカシングレンズ（４）
を有する周波数分散光ファイバ（３）、偏向器（５）、
光電子変調器（６）、補償器（７）、偏光分析器（８）
、スペクトル写真機（９）、スペクトルアナライザ（１
０）、固定長遅延を作る鏡（１１）及び同期をとるため
スペクトルアナライザ（８）に電気的に接触されたチョ
ッパ（１２）がある。チョッパ（１２）及び変調器（６
）の間の光路中に、試験すべきデバイス（１３）が置か
れる。
第１図に描かれた装置の機能は、以下のように記述され
る。レーザパルスはスプリッタ（２）により、２つのビ
ームに分割される。１つのビームはレンズ（４）を経て
光ファイバ（３）中に伝搬し、他方は！！（１１）によ
り形成された遅延路にに沿って通過する。ここでトリガ
ビームとよばれる後者は、対象とする信号の生成を開始
し、ここでプローブビームとよばれる前者は１周波数分
散を受け、それが光ファイバ（３）から現われるとき高
周波数の前を進む低周波を生じる。
る。レーザパルスはスプリッタ（２）により、２つのビ
ームに分割される。１つのビームはレンズ（４）を経て
光ファイバ（３）中に伝搬し、他方は！！（１１）によ
り形成された遅延路にに沿って通過する。ここでトリガ
ビームとよばれる後者は、対象とする信号の生成を開始
し、ここでプローブビームとよばれる前者は１周波数分
散を受け、それが光ファイバ（３）から現われるとき高
周波数の前を進む低周波を生じる。
そのようなパルスは周波数掃引、波長掃引又は″チャー
プ″パルス（ｃｈｉｒｐｅｄ ｐｕｌｓｅ）とよんでも
よく、雑音とは別の好ましい周波数、分散をもつそのよ
うなパルスは、通過時間の関数として一方向性である。
プ″パルス（ｃｈｉｒｐｅｄ ｐｕｌｓｅ）とよんでも
よく、雑音とは別の好ましい周波数、分散をもつそのよ
うなパルスは、通過時間の関数として一方向性である。
従って、任意の一周波数をもつ光はパルスが通過する際
多くて一度だけ出会うのが好ましく、周波数と時間の間
は本質的に直線的な関係が便利で好ましい。周波数分散
は正でも負でもよい。すなわち、低周波数は高周波数の
前を移動してもよく、その逆でもよい。また両方の型の
分散を、たとえば適切に選んだ光ファイバにより生成さ
せることもできる０分散は他の手段によって生成させて
もよく１回折格子はこの目的に特に適していると考えら
れる。
多くて一度だけ出会うのが好ましく、周波数と時間の間
は本質的に直線的な関係が便利で好ましい。周波数分散
は正でも負でもよい。すなわち、低周波数は高周波数の
前を移動してもよく、その逆でもよい。また両方の型の
分散を、たとえば適切に選んだ光ファイバにより生成さ
せることもできる０分散は他の手段によって生成させて
もよく１回折格子はこの目的に特に適していると考えら
れる。
周波数掃引プローブパルスは偏光器（５）により偏光さ
れ、偏光になった光は光電子変調器（６）を通過し、そ
こでそれはデバイス（１３）から発生した電気信号によ
り位相変調される。鏡（１１）により形成された遅延線
の長さは、プローブパルスの通過により規定される光“
測定窓内で、確実に電気信号が到達するよう選ばれる。
れ、偏光になった光は光電子変調器（６）を通過し、そ
こでそれはデバイス（１３）から発生した電気信号によ
り位相変調される。鏡（１１）により形成された遅延線
の長さは、プローブパルスの通過により規定される光“
測定窓内で、確実に電気信号が到達するよう選ばれる。
対象とす゛る信号全体が、単一光パルスの通過により測
定できる。
定できる。
変調された光はこの時点でその強度が位相変調の関数と
して変調されるよう分析器（８）を通過する。（変調器
（６）が正味の位相遅れのゼロ次で動作するのを保障す
るように、偏光器（５）と偏光分析器（８）間に、補償
器（７）が含まれる。）強度変調出力パルスはスペクト
ル写真機中に向けられ、その検出器アレイはスペクトル
分析器に結合されている。
して変調されるよう分析器（８）を通過する。（変調器
（６）が正味の位相遅れのゼロ次で動作するのを保障す
るように、偏光器（５）と偏光分析器（８）間に、補償
器（７）が含まれる。）強度変調出力パルスはスペクト
ル写真機中に向けられ、その検出器アレイはスペクトル
分析器に結合されている。
検出器アレイからの出力は周波数の関数、従って時間依
存性の周波数分散により時間の関数として、変調された
