JPS63117434A - 半導体チツプの実装方法 - Google Patents
半導体チツプの実装方法Info
- Publication number
- JPS63117434A JPS63117434A JP61262767A JP26276786A JPS63117434A JP S63117434 A JPS63117434 A JP S63117434A JP 61262767 A JP61262767 A JP 61262767A JP 26276786 A JP26276786 A JP 26276786A JP S63117434 A JPS63117434 A JP S63117434A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- semiconductor chip
- lead
- carrier
- leads
- film
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/701—Tape-automated bond [TAB] connectors
Landscapes
- Wire Bonding (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の目的]
(産業上の利用分野)
本発明は、例えばテープキャリア方式による半導体チッ
プの実装方法に関する。
プの実装方法に関する。
(従来の技術)
近年、半導体技術の発展により、電子装置を小型で高機
能にする要求から、半導体チップの薄型高密度化実装が
開発され急速に発展してきている。この薄型高密度化を
実現するための具体的な手段としては、例えば半導体チ
ップをフィルムキャリアに取付けて実装するいわゆるテ
ープキャリア方式[通称、T A B (T ape
−automated Bondinoの略)と呼ば
れている。)がある。
能にする要求から、半導体チップの薄型高密度化実装が
開発され急速に発展してきている。この薄型高密度化を
実現するための具体的な手段としては、例えば半導体チ
ップをフィルムキャリアに取付けて実装するいわゆるテ
ープキャリア方式[通称、T A B (T ape
−automated Bondinoの略)と呼ば
れている。)がある。
このようなTAB方式に用いられるフィルムキャリアと
しては、例えば第5図、第6図および第7図に示すもの
がある。すなわち、第5図〜第7図において、フィルム
キャリア101には、半導体チップ103を搭載可能な
孔部101Hが形成しである。フィルムキャリア101
の一面には、外部回路に接続可能なり一ド105が複数
設けてあり、リード105は前記孔部101Hに突出し
ている。しかも、リード105の基部105Bと先端部
105丁とは、フィルムキャリア101の一面の形成さ
れたパターンの延長としてフィルムキャリア101とほ
ぼ同一平面上に位置している。
しては、例えば第5図、第6図および第7図に示すもの
がある。すなわち、第5図〜第7図において、フィルム
キャリア101には、半導体チップ103を搭載可能な
孔部101Hが形成しである。フィルムキャリア101
の一面には、外部回路に接続可能なり一ド105が複数
設けてあり、リード105は前記孔部101Hに突出し
ている。しかも、リード105の基部105Bと先端部
105丁とは、フィルムキャリア101の一面の形成さ
れたパターンの延長としてフィルムキャリア101とほ
ぼ同一平面上に位置している。
前記半導体チップ103は支持部材としてのステージ1
07上に載置され、ステージ107には孔部107Hが
上下方向に貫通して設けである。
07上に載置され、ステージ107には孔部107Hが
上下方向に貫通して設けである。
ステージ107における孔部107Hの下部は図示省略
のエア吸込みパイプを介して真空ポンプに連結してあり
、真空ポンプの作動により、半導体チップ103がステ
ージ107に吸着され支承されるようになっている。
のエア吸込みパイプを介して真空ポンプに連結してあり
、真空ポンプの作動により、半導体チップ103がステ
ージ107に吸着され支承されるようになっている。
半導体103上の複数個所には、電極リード109が設
