JPS6311663A - SiC薄膜 - Google Patents
SiC薄膜Info
- Publication number
- JPS6311663A JPS6311663A JP61151664A JP15166486A JPS6311663A JP S6311663 A JPS6311663 A JP S6311663A JP 61151664 A JP61151664 A JP 61151664A JP 15166486 A JP15166486 A JP 15166486A JP S6311663 A JPS6311663 A JP S6311663A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sic
- thin film
- beo
- mixed
- target
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C14/00—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
- C23C14/22—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
- C23C14/34—Sputtering
- C23C14/3407—Cathode assembly for sputtering apparatus, e.g. Target
- C23C14/3414—Metallurgical or chemical aspects of target preparation, e.g. casting, powder metallurgy
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Ceramic Products (AREA)
- Physical Vapour Deposition (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、熱伝導性、および電気絶縁性に優れた薄膜で
、特に、主成分がSiCから成る高熱伝導・電気絶縁性
薄膜に関する。
、特に、主成分がSiCから成る高熱伝導・電気絶縁性
薄膜に関する。
エレクトロニクスの発達に伴い、各種電子デバイス材料
は、年々、機能性の高い新素材が見い出されている。そ
の作製には、蒸着法、化学気相めっき法、スパッタリン
グ法等の薄膜化技術が広く応用されており、これらは製
造プロセスの主流となっている。
は、年々、機能性の高い新素材が見い出されている。そ
の作製には、蒸着法、化学気相めっき法、スパッタリン
グ法等の薄膜化技術が広く応用されており、これらは製
造プロセスの主流となっている。
一方、数年前から新素材として注目を集めているニュー
セラミックスは1強度、熱伝導性、電気絶縁性、耐摩耗
性等の性質が他の材料には見られない優れた特性を示す
。特に、SiCは高温領域での強度、耐熱性、耐食性、
耐摩耗性が他のセラミックス材より優れているばかりで
はなく、半導体としての性質ももつため広い分野で実用
化されている。なかでも、SiCにBeOを焼結助剤と
してホットプレス法で作製した焼結材は金属アルミニウ
ム並みの熱伝導性、及び、高い電気抵抗を示し、°高熱
伝導・電気絶縁材料として使用されている。(特開昭5
7−166366号公報参照。)〔発明が解決しようと
する問題点〕 上記、従来の高熱伝導・電気絶縁性のSiCは焼結体で
あり、半導体用基板や機械部品への応用がなされている
。一方、各種電子デバイスは、年年、高密度、高速化の
傾向にあり、素子の発熱がデバイスの寿命を短かくする
と同時に、使用条件面で限界がある。このため、新機能
性をもつ薄膜の要求が強い。
セラミックスは1強度、熱伝導性、電気絶縁性、耐摩耗
性等の性質が他の材料には見られない優れた特性を示す
。特に、SiCは高温領域での強度、耐熱性、耐食性、
耐摩耗性が他のセラミックス材より優れているばかりで
はなく、半導体としての性質ももつため広い分野で実用
化されている。なかでも、SiCにBeOを焼結助剤と
してホットプレス法で作製した焼結材は金属アルミニウ
ム並みの熱伝導性、及び、高い電気抵抗を示し、°高熱
伝導・電気絶縁材料として使用されている。(特開昭5
7−166366号公報参照。)〔発明が解決しようと
する問題点〕 上記、従来の高熱伝導・電気絶縁性のSiCは焼結体で
あり、半導体用基板や機械部品への応用がなされている
。一方、各種電子デバイスは、年年、高密度、高速化の
傾向にあり、素子の発熱がデバイスの寿命を短かくする
と同時に、使用条件面で限界がある。このため、新機能
性をもつ薄膜の要求が強い。
本発明の目的は、焼結材で高熱伝導・電気絶縁性を示す
SiC薄膜を提供することにある。
SiC薄膜を提供することにある。
(問題点を解決するための手段〕
上記目的は、SiCにBeOが含有した焼結材を、スパ
ッタリング法を用いて薄膜化することにより達成される
。
ッタリング法を用いて薄膜化することにより達成される
。
SiCは高融点であり、また、焼結助剤との蒸気圧が大
きく異なるため、溶融を原理的に用いる蒸着法ではSi
Cを薄膜にすることは困難である。
きく異なるため、溶融を原理的に用いる蒸着法ではSi
Cを薄膜にすることは困難である。
そこで、物体にイオンをあてて、物体を形成する粒子を
たたきだすことを原理するスパッタリング法を用いて高
熱伝導・電気絶縁性SiCの薄膜を作製する。
たたきだすことを原理するスパッタリング法を用いて高
熱伝導・電気絶縁性SiCの薄膜を作製する。
以下、本発明の実施例を示す。
SiCにBeOを含有して成る焼結材の作製は。
SiC粉末にBe○粉末を焼結助剤として混合しホット
プレスする。ホットプレス条件は、圧力300kg−f
/ad 、温度2100”C、時間1hrである。
プレスする。ホットプレス条件は、圧力300kg−f
/ad 、温度2100”C、時間1hrである。
次に、ホットプレスしt= S i Cをスパッタリン
グ・ターゲットとするため100φXStに成形後。
グ・ターゲットとするため100φXStに成形後。
120φX4tの銅製のプレート上に銀ろう付げにより
接着する。この形状のスパッタリング・ターゲットは、
