JPS63132144A - 検査機 - Google Patents

検査機

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JPS63132144A
JPS63132144A JP27788686A JP27788686A JPS63132144A JP S63132144 A JPS63132144 A JP S63132144A JP 27788686 A JP27788686 A JP 27788686A JP 27788686 A JP27788686 A JP 27788686A JP S63132144 A JPS63132144 A JP S63132144A
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JP
Japan
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mask substrate
mask
cassette
holding
inspected
Prior art date
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JP27788686A
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English (en)
Inventor
Senji Shinpo
新保 仙治
Tsunemi Fukushima
福島 常美
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Hitachi High Tech Corp
Original Assignee
Hitachi Electronics Engineering Co Ltd
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Publication date
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  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業−1−の利用分野] この発明は、被検査物の検査を行う検査機に関し、特に
、゛)1導体来積回路のホトリソグラフィ工程などに用
いられるマスクの基板(マスクブランクス)のピンホー
ル、異物付着などの欠陥を検査するマスク基板検査機に
関する。
[従来の技術] 従来のマスク基板検査機においては、検査すべきマスク
基板はカセット(容器)に多数枚収納された形で供給さ
れ、そのカセットからマスク基板が台ヒに順次取り出さ
れ、この台から搬送機構によって検査ステージへ搬送さ
れ、@査される。
[解決しようとする問題点] このようなマスク基板検査機は基本的には中種で使用さ
れることを前提としており、マスク基板の処理ラインと
接続して使用することは考慮していない。
勿論、このようなマスク基板検査機をマスク基板処理ラ
インの最終段に配置し、マスク基板処理ラインからマス
ク基板をマスク基板取り出し用の台に供給させることも
Hf能であろう。
しかし、従来のマスク基板検査機は、前記のようなマス
ク基板供給系が1系統しかなく、また、検査動作とマス
クJ、を板処理ラインからのマスク基板の搬入とは非同
期であるため、マスク基板処理ラインに組み込んで使用
した場合、マスク基板のオーバフローが発生しないよう
にマスク処理ラインからのマスク基板の搬入速度を制限
する7質があるが、マスク基板検査機の遊び時間が増大
するなどの問題がある。
「発明の(」的] したがって、この発明の[1的は、そのような従来の問
題点を解消し、マスク基板処理ラインに組み込んで使用
する用途などに好適な検査機を提供することにある。
[問題点を解決するための手段] この発明にあっては、外部から搬入されるマスク基板な
どの被検査物を保持するための第1の保持手段と、カセ
ットから供給される被検査物を保持するための第2の保
持手段と、前記第1または第2の保持4段に保持されて
いる被検査物を検査ステージへ搬送する搬送手段とを具
備することにより、前記目的を達成するものである。
[0川] このように、この発明の検査機は被検査物供給系を2系
統有するので、−・方の系統の第1の保持り段に例えば
マスク基板処理ラインからマスク基板(Mf検査物)を