けてあり、電極パッド109とリード105との接合を
容易にすると共に、接合時の熱や圧力から半導体素子を
保護するために、例えば電極リード109に接合媒体で
あるバンブ111が設けである。フィルムキャリア10
1の上方には、半導体チップ103に対応したボンディ
ングツール113が所定の高さに設けである。
けてあり、電極パッド109とリード105との接合を
容易にすると共に、接合時の熱や圧力から半導体素子を
保護するために、例えば電極リード109に接合媒体で
あるバンブ111が設けである。フィルムキャリア10
1の上方には、半導体チップ103に対応したボンディ
ングツール113が所定の高さに設けである。
上記構成により、半導体103をステージ107に吸着
した状態でボンディングツール113を第5図の状態か
ら第6図の状態に下降させてり一ド105の先端部10
5Tが半導体チップ103の電極バッド109にバンブ
111を介して押圧される。ボンディングツール113
を6図の状態から第7図の状態へ元の位置に上昇させる
と共に、半導体チップ103をステージ107から吸着
を解除することによ′す、第7図に示す如くリード10
5の先端部105Tが半導体チップ103の電極バッド
109にバンブ111を介して接合されるのである。
した状態でボンディングツール113を第5図の状態か
ら第6図の状態に下降させてり一ド105の先端部10
5Tが半導体チップ103の電極バッド109にバンブ
111を介して押圧される。ボンディングツール113
を6図の状態から第7図の状態へ元の位置に上昇させる
と共に、半導体チップ103をステージ107から吸着
を解除することによ′す、第7図に示す如くリード10
5の先端部105Tが半導体チップ103の電極バッド
109にバンブ111を介して接合されるのである。
(発明が解決しようとする問題点)
しかしながら、前述した従来のTAB方式においては、
半導体チップ103のエツジとリード105との隙間が
小さいため、半導体チップ103の接合時に生じる両者
の相対的な傾き等により半導体チップ103のエツジが
第7図に示されているように、リード105に接触する
ことがある。
半導体チップ103のエツジとリード105との隙間が
小さいため、半導体チップ103の接合時に生じる両者
の相対的な傾き等により半導体チップ103のエツジが
第7図に示されているように、リード105に接触する
ことがある。
このような状態が生じると、半導体チップ103の表面
上に浮遊電位差いわゆるエツジショートが発生する問題
があった。
上に浮遊電位差いわゆるエツジショートが発生する問題
があった。
本発明の目的は上記事情に鑑み問題を改善するために提
案されたもので、半導体チップとリードとの接合時に半
導体チップのエツジとリードとの接触により生ずるエツ
ジショートをなくすように可能ならしめた半導体チップ
の実装方法を提供することにある。
案されたもので、半導体チップとリードとの接合時に半
導体チップのエツジとリードとの接触により生ずるエツ
ジショートをなくすように可能ならしめた半導体チップ
の実装方法を提供することにある。
[発明の構成]
(問題点を解決するための手段)
上記目的を達成するために本発明は、フィルムキャリア
に形成された孔部に支持部材上に支承された半導体チッ
プを対応せしめ、この半導体チップに配設された複数の
電極パッドを、前記フィルムキャリアに設けられ前記孔
部に臨んだ複数のリードの先端部に接合すべく押圧した
後、前記半導体チップあるいは複数のリードの一方を、
複数のリードあるいは半導体のチップの他方に対してフ
ィルムキャリアの厚さ方向へ離反せしめてリードフォー
ミングするようにした半導体チップの実装方法である。
に形成された孔部に支持部材上に支承された半導体チッ
プを対応せしめ、この半導体チップに配設された複数の
電極パッドを、前記フィルムキャリアに設けられ前記孔
部に臨んだ複数のリードの先端部に接合すべく押圧した
後、前記半導体チップあるいは複数のリードの一方を、
複数のリードあるいは半導体のチップの他方に対してフ
ィルムキャリアの厚さ方向へ離反せしめてリードフォー
ミングするようにした半導体チップの実装方法である。
(作用)
本発明の方法を採用することにより、半導体チップとリ