高周波マグネトロンスパッタ装置で薄膜化する。スパッ
タリング条件は、パワー200W、ガス圧I X 10
−”Torr (A rガス)。
接着する。この形状のスパッタリング・ターゲットは、
高周波マグネトロンスパッタ装置で薄膜化する。スパッ
タリング条件は、パワー200W、ガス圧I X 10
−”Torr (A rガス)。
基板温度500℃以上2時間15〜60m1nである。
このとき、基板温度を500℃以下でスパッタリングす
ると、形成された膜は非晶質となり、電気抵抗が低くな
る。基板温度500℃以上になると、結晶化したSiC
にBeOが混入された膜となり、電気抵抗が高くなる。
ると、形成された膜は非晶質となり、電気抵抗が低くな
る。基板温度500℃以上になると、結晶化したSiC
にBeOが混入された膜となり、電気抵抗が高くなる。
本実施例によれば、SiOにBeOを焼結助剤としてホ
ットプレス法により作製した基材をスパッタリング・タ
ーゲットとし、基板温度500℃以上でスパッタリング
することにより高熱伝導・電気絶縁性薄膜が作製できる
。
ットプレス法により作製した基材をスパッタリング・タ
ーゲットとし、基板温度500℃以上でスパッタリング
することにより高熱伝導・電気絶縁性薄膜が作製できる
。
本発明によれば、高熱伝導・電気絶縁性SiC薄膜が得
られ、また、強度、耐食性、耐摩耗性。
られ、また、強度、耐食性、耐摩耗性。
耐放射線性にも優れた薄膜として広い分野へ用いられる
。
。
Claims (1)
- 1、SiCにBeOを含有した材料を薄膜にしたことを
特徴とするSiC薄膜。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61151664A JPS6311663A (ja) | 1986-06-30 | 1986-06-30 | SiC薄膜 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61151664A JPS6311663A (ja) | 1986-06-30 | 1986-06-30 | SiC薄膜 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6311663A true JPS6311663A (ja) | 1988-01-19 |
Family
ID=15523528
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61151664A Pending JPS6311663A (ja) | 1986-06-30 | 1986-06-30 | SiC薄膜 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6311663A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0339468A (ja) * | 1989-07-06 | 1991-02-20 | Mitsui Eng & Shipbuild Co Ltd | ハイドロキシアパタイト質ターゲット |
-
1986
- 1986-06-30 JP JP61151664A patent/JPS6311663A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0339468A (ja) * | 1989-07-06 | 1991-02-20 | Mitsui Eng & Shipbuild Co Ltd | ハイドロキシアパタイト質ターゲット |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| McLean et al. | Tantalum-film technology | |
| CN116695079B (zh) | 一种导热绝缘金刚石复合材料基板及其制备方法和应用 | |
| US4276535A (en) | Thermistor | |
| CN102314978A (zh) | 高性能薄膜电阻及其制备方法 | |
| CN112376028A (zh) | 一种Sn掺杂Ge2Sb2Te5热电薄膜及其制备方法 | |
| JPH0995785A (ja) | 任意の電気抵抗率を有する熱分解窒化ホウ素成形体の製造方法 | |
| JPS6311663A (ja) | SiC薄膜 | |
| JPS58212940A (ja) | マイクロ波回路用基板およびその製造方法 | |
| JPH0513616A (ja) | 高熱伝導性絶縁基板およびその製法 | |
| JP4015075B2 (ja) | ヒートシンク、その製造方法および半導体装置 | |
| JPS60181269A (ja) | スパツタ−タ−ゲツト | |
| JPS60128625A (ja) | 半導体素子搭載用基板 | |
| JPH04128369A (ja) | 炭化珪素スパッタリング用ターゲット及びその製造方法 | |
| JP2016181571A (ja) | 窒化チタン薄膜熱電半導体、その製造方法及び熱電発電素子 | |
| JPS58103156A (ja) | 半導体素子塔載用基板 | |
| JP4133894B2 (ja) | 熱電変換素子およびその製造方法 | |
| KR101994945B1 (ko) | 반도체 제조에 사용되는 면상 발열체 및 이의 제조방법 | |
| JPS5848954A (ja) | テ−プキヤリア型ic用基板 | |
| JPH038707A (ja) | n型Fe珪化物熱電変換材料 | |
| JP2549307B2 (ja) | 熱電材料 | |
| CN100369161C (zh) | 恒电阻率薄膜材料及其制备方法 | |
| JP2000012665A (ja) | セラミックス部品 | |
| JPH0786379A (ja) | 半導体製造用サセプタ | |
| JPS60253202A (ja) | 炭化珪素質サ−ミスタ | |
| RU174676U1 (ru) | Теплопроводящая прокладка для охлаждения изделий электроники |