JPS63117206A - 塗装面測定装置 - Google Patents
塗装面測定装置Info
- Publication number
- JPS63117206A JPS63117206A JP61263608A JP26360886A JPS63117206A JP S63117206 A JPS63117206 A JP S63117206A JP 61263608 A JP61263608 A JP 61263608A JP 26360886 A JP26360886 A JP 26360886A JP S63117206 A JPS63117206 A JP S63117206A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- pattern
- painted surface
- output signal
- slit
- patterns
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Image Processing (AREA)
- Image Analysis (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
本発明は塗装面の良否を定量的に測定する塗装面測定装
置に関するものでおる。
置に関するものでおる。
［従来の技術］
車両ボデー等の塗装面の良否は従来熟練工による目視等
の官能検査によっているため、その評価が主観に大きく
左右され、かつ生産工程を自動化する場合のネックとな
っている。
の官能検査によっているため、その評価が主観に大きく
左右され、かつ生産工程を自動化する場合のネックとな
っている。
ところで、塗装面の良否は光沢とゆず肌をその因子とし
ていることが知られており、光沢度が大きくゆず肌度が
小ざいほど良い塗装面と言える。
ていることが知られており、光沢度が大きくゆず肌度が
小ざいほど良い塗装面と言える。
そこで、光沢度とゆず肌度をそれぞれ定量的に測定する
装置が提案されている（［計測と制御］ＶＯρ２３ＮＱ
３（昭和５９年３月）５４〜５８ページ、計測自動制御
学会発行）。
装置が提案されている（［計測と制御］ＶＯρ２３ＮＱ
３（昭和５９年３月）５４〜５８ページ、計測自動制御
学会発行）。
これは塗装面に明暗のパターンを投影して、該パターン
の暗部から明部へ移る時の光量変化度より光沢度を算出
し、また投影された格子パターンのゆがみ率よりゆず肌
度を算出する。また特開昭５８−９７６０８号では被測
定面の鮮明度、光沢必るいは表面粗さを定優化する装置
が提案されている。これは被測定面へ明暗を有する矩形
波パターンを投影し、その反射像を結像面上に投影結像
し、結像面上の空間的光強度分布をフーリエ変換して特
定空間周波数における光パワー強度から表面性状を測定
する。
の暗部から明部へ移る時の光量変化度より光沢度を算出
し、また投影された格子パターンのゆがみ率よりゆず肌
度を算出する。また特開昭５８−９７６０８号では被測
定面の鮮明度、光沢必るいは表面粗さを定優化する装置
が提案されている。これは被測定面へ明暗を有する矩形
波パターンを投影し、その反射像を結像面上に投影結像
し、結像面上の空間的光強度分布をフーリエ変換して特
定空間周波数における光パワー強度から表面性状を測定
する。
発明者らは、塗装面の良否を定量的に測定する上で、上
記各提案の装置の如く必ずしも光沢度とゆず肌度ないし
表面粗さを分離して測定する必要はなく、むしろ塗装面
の良否はこれら両者の相乗効果であるから、上記両者の
効果が混在した状態においても正確に塗装面の良否が測
定できることに想到し、特願昭５９−１９７７０５号に
おいて、塗装面にスリットパターンを投影してその反射
像の明度より塗装の仕上り度を知る塗装面測定装置を提
案した。
記各提案の装置の如く必ずしも光沢度とゆず肌度ないし
表面粗さを分離して測定する必要はなく、むしろ塗装面
の良否はこれら両者の相乗効果であるから、上記両者の
効果が混在した状態においても正確に塗装面の良否が測
定できることに想到し、特願昭５９−１９７７０５号に
おいて、塗装面にスリットパターンを投影してその反射
像の明度より塗装の仕上り度を知る塗装面測定装置を提
案した。
［発明が解決しようとする問題点］
ところで、実際の車両ボデー等の塗装面を発明者らが先
に提案した装置で測定する場合、塗装面には部分的に様
々の強度の外乱光が入射し、また、文字を含む多色塗装
等では塗色により反射係数が異なってこれらが測定誤差
