JPS63111432A - 温度測定装置 - Google Patents
温度測定装置Info
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- JPS63111432A JPS63111432A JP25773286A JP25773286A JPS63111432A JP S63111432 A JPS63111432 A JP S63111432A JP 25773286 A JP25773286 A JP 25773286A JP 25773286 A JP25773286 A JP 25773286A JP S63111432 A JPS63111432 A JP S63111432A
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- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 8
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 description 5
- 238000009529 body temperature measurement Methods 0.000 description 4
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 description 3
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000032683 aging Effects 0.000 description 1
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 1
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 1
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Landscapes
- Measuring Temperature Or Quantity Of Heat (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は温度によって抵抗値が変化する測温抵抗素子を
利用した温度測定装置に関する。
利用した温度測定装置に関する。
(従来の技術)
測温抵抗素子を利用した温度測定の方式として・、(1
)標準抵抗と測温抵抗素子を直列に接続して直流電圧を
印加し、標準電圧と測温抵抗素子間の電圧を交互に測定
して抵抗素子の抵抗値、すなわちその温度を決定する方
式(日本工業規格28704)(2)基準電圧の変動に
左右されない交流を用いたトランス型レシオブリッジ方
式が知られている。
)標準抵抗と測温抵抗素子を直列に接続して直流電圧を
印加し、標準電圧と測温抵抗素子間の電圧を交互に測定
して抵抗素子の抵抗値、すなわちその温度を決定する方
式(日本工業規格28704)(2)基準電圧の変動に
左右されない交流を用いたトランス型レシオブリッジ方
式が知られている。
(発明が解決しようとする問題点)
しかしながら、上記(1)の方式では■熱起電力による
誤差が生じる■自動的に測定ができない■センサ内に水
漏れが生じたとき周囲の金属を含めて電蝕を起こす等の
欠点があり、又上記(2)の方式はケーブルを長く伸ば
したときのインダクタンス、静電容量によりインピーダ
ンスが変わり測定誤差の要因となる。
誤差が生じる■自動的に測定ができない■センサ内に水
漏れが生じたとき周囲の金属を含めて電蝕を起こす等の
欠点があり、又上記(2)の方式はケーブルを長く伸ば
したときのインダクタンス、静電容量によりインピーダ
ンスが変わり測定誤差の要因となる。
本発明は上記に鑑みてなされたもので、極性切換方式を
採用して平均値を取り、熱起電力の影響を排除すると共
にケーブル長による変動及び電蝕を防止する、基準電源
の変動に左右されない温度測定装置を提供するものであ
る。
採用して平均値を取り、熱起電力の影響を排除すると共
にケーブル長による変動及び電蝕を防止する、基準電源
の変動に左右されない温度測定装置を提供するものであ
る。
(問題点を解決するための手段)
本発明に係る温度測定装置は、
両極性の電圧を発生する定電圧源と、
上記定電圧源の電圧に比例する電流を変換形成する定電
流発生手段と、 上記定電圧源と定電流発生手段との間に介在され、定電
圧の極性を切換える切換手段と、上記定電流が流れる測
温抵抗素子と、 該測温抵抗素子両端間に発生する電圧と上記定電圧とか
ら該定電圧に比例した出力を送出するようになされた差
動増幅回路と、 該差動増幅回路出力と上記定電圧とから、差動増幅回路
出力/定電圧に相当する信号を出力する信号処理部と、 測温抵抗素子の抵抗値と温度との関係が予め書込まれ、
上記信号処理部の出力を温度データに換する変換手段と
から成る。
流発生手段と、 上記定電圧源と定電流発生手段との間に介在され、定電
圧の極性を切換える切換手段と、上記定電流が流れる測
温抵抗素子と、 該測温抵抗素子両端間に発生する電圧と上記定電圧とか
ら該定電圧に比例した出力を送出するようになされた差
動増幅回路と、 該差動増幅回路出力と上記定電圧とから、差動増幅回路
出力/定電圧に相当する信号を出力する信号処理部と、 測温抵抗素子の抵抗値と温度との関係が予め書込まれ、
