JPS6315765Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6315765Y2 JPS6315765Y2 JP9179982U JP9179982U JPS6315765Y2 JP S6315765 Y2 JPS6315765 Y2 JP S6315765Y2 JP 9179982 U JP9179982 U JP 9179982U JP 9179982 U JP9179982 U JP 9179982U JP S6315765 Y2 JPS6315765 Y2 JP S6315765Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- disposable chopsticks
- caterpillar
- disposable
- chopsticks
- points
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 15
- 230000002950 deficient Effects 0.000 claims description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 5
- 230000032258 transport Effects 0.000 claims description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
本考案は、割箸の弯曲等の形状及び割箸の向き
を検出し選別するための割箸検査装置に関するも
のである。
を検出し選別するための割箸検査装置に関するも
のである。
割箸は多量に生産される物品であるため、各工
程を自動化することが望ましい。弯曲等の検査工
程においても従来は人手による検査が行われてい
るが、自動化が要求されている。
程を自動化することが望ましい。弯曲等の検査工
程においても従来は人手による検査が行われてい
るが、自動化が要求されている。
本考案の目的は、割箸の平面方向の弯曲及び割
箸の揃えられた向きを自動的に検査し、良品・不
良品、次工程に不便な方向を向いたものを選別す
る割箸検査装置を提供することにあり、その要旨
は、無端のキヤタピラの表面に割箸の巾広部分の
寸法より僅かに大きい間隔を隔てて、かつ移動方
向と直交する方向にほぼ長方形の多数の凸条を並
列的に配置し、これらの凸条間のスペースに検査
すべき割箸を1本ずつ載置し、割箸の端部をキヤ
タピラの側縁から突出させた状態で搬送する運搬
装置と、前記キヤタピラをほぼ垂直下方に案内す
る検査部において、搬送中の割箸の巾広部分及び
巾狭部分に相当する各位置にそれぞれ2組ずつ上
下に配置した微細なビーム径を有する光電検出器
とを設け、これらの光電検出器のビーム照射点は
前記巾狭部分の上下2点間の間隔を前記巾広部分
の上下2点の間隔よりも狭くすると共に、両部分
の下側のビーム照射点を前記凸条に沿つて設定
し、前記検査部において搬送中の割箸の自重によ
つて該割箸の下辺を下側に位置する凸条の上面に
接触させて水平にし、この状態において前記光電
検出器の出力の組合わせにより割箸の形状・向き
を識別し、識別した良品又は不良品の割箸の前記
キヤタピラの端縁から突出した端部を排出機構に
より叩頭して、該割箸を前記凸条に沿つて側方に
送り出すことを特徴とするものである。
箸の揃えられた向きを自動的に検査し、良品・不
良品、次工程に不便な方向を向いたものを選別す
る割箸検査装置を提供することにあり、その要旨
は、無端のキヤタピラの表面に割箸の巾広部分の
寸法より僅かに大きい間隔を隔てて、かつ移動方
向と直交する方向にほぼ長方形の多数の凸条を並
列的に配置し、これらの凸条間のスペースに検査
すべき割箸を1本ずつ載置し、割箸の端部をキヤ
タピラの側縁から突出させた状態で搬送する運搬
装置と、前記キヤタピラをほぼ垂直下方に案内す
る検査部において、搬送中の割箸の巾広部分及び
巾狭部分に相当する各位置にそれぞれ2組ずつ上
下に配置した微細なビーム径を有する光電検出器
とを設け、これらの光電検出器のビーム照射点は
前記巾狭部分の上下2点間の間隔を前記巾広部分
の上下2点の間隔よりも狭くすると共に、両部分
の下側のビーム照射点を前記凸条に沿つて設定
し、前記検査部において搬送中の割箸の自重によ
つて該割箸の下辺を下側に位置する凸条の上面に
接触させて水平にし、この状態において前記光電
検出器の出力の組合わせにより割箸の形状・向き
を識別し、識別した良品又は不良品の割箸の前記
キヤタピラの端縁から突出した端部を排出機構に
より叩頭して、該割箸を前記凸条に沿つて側方に
送り出すことを特徴とするものである。
本考案を図示の実施例に基づいて詳細に説明す
る。
る。
第1図はこの検査装置の説明図であり、スプロ
ケツト1,2,3の外周に無端のキヤタピラ4が
周設され、スプロケツト1,2,3の何れか1個
を図示しない駆動装置によつて駆動することによ
りキヤタピラ4が移動するようになつている。キ
ヤタピラ4上にはほぼ長方形の多数の凸条5が並
列的に配置されており、隣接する凸条5間のスペ
ース6の巾寸法は、第2図に示すように割箸Sの
巾広部の巾よりも僅かに大きい程度で、各スペー