搬入させるようにして、マスク基板処理ラインに組み込
んで使うことができる。
そして、マスクツ、(板処理ラインからのマスク基板の
供給待ち時間に、カセットから第2の保持手段に供給さ
れたマスク基板をJoL査スデステージ送させることが
できるので、検査機の遊び時間を減らすことかできる。
さらに、マスク基板処理ラインにトラブルが発生した場
合などでも、カセットからマスク基板を供給して検査動
作を行わせることができる。
このように、この発明の検査機はマスク基板処理ライン
などに組み込んで使用することができ、しかも稼働率を
−1,げることかできる。
また、カセットからMlE物を供給することもできるの
で、従来のものと同様に中種でも使用できる。
[実施例コ 以ド、図面を参照し、この発明の一実施例について説明
する。
第1図は、この発明によるマスク基板検査機の一実施例
を簡略化して示す概略平面図である。
この図において、10は外部(例えばマスク基板処理ラ
イン)から供給されるマスク基板を載置保持するための
マスク基板保持台(第1の保持手段)である。このマス
ク基板保持台10に関連して、マスク基板の有無を検出
するためのセンサ12が設けられている。
14はエレベータであり、そのエレベータ台16にはマ
スク基板を収納したカセット18が載置固定される。
20はマスク基板出し入れ保持台(第2の保持手段)で
ある。このマスク基板出し入れ保持台20は、前後移動
および昇降が1−1工能であって(そのための駆動機構
は図示されていない)、それ自体の動きによってカセッ
ト18からマスク基板を取り出して載置保持したり、保
持しているマスク基板をカセット18に収納したりする
ものである。
このマスクJ人板出し入れ保持台20に関連して、マス
ク基板の有無を検出するためのセンサ22が設けられて
いる。
なお、マスク基板11」シ入れ保持台20を静tl−し
た台とし、別の可動部材によってマスク基板をカセッ)
18から押し出して、その台に載置させたり、その台ト
のマスク基板をカセット18に押し込むように変更して
もよい。
また、前記マスク基板保持台10およびマスク基板出し
入れ保持台20は、外部から搬入されるマスク基板また
はカセット18内のマスク基板を、爪伏のもので挟持す
るような構成のものに変更してもよい。
次に、マスク基板保持台10またはマスク基板出し入れ
保t1ン台20ヒに保持されているマスク基板を、検査
ステージに搬送するための搬入側搬送機構について説明
する。
26はこの搬送機構のチャンキングユニットである。こ
のチャンキングユニット26は・対のアーム28.30
、それを開閉およびyI′降させるための駆動部32、
および駆動部32が取り付けられたスライド台34から
構成されている。
これらのアーム28.30のそれぞれの先端部)側に一
対のローラが設けられており、アーム28.30をド降
させ、かつ閉じることにより、それらローラをマスク基
板の対向するコーナ部のエツジに係合させ、マスク基板
を挟持するようになっている。
スライド台34は」−下に平行配設された一対のガイド
シャフト36に案内されて左右にスライド可能である。
38はチャッキングユニット26を左右に移動させるた
めのモータである。このモータ38によって駆動される
プーリ40と回転自在のプーリ42との間にワイヤ44
が掛けられ、これはスライド台34に接続されている。
さて、48は@査ステージであり、マスク基板を保持す
るためのマスク基板受は台50と、マスク基板の欠陥を
光学的に検出するための光学部(図小せず)をイ1′す
る。
この光学部は、マスク基板受は台50に保持されたマス
ク基板の−L面をレーザ光ビームで走査し、その斜め方
向への散乱光をホトマルチプライヤなどによって電気信
号に変換し、その信号からマスク基板1ユ而の異物付着
、傷などを検出し、また、マスク基板のド面への透過光
をホトマルチプライヤなどで電気信号に変換し、その信
号からマスク基板のピンホールを検出するものである。
なお、マスク基板受は台50は、前記走査のための11
i1後方向移動と、光学部とマスク基板との焦点合わせ
などのための上下移動が可能である。
次に検査済みマスク基板に関連した部分を説明する。5
4,58.58はエレベータであり、それぞれのエレベ
ータ台80.82.64には検査済みマスク基板を収納
するためのカセット66゜68.70が載置固定される
各エレベータ54.56.58の後ろ側に、中継台72
,74.78が配設されている。各中継台72.74.