パルスの空間的表示として見ることもできる。
存性の周波数分散により時間の関数として、変調された
パルスの空間的表示として見ることもできる。
動作のこの時点で、対象とする波形を再生するため、変
調されたパルスの形から、変調されていないパルスの形
を差引くことが可能である。もし変調されていないパル
スの形があらかじめ十分知られているならば、この差引
きは恒久的に蓄積された波形を参照することにより１行
なうことができる。あるいは、スペクトル分析器に変調
されていないパルスの形を供給するため、プローブビー
ムの光路に沿って１時々変調パルスを伝えるのも適当で
あるかもしれない。 これにはチョッパ（１２）がデバ
イス（１３）のトリガを防止することによる影響を与え
ると便利である。たとえば、くり返し動作の条件下で、
対象とする信号を検知し、スペクトル分析器に非変調パ
ルス波形を供給することには、トリガ動作と非トリガ動
作問で単純に変更させることにより、影響を与えること
ができる。くり返し動作は一列の各表示を平均化するこ
とにより、信号のなめらかになった表示を得るために使
用できる。
調されたパルスの形から、変調されていないパルスの形
を差引くことが可能である。もし変調されていないパル
スの形があらかじめ十分知られているならば、この差引
きは恒久的に蓄積された波形を参照することにより１行
なうことができる。あるいは、スペクトル分析器に変調
されていないパルスの形を供給するため、プローブビー
ムの光路に沿って１時々変調パルスを伝えるのも適当で
あるかもしれない。 これにはチョッパ（１２）がデバ
イス（１３）のトリガを防止することによる影響を与え
ると便利である。たとえば、くり返し動作の条件下で、
対象とする信号を検知し、スペクトル分析器に非変調パ
ルス波形を供給することには、トリガ動作と非トリガ動
作問で単純に変更させることにより、影響を与えること
ができる。くり返し動作は一列の各表示を平均化するこ
とにより、信号のなめらかになった表示を得るために使
用できる。
偏光器（５）、変調器（６）及び偏光分析器（８）は第
２図にも示されており、図は更に偏光分析器（８）から
出て移動する周波数掃引され変調された光パルス（２１
）を示す。対応する変調信号（３１）は変調器（６）に
沿って移動するよう示されている。また、変調器（６）
に向かって移動する第２の非変調プローブパルス（２２
）と、変調器（６）に沿って移動する第２の電気信号（
３２）も示されている。
２図にも示されており、図は更に偏光分析器（８）から
出て移動する周波数掃引され変調された光パルス（２１
）を示す。対応する変調信号（３１）は変調器（６）に
沿って移動するよう示されている。また、変調器（６）
に向かって移動する第２の非変調プローブパルス（２２
）と、変調器（６）に沿って移動する第２の電気信号（
３２）も示されている。
上で述べたように、短時間（広帯域）光パルスはフェム
ト秒パルスレーザから得ると便利である。紫外から赤外
までの光の範囲で間隔をおいて周波数をもつ適当なパル
スは、ピコ秒パルスの非線形周波数拡大のような他の手
段によっても得ることができる。
ト秒パルスレーザから得ると便利である。紫外から赤外
までの光の範囲で間隔をおいて周波数をもつ適当なパル
スは、ピコ秒パルスの非線形周波数拡大のような他の手
段によっても得ることができる。
上の説明は持続時間が変調信号のそれと同程度であるプ
ローブパルスの変調に関してであったが、対象とする信
号がより長い場合、遅延線を異なる長さに単に調整する
だけでそのような信号の部分の表示を得ることも可能で
ある。逆に、遅延線の長さを調整することは、プローブ
パルスの周波数分散を調べるために、はるかに短い信号
とともに用いることが可能である。たとえば、プローブ
パルス中の周波数分散の直線性は、もし受けた波形が変
調に用いられるプローブパルスの部分に独立であるなら
ば、導入することができる。
ローブパルスの変調に関してであったが、対象とする信
号がより長い場合、遅延線を異なる長さに単に調整する
だけでそのような信号の部分の表示を得ることも可能で
ある。逆に、遅延線の長さを調整することは、プローブ
パルスの周波数分散を調べるために、はるかに短い信号
とともに用いることが可能である。たとえば、プローブ