の原因となっていた。
に提案した装置で測定する場合、塗装面には部分的に様
々の強度の外乱光が入射し、また、文字を含む多色塗装
等では塗色により反射係数が異なってこれらが測定誤差
の原因となっていた。
ざらには、装置内の特に電気的ノイズ等により測定値が
変動して正確な測定ができないという問題もあった。
変動して正確な測定ができないという問題もあった。
本発明はかかる現状に鑑みて先に提案した装置の改良を
図るもので、部分的な外乱光の影響を受けることなく、
しかも電気的ノイズ等による測定値の変動を効果的に抑
えて正確に塗装面の仕上り度を測定できる塗装面測定装
置を提供することを目的とする。
図るもので、部分的な外乱光の影響を受けることなく、
しかも電気的ノイズ等による測定値の変動を効果的に抑
えて正確に塗装面の仕上り度を測定できる塗装面測定装
置を提供することを目的とする。
［問題点を解決するための手段］
本発明の構成を第１図、第２図で説明する。塗装面４に
対向してパターン板１が設けられ、該パターン板１には
スリットパターン１ｂがその長手方向へ等間隔で複数形
成されるとともに、各スリットパターン１ｂに近接せし
めて基準パターン１ａが形成しておる。撮像手段２が設
けられ、上記塗装面４により反射形成された上記パター
ン板１の反射像を結像して該反射像の上記各スリットパ
ターン１ｂおよび基準パターン１ａの明度に応じた出力
信号ｘｎ、ｘｒｎを発する。
対向してパターン板１が設けられ、該パターン板１には
スリットパターン１ｂがその長手方向へ等間隔で複数形
成されるとともに、各スリットパターン１ｂに近接せし
めて基準パターン１ａが形成しておる。撮像手段２が設
けられ、上記塗装面４により反射形成された上記パター
ン板１の反射像を結像して該反射像の上記各スリットパ
ターン１ｂおよび基準パターン１ａの明度に応じた出力
信号ｘｎ、ｘｒｎを発する。
第１の信号予測手段が設けられ、上記各基準パターン１
ａより得られる出力信号Ｘｒｎを、当該基準パターン１
ａの前ないし後の所定数の基準パターンの出力信号より
算出した予想値と比較して上記出力信号Ｘｒｎと上記予
想値が一定量以上異なる場合には上記予想値を出力信号
Ｘｒｎとして置き換える。
ａより得られる出力信号Ｘｒｎを、当該基準パターン１
ａの前ないし後の所定数の基準パターンの出力信号より
算出した予想値と比較して上記出力信号Ｘｒｎと上記予
想値が一定量以上異なる場合には上記予想値を出力信号
Ｘｒｎとして置き換える。
第２の信号予測手段が設けられ、上記各スリットパター
ン１ｂより得られる出力信号Ｘｎを、当該スリットパタ
ーン１ｂの前ないし後の所定数のスリットパターンの出
力信号より算出した予想値と比較して、上記出力信号Ｘ
ｎと上記予想値が一定量以上異なる場合には上記予想値
を出力信号Ｘｎとして置き換える。
ン１ｂより得られる出力信号Ｘｎを、当該スリットパタ
ーン１ｂの前ないし後の所定数のスリットパターンの出
力信号より算出した予想値と比較して、上記出力信号Ｘ
ｎと上記予想値が一定量以上異なる場合には上記予想値
を出力信号Ｘｎとして置き換える。
検知手段が設けられ、上記スリットパターン１ｂの出力
信号ｘｎをこれに対応する基準パターン１ａの出力信号
＞＜ｒｎで正規化し、該正規化値より塗装面の仕上り度
を検知する。
信号ｘｎをこれに対応する基準パターン１ａの出力信号
＞＜ｒｎで正規化し、該正規化値より塗装面の仕上り度
を検知する。
上記基準パターン１ａのパターン幅は、測定すベき塗装
面４の仕上り度によってはその明度が影響されない充分
に大きなものとする。
面４の仕上り度によってはその明度が影響されない充分
に大きなものとする。
［作用、効果］
各スリットパターン幅を適当に選択することにより、塗
装面４の仕上り度に応じて反射像のスリットパターン明
度が変化し、これを検出して上記仕上り度を知ることが
できる。この時、部分的に外乱光が入射し、おるいは塗
色が変化すると、仕上り度は一定であるにもかかわらず
スリットパターン明度が変化する。
装面４の仕上り度に応じて反射像のスリットパターン明
度が変化し、これを検出して上記仕上り度を知ることが
できる。この時、部分的に外乱光が入射し、おるいは塗
色が変化すると、仕上り度は一定であるにもかかわらず
スリットパターン明度が変化する。
ここにおいて、本発明では各スリットパターン１ｂの近
傍に、塗装面４の仕上り度によっては明度が変化しない
基準パターン１ａを設けてあり、該基準パターン１ａの
明度は上記外乱光ヤ塗色の変化にのみ影響される。