78はそれぞれ昇降l−4f能であるが、そのための駆
動機構は図小されていない。
各中継台72,74.76の両側に、同転+iJ能なロ
ーラ78が図示のように列設されている。各ローラ78
は、先端部(図中内端部)に向かって直径が漸減するよ
うな円錐吠ローラである。
各中継台72,74.78に関連して、前後に移動可能
な押し込み金具80,82.84が配設されている。そ
れらの駆動機構は図中省略されている。
次に、検査ステージ48から検査済みマスク基板を搬出
するための搬送機構について説明する。
90は搬入側搬送機構のチャッキングユニット26と同
様のチャッキングユニットである。このチャッキングユ
ニット90もガイドシャフト36に案内されて左右にス
ライド可能である。
92はチャッキングユニット90を左右に移動させるた
めのモータである。このモータ92によって駆動される
プーリ94と、回転自在のプーリ96との間にワイヤ9
8が掛けられ、これはチャッキングユニット90に接続
されている。
なお、カセット18が空または溝棒になったことを検出
するための手段、カセットee、es。
70が満杯になったことを検出するための手段があるが
、図中示されていない。
99は前記各部の動作制御などを行うための制御部であ
る。前記センサ12.22の検出信号、マスク基板処理
ラインからのマスク基板搬入要求信号などは、この制御
部99に入力される。また、この制御部99からマスク
基板処理ラインへの搬入禁11ユ信号などが出される。
次に、このマスク基板検査機の動作について説明する。
なお、以ドに説明する動作は飽くまで例であり、それ以
外の動作も可能であることは当然である。
第2図は、搬入側搬送機構に関連した動作を説明するた
めの概略フローチャートであり、以下の説明において、
これを適宜参照する。
まず、マスク基板保持台10に、外部のマスク基板処理
ラインから搬入されたマスク基板が載置保持されている
か104べられる(ステップ100)。
マスク基板が保持されている場合は、ステップ゛102
の動作が行われる。チャッキングユニット26(マスク
基板出し入れ保持台20の位置にあり、アーム28.3
0は開状態で、Ljlている)が第1図に示す位置まで
移動させられ、アーム28.30が降下させられ、次に
閉じられることにより、マスク基板受は台101ユのマ
スク基板(鎖Ml 1)がアーム28.30に挟持され
る。そのままアーム28.30かに−Vfさせられ、チ
ャッキングユニット26はマスク基板出し入れ保持台2
0の位置まで移動させられる。
検査ステージ36のマスク基板受は台50にマスク基板
がなく、搬出用のチャッキングユニット90が検査ステ
ージ48の位置になく、マスク基板の搬入が可能な状態
(レディ状態)であるか調べられる(ステージ108)
レディ状態であれば、ステップ110の動作に進む。ま
ず、チャッキングユニット26は検査ステージ48へ向
けて移動させられ、マスク基板受は台50の位置で停止
1・、させられる。アーム28゜30が降ドさせられ、
それに挟持されているマスク基板がマスク基板受は台5
0に位置決めa置され、マスク基板受は台50に負圧吸
着にって保持される。次に、アーム28.30は開かれ
、さらに+、シ]′、させられる。
次に、チャッキングユニット26はマスク基板出し入れ
保持台20の位置まで戻される(ステップ112)。
他方、ステップ100においてマスク基板がマスク基板
保持台104上になければ、マスク基板出し入れ保持台
20上にマスク基板があるか調べられる(ステップ10
4)。
マスク基板出し入れ保持台20にマスク基板があれば、
そのマスク基板がチャッキングユニット26にチャッキ
ングされ(ステップ106Lステツプ108に進む。検
査ステージ48がレディ状態であれば、そのマスク基板
がマスク基板受は台50に搬入される(ステップ110
)。
ステップ104においてマスク基板がなければ、カセッ
ト18が空であるか調べられる(ステップ103)。カ
セット18にマスク基板が収納されていれば、マスク基
板出し入れ保持台20によるマスク基板の取り出し動作
が行われる(ステップ105)。
この取り出し動作について説明すれば、マスク基板出し
入れ保持台20は降下させられ、rl′iI進せしめら
れ、カセット99内の取り出すべきマスク基板の下側に
侵入する。次にマスク基板出し入れ保持台20は上昇さ
せられ、その上にマスク基板を保持した状態にて第1図
の位置まで後退させられる。エレベータ14は、カセッ
ト18を1スロット分だけ下降させる。
このようにして、マスク基板出し入れ保持台20にマス
ク基板が取り出され保持されると、チャッキングユニッ
ト26により、そのマスク基板がチャッキングされ(ス
テップ10B)、ステップ108に進む。
他方、カセット18が空の場合、オペレータに対しカセ
ット交換を要求する警報が発せられ(ステップ107)
、ステップ100に戻る。
以十、の説明から明らかなように、マスク基板保持台1