ス6にそれぞれ1本ずつの割箸Sが載置されるよ
うになつている。割箸Sはホツパ10から供給さ
れ、ゲート11を通つて斜面12を経て、キヤタ
ピラ4のスペース6上に載置され、矢印方向に移
送される。図示しないガイドによつて割箸Sの後
端、先端の巾広、巾狭部分の位置は正確に定めら
れ、第2図に示すように割箸Sの両端がキヤタピ
ラ4から突出するようにされている。
ケツト1,2,3の外周に無端のキヤタピラ4が
周設され、スプロケツト1,2,3の何れか1個
を図示しない駆動装置によつて駆動することによ
りキヤタピラ4が移動するようになつている。キ
ヤタピラ4上にはほぼ長方形の多数の凸条5が並
列的に配置されており、隣接する凸条5間のスペ
ース6の巾寸法は、第2図に示すように割箸Sの
巾広部の巾よりも僅かに大きい程度で、各スペー
ス6にそれぞれ1本ずつの割箸Sが載置されるよ
うになつている。割箸Sはホツパ10から供給さ
れ、ゲート11を通つて斜面12を経て、キヤタ
ピラ4のスペース6上に載置され、矢印方向に移
送される。図示しないガイドによつて割箸Sの後
端、先端の巾広、巾狭部分の位置は正確に定めら
れ、第2図に示すように割箸Sの両端がキヤタピ
ラ4から突出するようにされている。
キヤタピラ4は割箸Sを整列させる水平部に続
いて割箸Sの検査を行う垂下部13が設けられて
おり、キヤタピラ4の経路の下方に向う垂下部1
3には、例えば直径1mm程度の微細なビーム径を
有する計4組の光電検出器14が配置されてお
り、これらの光電検出器14はそれぞれ発光部1
5と受光部16とを有し、キヤタピラ4の経路を
挟んで対向的に配置されている。そして、発光部
15から出射されるビームを割箸Sが遮断したと
きに、受光部16から電気的信号が発せられる。
いて割箸Sの検査を行う垂下部13が設けられて
おり、キヤタピラ4の経路の下方に向う垂下部1
3には、例えば直径1mm程度の微細なビーム径を
有する計4組の光電検出器14が配置されてお
り、これらの光電検出器14はそれぞれ発光部1
5と受光部16とを有し、キヤタピラ4の経路を
挟んで対向的に配置されている。そして、発光部
15から出射されるビームを割箸Sが遮断したと
きに、受光部16から電気的信号が発せられる。
実施例では、4組の光電検出器14のビーム照
射位置を、第2図に示すようにキヤタピラ4の外
側で、かつ割箸Sの表面の4点A,B,C,Dと
定めている。第2図に示すように、割箸Sの巾広
部分を検出する点A,B間の間隔は、巾狭部分を
検出する点C,Dの間隔よりも広くされており、
更に点BとDは凸条5に沿つた同一水平線上に設
定されている。
射位置を、第2図に示すようにキヤタピラ4の外
側で、かつ割箸Sの表面の4点A,B,C,Dと
定めている。第2図に示すように、割箸Sの巾広
部分を検出する点A,B間の間隔は、巾狭部分を
検出する点C,Dの間隔よりも広くされており、
更に点BとDは凸条5に沿つた同一水平線上に設
定されている。
この検査部の位置はキヤタピラ4上の割箸Sが
垂直に下降する途上であるため、割箸Sの下側の
辺S1は割箸Sの自重により凸条5の上面に接触
する。このため、割箸Sの下降間に巾広部分が点
A,Bを照射するビームを遮光し、巾狭部分が点
C,Dを照射するビームを遮光して、正常に揃え
られ弯曲のない割箸Sでは、4つのビームが同時
に遮光される瞬間が生ずる。図示しない制御回路
は、4組の光電検出器14の同時の遮光信号を検
出して、空気シリンダ20のラム21を作動させ
て、キヤタピラ4から突出した例えば良品の割箸
Sの端部を叩頭して、割箸Sを第2図の右方向の
側方に排出する。
垂直に下降する途上であるため、割箸Sの下側の
辺S1は割箸Sの自重により凸条5の上面に接触
する。このため、割箸Sの下降間に巾広部分が点
A,Bを照射するビームを遮光し、巾狭部分が点
C,Dを照射するビームを遮光して、正常に揃え
られ弯曲のない割箸Sでは、4つのビームが同時
に遮光される瞬間が生ずる。図示しない制御回路
は、4組の光電検出器14の同時の遮光信号を検
出して、空気シリンダ20のラム21を作動させ
て、キヤタピラ4から突出した例えば良品の割箸
Sの端部を叩頭して、割箸Sを第2図の右方向の
側方に排出する。
割箸Sが例えば点線で示すようにその平面方向
で弯曲していると、点Dのビームが遮光されず、
点A,B,Cのビームのみが遮光され、この割箸
Sは弯曲があると認知されることになる。この場
合は空気シリンダ20は作動せず、割箸Sは不良
品としてそのままキヤタピラ4により下方に移送
され、下方の回収部に落下する。同様にして、割
箸Sの巾広、巾狭部分が入れ変つている反対向き
の場合では点Aのビームが遮光されず、空気シリ
ンダ20は作動しない。
で弯曲していると、点Dのビームが遮光されず、
点A,B,Cのビームのみが遮光され、この割箸
Sは弯曲があると認知されることになる。この場
合は空気シリンダ20は作動せず、割箸Sは不良
品としてそのままキヤタピラ4により下方に移送
され、下方の回収部に落下する。同様にして、割
箸Sの巾広、巾狭部分が入れ変つている反対向き
の場合では点Aのビームが遮光されず、空気シリ
ンダ20は作動しない。
かくして、この割箸検査装置は割箸の平面方向
に曲つた割箸、反対向きの割箸を選別することが