傍に、塗装面４の仕上り度によっては明度が変化しない
基準パターン１ａを設けてあり、該基準パターン１ａの
明度は上記外乱光ヤ塗色の変化にのみ影響される。
そこで、上記スリットパターン１ｂの明度に応じて得ら
れる！ｒｉ像手段２の出力信号ｘｎを、上記基準パター
ン１ａの明度に応じて得られる出力信号Ｘｒｎで正規化
した正規化値は、外乱光ヤ色の変化に無関係で、塗装面
４の仕上度にのみ依存する。これにより、正確な塗装面
４の測定が可能である。°ざらに、本発明では第１およ
び第２の信号予測手段を設けて電気的ノイズ等による各
出力信号＞＜ｒｎ、＞＜ｎの突変を検出し、突変時には
前後の所定数の出力信号より算出した予想値によって上
記出力信号Ｘｒｎ１Ｘｎを置換するようになして、ノイ
ズ等による測定精度の低下をも全く生じることがない。
れる！ｒｉ像手段２の出力信号ｘｎを、上記基準パター
ン１ａの明度に応じて得られる出力信号Ｘｒｎで正規化
した正規化値は、外乱光ヤ色の変化に無関係で、塗装面
４の仕上度にのみ依存する。これにより、正確な塗装面
４の測定が可能である。°ざらに、本発明では第１およ
び第２の信号予測手段を設けて電気的ノイズ等による各
出力信号＞＜ｒｎ、＞＜ｎの突変を検出し、突変時には
前後の所定数の出力信号より算出した予想値によって上
記出力信号Ｘｒｎ１Ｘｎを置換するようになして、ノイ
ズ等による測定精度の低下をも全く生じることがない。
［実施例］
第１図において、測定対象たる塗装面４にはパターン板
１が対向配設しており、塗装面４により形成される上記
パターン板１の反射像１′は暗像装置２のレンズ２１に
よりこれに設けたＣＯＤイメージセンサ２２上に結像せ
しめられる。イメージセンサ２２には水平長手方向に多
数（本実施例では６００個〉の受光画素が設けてあり、
各受光画素からは上記パターン板１上の各パターン明度
に応じた出力信号Ｘｒｎ、Ｘｎが出力される。
１が対向配設しており、塗装面４により形成される上記
パターン板１の反射像１′は暗像装置２のレンズ２１に
よりこれに設けたＣＯＤイメージセンサ２２上に結像せ
しめられる。イメージセンサ２２には水平長手方向に多
数（本実施例では６００個〉の受光画素が設けてあり、
各受光画素からは上記パターン板１上の各パターン明度
に応じた出力信号Ｘｒｎ、Ｘｎが出力される。
パターン板１の詳細を第２図に示す。パターン板１は長
方形状であり例えば写真フィルムを使用して制作する。
方形状であり例えば写真フィルムを使用して制作する。
上記パターン板１は黒色の地に上半部には透明基準パタ
ーン１ａが形成され、下半部には多数の透明スリットパ
ターン１ｂが形成しておる。すなわら、スリットパター
ン１ｂはパターン幅をｄ２となし、一定間隔ρ２でフィ
ルム長手方向へ形成しである。そして、ＭＱパターン１
ａが各スリットパターン１ｂの上端部近傍にこれらに沿
って長尺状に形成してあり、その幅ｄ１はスリットパタ
ーン１ｂの形成領域よりもやや長くしておる。
ーン１ａが形成され、下半部には多数の透明スリットパ
ターン１ｂが形成しておる。すなわら、スリットパター
ン１ｂはパターン幅をｄ２となし、一定間隔ρ２でフィ
ルム長手方向へ形成しである。そして、ＭＱパターン１
ａが各スリットパターン１ｂの上端部近傍にこれらに沿
って長尺状に形成してあり、その幅ｄ１はスリットパタ
ーン１ｂの形成領域よりもやや長くしておる。
なお、上記寸法ｄ１、ｄ２、ｇ２およびパターン板１の
長辺の長ざｇｌの一例は、それぞれ１００ｍｍ 、
０．８ｍｍ 、５ｍｍ 、１０８ｍｍ でおる。
長辺の長ざｇｌの一例は、それぞれ１００ｍｍ 、
０．８ｍｍ 、５ｍｍ 、１０８ｍｍ でおる。
また、塗装面４とレンズ２１との距離は４００ｍｍでお
る。
る。
パターン板１の投影は実際には第３図に示す構造でなさ
れる。図において、パターン板１は枠体１１の前面に貼
着され、上記枠体１１は基準パターン１ａおよびスリッ
トパターン１ｂに対応する部分が開口している。枠体１
１は両側端がガイド部材１２Ａ、１２Ｂの案内溝に嵌装
されて上下動可能でおり、一方の側端に突設したレバー
１３が上記ガイド部材１２Ｂの長穴内を貫通している。
れる。図において、パターン板１は枠体１１の前面に貼
着され、上記枠体１１は基準パターン１ａおよびスリッ
トパターン１ｂに対応する部分が開口している。枠体１
１は両側端がガイド部材１２Ａ、１２Ｂの案内溝に嵌装
されて上下動可能でおり、一方の側端に突設したレバー
１３が上記ガイド部材１２Ｂの長穴内を貫通している。
しかして、上記レバー１３により枠体１１を上下位置に
