JPS63136086A - 液晶表示パネルの検査装置 - Google Patents
液晶表示パネルの検査装置Info
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- JPS63136086A JPS63136086A JP28343886A JP28343886A JPS63136086A JP S63136086 A JPS63136086 A JP S63136086A JP 28343886 A JP28343886 A JP 28343886A JP 28343886 A JP28343886 A JP 28343886A JP S63136086 A JPS63136086 A JP S63136086A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の目的]
(産業上の利用分野)
本発明は、テレビジョン用等に使用される液晶表示パネ
ルの検査装置に関する。
ルの検査装置に関する。
(従来の技術)
近年、′all!Jトランジスタとカラーフィルタとを
組合わせた第11図に示す如くのテレビジョン用の液晶
表示パネルが開発されている。この液晶表示パネルは、
光の3原色の各単色の画素1を所定の配列順序で配置し
て構成したもので、その断面構成を第12図に示す。そ
の構成は、スペーサ2.2−を支持体として平板状の各
ガラス基板3.4を対向配置して、このスペーサ2とガ
ラス基板3との間を通して共通電極5をガラス基板3.
4の間に導入し、かつガラス基板4上に複数の画素電極
6−1.6−2・・・を平面上に配置して共通電極5と
各画素電極6−1.6−2・・・とを対向配置させてい
る。そして、共通1!極5とガラス基板3との間におけ
る各画素電極6−1.6−2・・・と対応する部位には
それぞれ光の3原色のカラーフィルタ7−1.7−2・
・・が配置されている。そうして、共通電極5と各画素
電極6−1.6−2・・・どの間にそれぞれ配向11!
18.9が配置され、これら配向ll18.9の間に液
晶10が挿入されたものとなっている。なお、11.1
2は偏向板であり、13−1,13−2・・・は薄膜ト
ランジスタである。カラー表示する場合は、光源14を
配置して光をガラス基板4を通して液晶10内に照射す
る。この状態で共通電極5と所定の画素電極6−1.6
−2・・・との間に電圧を印加すると、この画素部位に
おいてカラーフィルタ7−1.7−2・・・の波長の光
が通過することになる。これによりパネル上に画像が表
示される。
組合わせた第11図に示す如くのテレビジョン用の液晶
表示パネルが開発されている。この液晶表示パネルは、
光の3原色の各単色の画素1を所定の配列順序で配置し
て構成したもので、その断面構成を第12図に示す。そ
の構成は、スペーサ2.2−を支持体として平板状の各
ガラス基板3.4を対向配置して、このスペーサ2とガ
ラス基板3との間を通して共通電極5をガラス基板3.
4の間に導入し、かつガラス基板4上に複数の画素電極
6−1.6−2・・・を平面上に配置して共通電極5と
各画素電極6−1.6−2・・・とを対向配置させてい
る。そして、共通1!極5とガラス基板3との間におけ
る各画素電極6−1.6−2・・・と対応する部位には
それぞれ光の3原色のカラーフィルタ7−1.7−2・
・・が配置されている。そうして、共通電極5と各画素
電極6−1.6−2・・・どの間にそれぞれ配向11!
18.9が配置され、これら配向ll18.9の間に液
晶10が挿入されたものとなっている。なお、11.1
2は偏向板であり、13−1,13−2・・・は薄膜ト
ランジスタである。カラー表示する場合は、光源14を
配置して光をガラス基板4を通して液晶10内に照射す
る。この状態で共通電極5と所定の画素電極6−1.6
−2・・・との間に電圧を印加すると、この画素部位に
おいてカラーフィルタ7−1.7−2・・・の波長の光
が通過することになる。これによりパネル上に画像が表
示される。
ところで、このような液晶表示パネルを製造する際にこ
のパネルの検査が行われる。その項目としては画素欠陥
、輝度ムラ、クロストーク、残像等があり、これら検査
は液晶表示パネルの外形が大きくかつ画素数が非常に多
いためにオペレータの目視によって行われている。例え
ば、その検査は、液晶表示パネルを検査台に載置してこ
の表示パネルに対して液晶パネル表示コントローラを接
続し、この状態で液晶パネル表示コントローラによって
表示パネルに各検査項目に応じた画像を表示させる。そ
して、このときの各画像をオペレータが目視することに
よって検査結果を出している。