ードとの接合時にエツジショートが生じたとしても、接
合後にリードフォーミングすることによって、フィルム
キャリアと半導体チップとの間に一定の間隔が設けられ
、エツジショートがほとんどなくなる。
ードとの接合時にエツジショートが生じたとしても、接
合後にリードフォーミングすることによって、フィルム
キャリアと半導体チップとの間に一定の間隔が設けられ
、エツジショートがほとんどなくなる。
(実施例)
以下、本発明の実施例を図面に基づいて詳細に説明する
。
。
第1図および第2図は、本発明の一実施例に係わる半導
体チップの実装方法を示している。
体チップの実装方法を示している。
M1図およびM2図において、ボンダー1には上下方向
に孔1Hが穿設しである。孔1Hにまたがったボンダー
1上には、支持部材としてのステージ3が支承しである
。ステージ3のほぼ中央部には、上下方向に段付孔3日
が貫通して穿設しである。この段付孔3Hにはボンダー
1の孔1Hからフレキシブルなパイプ5の一方が装着さ
れ、パイプ5の他方が図示省略の真空ポンプに連結しで
ある。
に孔1Hが穿設しである。孔1Hにまたがったボンダー
1上には、支持部材としてのステージ3が支承しである
。ステージ3のほぼ中央部には、上下方向に段付孔3日
が貫通して穿設しである。この段付孔3Hにはボンダー
1の孔1Hからフレキシブルなパイプ5の一方が装着さ
れ、パイプ5の他方が図示省略の真空ポンプに連結しで
ある。
ステージ3のほぼ中央部上に、半導体チップ7が逐次載
置され、前述した図示省略の真空ポンプを作動させるこ
とによって、半導体チップ7が段付孔3H,パイプ5を
経て真吸引されてステージ3に吸着支承されることにな
る。
置され、前述した図示省略の真空ポンプを作動させるこ
とによって、半導体チップ7が段付孔3H,パイプ5を
経て真吸引されてステージ3に吸着支承されることにな
る。
半導体チップ7上には複数の電極バッド9が設けてあり
、例えば電極バッド9の上部には金などからなる接合媒
体としてのバンプ11が設けである。
、例えば電極バッド9の上部には金などからなる接合媒
体としてのバンプ11が設けである。
ステージ3の上方には、第1図において左方向から右方
向へ走行するポリイミドなどの絶縁性樹脂テープからな
るフィルムキャリア13が設けである。このフィルムキ
ャリア13には前記半導体チップ7を搭載する孔13H
が長手方向に所定の間隔で形成しである。フィルムキャ
リア13の左右縁部第1図において紙面に対して直交す
る方向の前後縁部には、図示省略の送り孔が所定間隔毎
に設けてあり、図示省略の送り装置で前記孔13Hを1
コマ毎に左方向から右方向へ走行されるようになってい
る。
向へ走行するポリイミドなどの絶縁性樹脂テープからな
るフィルムキャリア13が設けである。このフィルムキ
ャリア13には前記半導体チップ7を搭載する孔13H
が長手方向に所定の間隔で形成しである。フィルムキャ
リア13の左右縁部第1図において紙面に対して直交す
る方向の前後縁部には、図示省略の送り孔が所定間隔毎
に設けてあり、図示省略の送り装置で前記孔13Hを1
コマ毎に左方向から右方向へ走行されるようになってい
る。
フィルムキャリア13の一面例えば下面には、銅などの
金属箔からなるリード15が前記孔13Hの各辺に沿っ
て所定の間隔を持って複数配設しである。すなわち、リ
ード15の基部はフィルムキャリア13の面に取付けら
れて回路パターンを構成し、リード15の先端部は半導
体チップ7の電極バッド9との接合部として前記孔13
Hに突出して臨んでいる。
金属箔からなるリード15が前記孔13Hの各辺に沿っ
て所定の間隔を持って複数配設しである。すなわち、リ
ード15の基部はフィルムキャリア13の面に取付けら
れて回路パターンを構成し、リード15の先端部は半導
体チップ7の電極バッド9との接合部として前記孔13
Hに突出して臨んでいる。
前記バンプ11は電極バッド9とリード15との接合を
容易にすると共に、接合時の熱や圧力から半導体素子を
保護する役目を果している。
容易にすると共に、接合時の熱や圧力から半導体素子を
保護する役目を果している。
フィルムキャリア13の上方には、ステージ3上にM、
置された半導体チップ7に対応した上下動自在なボンデ