移動せしめることができ、上昇位置において上記イメー
ジセンサ２２の受光画素はスリットパターン１ｂの中心
線（第２図のＡ−Ａ′線）上に位置し、下降位置では基
準パターン１ａの中心線（第２図のＢ−８−線）上に位
置する。
移動せしめることができ、上昇位置において上記イメー
ジセンサ２２の受光画素はスリットパターン１ｂの中心
線（第２図のＡ−Ａ′線）上に位置し、下降位置では基
準パターン１ａの中心線（第２図のＢ−８−線）上に位
置する。
パターン板１の後方には白色アクリル板５、集光レンズ
６、および光源ランプ７が設けてあり、ランプ７より発
した光はレンズ６通過後アクリル板５で均一に散乱され
てパターン板１に入射し、その像を塗装面４上に投影す
る。
６、および光源ランプ７が設けてあり、ランプ７より発
した光はレンズ６通過後アクリル板５で均一に散乱され
てパターン板１に入射し、その像を塗装面４上に投影す
る。
第４図には第１および第２の信号予測手段と検知手段を
兼ねる検知装置３の溝成を示す。検知装置３は、イメー
ジセンサ２２（第１図）の出力信号ｘｒｎ、ｘｎを増幅
するアンプ３１、増幅された出力信号Ｘｒｎ、Ｘｎをイ
メージセンサ２２からのクロック信号ＣＬに同期してデ
ジタルデータに変換するＡ／Ｄ変換器３２、上記クロッ
ク信号ＣＬを入力してカウントするカウンタ３３、該カ
ウンタ３３にて指示された番地に上記デジタルデータを
順次記憶するＲＡＭ３４を有し、かつ互いにデータバス
４１で接続されたＣＰＵ３５、ワークエリア用ＲＡＭ３
６、制御プログラム格納用ＲＯＭ３７、ＬＥＤ表示器３
８、Ｉ１０ポート４０を有する。Ｉ１０ポート４０には
切換スイッチ３９が接続して必り、パターン板１の上下
位置に応じて切換操作されて、出力信号Ｘｒｎ、Ｘｎの
いずれが入力中でおるか報知する。ここで、出力信号Ｘ
ｒｎ、Ｘｎはそれぞれ基準パターン１ａおよびスリット
パターン１ｂより得られるものである。
兼ねる検知装置３の溝成を示す。検知装置３は、イメー
ジセンサ２２（第１図）の出力信号ｘｒｎ、ｘｎを増幅
するアンプ３１、増幅された出力信号Ｘｒｎ、Ｘｎをイ
メージセンサ２２からのクロック信号ＣＬに同期してデ
ジタルデータに変換するＡ／Ｄ変換器３２、上記クロッ
ク信号ＣＬを入力してカウントするカウンタ３３、該カ
ウンタ３３にて指示された番地に上記デジタルデータを
順次記憶するＲＡＭ３４を有し、かつ互いにデータバス
４１で接続されたＣＰＵ３５、ワークエリア用ＲＡＭ３
６、制御プログラム格納用ＲＯＭ３７、ＬＥＤ表示器３
８、Ｉ１０ポート４０を有する。Ｉ１０ポート４０には
切換スイッチ３９が接続して必り、パターン板１の上下
位置に応じて切換操作されて、出力信号Ｘｒｎ、Ｘｎの
いずれが入力中でおるか報知する。ここで、出力信号Ｘ
ｒｎ、Ｘｎはそれぞれ基準パターン１ａおよびスリット
パターン１ｂより得られるものである。
このようにして各パターン１ａ、１ｂより得られた出力
信号ｘｒｎ、ｘｎはそれぞれ上記ＲＡＭ３６の所定の領
域に記憶される。
信号ｘｒｎ、ｘｎはそれぞれ上記ＲＡＭ３６の所定の領
域に記憶される。
第５図は、あらかじめ官能検査により５段階に評価した
塗装面試料Ｎα１〜ＮＱ５について、イメージセンサ２
２の各画素の出力信号Ｘｒｎ、 Ｘｎの信号レベルを示
すものであり、図の（１〉〜（５）はスリブ１〜パター
ン１ｂより得られた上記信号Ｘｎのレベルを示し、図の
（６）は基準パターン１ａより１９られた信号Ｘｒｎの
レベルを示す。画素には１〜Ｎ（本実施例ではＮ＝６０
０）の番号が割り当ててあり、ｎ番目の画素より得られ
るスリットパターン信号をＸｎとし、基準パターン信号
をＸｒｎとする。なお、試料はＮα１からＮｏ、 ５に
向けて順次仕上りの程度が良い。
塗装面試料Ｎα１〜ＮＱ５について、イメージセンサ２
２の各画素の出力信号Ｘｒｎ、 Ｘｎの信号レベルを示
すものであり、図の（１〉〜（５）はスリブ１〜パター
ン１ｂより得られた上記信号Ｘｎのレベルを示し、図の
（６）は基準パターン１ａより１９られた信号Ｘｒｎの
レベルを示す。画素には１〜Ｎ（本実施例ではＮ＝６０
０）の番号が割り当ててあり、ｎ番目の画素より得られ
るスリットパターン信号をＸｎとし、基準パターン信号
をＸｒｎとする。なお、試料はＮα１からＮｏ、 ５に
向けて順次仕上りの程度が良い。
図より知られる如く、仕上りの良い塗装面から得られる
信号Ｘｎはスリットパターン１ｂの反射像の明度変化に
応じてシャープな変化を示す。−方、信号Ｘｒｎは塗装
面の色度りヤ外乱光の入射がない限り、図の（６）に示