0に外部から供給されたマスク基板が優先的に検査ステ
ップ48にロードされる。そして、マスク基板保持台1
0にマスク基板がない場合に、カセット18から供給さ
れるマスク基板がロードされる。
したがって、検査動作とは非同期に動作するマスク基板
処理ラインからのマスク基板の供給待ちによる検査機側
の遊び時間が減り、マスク基板検査機の稼働率が−Lが
る。
さて、ステップ108において、検査ステージ48がレ
ディ状態でない場合(ビジー状態の場合)、マスク基板
保持台10にマスク基板が搬入済みであるか調べられる
(ステップ114)。マスク基板がない間、ステップ1
08.114のチェックが繰り返され、マスク基板をチ
ャフキングした状態のまま検査ステージ48がレディ状
態となるのを待つ。
他方、ステージ114においてマスク基板があると判定
されると、マスク基板処理ラインから次のマスク基板の
搬入要求があるか調べられる(ステップ116)。この
搬入要求がある場合、一定時間内にマスク基板がマスク
基板保持台10に搬入されるので、それまでにマスク基
板保持台10Lのマスク基板を移動させる必要がある。
そこで、ステップ116でマスク基板搬入姿求があると
判定された場合、マスク基板出し入れ保持台20にマス
ク基板があるか調べられる(ステップ118)。
そこにマスク基板がなければ、ステップ120の動作が
行われる。まず、チャッキングユニット26のアーム2
8.30はF降させられ、そこに挟持されているマスク
基板がマスク基板出し入れ保持台20に載置される。次
に、アーム28,30は開かれ、次に1−昇させられる
この後、ステップ100に戻り、マスク基板保持台10
.[−のマスク基板がチャッキングユニット26にチャ
フキングされ、マスク基板処理ラインからのマスク基板
の受は入れが可能となる。
ステップ118でマスク基板有りと判定された場合、ス
テップ122以降の動作に進む。
まず、カセット18が溝棒であるか調べられる(ステッ
プ122)。
カセット18が溝棒でなければ、マスク基板出し入れ保
持台20」−のマスク基板のカセット18への収納動作
が行われる(ステップ124)。
この収納動作について説明すれば、エレベータ14によ
りカセット18が1スロット分だけ1−昇せしめられ、
マスク基板が収納されていないスロットがマスク基板出
し入れ高さに位置決めされる。
その後、マスク基板出し入れ保持台20が上昇状態で前
進し、その上のマスク基板をカセット18の当該スロッ
トに押し込む。この押し込みが完了した後、マスク基板
出し入れ保持台20は下降させられて第1図の位置まで
後退せしめられ、その位置でLがさせられる。カセット
18は、1スロット分下げられる。
このようにしてマスク基板が収納されると、検査ステー
ジ48がレディ状態であるか1凋べられ(ステップ12
6)、ビジー状態ならばチャッキングユニット26に挟
持されているマスク基板がマスク基板出し入れ保持台2
0に渡され(ステップ120)、ステップ100に戻る
このように、チャッキングユニット26にマスク基板を
チャッキングしている状態で、検査ステップ48がビジ
ー状態であり、しかも、マスク基板保持台10からマス
ク基板を移動させる必要が生じた場合、チャッキングさ
れているマスク基板はマスク基板出し入れ保持台20に
一旦渡される。
つまり、マスク基板のバッファリングがなされる。
そして、その時にマスク基板出し入れ保持台20に既に
マスク基板がある場合は、そのマスク基板をカセット1
8に収納した後(これもマスク基板のバッファリング)
、チャッキングユニット26からマスク基板がマスク基
板出し入れ保持台20に載せられる。
このようなバッファリング機能があるため、検査ステー
ジ48のトラブル、搬出側搬送機構のトラブル、検査済
みマスク基板を収納するためのカセットee、es、7
0の交換などによる検査済みマスク基板の搬出待ち、な
どが生じた場合にも、マスク基板処理ラインの動作を市
めずに対応できる。
また、ここまでの説明から明らかなように、マスク基板
保持台10にマスク基板を供給しなければ、カセット1
8から供給されたマスク基板が連続的に検査ステージ4
8へ搬入される。つまり、このマスク基板検査機は、単
独でも使用できる。
なお、ステップ122においてカセット18が溝棒で空
きスロットがないと判定された場合、カセット18の交
換が必要である。そこで、この場合はオペレータへの筈
報が発せられ、また、マスク基板処理ラインに対してマ
スク基板搬入禁止が通知される(ステップ128)。そ
して、マスク基板検査機は動作を停市し、オペレータの
介入を待つ状態となる(ステップ130)。
次に、検査済みマスク基板の搬出に関連した動作を説明
する。検査ステージ48におけるマスク基板の検査が終
rすると、チャッキングユニ・ソト90がマスク愛は台
50の位置まで移動してマスク基板をチャッキングする
次にチャッキングユニット90は、そのマスク基板の検
査結果が「倫」であれば中継台72の位置まで移動し、
その中継台72にマスク基板を載せる。