上記信号処理部の出力を温度データに換する変換手段と
から成る。
(作 用)
第1図は本発明の基本構成を示すブロック図で、定電圧
発生回路1.2で等値且つ+、−の定電圧V REFが
発生され、切換スイッチ3によりその一方の電圧が出力
される。この出力電圧は電圧電流変換回路4で定電流I
を出力するように変換され、該定電流Iが測温抵抗素子
5に流れる。
発生回路1.2で等値且つ+、−の定電圧V REFが
発生され、切換スイッチ3によりその一方の電圧が出力
される。この出力電圧は電圧電流変換回路4で定電流I
を出力するように変換され、該定電流Iが測温抵抗素子
5に流れる。
測温抵抗素子5は周囲温度に比例した抵抗値を示し、そ
の両端電位Vl、V2は差動増幅回路6に導かれる。こ
の差動増幅回路6は例えばインスツルメンテーションア
ンプ(計測用増幅器)が好適で、第2図−点鎖線で示す
構成が一般的である。
の両端電位Vl、V2は差動増幅回路6に導かれる。こ
の差動増幅回路6は例えばインスツルメンテーションア
ンプ(計測用増幅器)が好適で、第2図−点鎖線で示す
構成が一般的である。
同構成において、出力■8は
vx=−A (V、−V2)+BV、、。
=RtI (Rt−は素子5の抵抗値)と表わせる。従
って、 VX =−A’Rt I +BV*tr但し、RoはU
4の反転端子に接続された抵抗。
って、 VX =−A’Rt I +BV*tr但し、RoはU
4の反転端子に接続された抵抗。
該出力■8は信号処理部7でVx/VREr、すなわち
Rtにのみ関係する信号に変換処理され、更にRt−温
度の特性から温度が換算して求められる。
Rtにのみ関係する信号に変換処理され、更にRt−温
度の特性から温度が換算して求められる。
制御部8は各回路のタイミング信号を送出したり、又上
記R1−温度の関係から換算を行う。
記R1−温度の関係から換算を行う。
(実施例)
第2図は、本発明の一実施例を示す回路図である。
同図において、Zhは所定の定電圧を作るツェナーダイ
オード、Ulは負荷のインピーダンス変化に対してレベ
ルが変化しない、所謂理想定電圧源に近づけるためのオ
ペアンプ、U2は逆極性の定電圧源を形成するオペアン
プである。
オード、Ulは負荷のインピーダンス変化に対してレベ
ルが変化しない、所謂理想定電圧源に近づけるためのオ
ペアンプ、U2は逆極性の定電圧源を形成するオペアン
プである。
3は制御部8からの制御パルス(例えば信号a、第3図
参照)により、交互に切換えられるスイッチである。
参照)により、交互に切換えられるスイッチである。
4は電圧電流変換回路で、オペアンプU3、U4、トラ
ンジスタQl、Q2及び抵抗Ro等から構成される。オ
ペアンプU3はアナログのスイッチ3による出力インピ
ーダンスを極めて小さくする、インピーダンス変換のた
めのボルテージフォロアとして機能し、負荷のインピー
ダンスの変化にも拘らず出力として常にVREF (
又は−VREI”)を送出する。このオペアンプU3の
出力はオペアンプU4の非反転端子(+側)に送入され
る。オペアンプは理想的には反転端子(−)と非反転端
子(+)とか同一電位となる。従って、スイッチ3で十
VREF’が出力されるときは上記両端子は共に+V
REFとなる。すなわち、オペアンプU4の反転端子に
接続された抵抗R0には電流1=VRεr / Raが
流れる。そして、測温抵抗素子5の抵抗値Rtが変化し
ても同一電流値が維持されるようにオペアンプU4はそ
の出力を変化させる。トランジスタQ1.Q2は電流増
幅用として用いられる。
ンジスタQl、Q2及び抵抗Ro等から構成される。オ
ペアンプU3はアナログのスイッチ3による出力インピ
ーダンスを極めて小さくする、インピーダンス変換のた
めのボルテージフォロアとして機能し、負荷のインピー
ダンスの変化にも拘らず出力として常にVREF (
又は−VREI”)を送出する。このオペアンプU3の
出力はオペアンプU4の非反転端子(+側)に送入され
る。オペアンプは理想的には反転端子(−)と非反転端
子(+)とか同一電位となる。従って、スイッチ3で十
VREF’が出力されるときは上記両端子は共に+V
REFとなる。すなわち、オペアンプU4の反転端子に
接続された抵抗R0には電流1=VRεr / Raが
流れる。そして、測温抵抗素子5の抵抗値Rtが変化し
ても同一電流値が維持されるようにオペアンプU4はそ
の出力を変化させる。トランジスタQ1.Q2は電流増
幅用として用いられる。
このようにして、測温抵抗素子5には常に一定電流■が
流れ、その両端間の電圧(前述したvl、V2)が差動
増幅回路6のオペアンプU;、、U6の非反転端子に各
々印加され、出力vXとして前記(1)式の電圧信号が
オペアンプU7から出力される。オベアゾプUs、Us
として高入力インピーダンスのものを選択すると、測温
抵抗素子5の接続ケーブルのインピーダンスは無視でき
る。
流れ、その両端間の電圧(前述したvl、V2)が差動
増幅回路6のオペアンプU;、、U6の非反転端子に各
々印加され、出力vXとして前記(1)式の電圧信号が
オペアンプU7から出力される。オベアゾプUs、Us
として高入力インピーダンスのものを選択すると、測温
抵抗素子5の接続ケーブルのインピーダンスは無視でき
る。
信号処理部7は前述のV x / V REFを求める
ためのもので、A−D変換して単に除算する方式でも可
