JPS631492A - 粒状物光学選別機のバツクスクリ−ン - Google Patents
粒状物光学選別機のバツクスクリ−ンInfo
- Publication number
- JPS631492A JPS631492A JP14378186A JP14378186A JPS631492A JP S631492 A JPS631492 A JP S631492A JP 14378186 A JP14378186 A JP 14378186A JP 14378186 A JP14378186 A JP 14378186A JP S631492 A JPS631492 A JP S631492A
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- crystal plate
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は穀物などの粒状物をその表面の色調によって
種分けする光学選別機に用いるパックスクリーンに関す
る一 〔従来の技術〕 光学選別機は被選別粒伏物を落下させ、この落下中の粒
状物に側方から光線を照射し、粒伏物からの反射光量と
バックスクリーンからの反射光量とを対比し、バックス
クリーンからの反射光量を色調の正常な粒子からの反射
光量に合致さナておくことにより、両者の光量に一定以
上の差のある場合に、当該粒子を異常粒子と判定し、且
つ、これを噴風により除去する機構である。従って、こ
のような光学選別機ではバックスコ・′リーンからの反
射光量を正常粒子からの反射光量と合致させるように調
節する必要がある。従来、この調節には、バックスクリ
ーンの位置を前後に移動させたり、あるいは、バックス
クリーンを[奈身すするランフ゜の光量を調節したり、
またバックスクリーンの傾きを変えたりする方式がとら
れていた。
種分けする光学選別機に用いるパックスクリーンに関す
る一 〔従来の技術〕 光学選別機は被選別粒伏物を落下させ、この落下中の粒
状物に側方から光線を照射し、粒伏物からの反射光量と
バックスクリーンからの反射光量とを対比し、バックス
クリーンからの反射光量を色調の正常な粒子からの反射
光量に合致さナておくことにより、両者の光量に一定以
上の差のある場合に、当該粒子を異常粒子と判定し、且
つ、これを噴風により除去する機構である。従って、こ
のような光学選別機ではバックスコ・′リーンからの反
射光量を正常粒子からの反射光量と合致させるように調
節する必要がある。従来、この調節には、バックスクリ
ーンの位置を前後に移動させたり、あるいは、バックス
クリーンを[奈身すするランフ゜の光量を調節したり、
またバックスクリーンの傾きを変えたりする方式がとら
れていた。
ところが、従来のバックスクリーンの調光方式では、調
節操作が難しかったシ、高精度の調光ができなかったり
する欠点がある。特に、選別作業の能率を高める為に、
被選別粒状物を広い幅で落下させ、選別を幅方向の小区
画ごとに行うようにしたものでは、各小区画からの光を
1個のレンズで集光し、これを集合形式の受光センサで
検査するようになっているので、各小区画から受光セン
サまでの距離が個々に異なり、調光は小区画ごとに独立
して行わねばならず、その制御が極めて複雑である。ま
た、被選別物の種類が変るごとに修正調光が必要である
が、従来のものでは、この要求に簡単に対応できないと
いう欠点がある。
節操作が難しかったシ、高精度の調光ができなかったり
する欠点がある。特に、選別作業の能率を高める為に、
被選別粒状物を広い幅で落下させ、選別を幅方向の小区
画ごとに行うようにしたものでは、各小区画からの光を
1個のレンズで集光し、これを集合形式の受光センサで
検査するようになっているので、各小区画から受光セン
サまでの距離が個々に異なり、調光は小区画ごとに独立
して行わねばならず、その制御が極めて複雑である。ま
た、被選別物の種類が変るごとに修正調光が必要である
が、従来のものでは、この要求に簡単に対応できないと
いう欠点がある。
本発明はこのような欠点を解消して、バックスクリーン
からの光量を部分的に自由に、且つ、簡単な操作で、高
精度に行うことのできる粒伏物光学選別機のバックスク
リーンを提共せんとするものである。
からの光量を部分的に自由に、且つ、簡単な操作で、高
精度に行うことのできる粒伏物光学選別機のバックスク
リーンを提共せんとするものである。
本発明のバックスクリーンの技術的手段は、スクリーン
面を構成する液晶板と、液晶板を透過させる光の光源と
からなり、液晶板はその透光率が制御装置によって調節
されるようになっていることにある。
面を構成する液晶板と、液晶板を透過させる光の光源と
からなり、液晶板はその透光率が制御装置によって調節
されるようになっていることにある。
本発明のがツクヌクリーンでは、スクリーン面が液晶板
であシ、光源からの光線は液晶板を透過して受光センサ
に達する。また透過光線の量は液晶板の透光率を変える
ことによって調節できる。
であシ、光源からの光線は液晶板を透過して受光センサ
に達する。また透過光線の量は液晶板の透光率を変える
ことによって調節できる。
液晶板の透光率は遮光性の暗ドットの数や濃度を変える
ことによって調節できるから、スクリーン面の明度を位
置的に自由に、且つ連続的に簡単に調節できる。スクリ
ーン面には暗ドットが発生するが、受光センサでは一定
の面積での光量を検査するので、暗ドットの存在が検査
の支障になることはない。
