JPS63140907U - - Google Patents

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JPS63140907U
JPS63140907U JP1988018059U JP1805988U JPS63140907U JP S63140907 U JPS63140907 U JP S63140907U JP 1988018059 U JP1988018059 U JP 1988018059U JP 1805988 U JP1805988 U JP 1805988U JP S63140907 U JPS63140907 U JP S63140907U
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Description

【図面の簡単な説明】 第１図は本考案によるＸ線診断装置の主要部分
の概要図、第２図はＸ線撮影ユニツトの一部分の
斜視図、第３図は第２図に示されている実施例に
対する変形例の斜視図、第４図は原理回路図、第
５図および第６図はそれぞれ像生成の説明のため
に二次スリツトおよび像撮影センサを簡単化して
示す図、第７図ａ〜ｆは像生成の過程を説明する
ための図、第８図は像フオーマツト変換のための
原理図、第９図は第８図中の一部分を拡大して示
す斜視図である。 １……回転ユニツト、２……保持腕、３……Ｘ
線源、４……Ｘ線撮影ユニツト、５……患者、７
……絞り、８……二次スリツト、９……シンチレ
ータ層、１０……伝達要素、１１〜１３……ＣＣ
Ｄ層、１４，１５……フアイバ光学要素、１６…
…Ａ―Ｄ変換器、１７……予処理ユニツト、１８
……像メモリ、１９……像読出しユニツト、２０
……モニタ、２１……計算機、２２……クロツク
発生器、２６……フアイバ、２７……ブロツク、
２８……ブリツジ、２９……チヤンバ、３０，３
１……内面、３２……鉛保護、３３……基板。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 患者の顎のパノラマ断層撮影のための歯科
    用Ｘ線診断装置であつて、垂直軸線を中心に回転
    可能であるユニツトを備えており、このユニツト
    は一方ではＸ線源３の、他方では二次スリツトを
    有する絞り７の保持体であり、さらにＸ線を可視
    光線に変換するための手段９と、ビーム強度に比
    例する電気的信号を形成する検出装置１１とを備
    えており、さらにこの検出装置と接続されて検出
    装置から得られた電圧をデイジタル化するＡ―Ｄ
    変換器１６と、像メモリ１８と、前記検出装置か
    ら撮影過程の間に供給された信号から全体像を計
    算する計算機２１を有するデータ処理装置とを備
    えており、前記全体像がデータ処理装置に接続さ
    れている像再現装置２０を介して再現され得る歯
    科用Ｘ線診断装置において、前記検出装置が、二
    次スリツト８の像帯域１１ａの上に結像し得るよ
    うに配置されている１つまたはそれ以上のＣＣＤ
    センサ１１，１２，１３を含んでおり、その際に
    スリツトの長辺の方向の１つの線が１つのＣＣＤ
    行の上に結像され、ＣＣＤセンサと接続されてい
    るクロツク発生器２２が設けられており、そのク
    ロツクパルスにより二次スリツト８のなかの光像
    （ＬｉＢ（に相応する電荷像（ＬＢ）が１つの全
    体電荷像（ＬＢｇｅｓ）として加え合わされ、そ
    の際に電荷像（ＬＢ）が像帯域１１ａからメモリ
    帯域１１ｂへ運ばれ、またその後でシフトレジス
    タ１１ｃを介して読出され、またその後にＡ―Ｄ
    変換器１６に与えられ、また電荷像（ＬＢ）が、
    Ｘ線フイルムが従来の撮影技術において二次スリ
    ツト８に対して相対的に動かされる速度と同一の
    速度ｖでメモリ帯域のなかへクロツクされ、また
    その後に行ごとにシフトレジスタを介してクロツ
    クアウトされるようにクロツク周波数（ｆＴａｋ
    ｔ    ）が選定されていることを特徴とする歯料用Ｘ
    線診断装置。 (2) クロツク周波数（ｆＴａｋｔ）が関係式 ｆＴａｋｔ＝ｖ／（ｎｘ・ａ） により選定されていることを特徴とする請求項１
    記載のＸ線診断装置。 (3) 多くのＣＣＤ行の電荷が加え合わされ、ま
    たこれらの積分された電荷の和がその後に像メモ
    リ１８のなかに記憶されることを特徴とする請求
    項２記載のＸ線診断装置。 (4) ＣＣＤセンサ１１の像積分時間（ｔＢＡ）
    の間に像行が従来の撮影技術におけるフイルム速
    度ｖに相応するクロツクレート（ｆＴａｋｔ）で
    像帯域１１ａへシフトされ、また像積分時間（ｔ
    ＢＡ）の後に全体電荷像がより高いクロツクレー
    トでメモリ帯域１１ｂへシフトされることを特徴
    とする請求項１記載のＸ線診断装置。 (5) 二次スリツト８の長さにわたり分布された
    多くのＣＣＤセンサ１１，１２，１３が設けられ
    ており、またこれが、像帯域１１ａ，１２ａ，１
    ３ａが二次スリツト８の平面に対して９０°以上
    の角度のもとに延びているように配置されており
    、また二次スリツト８と像帯域１１ａ，１２ａ，
    １３ａとの間に像変換器９および像伝達光学系２
    ６，１４，１５が設けられていることを特徴とす
    る請求項１記載のＸ線診断装置。 (6) 像伝達のためにフアイバ光学系２６が設け
    られており、像帯域１１ａのほうに向けられた一
    方の端はフアイバ方向に対して垂直に、また二次
    スリツト８のほうに向けられた他方の端はフアイ
    バ方向に対して前記角度αのもとに終端している
    ことを特徴とする請求項５記載のＸ線診断装置。 (7) 二次スリツト８のほうに向けられたフアイ
    バ光学系２６の端が、光透過性材料から成りスリ
    ツトの大きさに相応するブロツク２７と接続され
    ており、またこのブロツク２７が、シンチレータ
    材料で満たされており少なくともフアイバ光学系
    ２６に向けて開いているチヤンバ２９を有してい
    ることを特徴とする請求項６記載のＸ線診断装置
    。 (8) ブロツク２７が櫛状に配置された薄いブリ
    ツジ２８を有し、それによりスリツト方向に重な
    り合つて配置された多数のチヤンバ２９が形成さ
    れることを特徴とする請求項７記載のＸ線診断装
    置。 (9) ブロツク２７のチヤンバ２９を画成する内
    面３０，３１が鏡面化されていることを特徴とす
    る請求項７記載のＸ線診断装置。 (10) 像帯域１１ａ，１２ａ，１３ａから空間的
    に隔てられたメモリ帯域１１ｂ，１２ｂ，１３ｂ
    を有するＣＣＤセンサ１１，１２，１３が使用さ
    れていることを特徴とする請求項１ないし９の１
    つに記載のＸ線診断装置。
JP1988018059U 1987-02-16 1988-02-12 Expired JPH0448169Y2 (ja)

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DE3704858 1987-02-16

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JPH0448169Y2 JPH0448169Y2 (ja) 1992-11-13

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