JPS6311663A - SiC薄膜 - Google Patents

SiC薄膜

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Publication number
JPS6311663A
JPS6311663A JP61151664A JP15166486A JPS6311663A JP S6311663 A JPS6311663 A JP S6311663A JP 61151664 A JP61151664 A JP 61151664A JP 15166486 A JP15166486 A JP 15166486A JP S6311663 A JPS6311663 A JP S6311663A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sic
thin film
beo
mixed
target
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP61151664A
Other languages
English (en)
Inventor
Yuji Miura
裕二 三浦
Noboru Baba
昇 馬場
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
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Publication of JPS6311663A publication Critical patent/JPS6311663A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/22Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
    • C23C14/34Sputtering
    • C23C14/3407Cathode assembly for sputtering apparatus, e.g. Target
    • C23C14/3414Metallurgical or chemical aspects of target preparation, e.g. casting, powder metallurgy

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Ceramic Products (AREA)
  • Physical Vapour Deposition (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、熱伝導性、および電気絶縁性に優れた薄膜で
、特に、主成分がSiCから成る高熱伝導・電気絶縁性
薄膜に関する。
〔従来の技術〕
エレクトロニクスの発達に伴い、各種電子デバイス材料
は、年々、機能性の高い新素材が見い出されている。そ
の作製には、蒸着法、化学気相めっき法、スパッタリン
グ法等の薄膜化技術が広く応用されており、これらは製
造プロセスの主流となっている。
一方、数年前から新素材として注目を集めているニュー
セラミックスは1強度、熱伝導性、電気絶縁性、耐摩耗
性等の性質が他の材料には見られない優れた特性を示す
。特に、SiCは高温領域での強度、耐熱性、耐食性、
耐摩耗性が他のセラミックス材より優れているばかりで
はなく、半導体としての性質ももつため広い分野で実用
化されている。なかでも、SiCにBeOを焼結助剤と
してホットプレス法で作製した焼結材は金属アルミニウ
ム並みの熱伝導性、及び、高い電気抵抗を示し、°高熱
伝導・電気絶縁材料として使用されている。(特開昭5
7−166366号公報参照。)〔発明が解決しようと
する問題点〕 上記、従来の高熱伝導・電気絶縁性のSiCは焼結体で
あり、半導体用基板や機械部品への応用がなされている
。一方、各種電子デバイスは、年年、高密度、高速化の
傾向にあり、素子の発熱がデバイスの寿命を短かくする
と同時に、使用条件面で限界がある。このため、新機能
性をもつ薄膜の要求が強い。
本発明の目的は、焼結材で高熱伝導・電気絶縁性を示す
SiC薄膜を提供することにある。
(問題点を解決するための手段〕 上記目的は、SiCにBeOが含有した焼結材を、スパ
ッタリング法を用いて薄膜化することにより達成される
〔作用〕
SiCは高融点であり、また、焼結助剤との蒸気圧が大
きく異なるため、溶融を原理的に用いる蒸着法ではSi
Cを薄膜にすることは困難である。
そこで、物体にイオンをあてて、物体を形成する粒子を
たたきだすことを原理するスパッタリング法を用いて高
熱伝導・電気絶縁性SiCの薄膜を作製する。
〔実施例〕
以下、本発明の実施例を示す。
SiCにBeOを含有して成る焼結材の作製は。
SiC粉末にBe○粉末を焼結助剤として混合しホット
プレスする。ホットプレス条件は、圧力300kg−f
/ad 、温度2100”C、時間1hrである。
次に、ホットプレスしt= S i Cをスパッタリン
グ・ターゲットとするため100φXStに成形後。
120φX4tの銅製のプレート上に銀ろう付げにより
接着する。この形状のスパッタリング・ターゲットは、
高周波マグネトロンスパッタ装置で薄膜化する。スパッ
タリング条件は、パワー200W、ガス圧I X 10
−”Torr (A rガス)。
基板温度500℃以上2時間15〜60m1nである。
このとき、基板温度を500℃以下でスパッタリングす
ると、形成された膜は非晶質となり、電気抵抗が低くな
る。基板温度500℃以上になると、結晶化したSiC
にBeOが混入された膜となり、電気抵抗が高くなる。
本実施例によれば、SiOにBeOを焼結助剤としてホ
ットプレス法により作製した基材をスパッタリング・タ
ーゲットとし、基板温度500℃以上でスパッタリング
することにより高熱伝導・電気絶縁性薄膜が作製できる
〔発明の効果〕
本発明によれば、高熱伝導・電気絶縁性SiC薄膜が得
られ、また、強度、耐食性、耐摩耗性。
耐放射線性にも優れた薄膜として広い分野へ用いられる

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、SiCにBeOを含有した材料を薄膜にしたことを
    特徴とするSiC薄膜。
JP61151664A 1986-06-30 1986-06-30 SiC薄膜 Pending JPS6311663A (ja)

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JP61151664A JPS6311663A (ja) 1986-06-30 1986-06-30 SiC薄膜

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JP61151664A JPS6311663A (ja) 1986-06-30 1986-06-30 SiC薄膜

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JPS6311663A true JPS6311663A (ja) 1988-01-19

Family

ID=15523528

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JP61151664A Pending JPS6311663A (ja) 1986-06-30 1986-06-30 SiC薄膜

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JP (1) JPS6311663A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0339468A (ja) * 1989-07-06 1991-02-20 Mitsui Eng & Shipbuild Co Ltd ハイドロキシアパタイト質ターゲット

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0339468A (ja) * 1989-07-06 1991-02-20 Mitsui Eng & Shipbuild Co Ltd ハイドロキシアパタイト質ターゲット

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