ことによって調節できるから、スクリーン面の明度を位
置的に自由に、且つ連続的に簡単に調節できる。スクリ
ーン面には暗ドットが発生するが、受光センサでは一定
の面積での光量を検査するので、暗ドットの存在が検査
の支障になることはない。
本発明のバックヌクリーンを図面の実施例について説明
する。(1)は粒伏物光学選別機であって、被選別粒状
物(2)は傾斜設置されたンユート(3)によって流下
させられる。シュート(3)の面上を助走した粒状物(
2)は所定の速度でシュート(2)の下端から飛び出し
、判別位置(4)に達する。この判別位置(4)で粒状
物(2)は表裏両面からライト(5)による光線照射を
受ける。粒状物(2)からの反射光は表裏両面にそれぞ
れ設けられた集光レンズ(6)を通って受光センサ(7
)に至る。なお、粒状物からの光線には、精白米のよう
な透光性を有する粒伏物の場合には、反射光の他に透過
光が含まれることがある。(8)はバツク7、クリーン
で、その明暗度は正常な粒子に合致させられる。従って
、判別位置(4)を色調正常な粒子が通過した場合には
、受光センサ(7)に達する光量に差が出ないので、セ
ンサは作動しないが、色調7こ異常のある粒子の場合に
は、受光センサ(7)が作動し、異常粒の存在を検知す
る。まだ、検知された異常粒子は通常はエアガンによっ
て噴風除去される。
する。(1)は粒伏物光学選別機であって、被選別粒状
物(2)は傾斜設置されたンユート(3)によって流下
させられる。シュート(3)の面上を助走した粒状物(
2)は所定の速度でシュート(2)の下端から飛び出し
、判別位置(4)に達する。この判別位置(4)で粒状
物(2)は表裏両面からライト(5)による光線照射を
受ける。粒状物(2)からの反射光は表裏両面にそれぞ
れ設けられた集光レンズ(6)を通って受光センサ(7
)に至る。なお、粒状物からの光線には、精白米のよう
な透光性を有する粒伏物の場合には、反射光の他に透過
光が含まれることがある。(8)はバツク7、クリーン
で、その明暗度は正常な粒子に合致させられる。従って
、判別位置(4)を色調正常な粒子が通過した場合には
、受光センサ(7)に達する光量に差が出ないので、セ
ンサは作動しないが、色調7こ異常のある粒子の場合に
は、受光センサ(7)が作動し、異常粒の存在を検知す
る。まだ、検知された異常粒子は通常はエアガンによっ
て噴風除去される。
バックスクリーン(8)は光源であるバックライト(9
)と液晶板(IQとからなる。バックライト(9)には
通常の白熱電球、螢光燈、エレクトロ・ルミネッセンス
などを用いることが可能であり、平面的ムラなく照明で
きるものが好ましい。液晶板QQには板自体が透明で、
その透光率を自由に調節できるものを用いる。例えば、
ドットマトリクス形のものでは、ドット単位で透光部(
明ドット)と遮光部(暗ドット)との数の比率を変えた
り、また暗ドットの濃度を変えたりすることにより、面
積的な透光率を調節する。この結果、透光率を0〜10
0%まで部分的且つ連続的に調節可能である。なお液晶
板α0の調節は制御装置Oυにより行う。
)と液晶板(IQとからなる。バックライト(9)には
通常の白熱電球、螢光燈、エレクトロ・ルミネッセンス
などを用いることが可能であり、平面的ムラなく照明で
きるものが好ましい。液晶板QQには板自体が透明で、
その透光率を自由に調節できるものを用いる。例えば、
ドットマトリクス形のものでは、ドット単位で透光部(
明ドット)と遮光部(暗ドット)との数の比率を変えた
り、また暗ドットの濃度を変えたりすることにより、面
積的な透光率を調節する。この結果、透光率を0〜10
0%まで部分的且つ連続的に調節可能である。なお液晶
板α0の調節は制御装置Oυにより行う。
以上のバックスクリーンでは透光率を変えることにより
、スクリーンの明度を自由に調節できるから、受光セン
サ(7)との距離差の補正、即ち、中央部を暗くし、両
端側を明るくして受光センサ(7)に達する光量を均一
に調節でき、また、被選別粒伏物の種類変替などに対し
ても、正常粒子の明度に合わす補正を簡単に行うことが
でき、更に、バックライト(9)にムラのある場合の補
正も簡単にできる。
、スクリーンの明度を自由に調節できるから、受光セン
サ(7)との距離差の補正、即ち、中央部を暗くし、両
端側を明るくして受光センサ(7)に達する光量を均一
に調節でき、また、被選別粒伏物の種類変替などに対し
ても、正常粒子の明度に合わす補正を簡単に行うことが
でき、更に、バックライト(9)にムラのある場合の補
正も簡単にできる。
バックスクリーン(8)の構造は前記実施例の背面光源
方式の他、通常使用されているような前面光源方式にす
ることも可能である。この場合には、液晶板QOの背面
に反射板を貼り付け、液晶板の前面に光源を設置して、
液晶板では光源からの入射光及び反射板からの反射光の
透過率を調節して、パツクヌクリーンの明度の補正を行
う。
方式の他、通常使用されているような前面光源方式にす
ることも可能である。この場合には、液晶板QOの背面
に反射板を貼り付け、液晶板の前面に光源を設置して、
液晶板では光源からの入射光及び反射板からの反射光の
透過率を調節して、パツクヌクリーンの明度の補正を行
う。
なお、本発明に於いて、液晶板00の種類やその透光率
の調節方式は自由であり、また、選別対象の粒状物も穀
物の他、各種の粒状物に利用でき、光学選別機本体の構
造や選別方式についても自由である。
の調節方式は自由であり、また、選別対象の粒状物も穀