ィングツール17が所定の高さに設けである。このボン
ディングツール17の上下動により、フィルムキャリア
13の下面に設けられたり一ド15がステージ3上に吸
着された半導体チップ7の電極バッド9にバンプ11を
介して接合されることになる。
置された半導体チップ7に対応した上下動自在なボンデ
ィングツール17が所定の高さに設けである。このボン
ディングツール17の上下動により、フィルムキャリア
13の下面に設けられたり一ド15がステージ3上に吸
着された半導体チップ7の電極バッド9にバンプ11を
介して接合されることになる。
フィルムキャリア13の左右端部第1図において紙面に
対して直交する前後端部には、図示省略のフレームに支
持部材19A、19Bが取付けである。支持部材19A
上には支持ブロック21を介してフィルムキャリア13
をガイドするためのフィルムガイド部材23がヒンジ2
5で回動自在に設けである。フィルムガイド部材23の
他端部には支持ブロック27が設けてあり、支持ブロッ
ク27には調整ねじ29が設けである。調整ねじ29を
調整することによってフィルムガイド部材23が支持部
材19Bに対して調整される。
対して直交する前後端部には、図示省略のフレームに支
持部材19A、19Bが取付けである。支持部材19A
上には支持ブロック21を介してフィルムキャリア13
をガイドするためのフィルムガイド部材23がヒンジ2
5で回動自在に設けである。フィルムガイド部材23の
他端部には支持ブロック27が設けてあり、支持ブロッ
ク27には調整ねじ29が設けである。調整ねじ29を
調整することによってフィルムガイド部材23が支持部
材19Bに対して調整される。
また、フィルムガイド部材23の中央部には、フィルム
キャリア13に形成された孔13Hより大なる径の孔2
3Hが貫通して穿設してあり、前記ボンディングツール
17がこの孔23H内を上下動できるようになっている
。フィルムガイド部材23の下部は図示省略しであるが
、蟻溝が穿設してあって、フィルハキ1アリア13に係
合しである。したがって、フィルムガイド部材23の回
動と共に、フィルムキャリア13が上下動される。
キャリア13に形成された孔13Hより大なる径の孔2
3Hが貫通して穿設してあり、前記ボンディングツール
17がこの孔23H内を上下動できるようになっている
。フィルムガイド部材23の下部は図示省略しであるが
、蟻溝が穿設してあって、フィルハキ1アリア13に係
合しである。したがって、フィルムガイド部材23の回
動と共に、フィルムキャリア13が上下動される。
また、フィルムガイド部材23の回動はu者による手動
あるいは駆動装置を用いて支持ブロック27あるいは調
整ねじ29を上下動せしめることによって行なわれる。
あるいは駆動装置を用いて支持ブロック27あるいは調
整ねじ29を上下動せしめることによって行なわれる。
本実施例における作用を説明すると、ステージ3上に載
置された半導体チップ7を図示省略の真空ポンプで真吸
引してステージ3に吸着させる。
置された半導体チップ7を図示省略の真空ポンプで真吸
引してステージ3に吸着させる。
その状態でボンディングツール17を下降させることに
よって、半導体チップ7の電極パッド9がバンブ11を
介してフィルムキャリア13に配設されたリード15に
押圧される。押圧されて接合された直後の状態が第1図
の如くである。
よって、半導体チップ7の電極パッド9がバンブ11を
介してフィルムキャリア13に配設されたリード15に
押圧される。押圧されて接合された直後の状態が第1図
の如くである。
第1図の状態で、ボンディングツール17を元の位置に
上昇させ、かつ真空ポンプを切らず、半導体チップ7を
ステージ3に吸着させたままで、例えば作業者が調整ね
じ29を把み、調整ねじ29を一定吊上界させると、第
2図に示した状態となる。すなわち、フィルムガイド部
材23がヒンジ25により反時計方向回りに回動するこ
とによって、フィルムキャリア13はフィルムガイド部
材23に係合しているので、固定された半導体チップ7
に対してフィルムキャリア13が上方に一定m例えば第
1図および第2図に示しである高さHだけ持ち上げられ
る。
上昇させ、かつ真空ポンプを切らず、半導体チップ7を
ステージ3に吸着させたままで、例えば作業者が調整ね