この時、中継台72は−1: hlL/ているので、マ
スク基板は中継台72に支えられ、両側のローラ78に
は接触しない。なお、中継台72のL面は、その前後端
部が階段面とされており、その階段面とマスク基板の前
後端のエツジ部だけが接触するようになっている。
マスク基板を載せられた中継台72は下降し、そのマス
ク基板は両側のローラ78に載せられる。
ここで、ローラ78は前記のような形状であるから、マ
スク基板の両側のエツジ部だけがローラ78と接触する
次に、押し込み金具80がマスク基板の後端を押しなが
ら前進し、マスク基板はローラ781−を送られ、最終
的にカセット66に収納される。
この収納後、押し込み金具は図ノ1<位置まで後退する
とともに、カセット66を1スロット分だけド降または
」4シイさせるようにエレベータ60が作動する。
検査を終了したマスク基板の検査結果が「良」の場合、
そのマスク基板は中継台74に運ばれ、それから同様の
動作によってカセット68に収納される。また、検査結
果が「不良」のマスク基板は同様にしてカセット70に
収納される。
カセット88.68.70のいずれかが構体になった場
合、その交換を知らせるための?T報が発せられる。
なお、この実施例においては、検査済みマスク基板を収
納するためのカセットを3個設けているが、マスク基板
の評価段階をさらに細かく分類する場合には、カセット
を増設すればよい。また、評価段階数よりも多いカセッ
トを設けてお(ことにより、カセット交換のための動作
停止1−を回避するようにしてもよい。
以1・8、  ・実施例に関連して、この発明の詳細な
説明したが、この発明はその要旨を逸脱しない範囲内で
様々に変形して実施し得るものである。
さらに、この発明は、マスク基板以外の被検査物を検査
するための同様の検査機にも適用し得るものである。
[発明の効果コ 以上の説明から明らかなように、この発明によれば、外
部から搬入されるマスク基板などの被検査物を保持する
ための第1の・保持手段と、カセットから供給される被
検査物を保持するための第2の保持手段と、前記第1ま
たは第2の保持手段に保持されている被検査物を検査ス
テージへ搬送する搬送手段とを具備し、マスク基板処理
ラインに組み込んで高稼働率で使用可能であり、また単
独でも使用可能な検査機を実現できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、この発明によるマスク基板検査機の機構構成
を簡略化して示す概略平面図、第2図は同マスク基板検
査機の動作の−・例を説明するための概略フローチャー
トである。 10・・・マスク基板保持台、18・・・カセット、2
0・・・マスク基板出し入れ保持台、26・・・チャッ
キングユニット、48・・・検査ステージ。 第  2  図

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)マスク基板などの被検査物の検査を行う検査機に
    おいて、外部から搬入される被検査物を保持するための
    第1の保持手段と、カセットから供給される被検査物を
    保持するための第2の保持手段と、前記第1または第2
    の保持手段に保持されている被検査物板を検査ステージ
    へ搬送する搬送手段とを有することを特徴とする検査機
  2. (2)第1の保持手段に保持されている被検査物が優先
    的に検査ステージへ搬送されることを特徴とする特許請
    求の範囲第1項に記載の検査機。
JP27788686A 1986-11-21 1986-11-21 検査機 Pending JPS63132144A (ja)

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JP27788686A JPS63132144A (ja) 1986-11-21 1986-11-21 検査機

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JP (1) JPS63132144A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5025680A (en) * 1988-09-28 1991-06-25 Toyota Jidosha Kabushiki Kaisha Torsional damper type flywheel device
US5097721A (en) * 1988-09-30 1992-03-24 Toyota Jidosha Kabushiki Kaisha Torsional damper type flywheel device
JP2008138885A (ja) * 1998-10-16 2008-06-19 Aisin Seiki Co Ltd トルク変動吸収装置

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