のパネルの検査が行われる。その項目としては画素欠陥
、輝度ムラ、クロストーク、残像等があり、これら検査
は液晶表示パネルの外形が大きくかつ画素数が非常に多
いためにオペレータの目視によって行われている。例え
ば、その検査は、液晶表示パネルを検査台に載置してこ
の表示パネルに対して液晶パネル表示コントローラを接
続し、この状態で液晶パネル表示コントローラによって
表示パネルに各検査項目に応じた画像を表示させる。そ
して、このときの各画像をオペレータが目視することに
よって検査結果を出している。
例えば検査項目が輝度ムラ検査であれば、液晶表示パネ
ルにおける全画素を同一輝度で表示させ、このとき液晶
表示パネル全面が一様に同一輝度で表示しているか目視
によって検出結果を出している。
ルにおける全画素を同一輝度で表示させ、このとき液晶
表示パネル全面が一様に同一輝度で表示しているか目視
によって検出結果を出している。
(発明が解決しようとする問題点)
このように表示パネルが多数の画素(5〜30万個)か
ら構成されかつその大きざが一辺を300μm〜100
μmとするものとなっているためオペレータの目視によ
って検査が行われている。このため、輝度ムラやクロス
トーク等の各検査が定量的にできず、かつ検査結果にム
ラが生じているのが現状である。
ら構成されかつその大きざが一辺を300μm〜100
μmとするものとなっているためオペレータの目視によ
って検査が行われている。このため、輝度ムラやクロス
トーク等の各検査が定量的にできず、かつ検査結果にム
ラが生じているのが現状である。
そこで本発明は、各検査項目を自動的にかつ定、−L
ω的にできる信頼性の高い液晶表示パネルの検査装置を
提供することを目的とする。
提供することを目的とする。
[発明の構成]
(問題点を解決するための手段)
本発明は、複数の画素を平面上に配列して一方の面側か
ら光を照射するととに画素を選択的に駆動して画像を表
示する液晶表示パネルの検査装置において、液晶表示パ
ネルの各画素を駆動制御する表示制御手段と、液晶表示
パネルに表示された画像を顕像する撮像装置と、表示制
御手段に検査項目別の検査指令を発するとともに撮像装
置から出力される画像信号を検査項目に応じて画像処理
して液晶表示パネルに対する検査を行なう検査手段とを
備えて上記目的を達成しようとする液晶表示パネルの検
査装置である。
ら光を照射するととに画素を選択的に駆動して画像を表
示する液晶表示パネルの検査装置において、液晶表示パ
ネルの各画素を駆動制御する表示制御手段と、液晶表示
パネルに表示された画像を顕像する撮像装置と、表示制
御手段に検査項目別の検査指令を発するとともに撮像装
置から出力される画像信号を検査項目に応じて画像処理
して液晶表示パネルに対する検査を行なう検査手段とを
備えて上記目的を達成しようとする液晶表示パネルの検
査装置である。
(作用)
このような手段を備えたことにより、検査手段から表示
制御手段に検査項目別の検査指令が発せられると、表示
制御手段の駆動制御によって液晶表示パネルに検査項目
に応じた画像が表示される。そして、この画像がIl像
装置によって撮像されてその画像信号が検査手段に送ら
れる。この検査手段は画像信号を受けて検査項目に応じ
た画像処理を実行して液晶表示パネルに対する検査を行
なう。
制御手段に検査項目別の検査指令が発せられると、表示
制御手段の駆動制御によって液晶表示パネルに検査項目
に応じた画像が表示される。そして、この画像がIl像
装置によって撮像されてその画像信号が検査手段に送ら
れる。この検査手段は画像信号を受けて検査項目に応じ
た画像処理を実行して液晶表示パネルに対する検査を行
なう。
(実施例)
以下、本発明の一実施例について図面を参照して説明す
る。
る。
第1図は液晶表示パネルの検査装置の構成図である。同
図において20はカラー液晶表示パネルであって、この
カラー液晶表示パネル20は搬送機構21のアーム(不
図示)によって把持されて未検査のカラー液晶表示パネ
ル20を収納するボックス22から取り出されてドライ
バ基板23上に載置され、かつ検査終了後に再びアーム
で把持されて検査結果「良」のボックス24又は検査結
果「不良」のボックス25へ収納されるものとなってい
る。ドライバ基板23は、カラー液晶表示パネル20の
載置される部分に窓23aが形成され、かつカラー液晶
表示パネル20の各画素電慢および共通電極と表示制御
部26とを電気的に接続するものである。このドライバ
基板23の下方にはバックライトとして機能させる各光
源27.28が配置されるとともに反射11129が配
置されている。また、ドライバ基板23と各光源27.