す如く塗装面の仕上り度には無関係にほぼ一定値となる
。
信号Ｘｎはスリットパターン１ｂの反射像の明度変化に
応じてシャープな変化を示す。−方、信号Ｘｒｎは塗装
面の色度りヤ外乱光の入射がない限り、図の（６）に示
す如く塗装面の仕上り度には無関係にほぼ一定値となる
。
第６図にはＣＰＵ３５ （第４図）のデータｆｆｉ理手
順を示す。ステップ１０１にてメモリのクリアや表示の
クリア等の初期化を行なう。次にステップ１０２でＩ１
０ポート４０（第４図）を介して切換スイッチ３９の状
態を検出し、基準パターン側であればステップ１０３に
進む。ステップ１０３では搬像装置２からの出力信号Ｘ
ｒｎを入力し、ＲＡＭ３６内にストアする。そして、ス
テップ１０４において、後述する信号予測プログラムに
より出力信号Ｘｒｎを決定する。
順を示す。ステップ１０１にてメモリのクリアや表示の
クリア等の初期化を行なう。次にステップ１０２でＩ１
０ポート４０（第４図）を介して切換スイッチ３９の状
態を検出し、基準パターン側であればステップ１０３に
進む。ステップ１０３では搬像装置２からの出力信号Ｘ
ｒｎを入力し、ＲＡＭ３６内にストアする。そして、ス
テップ１０４において、後述する信号予測プログラムに
より出力信号Ｘｒｎを決定する。
ステップ１０２で切換スイッチ３９の状態がスリットパ
ターン側であるならステップ１０５に進む。ステップ１
０５では、出力信号ＸｎをＲＡＭ３６内にストアする。
ターン側であるならステップ１０５に進む。ステップ１
０５では、出力信号ＸｎをＲＡＭ３６内にストアする。
しかる後、ステップ１０５で上記信号予測プログラムに
より出力信号Ｘｎを決定する。次にステップ１０７で、
信号Ｘｎをこれに対応する信号Ｘｒｎで次式（１）の如
く正規化する。
より出力信号Ｘｎを決定する。次にステップ１０７で、
信号Ｘｎをこれに対応する信号Ｘｒｎで次式（１）の如
く正規化する。
Ｒｒｌ＝Ｘｒｌ／Ｘｒｎ （但しｎ＝１〜６００）・・
・・・・にＩ） ステップ１０８でｔよ、上式（１〉で計算したＲｎの平
均値Ｒを計算する。ざらにステップ１０９では、６００
個のデータＲｎの標Ｑ偏差Ｓを次式（２）にて求める。
・・・・にＩ） ステップ１０８でｔよ、上式（１〉で計算したＲｎの平
均値Ｒを計算する。ざらにステップ１０９では、６００
個のデータＲｎの標Ｑ偏差Ｓを次式（２）にて求める。
この標準偏差Ｓは塗装面４の仕上り度が良い程大きい値
を示し、標準Ｂ差Ｓによって仕上り度を５段階に判別し
て表示する（ステップ１１０．１１）。
を示し、標準Ｂ差Ｓによって仕上り度を５段階に判別し
て表示する（ステップ１１０．１１）。
第７図には信号予測プログラムの詳細を示す。
ステップ２０１でデータ［）ｎを入力する。［）ｎは基
準パターン出力１言号Ｘｒｎ必るいはスリットパターン
出力信号）（ｎである。ステップ２０２ではｎ番目のデ
ータＤｎのｎがサンプルデータ数Ｍく本実施例ではＭ＝
１００＞より大きければステップ２０３に進む。ステッ
プ２０３ではＭ個のＤｎ −Ｍ 、 Ｄｎ−（）ｌ−１
） 、−・−・Ｄｎ−１をＲＡＭ３６内にＳ ｉ
（ｉ ＝Ｏ−）１−１）としてストアする。
準パターン出力１言号Ｘｒｎ必るいはスリットパターン
出力信号）（ｎである。ステップ２０２ではｎ番目のデ
ータＤｎのｎがサンプルデータ数Ｍく本実施例ではＭ＝
１００＞より大きければステップ２０３に進む。ステッ
プ２０３ではＭ個のＤｎ −Ｍ 、 Ｄｎ−（）ｌ−１
） 、−・−・Ｄｎ−１をＲＡＭ３６内にＳ ｉ
（ｉ ＝Ｏ−）１−１）としてストアする。
ステップ２０４では次式（３）の如く自己相関関数Ｒ１
を計算する。
を計算する。
・・・・・・、Ｐ）・・・・・・（３）（３）式のＰは
次数で、本実施例ではＰ−５０である。ステップ２０５
では次式（４）、（５）、（６）を用いて、前向き予測
係数α１（Ｐ）、１≦ｉ≦Ｐを［）ｕｒｂｉｎ 法に
より求める。
次数で、本実施例ではＰ−５０である。ステップ２０５
では次式（４）、（５）、（６）を用いて、前向き予測
係数α１（Ｐ）、１≦ｉ≦Ｐを［）ｕｒｂｉｎ 法に
より求める。
ａ６
（ｍ＝１．２・・・・・・、Ｐ）・・・・・・（４）（
側） αｉ ＝αｉ −Ｋｍβｉ 、ａｍ ＝Ｏ。
側） αｉ ＝αｉ −Ｋｍβｉ 、ａｍ ＝Ｏ。
（ｉ＝１．２、・・・・・・、ｍ）
（ｉ−１，２・・・・・・、ｍ＋１）
Ｕｍ＝Ｕ （１−ｋｍ ２）・・・・・・・・・・
・・・・・（５）ハ（Ｐ） ステップ２０６では次式（７）により予測値り、、１を
計算する。
・・・・・（５）ハ（Ｐ） ステップ２０６では次式（７）により予測値り、、１を