物の他、各種の粒状物に利用でき、光学選別機本体の構
造や選別方式についても自由である。
本発明のバックスクリーンでは、スクリーン面の明度の
調面を極めて簡単に行うことができる。
調面を極めて簡単に行うことができる。
また、明度の調節はスクリーン面を部分的に、且つ、自
由な明度に連続的に行えるから、光源ムラの補正やセン
サまでの距離差の補正、更に被選別粒状物の変替に対す
る調節などを容易に行える。
由な明度に連続的に行えるから、光源ムラの補正やセン
サまでの距離差の補正、更に被選別粒状物の変替に対す
る調節などを容易に行える。
図面は本発明の光学選別機のバックスクリーンの実施例
を示し、第1図は光学選別機の全体機構の概要を示す側
面図、第2図はバックスクリーンと集光Vンズと受光セ
ンサとの位置関係を示す平面図、第3図はバックスクリ
ーンの正面図である。 (1)・・・光学選別機、(2)・・・被選別粒状物、
(3)・・・シュート、(4)・・・判別位置、(5)
・・・ライト、(6)・・・集光レンズ、(7)・・・
受光センサ、(8)・・・バックスクリーン、(9)・
・・バックライト、α0・・・液晶板、αυ・・・制御
装置。
を示し、第1図は光学選別機の全体機構の概要を示す側
面図、第2図はバックスクリーンと集光Vンズと受光セ
ンサとの位置関係を示す平面図、第3図はバックスクリ
ーンの正面図である。 (1)・・・光学選別機、(2)・・・被選別粒状物、
(3)・・・シュート、(4)・・・判別位置、(5)
・・・ライト、(6)・・・集光レンズ、(7)・・・
受光センサ、(8)・・・バックスクリーン、(9)・
・・バックライト、α0・・・液晶板、αυ・・・制御
装置。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、スクリーン面を構成する液晶板と、液晶板を透過さ
せる光の光源とからなり、液晶板はその透光率が制御装
置によつて調節されるようになつている粒伏物光学選別
機のバックスクリーン。 2、液晶板はドットマトリックス形で、ドット単位で透
光性の明ドットと遮光性の暗ドットとを形成し、暗ドッ
トの数または濃度を変えることにより透光率を調節する
ようになつている前記特許請求の範囲第1項記載の粒伏
物光学選別機のバックスクリーン。 3、光源が液晶板の背面に設けられている前記特許請求
の範囲第1項記載の粒伏物光学選別機のバックスクリー
ン。 4、液晶板の背面に反射板が設けられ、液晶板の前面に
光源が設けられている前記特許請求の範囲第1項記載の
粒伏物光学選別機のバックスクリーン。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14378186A JPS631492A (ja) | 1986-06-19 | 1986-06-19 | 粒状物光学選別機のバツクスクリ−ン |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14378186A JPS631492A (ja) | 1986-06-19 | 1986-06-19 | 粒状物光学選別機のバツクスクリ−ン |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS631492A true JPS631492A (ja) | 1988-01-06 |
Family
ID=15346857
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14378186A Pending JPS631492A (ja) | 1986-06-19 | 1986-06-19 | 粒状物光学選別機のバツクスクリ−ン |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS631492A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5063459A (en) * | 1989-02-23 | 1991-11-05 | Minolta Camera Co., Ltd. | Facsimile apparatus |
| JP2009039642A (ja) * | 2007-08-08 | 2009-02-26 | Yamamoto Co Ltd | 色彩選別機 |
| JP2020024158A (ja) * | 2018-08-08 | 2020-02-13 | 株式会社クボタ | 粒状体検査装置及び粒状体検査方法 |
-
1986
- 1986-06-19 JP JP14378186A patent/JPS631492A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5063459A (en) * | 1989-02-23 | 1991-11-05 | Minolta Camera Co., Ltd. | Facsimile apparatus |
| JP2009039642A (ja) * | 2007-08-08 | 2009-02-26 | Yamamoto Co Ltd | 色彩選別機 |
| JP2020024158A (ja) * | 2018-08-08 | 2020-02-13 | 株式会社クボタ | 粒状体検査装置及び粒状体検査方法 |
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