28との間に透光性の拡散板30が配置されて各光源2
7.28から放射される光がカラー液晶表示パネル20
に対して一様の照度で照射されるようになっている。
図において20はカラー液晶表示パネルであって、この
カラー液晶表示パネル20は搬送機構21のアーム(不
図示)によって把持されて未検査のカラー液晶表示パネ
ル20を収納するボックス22から取り出されてドライ
バ基板23上に載置され、かつ検査終了後に再びアーム
で把持されて検査結果「良」のボックス24又は検査結
果「不良」のボックス25へ収納されるものとなってい
る。ドライバ基板23は、カラー液晶表示パネル20の
載置される部分に窓23aが形成され、かつカラー液晶
表示パネル20の各画素電慢および共通電極と表示制御
部26とを電気的に接続するものである。このドライバ
基板23の下方にはバックライトとして機能させる各光
源27.28が配置されるとともに反射11129が配
置されている。また、ドライバ基板23と各光源27.
28との間に透光性の拡散板30が配置されて各光源2
7.28から放射される光がカラー液晶表示パネル20
に対して一様の照度で照射されるようになっている。
一方、カラー液晶表示パネル20の上方には撮像装置と
してのCOD (固体wi像素子)カメラ31が配置さ
れている。このCCDカメラ31はXYテーブル32に
取り付けられてXY平而面まりカラー液晶表示パネル2
0の表示面に対して平行な面に移動するものとなってい
る。そして、このCCDカメラ31から出力される画像
信号は検出手段33に送られるようになっている。この
検出手段33は、表示制御部26に検査項目別、例えば
画素欠陥、Ili度ムラ検出、クロストーク検出および
残像検出の各検査指令を発するとともにCCDカメラ3
1からの画像信号を受けて、この画像信号を検査環−目
別に画像処理してカラー液晶表示パネル20に対する検
査結果を得る機能を有するものである。具体的には画像
処理部34および主制御部35から構成されている。画
像処理部34は主制御部35からの検査項目を示す指令
を受けてCCDカメラ31からの画像信号をその検査項
目に応じて画像処理する機能を有するもので、第2図に
具体的な構成を示す。同図に示す如く主制御部35と接
続された画@CPU(画像中央処理装置)36が設けら
れ、この画像CPU36にインタフェース37、パスラ
イン38を通して画像処理プロセッサ39および画像メ
モリ40が接続されている。また、画@CPU36には
、各検査項目別の検査プログラム等が記憶された主記憶
装置41および110(インプット/アウトプットコン
トローラ)42を介してフロッピーディスク43、ディ
スク44が接続されるようになっている。なお、パスラ
イン38にはCCDカメラ31およびCR7表示装置4
5が接続されている。
してのCOD (固体wi像素子)カメラ31が配置さ
れている。このCCDカメラ31はXYテーブル32に
取り付けられてXY平而面まりカラー液晶表示パネル2
0の表示面に対して平行な面に移動するものとなってい
る。そして、このCCDカメラ31から出力される画像
信号は検出手段33に送られるようになっている。この
検出手段33は、表示制御部26に検査項目別、例えば
画素欠陥、Ili度ムラ検出、クロストーク検出および
残像検出の各検査指令を発するとともにCCDカメラ3
1からの画像信号を受けて、この画像信号を検査環−目
別に画像処理してカラー液晶表示パネル20に対する検
査結果を得る機能を有するものである。具体的には画像
処理部34および主制御部35から構成されている。画
像処理部34は主制御部35からの検査項目を示す指令
を受けてCCDカメラ31からの画像信号をその検査項
目に応じて画像処理する機能を有するもので、第2図に
具体的な構成を示す。同図に示す如く主制御部35と接
続された画@CPU(画像中央処理装置)36が設けら
れ、この画像CPU36にインタフェース37、パスラ
イン38を通して画像処理プロセッサ39および画像メ
モリ40が接続されている。また、画@CPU36には
、各検査項目別の検査プログラム等が記憶された主記憶
装置41および110(インプット/アウトプットコン
トローラ)42を介してフロッピーディスク43、ディ
スク44が接続されるようになっている。なお、パスラ
イン38にはCCDカメラ31およびCR7表示装置4
5が接続されている。
ところで、前記面@CPU36は主制御部35からの検
査指令を受けて検査項目に当たる検査プログラムを主記
憶装置41からインタフェース37を通して画像処理プ
ロセッサ3つにロードしたり、また画像処理プロセッサ
39で得られた画像処理結果をCR7表示装置45に表
示させたりする機能を有するものであり、これに対して
画像処理プロセッサ3つは画像メモリ40に記憶されて
いる画像データに対する画像処理のみを実行する機能を
有するものである。
査指令を受けて検査項目に当たる検査プログラムを主記
憶装置41からインタフェース37を通して画像処理プ
ロセッサ3つにロードしたり、また画像処理プロセッサ
39で得られた画像処理結果をCR7表示装置45に表
示させたりする機能を有するものであり、これに対して
画像処理プロセッサ3つは画像メモリ40に記憶されて