パルス中の周波数分散の直線性は、もし受けた波形が変
調に用いられるプローブパルスの部分に独立であるなら
ば、導入することができる。
最後に、上で述べたように、本発明は変調信号が、たと
えば声、データあるいは画像情報のような情報を表わす
通信の面をもつ。そのような用途において、パルス長を
減少させるという点で、変調前に分散のために用いられ
る媒体の分散特性と相補的な分散特性をもつ媒体を、変
調されたパルスを通過させることが望ましい。
えば声、データあるいは画像情報のような情報を表わす
通信の面をもつ。そのような用途において、パルス長を
減少させるという点で、変調前に分散のために用いられ
る媒体の分散特性と相補的な分散特性をもつ媒体を、変
調されたパルスを通過させることが望ましい。
本発明を通信に用いるとき、変調された光パルスのスペ
クトル分析は典型的な場合、かなりの距離を伝送された
後行なねれ、そのような伝送中、たとえば光ファイバの
ような分散媒体中で、かなりの大きさの意図しない周波
数分散が生じる可能性がある。受信機におけるスペクト
ル写真分析は、変調が伝送中の分散により影響を受けな
い通信の他の方法に加え２本発明の特別の利点を生じる
。
クトル分析は典型的な場合、かなりの距離を伝送された
後行なねれ、そのような伝送中、たとえば光ファイバの
ような分散媒体中で、かなりの大きさの意図しない周波
数分散が生じる可能性がある。受信機におけるスペクト
ル写真分析は、変調が伝送中の分散により影響を受けな
い通信の他の方法に加え２本発明の特別の利点を生じる
。
第１図に概略的に描かれた装置が、イオン注入ガリウム
ひ素光導電性検出器の電気的パルス応答を決めるため用
いられた。５０フ工ムト秒の幅と約９．５ナノメータ
の変換限界帯域を有する光パルスを、バランスのとれた
衝突パルスモードロック色素レーザにより、１００メガ
ヘルツの速度で発生させた。プローブパルスは約５０メ
ートルの長さをもつ偏光保持シングルモード光ファイバ
により、約３０ピコ秒の幅まで延ばされた。
ひ素光導電性検出器の電気的パルス応答を決めるため用
いられた。５０フ工ムト秒の幅と約９．５ナノメータ
の変換限界帯域を有する光パルスを、バランスのとれた
衝突パルスモードロック色素レーザにより、１００メガ
ヘルツの速度で発生させた。プローブパルスは約５０メ
ートルの長さをもつ偏光保持シングルモード光ファイバ
により、約３０ピコ秒の幅まで延ばされた。
電気信号が横切って伝搬される２５０ミクロン厚の平衡
線である定在波リチウムタンタレート光電子変調器に、
ガリウムひ素デバイスを固着させた。変調器の構成には
、この時点での全体強度が十分低い状態でも、伝送され
る光の変調深さが最大になるよう、ゼロ透過の近くまで
光学的にバイアスした。（小振幅信号の強調された変調
という点におけるそのようなバイアスは、ゼロ透過に近
い状態ですら、ピコ秒信号から生じた変調深さは１０−
３以下にでき、マルチチャネル分析器のダイナミックレ
ンジはわずかに約１０４となるため望ましい、） １０２４要素のレチコンアレイ及び○ＭＡ−■スペクト
ル分析器と組合せて、 ０．３メ一トルスペクトル写真
機を用いた。このシステムは約０．０４ナノメータの分
解能を′もち。
線である定在波リチウムタンタレート光電子変調器に、
ガリウムひ素デバイスを固着させた。変調器の構成には
、この時点での全体強度が十分低い状態でも、伝送され
る光の変調深さが最大になるよう、ゼロ透過の近くまで
光学的にバイアスした。（小振幅信号の強調された変調
という点におけるそのようなバイアスは、ゼロ透過に近
い状態ですら、ピコ秒信号から生じた変調深さは１０−
３以下にでき、マルチチャネル分析器のダイナミックレ
ンジはわずかに約１０４となるため望ましい、） １０２４要素のレチコンアレイ及び○ＭＡ−■スペクト
ル分析器と組合せて、 ０．３メ一トルスペクトル写真
機を用いた。このシステムは約０．０４ナノメータの分
解能を′もち。
プローブパルスのスペクトル内で２３７点を解像でき、
４２フ工ムト秒の分解能を生じる。
４２フ工ムト秒の分解能を生じる。
最初のパルス持続中の包絡線をとると、変調器の能力を
はるかに越える約６５フエムト秒の真の時間限界を生じ
た。（このシステムの時間限界は、最初のパルス持続時
間を、スペクトル写真機の分解能に対するパルス幅の比