でき、自動化された次工程において混乱が生ずる
ことはない。実施例においては、光電検出器14
は光透過型としたが、投受光器を一体とした光反
射型としてもよいことは勿論である。また、光電
検出器14の数は5組以上として、弯曲の度合を
検知することも考えられる。
に曲つた割箸、反対向きの割箸を選別することが
でき、自動化された次工程において混乱が生ずる
ことはない。実施例においては、光電検出器14
は光透過型としたが、投受光器を一体とした光反
射型としてもよいことは勿論である。また、光電
検出器14の数は5組以上として、弯曲の度合を
検知することも考えられる。
以上説明したように本考案に係る割箸検査装置
は、割箸が先端に進むに従つて漸次に狭巾になつ
ているという形状の特殊性を利用し、搬送装置の
垂直降下部においてその自重を利用して位置を揃
え、割箸の巾広部分と巾狭部分にそれぞれ2組ず
つの光電検出器を使用し、割箸の形状及び割箸の
向きを認知するようにしたので、極めて容易にか
つ確実に割箸の直線性等を検査して良品・不良品
を選別することができ、向きが反対になつている
割箸も同様に選別して、割箸の向きを一方向にの
み揃えることができる。
は、割箸が先端に進むに従つて漸次に狭巾になつ
ているという形状の特殊性を利用し、搬送装置の
垂直降下部においてその自重を利用して位置を揃
え、割箸の巾広部分と巾狭部分にそれぞれ2組ず
つの光電検出器を使用し、割箸の形状及び割箸の
向きを認知するようにしたので、極めて容易にか
つ確実に割箸の直線性等を検査して良品・不良品
を選別することができ、向きが反対になつている
割箸も同様に選別して、割箸の向きを一方向にの
み揃えることができる。
第1図は本考案による割箸検査装置の線図的構
成図、第2図は検査部の正面図である。 符号1,2,3はスプロケツト、4はキヤタピ
ラ、5は凸条、6はスペース、10はホツパ、1
4は光電検出器、15は投光部、16は受光部、
20は空気シリンダ、21はラム、A,B,C,
Dはビーム照射点、Sは割箸である。
成図、第2図は検査部の正面図である。 符号1,2,3はスプロケツト、4はキヤタピ
ラ、5は凸条、6はスペース、10はホツパ、1
4は光電検出器、15は投光部、16は受光部、
20は空気シリンダ、21はラム、A,B,C,
Dはビーム照射点、Sは割箸である。
Claims (1)
- 無端のキヤタピラの表面に割箸の巾広部分の寸
法より僅かに大きい間隔を隔てて、かつ移動方向
と直交する方向にほぼ長方形の多数の凸条を並列
的に配置し、これらの凸条間のスペースに検査す
べき割箸を1本ずつ載置し、割箸の端部をキヤタ
ピラの側縁から突出させた状態で搬送する運搬装
置と、前記キヤタピラをほぼ垂直下方に案内する
検査部において、搬送中の割箸の巾広部分及び巾
狭部分に相当する各位置にそれぞれ2組ずつ上下
に配置した微細なビーム径を有する光電検出器と
を設け、これらの光電検出器のビーム照射点は前
記巾狭部分の上下2点間の間隔を前記巾広部分の
上下2点の間隔よりも狭くすると共に、両部分の
下側のビーム照射点を前記凸条に沿つて設定し、
前記検査部において搬送中の割箸の自重によつて
該割箸の下辺を下側に位置する凸条の上面に接触
させて水平にし、この状態において前記光電検出
器の出力の組合せにより割箸の形状・向きを識別
し、識別した良品又は不良品の割箸の前記キヤタ
ピラの端縁から突出した端部を排出機構により叩
頭して、該割箸を前記凸条に沿つて側方に送り出
すことを特徴とする割箸検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9179982U JPS58193207U (ja) | 1982-06-19 | 1982-06-19 | 割箸検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9179982U JPS58193207U (ja) | 1982-06-19 | 1982-06-19 | 割箸検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58193207U JPS58193207U (ja) | 1983-12-22 |
| JPS6315765Y2 true JPS6315765Y2 (ja) | 1988-05-06 |
Family
ID=30100069
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9179982U Granted JPS58193207U (ja) | 1982-06-19 | 1982-06-19 | 割箸検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58193207U (ja) |
-
1982
- 1982-06-19 JP JP9179982U patent/JPS58193207U/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS58193207U (ja) | 1983-12-22 |
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