計算する。
ｉ＝１
ステップ２０２でｎがＭ以下でおればステップ２０７に
進み、Ｄｎ＋１ 、Ｄｎ＋２ 、”””Ｄｎ＋ＨをＲＡ
Ｍ３６内にＳｉ （ｉ＝ｏ−Ｈ−１）としてストアす
る。ステップ２０８では式（３）の如く自己相関関数Ｒ
ｉを計算する。ステップ２０９では式（４）、（５）、
（６）を用いて後向き予測計数、（ｒン β１．１≦ｉ≦Ｐ＠Ｄｕｒｂｉｎ法により求める。ステ
ップ２１０では次式（８）により予測値Ｄ′ｎ（Ｆ）を
計算する。
進み、Ｄｎ＋１ 、Ｄｎ＋２ 、”””Ｄｎ＋ＨをＲＡ
Ｍ３６内にＳｉ （ｉ＝ｏ−Ｈ−１）としてストアす
る。ステップ２０８では式（３）の如く自己相関関数Ｒ
ｉを計算する。ステップ２０９では式（４）、（５）、
（６）を用いて後向き予測計数、（ｒン β１．１≦ｉ≦Ｐ＠Ｄｕｒｂｉｎ法により求める。ステ
ップ２１０では次式（８）により予測値Ｄ′ｎ（Ｆ）を
計算する。
ステップ２１１ではデータ［）ｎと予測値Ｄｎの差の絶
対値Ｉ Ｄｎ−６ｎＰ）ｌ をしきい値ａ（本実施例
ではａｍ３）と比較して大きければステップ２１２に進
む。ステップ２１２ではＤｎを［）ｎで置きかえる。ス
テップ２１１でｔｏｎ ６ｎ（ｒｌがａ以下の場合はＤ
ｎはそのままの値とし、ステップ２１３に進みデータＤ
ｎを出力する。
対値Ｉ Ｄｎ−６ｎＰ）ｌ をしきい値ａ（本実施例
ではａｍ３）と比較して大きければステップ２１２に進
む。ステップ２１２ではＤｎを［）ｎで置きかえる。ス
テップ２１１でｔｏｎ ６ｎ（ｒｌがａ以下の場合はＤ
ｎはそのままの値とし、ステップ２１３に進みデータＤ
ｎを出力する。
し、該予測値Ｄ″′ｒｌ（ｒ）に対して上記出力信号Ｘ
ｒｎ、る。これにより、ノイズ等の影響を受Ｃブること
なく正確な塗装面仕上り度の測定をなすことができる。
ｒｎ、る。これにより、ノイズ等の影響を受Ｃブること
なく正確な塗装面仕上り度の測定をなすことができる。
第８図は、塗装面４上に投影された像のスリン１〜パタ
ー２幅に換算して、各パターン幅における上記試料Ｎ０
０１〜Ｎ００５の標準偏差Ｓ＠調べたものである。図中
ｙ１〜ｙ５は試料Ｎｏ、１〜Ｎｏ、５に対応する。図に
よれば、パターン幅を０．１５ｍｍ 〜０．７５ｍｍ
の間で（＋”？”れの１ｍに設定しても、標準偏差
Ｓによって試料Ｎｏ、１〜Ｎｏ、５を明確に区別するこ
とができる。
ー２幅に換算して、各パターン幅における上記試料Ｎ０
０１〜Ｎ００５の標準偏差Ｓ＠調べたものである。図中
ｙ１〜ｙ５は試料Ｎｏ、１〜Ｎｏ、５に対応する。図に
よれば、パターン幅を０．１５ｍｍ 〜０．７５ｍｍ
の間で（＋”？”れの１ｍに設定しても、標準偏差
Ｓによって試料Ｎｏ、１〜Ｎｏ、５を明確に区別するこ
とができる。
さて、第９図（１）、（２）には、塗装面４に色分けの
境界部（図中Ｃ）がおる場合の出力信号）（ｎの信号レ
ベルを示す。塗色が変わったことにより塗装面４の反射
係数が変化し、上記試料５と同一の塗装面より得られる
スリットパターン信号Ｘｎは上記境界部Ｃでそのレベル
が低下する。
境界部（図中Ｃ）がおる場合の出力信号）（ｎの信号レ
ベルを示す。塗色が変わったことにより塗装面４の反射
係数が変化し、上記試料５と同一の塗装面より得られる
スリットパターン信号Ｘｎは上記境界部Ｃでそのレベル
が低下する。
（第９図（１））。ここにおいて、本発明ではスリット
パターン１ｂの近傍に沿って基準パターン１ａを設けた
ことにより、第９図（２）に示す如く、基準パターン信
号Ｘｒｎのレベルも境界部Ｃで同程度低下する。しかし
て、上記信＠Ｘｎを信号＞＜ｒｎで正規化した値Ｒｒｌ
は、第９図（３〉に示す如く境界部Ｃの前後を問わず塗
装面４の仕上り度のみに応じた大きざとなる。
パターン１ｂの近傍に沿って基準パターン１ａを設けた
ことにより、第９図（２）に示す如く、基準パターン信
号Ｘｒｎのレベルも境界部Ｃで同程度低下する。しかし
て、上記信＠Ｘｎを信号＞＜ｒｎで正規化した値Ｒｒｌ
は、第９図（３〉に示す如く境界部Ｃの前後を問わず塗
装面４の仕上り度のみに応じた大きざとなる。
したがって、上記値Ｒｎより上述の手順で算出される標
準偏差Ｓは、塗装面４の塗色の変化に無関係に正確な塗
装面４の仕上り度を示す。
準偏差Ｓは、塗装面４の塗色の変化に無関係に正確な塗
装面４の仕上り度を示す。
上記実施例において、塗装面４の仕上り度は必ずしも５
段階とする必要はなく、例えば１０段階としても良いし
、あるいは標Ｑ−Ｂ差Ｓを直接表示しても良い。
段階とする必要はなく、例えば１０段階としても良いし