じ29を把み、調整ねじ29を一定吊上界させると、第
2図に示した状態となる。すなわち、フィルムガイド部
材23がヒンジ25により反時計方向回りに回動するこ
とによって、フィルムキャリア13はフィルムガイド部
材23に係合しているので、固定された半導体チップ7
に対してフィルムキャリア13が上方に一定m例えば第
1図および第2図に示しである高さHだけ持ち上げられ
る。
このように、接合後にフィルムキャリア13を一定mす
なわち高さHだけ持ち上げ次いで、真空ポンプを切るこ
とによって、フィルムキャリア13に配設されたリード
15が半導体チップ7に対してリードフォーミングされ
、例えば、従来技術で説明し、第7図に示すような従来
化じていたエツジショートはほとんど解消されることに
なる。
なわち高さHだけ持ち上げ次いで、真空ポンプを切るこ
とによって、フィルムキャリア13に配設されたリード
15が半導体チップ7に対してリードフォーミングされ
、例えば、従来技術で説明し、第7図に示すような従来
化じていたエツジショートはほとんど解消されることに
なる。
フィルムガイド部材23を上方に持ち上げるに要する力
は、半導体チップ3に設けられた複数の電極パッド9の
全ピール強度より小さいことが必要である。例えば、1
パッド当り20〜40gのピール値を持った30バツド
の半導体チップ3では、約1 ka近くリードフォーミ
ングの為に外力をかけることが出来るから、フィルムキ
ャリア13に配設されたり−ド15と半導体チップ7の
電極バッド9との接合は簡単に外れることなく、リード
フォーミングすることが出来る。
は、半導体チップ3に設けられた複数の電極パッド9の
全ピール強度より小さいことが必要である。例えば、1
パッド当り20〜40gのピール値を持った30バツド
の半導体チップ3では、約1 ka近くリードフォーミ
ングの為に外力をかけることが出来るから、フィルムキ
ャリア13に配設されたり−ド15と半導体チップ7の
電極バッド9との接合は簡単に外れることなく、リード
フォーミングすることが出来る。
単導体チップ7のサイズが小さく、真吸引力の小さい時
には、第3図および第4図に示すように、半導体チップ
7をステージ3に真吸引による吸着でなく、固定用クラ
ンプ部材31を半導体チップ7の対向した少なくとも1
対の偶で横からクランプし固定してもよい。リードフォ
ーミングした後、フィルムキャリア13を移動する際に
、固定用クランプ部材31は支障のない位置へ退避され
るようになっている。
には、第3図および第4図に示すように、半導体チップ
7をステージ3に真吸引による吸着でなく、固定用クラ
ンプ部材31を半導体チップ7の対向した少なくとも1
対の偶で横からクランプし固定してもよい。リードフォ
ーミングした後、フィルムキャリア13を移動する際に
、固定用クランプ部材31は支障のない位置へ退避され
るようになっている。
なお、本発明は前述した実施例に限定されることなく、
適宜な変更を行なうことにより、その他の態様で実施し
得るものである。例えば、フィルムガイド部材を固定し
、ステージである支持部材を下方に上下動せしめて対応
することも可能である。また、フィルムガイド部材をヒ
ンジで回動させず、スライダなどで上下動させて行なう
ことでも対応可能である。
適宜な変更を行なうことにより、その他の態様で実施し
得るものである。例えば、フィルムガイド部材を固定し
、ステージである支持部材を下方に上下動せしめて対応
することも可能である。また、フィルムガイド部材をヒ
ンジで回動させず、スライダなどで上下動させて行なう
ことでも対応可能である。
[発明の効果]
以上説明したように、本発明によれば、半導体チップに
配設された複数の電極パッドをフィルムキャリアに設け
られた複数のリードの先端部に接合した後、リードフォ
ーミングするようにしたことから、従来化じていたエツ
ジショートがほとんど解消されるという効果を奏する。
配設された複数の電極パッドをフィルムキャリアに設け
られた複数のリードの先端部に接合した後、リードフォ
ーミングするようにしたことから、従来化じていたエツ
ジショートがほとんど解消されるという効果を奏する。
第1図および第2図は、本発明の一実施例に係わる半導
体チップの実装方法を示す図で、第1図は接合直後の状
