JPS63142771U - - Google Patents
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- Publication number
- JPS63142771U JPS63142771U JP3474087U JP3474087U JPS63142771U JP S63142771 U JPS63142771 U JP S63142771U JP 3474087 U JP3474087 U JP 3474087U JP 3474087 U JP3474087 U JP 3474087U JP S63142771 U JPS63142771 U JP S63142771U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- test chamber
- temperature characteristic
- open part
- slit curtain
- small
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 claims 1
- 238000009423 ventilation Methods 0.000 claims 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Description
図面は本考案の一実施例を示すもので、第１図
はその断面略図、第２図はそのブロツク図である
。 図中、２：試験室、４：エアーカーテン、９：
第１エアーノズル、１０：第２エアーノズル、１
１：第１エアーシンク、１２：第２エアーシンク
。
はその断面略図、第２図はそのブロツク図である
。 図中、２：試験室、４：エアーカーテン、９：
第１エアーノズル、１０：第２エアーノズル、１
１：第１エアーシンク、１２：第２エアーシンク
。
補正 昭６２．６．１５
図面の簡単な説明を次のように補正する。
明細書第１１頁第３行「ブロツク図」と「であ
る」の間に以下の文字を挿入します。 「、第３図はスリツトカーテンの一部省略平面
図」
る」の間に以下の文字を挿入します。 「、第３図はスリツトカーテンの一部省略平面
図」
Claims (1)
- 電子機器類の温度特性試験装置において、小型
で移動自在の筐体と、その一部を開放部とする試
験室と、前記試験室の開放部を縦断し、強制通気
手段及び温度昇降手段と連通するエアーカーテン
と、前記試験室の上部に設けた防露ヒーターと、
前記開放部に懸垂され、多数の貫通する小孔をそ
の下方に有するスリツトカーテンを含んでいるこ
とを特徴とする温度特性試験槽。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1987034740U JPH0752625Y2 (ja) | 1987-03-10 | 1987-03-10 | 温度特性試験槽 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1987034740U JPH0752625Y2 (ja) | 1987-03-10 | 1987-03-10 | 温度特性試験槽 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63142771U true JPS63142771U (ja) | 1988-09-20 |
| JPH0752625Y2 JPH0752625Y2 (ja) | 1995-11-29 |
Family
ID=30843578
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1987034740U Expired - Lifetime JPH0752625Y2 (ja) | 1987-03-10 | 1987-03-10 | 温度特性試験槽 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0752625Y2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006275326A (ja) * | 2005-03-28 | 2006-10-12 | Sanyo Electric Co Ltd | 恒温庫 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS54143668A (en) * | 1978-04-28 | 1979-11-09 | Toshiba Corp | Continuous environment testing apparatus |
| JPS5896241U (ja) * | 1981-12-23 | 1983-06-30 | ソニー株式会社 | 環境試験装置 |
-
1987
- 1987-03-10 JP JP1987034740U patent/JPH0752625Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS54143668A (en) * | 1978-04-28 | 1979-11-09 | Toshiba Corp | Continuous environment testing apparatus |
| JPS5896241U (ja) * | 1981-12-23 | 1983-06-30 | ソニー株式会社 | 環境試験装置 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006275326A (ja) * | 2005-03-28 | 2006-10-12 | Sanyo Electric Co Ltd | 恒温庫 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0752625Y2 (ja) | 1995-11-29 |