、あるいは標Ｑ−Ｂ差Ｓを直接表示しても良い。
また、ＣＯＤイメージセンサ２２に代えて、ＭＯＳイメ
ージセンサ、フォトダイオードアレイあるいはテレビカ
メラを使用することもできる。
ージセンサ、フォトダイオードアレイあるいはテレビカ
メラを使用することもできる。
上記実施例ではパターン板１の上下動を手動としたが位
置サーボ機構等により自動化することができ、また切換
スイッチ３９を上記上下動に連動して作動せしめるよう
になせば、測定の自動化が可能である。さらに上記実施
例では一次元の検出パターンおよび一次元のイメージセ
ンサを用いたが２次元のパターン及び２次元のイメージ
センサを用いて塗装面を測定しても同様に仕上り度を検
出できることは明白である。
置サーボ機構等により自動化することができ、また切換
スイッチ３９を上記上下動に連動して作動せしめるよう
になせば、測定の自動化が可能である。さらに上記実施
例では一次元の検出パターンおよび一次元のイメージセ
ンサを用いたが２次元のパターン及び２次元のイメージ
センサを用いて塗装面を測定しても同様に仕上り度を検
出できることは明白である。
％準パターン１ａは必らずしも上記実施例の如く１つの
長尺パターンとする必要はなく、各スリットパターン１
ｂの近くに、測定すべき塗装面の仕上り度によってその
明度が影響されない充分大きなパターン幅でそれぞれ形
成しても良い。
長尺パターンとする必要はなく、各スリットパターン１
ｂの近くに、測定すべき塗装面の仕上り度によってその
明度が影響されない充分大きなパターン幅でそれぞれ形
成しても良い。
本発明の装置は上記実施例の如き塗装面の邑分けのみな
らず、部分的な外乱光の入射に対してもこれに影響され
ることなく正確な塗装面仕上り度を測定することができ
る。
らず、部分的な外乱光の入射に対してもこれに影響され
ることなく正確な塗装面仕上り度を測定することができ
る。
ざらには、上述した如く、電気的ノイズ等の影響も全く
受けることがない。
受けることがない。
第１図は塗装面測定装置の仝体欝成図、第２図はパター
ン板の正面図、第３図はパターン投影装置の構成図、第
４図は検知装置の構成を示ずブロック図、第５図は搬像
装置の出力信号レベルを示す図、第６図、第７図は検知
装置のデータ処理手順を示すプログラムフローチャート
、第８図はスリットパターン幅と出力信号の標準偏差と
の関係を示す図、第９図は＠＠装置の出力信号レベルお
よび正規化値を示す図でおる。 １・・・・・・パターン板 １ａ・・・・・・基準パターン １ｂ・・・・・・スリットパターン ２・・・・・・躍＠装置（Ｒ像手段） ２１・・・・・・レンズ ２２・・・・・・イメージセンサ ３・・・・・・検知装置（第１および第２の信号予測手
段、検知手段） ４・・・・・・塗装面 第３０ 第４０ ，３ ＠５回 第７図 第８０ ＯＱ２ ０．４ ０．６ ０Ｂ ２Ｈｆｌｊ：で゛のスリットパターン中品（ｍｍ）第９
図
ン板の正面図、第３図はパターン投影装置の構成図、第
４図は検知装置の構成を示ずブロック図、第５図は搬像
装置の出力信号レベルを示す図、第６図、第７図は検知
装置のデータ処理手順を示すプログラムフローチャート
、第８図はスリットパターン幅と出力信号の標準偏差と
の関係を示す図、第９図は＠＠装置の出力信号レベルお
よび正規化値を示す図でおる。 １・・・・・・パターン板 １ａ・・・・・・基準パターン １ｂ・・・・・・スリットパターン ２・・・・・・躍＠装置（Ｒ像手段） ２１・・・・・・レンズ ２２・・・・・・イメージセンサ ３・・・・・・検知装置（第１および第２の信号予測手
段、検知手段） ４・・・・・・塗装面 第３０ 第４０ ，３ ＠５回 第７図 第８０ ＯＱ２ ０．４ ０．６ ０Ｂ ２Ｈｆｌｊ：で゛のスリットパターン中品（ｍｍ）第９
図
Claims (3)
- （１）塗装面に対向して設け、塗装面との対向面に地の
明度と異なる明度で幅方向へ等間隔でスリットパターン
を複数形成するとともに、上記各スリットパターンに対
応近接せしめて基準パターンを形成したパターン板と、
塗装面により反射形成された上記パターン板の反射像を
結像して該反射像の上記各スリットパターンおよび基準
パターンの明度に応じた出力信号を発する撮像手段と、
上記各基準パターンより得られる出力信号を、当該基準
パターンの前ないし後の所定数の基準パターンの出力信
号より算出した予想値と比較して、上記出力信号と上記
予想値が一定量以上異なる場合には上記予想値を出力信
号として置き換える第１の信号予測手段と、上記各スリ
ットパターンより得られる出力信号を、当該スリットパ