能であるし、本実施例の如く積分回路71とカウンタ7
2とから構成されるものも考えられる。この積分回路7
1にはオペアンプUl、U7からそれぞれvX 、V
RErが入力されており、入力端子に比例したランプ出
力を発生する。従って、Vxが入力されたときはその値
に応じて勾配が異なるが、■□8.に対しては常に一定
の勾配を有するようになされており、このような回路は
新しいものではなく数年来よく使われているものである
。
ためのもので、A−D変換して単に除算する方式でも可
能であるし、本実施例の如く積分回路71とカウンタ7
2とから構成されるものも考えられる。この積分回路7
1にはオペアンプUl、U7からそれぞれvX 、V
RErが入力されており、入力端子に比例したランプ出
力を発生する。従って、Vxが入力されたときはその値
に応じて勾配が異なるが、■□8.に対しては常に一定
の勾配を有するようになされており、このような回路は
新しいものではなく数年来よく使われているものである
。
積分は制御回路8からのパルスa(第3図参照)により
電圧■×が印加されて第1の積分が、パルスb(第3図
)により電圧V REFが印加されて第2の積分が行わ
れる(第3図、C)。
電圧■×が印加されて第1の積分が、パルスb(第3図
)により電圧V REFが印加されて第2の積分が行わ
れる(第3図、C)。
スイッチ3は制御回路8からの信号によりパルスaと同
時又はその直前に切換えられ、VX(又は−VX)が積
分開始時点から安定的に印加されるようになされている
。
時又はその直前に切換えられ、VX(又は−VX)が積
分開始時点から安定的に印加されるようになされている
。
上記第1の積分の期間(t2−t+ )は予め設定され
た時間である。
た時間である。
今、t1=0とおくと、
第1の積分波形eは
e=kVx t ・・・・・・・・・・・・・・・・
・・ (2)kは比例定数 と表わせ、時間t2において e=kVxt2 ・・・・・・・・・・・・・・・
(2)′となる。
・・ (2)kは比例定数 と表わせ、時間t2において e=kVxt2 ・・・・・・・・・・・・・・・
(2)′となる。
第2図の積分はV IIEFが逆極性で印加され、時刻
t2から出力がOVになる時刻t3まで行われる。
t2から出力がOVになる時刻t3まで行われる。
この間の積分波形eは
e = k Vpcr(t −t2) + ex
””” (3)と表わせる。
””” (3)と表わせる。
そして、時刻t3においては
0 ”−k VnEr(t3− t、)+ ax−’、
ex = k VRtr(ts −t2) ・”=
(3)′ここで、(2)′を(3)′に代入すると、
の如く、t3の関数として表わされる(t2は一定)。
ex = k VRtr(ts −t2) ・”=
(3)′ここで、(2)′を(3)′に代入すると、
の如く、t3の関数として表わされる(t2は一定)。
すなわち、この (4) 式より、t、〜t。
の時間を測ればV X / V REFが逆算しえるこ
ととなる。
ととなる。
なお、次の周期ではスイッチ3が切換えられ、逆極性の
ランプ出力を発生させて熱起電力による影響を排除する
ようにしている。周期Tは数百ミリ秒程度より計測可能
である。
ランプ出力を発生させて熱起電力による影響を排除する
ようにしている。周期Tは数百ミリ秒程度より計測可能
である。
積分回路71はゼロクロス検出回路(図示せず)も有し
ており、時刻1..13のタイミングを検出する。この
検出信号は次段カウンタ72に導かれ、その間時間パル
スd(第3図)を計数して時間に相当する信号を形成す
る。
ており、時刻1..13のタイミングを検出する。この
検出信号は次段カウンタ72に導かれ、その間時間パル
スd(第3図)を計数して時間に相当する信号を形成す
る。
制御回路8は前記 (1)式の計算式又は変換テーブル
及び抵抗Rtと周期温度との換算式又は換算テーブルを
備えており、上記時間信号から周囲温度を求める。極性
の異なる状態における2種類の温度データは更に平均化
されて出力、表示されても良い。
及び抵抗Rtと周期温度との換算式又は換算テーブルを
備えており、上記時間信号から周囲温度を求める。極性
の異なる状態における2種類の温度データは更に平均化
されて出力、表示されても良い。
なお、本実施例では積分回路71へのV R1F’人力
をオペアンプU1からとしているが、十−をスイッチ3
と連動して、すなわち、オペアンプU。
をオペアンプU1からとしているが、十−をスイッチ3
と連動して、すなわち、オペアンプU。
とU2とが切換わるようにしておけば+−の電圧VR1
は必らずしも同値である必要はない。
は必らずしも同値である必要はない。
(発明の効果)
以上説明したように、本発明によれば、オペアンプU、
、U、の出力V Ill:FがツェナーダイオードZ
hの経年変化その他により多少変動しても、その変動に
連動して測温抵抗素子5を流れる電流Iも変化し、又オ
ペアンプL+7%積分回路71への入力端子もV RE
F自体であるため、前記(1)及び(4)式に何等の影
響はなく、常に正確な測温が可能である。
、U、の出力V Ill:FがツェナーダイオードZ
hの経年変化その他により多少変動しても、その変動に
連動して測温抵抗素子5を流れる電流Iも変化し、又オ
ペアンプL+7%積分回路71への入力端子もV RE
F自体であるため、前記(1)及び(4)式に何等の影
響はなく、常に正確な測温が可能である。