いる画像データに対する画像処理のみを実行する機能を
有するものである。
一方、主制御部35は、画像処理部34、XYテーブル
32の各X軸駆動モータ46およびY軸駆動モータ47
を駆動制御するXYテーブル駆動部48、表示制御部2
6および搬送機構21を作vJ制御する搬送機構制御部
49に対して検査項目を示す検査指令を発して検査項目
別の作動制御を行なうものである。
32の各X軸駆動モータ46およびY軸駆動モータ47
を駆動制御するXYテーブル駆動部48、表示制御部2
6および搬送機構21を作vJ制御する搬送機構制御部
49に対して検査項目を示す検査指令を発して検査項目
別の作動制御を行なうものである。
次に上記の如く構成された装置の作用について説明する
。
。
主制御部35は第3図に示す検査フローチャートに従っ
て指令を発し、そのステップS1において先ず搬送指令
を搬送機構制御部49に発する。これにより、搬送機構
21が作動してアームにより未検査ボックス2に収納さ
れているカラー液晶表示パネル20が把持されて取り出
され、そしてドライバ基板23上に載置される。これと
ともに主制御部35は、この欠陥検出の検査指令を画像
処理部34、XYテーブル駆動部48および表示制御部
26に発する。するとXYテーブル駆動部48の作動に
より各X、Y軸駆動モータ46.47が駆動してXYテ
ーブル32が作動し、もってCCDカメラ31がその視
野が第4図に示すカラー液晶表示パネル20における1
iaF1になるようにセットされる。また、表示制御部
26によりカラー液晶表示パネル20の全画素電極に所
定レベルの電圧が印加される。これにより、カラー液晶
表示パネル20の光の3原色の各単色が全て表示される
。この状態でステップS2においてCCDカメラ31に
より撮像された領域F1の画像信号がパスライン38を
通って画像処理プロセッサ39に送られ、この画像処理
プロセッサ39により画像信号がA/D変換されて順次
画像メモリ40に記憶される。そして、領域F1の画像
信号が全てA/D変換されて領域F1の画像データ(第
6図(a))として画像メモリ40に記憶されると、ス
テップS4に移って検査項目に応じた画像処理が実行さ
れる。ここで、欠陥検出は第5図に示す欠陥検査フロー
チャートに従って実行される。先ず、ステップe1にお
いて画素選択が実行される。これは領域F1の画像デー
タから赤、縁および青にあたる画素を抽出するもので、
先ず王制a部35からこの旨の指令が表示制御部26に
発せられ、この表示制御部26によってカラー液晶表示
パネル20における赤の画素のみが駆動される。従って
、カラー液晶表示パネル20の画像は赤となり、領域F
1のこの画像がCCDカメラ31により撮像されてその
画像データ(第6図(a))が画像メモリ40に記憶さ
れる。そうして、画像処理プロセッサ39は同図(a)
に示す各画像データから同図(b)に示す画像データの
赤に相当する画素を抽出して同図(C)に示す如くの画
像データを得る。次にステップe2に移ってシェーディ
ング補正が実行される。これは各光源27.28による
カラー液晶表示パネル20に対する光の照11fflが
一様にならない場合が多いので、予めカラー液晶表示パ
ネル20をドライバ基板23に載置しない状態で各光源
27.28を点灯したときの画像データを得ておく。第
7図はこの画像データを示し、画像の中央部と周辺部と
では輝度ムラが生じている。従って、画像処理プロセッ
サ39は第6図(C)に示す画像データに対して第7図
に示す画像データにより各画素の濃淡レベルの補正を行
なう。そして、次のステップe3において所定レベルを
基準として2 +1!I化処理が実行され、この処理の
結果、基準レベル以下となった濃淡レベルの画素が第8
図に示す如く欠陥画素G1、G2として判定される。そ
して、ステップe4において欠陥画素の位置(座標)が
検出される。
て指令を発し、そのステップS1において先ず搬送指令
を搬送機構制御部49に発する。これにより、搬送機構
21が作動してアームにより未検査ボックス2に収納さ
れているカラー液晶表示パネル20が把持されて取り出
され、そしてドライバ基板23上に載置される。これと
ともに主制御部35は、この欠陥検出の検査指令を画像
処理部34、XYテーブル駆動部48および表示制御部
26に発する。するとXYテーブル駆動部48の作動に
より各X、Y軸駆動モータ46.47が駆動してXYテ
ーブル32が作動し、もってCCDカメラ31がその視
野が第4図に示すカラー液晶表示パネル20における1
iaF1になるようにセットされる。また、表示制御部
26によりカラー液晶表示パネル20の全画素電極に所
定レベルの電圧が印加される。これにより、カラー液晶
表示パネル20の光の3原色の各単色が全て表示される
。この状態でステップS2においてCCDカメラ31に
より撮像された領域F1の画像信号がパスライン38を
通って画像処理プロセッサ39に送られ、この画像処理
プロセッサ39により画像信号がA/D変換されて順次
画像メモリ40に記憶される。そして、領域F1の画像
信号が全てA/D変換されて領域F1の画像データ(第
6図(a))として画像メモリ40に記憶されると、ス
テップS4に移って検査項目に応じた画像処理が実行さ
れる。ここで、欠陥検出は第5図に示す欠陥検査フロー