態を、第2図はリードフォーミングの状態を表わしてい
る。 第3図および第4図は、半導体チップを固定する他側を
示し、第3図は平面図、第4図は正面図である。 第5図、第6図および第7図は従来の半導体チップの実
装方法を示し、第5図は接合前、第6図は接合時および
第7図は接合後の状態を示したものである。 1・・・ボンダー 3・・・ステージ 7・・・半導体チップ 7日・・・孔 9・・・Wmパッド 11・・・バンブ13・・・フィ
ルムキャリア 15・・・リード17・・・ボンディン
グツール 23・・・フィルムガイド部材
体チップの実装方法を示す図で、第1図は接合直後の状
態を、第2図はリードフォーミングの状態を表わしてい
る。 第3図および第4図は、半導体チップを固定する他側を
示し、第3図は平面図、第4図は正面図である。 第5図、第6図および第7図は従来の半導体チップの実
装方法を示し、第5図は接合前、第6図は接合時および
第7図は接合後の状態を示したものである。 1・・・ボンダー 3・・・ステージ 7・・・半導体チップ 7日・・・孔 9・・・Wmパッド 11・・・バンブ13・・・フィ
ルムキャリア 15・・・リード17・・・ボンディン
グツール 23・・・フィルムガイド部材
Claims (4)
- (1)フィルムキャリアに形成された孔部に支持部材上
に支承された半導体チップを対応せしめ、この半導体チ
ップに配設された複数の電極パッドを、前記フィルムキ
ャリアに設けられた前記孔部に臨んだ複数のリードの先
端部に接合すべく押圧した後、前記半導体チップあるい
は複数のリードの一方を、複数のリードあるいは半導体
のチップの他方に対してフィルムキャリアの厚さ方向へ
離反せしめてリードフォーミングすることを特徴とする
半導体チップの実装方法。 - (2)半導体チップを支持部材にエア吸着で固定し、半
導体チップを複数のリードに接合した後も、半導体チッ
プを支持部材にエア吸着した状態でキャリアフィルムを
キャリアフィルムの厚さ方向へ移動してリードフォーミ
ングすることを特徴とする特許請求の範囲第1項に記載
の半導体チップの実装方法。 - (3)半導体チップを支持部材にクランプ部材で固定し
、半導体チップの複数のリードに接合した後も、半導体
チップを支持部材にクランプ部材で固定した状態でキャ
リアフィルムをキャリアフィルムの厚さ方向へ移動して
リードフォーミングすることを特徴とする特許請求の範
囲第1項記載の半導体チップの実装方法。 - (4)リードフォーミングに要する力は、半導体チップ
に配設された複数の電極パッドにおけるピール強度値総
計より小さいことを特徴とする特許請求の範囲第1項に
記載の半導体チップの実装方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61262767A JPS63117434A (ja) | 1986-11-06 | 1986-11-06 | 半導体チツプの実装方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61262767A JPS63117434A (ja) | 1986-11-06 | 1986-11-06 | 半導体チツプの実装方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63117434A true JPS63117434A (ja) | 1988-05-21 |
Family
ID=17380304
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61262767A Pending JPS63117434A (ja) | 1986-11-06 | 1986-11-06 | 半導体チツプの実装方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63117434A (ja) |
-
1986
- 1986-11-06 JP JP61262767A patent/JPS63117434A/ja active Pending
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