ターンの前ないし後の所定数のスリットパターンの出力
信号より算出した予想値と比較して、上記出力信号と上
記予想値が一定量以上異なる場合には上記予想値を出力
信号として置き換える第２の信号予測手段と、上記スリ
ットパターンの出力信号をこれに対応する基準パターン
の出力信号で正規化して、該正規化値より塗装面の仕上
り度を検知する検知手段とを具備し、上記基準パターン
のパターン幅を、測定すべき塗装面の仕上り度によつて
はその明度が影響されない充分に大きなものとしたこと
を特徴とする塗装面測定装置。 - （２）上記基準パターンを、上記各スリットパターンの
端部近傍を通つて延びる長尺パターンとなして、これを
各スリットパターンで共用するようになした特許請求の
範囲第１項記載の塗装面測定装置。 - （３）上記検知手段を、上記正規化値の標準偏差より塗
装面の仕上り度を検知するように設定した特許請求の範
囲第１項記載の塗装面測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61263608A JPH0726838B2 (ja) | 1986-11-05 | 1986-11-05 | 塗装面測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61263608A JPH0726838B2 (ja) | 1986-11-05 | 1986-11-05 | 塗装面測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63117206A true JPS63117206A (ja) | 1988-05-21 |
| JPH0726838B2 JPH0726838B2 (ja) | 1995-03-29 |
Family
ID=17391902
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61263608A Expired - Lifetime JPH0726838B2 (ja) | 1986-11-05 | 1986-11-05 | 塗装面測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0726838B2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010271139A (ja) * | 2009-05-20 | 2010-12-02 | Asmo Co Ltd | ワイパ性能評価方法、及びワイパ性能評価装置 |
| JP2012504757A (ja) * | 2008-10-01 | 2012-02-23 | サン−ゴバン グラス フランス | 基板表面の分析装置 |
| JP2015190857A (ja) * | 2014-03-28 | 2015-11-02 | 富士フイルム株式会社 | 光沢度計測装置、光沢度演算装置及び光沢度計測方法 |
| CN115077415A (zh) * | 2022-04-29 | 2022-09-20 | 安庆帝伯格茨活塞环有限公司 | 活塞环视觉检测方法与检测设备 |
-
1986
- 1986-11-05 JP JP61263608A patent/JPH0726838B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012504757A (ja) * | 2008-10-01 | 2012-02-23 | サン−ゴバン グラス フランス | 基板表面の分析装置 |
| JP2010271139A (ja) * | 2009-05-20 | 2010-12-02 | Asmo Co Ltd | ワイパ性能評価方法、及びワイパ性能評価装置 |
| JP2015190857A (ja) * | 2014-03-28 | 2015-11-02 | 富士フイルム株式会社 | 光沢度計測装置、光沢度演算装置及び光沢度計測方法 |
| CN115077415A (zh) * | 2022-04-29 | 2022-09-20 | 安庆帝伯格茨活塞环有限公司 | 活塞环视觉检测方法与检测设备 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0726838B2 (ja) | 1995-03-29 |
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