チャートに従って実行される。先ず、ステップe1にお
いて画素選択が実行される。これは領域F1の画像デー
タから赤、縁および青にあたる画素を抽出するもので、
先ず王制a部35からこの旨の指令が表示制御部26に
発せられ、この表示制御部26によってカラー液晶表示
パネル20における赤の画素のみが駆動される。従って
、カラー液晶表示パネル20の画像は赤となり、領域F
1のこの画像がCCDカメラ31により撮像されてその
画像データ(第6図(a))が画像メモリ40に記憶さ
れる。そうして、画像処理プロセッサ39は同図(a)
に示す各画像データから同図(b)に示す画像データの
赤に相当する画素を抽出して同図(C)に示す如くの画
像データを得る。次にステップe2に移ってシェーディ
ング補正が実行される。これは各光源27.28による
カラー液晶表示パネル20に対する光の照11fflが
一様にならない場合が多いので、予めカラー液晶表示パ
ネル20をドライバ基板23に載置しない状態で各光源
27.28を点灯したときの画像データを得ておく。第
7図はこの画像データを示し、画像の中央部と周辺部と
では輝度ムラが生じている。従って、画像処理プロセッ
サ39は第6図(C)に示す画像データに対して第7図
に示す画像データにより各画素の濃淡レベルの補正を行
なう。そして、次のステップe3において所定レベルを
基準として2 +1!I化処理が実行され、この処理の
結果、基準レベル以下となった濃淡レベルの画素が第8
図に示す如く欠陥画素G1、G2として判定される。そ
して、ステップe4において欠陥画素の位置(座標)が
検出される。
そうして、ステップe5において他の緑、青に対する各
画素の欠陥検出が終了したかが判断され、終了していな
ければ再びステップe1に戻って第6図(a)に示す画
像データから緑、青の画素が抽出されて赤の場合と同様
に欠陥検出が実行される。
画素の欠陥検出が終了したかが判断され、終了していな
ければ再びステップe1に戻って第6図(a)に示す画
像データから緑、青の画素が抽出されて赤の場合と同様
に欠陥検出が実行される。
そうして、金色に対する欠陥検出が終了すると、ステッ
プe6に移ってカラー液晶表示パネル20の全面つまり
F1〜F9の全領域に対して各色の画素に対する欠陥検
出が終了したかが判断される。
プe6に移ってカラー液晶表示パネル20の全面つまり
F1〜F9の全領域に対して各色の画素に対する欠陥検
出が終了したかが判断される。
ここで、終了していなければ、ステップe7において主
制御部35からXYテーブル駆動部48に駆動指令が発
せられて、CCDカメラ31がF2領域をlfi像する
位置に移動される。そして、F2領域における各色の画
素に対する欠陥検出が実行される。そうして、ステップ
e1〜e7における動作が実行されてカラー液晶表示パ
ネル20の全面の欠陥検出が終了すると、ステップe8
において全面における欠陥数が求められる。そうして、
ステップe9においてカラー液晶表示パネル20の良否
が判定される。この判定は、第9図に示すようなカラー
液晶表示パネル20の全面と対応する判定基準データが
予め主記憶装置41に記憶され、このデータと欠陥検出
により得られた欠陥画素の位置およびその数とを比較す
ることによって判定を行なっている。この判定基準デー
タは、例えばQ1ゾーンにおける欠陥数がrOJ以下、
Q2ゾーンにおける欠陥数が「1」以下、Q3ゾーンに
おける欠陥数が「1又は2」以下と設定されたもので、
これら条件を満足しなければ不良と判定される。
制御部35からXYテーブル駆動部48に駆動指令が発
せられて、CCDカメラ31がF2領域をlfi像する
位置に移動される。そして、F2領域における各色の画
素に対する欠陥検出が実行される。そうして、ステップ
e1〜e7における動作が実行されてカラー液晶表示パ
ネル20の全面の欠陥検出が終了すると、ステップe8
において全面における欠陥数が求められる。そうして、
ステップe9においてカラー液晶表示パネル20の良否
が判定される。この判定は、第9図に示すようなカラー
液晶表示パネル20の全面と対応する判定基準データが
予め主記憶装置41に記憶され、このデータと欠陥検出
により得られた欠陥画素の位置およびその数とを比較す
ることによって判定を行なっている。この判定基準デー
タは、例えばQ1ゾーンにおける欠陥数がrOJ以下、
Q2ゾーンにおける欠陥数が「1」以下、Q3ゾーンに
おける欠陥数が「1又は2」以下と設定されたもので、
これら条件を満足しなければ不良と判定される。
以上の欠陥検出が終了すると次に輝度ムラが検出される
。
。
上記欠陥検出終了後においては各領域F1〜F9ごとの
各色別にシェーディング補正された各画像データが画像
メモリ40に記憶されている。
各色別にシェーディング補正された各画像データが画像
メモリ40に記憶されている。
従って、画像処理プロセッサ39は、多頭1iiIF1
〜F9ごとに各色の平均濃淡レベルを求める。例えば、
各領域F1〜F9における赤の平均Q淡しベルR1、R
2・・・R9がそれぞれ求められる。そうして、カラー
液晶表示パネル20の全面に対する平均濃淡レベルRO
が求められる。
〜F9ごとに各色の平均濃淡レベルを求める。例えば、
各領域F1〜F9における赤の平均Q淡しベルR1、R