また、インピーダンス変化を施しているため、測温抵抗
素子5の接続扮−ブルのインピーダンス分を効果的に無
視しえるので高精度の測温が期待できる。
素子5の接続扮−ブルのインピーダンス分を効果的に無
視しえるので高精度の測温が期待できる。
更に、スイッチ3を自動釣に切換えるため迅速な測温が
できると共に+、−の電流を用いるため熱起電力による
誤差及び電蝕の問題も解消される。
できると共に+、−の電流を用いるため熱起電力による
誤差及び電蝕の問題も解消される。
又、積分回路を用いるためノイズ等に影響されにくい。
第1図は本発明の基本構成を示すブロク図である。
第2図は本発明の一実施例を示す回路図である。
第3図は波形図である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 +、−V_R_E_Fなる電圧を発生する定電圧源と、
測温抵抗素子と 上記定電圧源の電圧に比例し、測温抵抗素子に定電流を
供給する定電流発生手段と、 上記定電圧源と定電流発生手段との間に介在され、定電
圧源からの出力電圧の極性を切換えるスイッチと、 測温抵抗素子両端間の電圧と定電圧V_R_E_Fとか
ら該V_R_E_F、に比例する電圧V_Xを出力する
増幅回路と、 V_X/V_R_E_Fに相当する信号を出力する信号
処理手段と、 測温抵抗素子の抵抗値と温度との関係が予め書込まれ、
上記信号処理手段の出力を温度データに換算する換算手
段とから成る温度測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25773286A JPS63111432A (ja) | 1986-10-28 | 1986-10-28 | 温度測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25773286A JPS63111432A (ja) | 1986-10-28 | 1986-10-28 | 温度測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63111432A true JPS63111432A (ja) | 1988-05-16 |
Family
ID=17310325
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP25773286A Pending JPS63111432A (ja) | 1986-10-28 | 1986-10-28 | 温度測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63111432A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2018078823A1 (ja) * | 2016-10-28 | 2018-05-03 | 三菱電機株式会社 | アナログデジタル変換装置及びアナログデジタル変換方法 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS503660A (ja) * | 1973-05-14 | 1975-01-16 | ||
| JPS5525284B2 (ja) * | 1977-07-29 | 1980-07-04 | ||
| JPS56120929A (en) * | 1980-02-28 | 1981-09-22 | Nagano Keiki Seisakusho:Kk | Measuring device for temperature |
-
1986
- 1986-10-28 JP JP25773286A patent/JPS63111432A/ja active Pending
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS503660A (ja) * | 1973-05-14 | 1975-01-16 | ||
| JPS5525284B2 (ja) * | 1977-07-29 | 1980-07-04 | ||
| JPS56120929A (en) * | 1980-02-28 | 1981-09-22 | Nagano Keiki Seisakusho:Kk | Measuring device for temperature |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2018078823A1 (ja) * | 2016-10-28 | 2018-05-03 | 三菱電機株式会社 | アナログデジタル変換装置及びアナログデジタル変換方法 |
| JP6338802B1 (ja) * | 2016-10-28 | 2018-06-06 | 三菱電機株式会社 | アナログデジタル変換装置及びアナログデジタル変換方法 |
| US10608657B2 (en) | 2016-10-28 | 2020-03-31 | Mitsubishi Electric Corporation | Analog-to-digital conversion apparatus and analog-to-digital conversion method |
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