で割った拡大されたパルス持続時間により与えられる時
間で包絡線をとることによって決めた。） ピークレベルの２分の１に対応するレベルで測定したと
き、約１０秒の幅をもつパルス信号表示が得られた。信
号は約５ピコ秒の立上がり時間を有した。
はるかに越える約６５フエムト秒の真の時間限界を生じ
た。（このシステムの時間限界は、最初のパルス持続時
間を、スペクトル写真機の分解能に対するパルス幅の比
で割った拡大されたパルス持続時間により与えられる時
間で包絡線をとることによって決めた。） ピークレベルの２分の１に対応するレベルで測定したと
き、約１０秒の幅をもつパルス信号表示が得られた。信
号は約５ピコ秒の立上がり時間を有した。
第１図は本発明に従う信号の伝送による時間依存性のあ
る電気的波形を評価するための装置又は素子の概略図； 第２図は第１図に示された装置の動作を認識するのに助
けとなる概略図である。 ［主要部分の符号の説明コ 光パルス・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・・３２変調パルス・・・・・・・・・・・
・・・・・・・・・・・・・・・２１図面の浄書（内容
に変更なし） ＦＩＧ、 ２ 手続補正書 昭和６２年 ７月１０１」 特許庁長官 小 川 邦 夫 殿 ■、・１９件の表示 昭和６２年特許願第１４２４１１号 ２、発明の名称 信号伝送方法 ３、特許出願人 テレグラフ カムパニー ４、代理人 氏 名 （６４４４）弁理士 岡 部 正 夫
゛− ５、補正の対象 「図 面」
る電気的波形を評価するための装置又は素子の概略図； 第２図は第１図に示された装置の動作を認識するのに助
けとなる概略図である。 ［主要部分の符号の説明コ 光パルス・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・・３２変調パルス・・・・・・・・・・・
・・・・・・・・・・・・・・・２１図面の浄書（内容
に変更なし） ＦＩＧ、 ２ 手続補正書 昭和６２年 ７月１０１」 特許庁長官 小 川 邦 夫 殿 ■、・１９件の表示 昭和６２年特許願第１４２４１１号 ２、発明の名称 信号伝送方法 ３、特許出願人 テレグラフ カムパニー ４、代理人 氏 名 （６４４４）弁理士 岡 部 正 夫
゛− ５、補正の対象 「図 面」
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、時間依存性をもつように光パルスの 振幅を変調し、変調されたパルスを伝送することを含む
信号伝送の方法において、 前記光パルスは時間依存性のスペクトル変 化をもつよう発生させ、伝送された変調パルスはスペク
トル成分に対して分析されることを特徴とする信号伝送
方法。 ２、特許請求の範囲第１項に記載された 方法において、 前記スペクトル変化は時間の関数として、 本質的に一方向性であることを特徴とする信号伝送方法
。 ３、特許請求の範囲第２項に記載された 方法において、 前記スペクトル変化は時間の関数として、 本質的に直線的であることを特徴とする信号伝送方法。 ４、特許請求の範囲第１項に記載された 方法において、 前記信号の表示は決定されたスペクトル成 分から得られることを特徴とする信号伝送方法。 ５、特許請求の範囲第１項に記載された 方法において、 前記信号はデバイスにより発生させること を特徴とする信号伝送方法。 ６、特許請求の範囲第１項に記載された 方法において、 前記信号は材料により発生させることを特 徴とする信号伝送方法。 ７、特許請求の範囲第１項に記載された 方法において、 前記光パルスの発生はレーザ又は光ファイ バ又はそれらの組合せによることを特徴とする信号伝送
方法。 ８、特許請求の範囲第１項に記載された 方法において、 前記振幅の変調は、光電子媒体を含む手段 によることを特徴とする信号伝送方法。 ９、特許請求の範囲第１項に記載された 方法において、 前記信号は前記光パルスと同期させて前記 変調手段に到達させることを特徴とする信号伝送方法。 １０、特許請求の範囲第１項に記載された 方法において、 前記方法は通信のプロセスにおいて少くと も１信号を伝送するために用いることを特徴とする信号
伝送方法。
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