2・・・R9がそれぞれ求められる。そうして、カラー
液晶表示パネル20の全面に対する平均濃淡レベルRO
が求められる。
Ra = (R1+R2+−+R9)/9この後、この
平均濃淡レベルRoにより次の判定基準が作成されて良
否が判定される。つまり、F?、a Xo、9 ≦
Ri ≦ RQ X 1,1(i−1〜9) である。モして多額[F1〜F9の各平均濃淡レベルR
1、R2・・・R9(=Ri )が上記条件を満足しな
ければ不良と判定される。そうして、以上の判定が緑お
よび青に対しても実行される。
平均濃淡レベルRoにより次の判定基準が作成されて良
否が判定される。つまり、F?、a Xo、9 ≦
Ri ≦ RQ X 1,1(i−1〜9) である。モして多額[F1〜F9の各平均濃淡レベルR
1、R2・・・R9(=Ri )が上記条件を満足しな
ければ不良と判定される。そうして、以上の判定が緑お
よび青に対しても実行される。
輝度ムラの検査が終了すると、次にクロストークの検査
が実行される。主制御部35はクロストーク検査の検査
指令を表示制御部26に発すると、この表示制御部26
はカラー液晶表示パネル20を第10図に示すようにW
領域が白色でB領域が黒色の画像を表示させる。また、
XYテーブル駆動部48はクロストーク検査の検査指令
を受けると、CCDカメラ31を領域F1をVa@する
位置にセットする。この状態で表示制御部26は領1i
i!Wの色を白色から黒色へ変化させる。このとき、C
CDカメラ31は領域Wの邑が変化する前と後との領域
F1における画像を撮像してその画像信号を検査手段3
3に送出する。従って、画像メモリ40には領域F1に
おける領vJ、Wの色が変化する前と後との各画像デー
タが記憶される。画像処理プロセッサ39はこれら前後
の画像データの平均濃淡レベルを求めて比較し、その差
が主制御部35に送られる。そこで、主制御部35は平
均濃淡レベル差が所定値以上であれば不良と判定する。
が実行される。主制御部35はクロストーク検査の検査
指令を表示制御部26に発すると、この表示制御部26
はカラー液晶表示パネル20を第10図に示すようにW
領域が白色でB領域が黒色の画像を表示させる。また、
XYテーブル駆動部48はクロストーク検査の検査指令
を受けると、CCDカメラ31を領域F1をVa@する
位置にセットする。この状態で表示制御部26は領1i
i!Wの色を白色から黒色へ変化させる。このとき、C
CDカメラ31は領域Wの邑が変化する前と後との領域
F1における画像を撮像してその画像信号を検査手段3
3に送出する。従って、画像メモリ40には領域F1に
おける領vJ、Wの色が変化する前と後との各画像デー
タが記憶される。画像処理プロセッサ39はこれら前後
の画像データの平均濃淡レベルを求めて比較し、その差
が主制御部35に送られる。そこで、主制御部35は平
均濃淡レベル差が所定値以上であれば不良と判定する。
そうして、このような判定が多額FaF1〜F9に対し
て実行される。
て実行される。
このクロストークの検査が終了すると、残像検査が行わ
れる。この残像検査のときカラー液晶表示パネル20の
画像は表示制御部26によって第10図に示す如くW領
域が白色でB領域が黒色の画像となっている。また、C
CDカメラ31は[R5つまりW領域を撮像する位置に
セットされる。
れる。この残像検査のときカラー液晶表示パネル20の
画像は表示制御部26によって第10図に示す如くW領
域が白色でB領域が黒色の画像となっている。また、C
CDカメラ31は[R5つまりW領域を撮像する位置に
セットされる。
この状態で表示制御部26はW領域を白色から黒色に急
変させる。この急変時、CCDカメラ31はwi*の画
像を撮像してその画像信号を出力する。従って、画像処
理プロセッサ3つは画像信号を16m5毎に受けてA/
D変換してその逐次画像データとして画像メモリ40に
記憶し、この処理を約1S間実行する。そして、1S間
経過の後。
変させる。この急変時、CCDカメラ31はwi*の画
像を撮像してその画像信号を出力する。従って、画像処
理プロセッサ3つは画像信号を16m5毎に受けてA/
D変換してその逐次画像データとして画像メモリ40に
記憶し、この処理を約1S間実行する。そして、1S間
経過の後。
画像処理プロセッサ39は(qられた各画像データの′
a淡レベルを比較して所定時間内に白色の濃淡レベルか
ら黒色の濃淡レベルに変化しているかをば不良と判定す
る。
a淡レベルを比較して所定時間内に白色の濃淡レベルか
ら黒色の濃淡レベルに変化しているかをば不良と判定す
る。
このように上記一実施例においては、表示制御部26の
駆動制御によってカラー液晶表示パネル20に検査項目
に応じた画像を表示し、この画像をCCDカメラ31に
よって撮像してその画像信号を検査手段33に送り、こ
の検査手段33により検査項目に応じた画像処理を実行
してカラー液晶表示パネル20に対する検査を行なう構
成としたので、カラー液晶表示パネル20に対する検査
が定量的にかつ正確にできるようなり、オペレータによ
る検査のムラが全く無くなる。そのうえ、検査の時間は
オペレータによると約3分掛っていたのが、自動化によ
り約1分で終了する。従って、カラー液晶表示パネル2
0の製品としての品質を向上でき、かつオペレータの疲
労を軽減できる。
駆動制御によってカラー液晶表示パネル20に検査項目
に応じた画像を表示し、この画像をCCDカメラ31に
よって撮像してその画像信号を検査手段33に送り、こ
の検査手段33により検査項目に応じた画像処理を実行
してカラー液晶表示パネル20に対する検査を行なう構
成としたので、カラー液晶表示パネル20に対する検査
が定量的にかつ正確にできるようなり、オペレータによ
る検査のムラが全く無くなる。そのうえ、検査の時間は
オペレータによると約3分掛っていたのが、自動化によ
り約1分で終了する。従って、カラー液晶表示パネル2
0の製品としての品質を向上でき、かつオペレータの疲
労を軽減できる。
なお、本発明は上記一実施例に限定されるものでなくそ
の主旨を逸脱しない範囲で変形してもよい。例えば、白
黒の液晶表示パネルやパーソナルコンピュータ等に使用
されている液晶表示パネルの検査にも適用できる。
の主旨を逸脱しない範囲で変形してもよい。例えば、白
黒の液晶表示パネルやパーソナルコンピュータ等に使用
されている液晶表示パネルの検査にも適用できる。
[発明の効果]
以上詳記したように本発明によれば、各検査項目を自動
的にかつ定面的にできる信頼性の高い液晶btの検査V
R置を提供できる。
的にかつ定面的にできる信頼性の高い液晶btの検査V
R置を提供できる。
は本発明装置の検査フローチャート、第4図はカラー液
晶表示パネルに対する撮像W4域を示す図、第5図は本
発明装置の欠陥検査フローチャート、第6図ないし第9
図は本発明装置における欠陥検出の作用を説明するため
の図、第10図はクロストーク及び残像検査を説明する
ための図、第11図および第12図はカラー液晶表示パ
ネルの構成図である。 20・・・カラー液晶表示パネル、21・・・搬送機構
、23・・・ドライバ基板、26・・・表示制罪部、2
7゜28・・・光源、29・・・反射鏡、30・・・拡
散板、31・・・CCDカメラ、32・・・XYテーブ
ル、33・・・検査手段、34・・・画像処理部、35
・・・主制御部、36・・・画像CPU、39・・・画
像処理プロセッサ、40・・・画像メモリ、41・・・
主記憶装置。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 第3図 第 4rXj 第50 (a)(b)(c) りン;61114 6157 図 第8図
晶表示パネルに対する撮像W4域を示す図、第5図は本
発明装置の欠陥検査フローチャート、第6図ないし第9
図は本発明装置における欠陥検出の作用を説明するため
の図、第10図はクロストーク及び残像検査を説明する
ための図、第11図および第12図はカラー液晶表示パ
ネルの構成図である。 20・・・カラー液晶表示パネル、21・・・搬送機構
、23・・・ドライバ基板、26・・・表示制罪部、2
7゜28・・・光源、29・・・反射鏡、30・・・拡
散板、31・・・CCDカメラ、32・・・XYテーブ
ル、33・・・検査手段、34・・・画像処理部、35
・・・主制御部、36・・・画像CPU、39・・・画
像処理プロセッサ、40・・・画像メモリ、41・・・
主記憶装置。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 第3図 第 4rXj 第50 (a)(b)(c) りン;61114 6157 図 第8図
Claims (2)
- (1)複数の画素を平面上に配列して一方の面側から光
を照射するととに前記画素を選択的に駆動して画像を表
示する液晶表示パネルの検査装置において、前記液晶表
示パネルの各画素を駆動制御する表示制御手段と、前記
液晶表示パネルに表示された画像を撮像する撮像装置と
、前記表示制御手段に検査項目別の検査指令を発すると
ともに前記撮像装置から出力される画像信号を前記検査
項目に応じて画像処理して前記液晶表示パネルに対する
検査を行なう検査手段とを具備したことを特徴とする液
晶表示パネルの検査装置。 - (2)検査手段は、検査項目として少なくとも画素欠陥
、輝度ムラ検出、クロストーク検出および残像検出を有
し、かつこれら検査項目に応じた画像処理機能を備えた
特許請求の範囲第(1)項記載の液晶表示パネルの検査
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28343886A JPS63136086A (ja) | 1986-11-28 | 1986-11-28 | 液晶表示パネルの検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28343886A JPS63136086A (ja) | 1986-11-28 | 1986-11-28 | 液晶表示パネルの検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63136086A true JPS63136086A (ja) | 1988-06-08 |
| JPH0522239B2 JPH0522239B2 (ja) | 1993-03-26 |
Family
ID=17665546
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP28343886A Granted JPS63136086A (ja) | 1986-11-28 | 1986-11-28 | 液晶表示パネルの検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63136086A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02156290A (ja) * | 1988-12-08 | 1990-06-15 | Nec Corp | 液晶パネル検査装置 |
| JPWO2023161975A1 (ja) * | 2022-02-22 | 2023-08-31 |
Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5323296A (en) * | 1976-08-16 | 1978-03-03 | Nec Corp | Tester for display device with response-lag |
| JPS53105192A (en) * | 1977-02-24 | 1978-09-13 | Mitsubishi Electric Corp | Test equipment for liquid crystal display element |
| JPS53144357A (en) * | 1977-05-21 | 1978-12-15 | Mitsubishi Electric Corp | Inspecting apparatus of liquid crystal display elements |
| JPS5643694A (en) * | 1979-09-17 | 1981-04-22 | Matsushita Electric Industrial Co Ltd | Method of detecting failure in liquid crystal matrix display panel |
| JPS57175837A (en) * | 1981-04-24 | 1982-10-28 | Hitachi Ltd | Air conditioner |
| JPS58155328A (ja) * | 1982-03-11 | 1983-09-16 | Seiko Instr & Electronics Ltd | 液晶表示装置用検査装置 |
-
1986
- 1986-11-28 JP JP28343886A patent/JPS63136086A/ja active Granted
Patent Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5323296A (en) * | 1976-08-16 | 1978-03-03 | Nec Corp | Tester for display device with response-lag |
| JPS53105192A (en) * | 1977-02-24 | 1978-09-13 | Mitsubishi Electric Corp | Test equipment for liquid crystal display element |
| JPS53144357A (en) * | 1977-05-21 | 1978-12-15 | Mitsubishi Electric Corp | Inspecting apparatus of liquid crystal display elements |
| JPS5643694A (en) * | 1979-09-17 | 1981-04-22 | Matsushita Electric Industrial Co Ltd | Method of detecting failure in liquid crystal matrix display panel |
| JPS57175837A (en) * | 1981-04-24 | 1982-10-28 | Hitachi Ltd | Air conditioner |
| JPS58155328A (ja) * | 1982-03-11 | 1983-09-16 | Seiko Instr & Electronics Ltd | 液晶表示装置用検査装置 |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02156290A (ja) * | 1988-12-08 | 1990-06-15 | Nec Corp | 液晶パネル検査装置 |
| JPWO2023161975A1 (ja) * | 2022-02-22 | 2023-08-31 | ||
| WO2023161975A1 (ja) * | 2022-02-22 | 2023-08-31 | 株式会社ソシオネクスト | 画像表示制御装置、画像表示システム及び画像表示制御方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0522239B2 (ja) | 1993-03-26 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |