JPS63186152A - 自動調整オシロスコープ - Google Patents

自動調整オシロスコープ

Info

Publication number
JPS63186152A
JPS63186152A JP62321174A JP32117487A JPS63186152A JP S63186152 A JPS63186152 A JP S63186152A JP 62321174 A JP62321174 A JP 62321174A JP 32117487 A JP32117487 A JP 32117487A JP S63186152 A JPS63186152 A JP S63186152A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
trigger
waveform
signal
main
gain
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP62321174A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0543993B2 (ja
Inventor
ロナルド・ピー・オデンハイマー
キム・ハスティングス
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tektronix Inc
Original Assignee
Tektronix Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tektronix Inc filed Critical Tektronix Inc
Publication of JPS63186152A publication Critical patent/JPS63186152A/ja
Publication of JPH0543993B2 publication Critical patent/JPH0543993B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R13/00Arrangements for displaying electric variables or waveforms
    • G01R13/20Cathode-ray oscilloscopes
    • G01R13/22Circuits therefor

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Control Of Amplification And Gain Control (AREA)
  • Steroid Compounds (AREA)
  • Glass Compositions (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Amplifiers (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はオシロスコープ、特に入力信号をデジタル変換
して記憶表示する型式のデジタル型オシロスコープに関
する。
〔従来の技術及び発明が解決しようとする問題点〕典型
的なデジタルオシロスコープでは、垂直増幅器が入力信
号を増幅して出力信号を得て、この出力信号をデジタイ
ザ(即ちアナログ・デジタル変換装置)により連続的に
サンプリング及びデジタイズする。デジタイズしたサン
プルデータを取込みメモリ内の一連のアドレスにストア
(記憶)する。現在のアドレスが上限に達すると、下限
にリセフトし、新たに取込んだサンプルデータを先にス
トアしたデータ上に書込む。取込メモリアドレスの特定
区分にストアした波形データシーケンスは、取込メモリ
から定期的に読出して波形表示の制御に使用される。こ
こで、シーケンスの一連のデータの振幅(大きさ)は、
波形の連続区分のスクリーン上の垂直位置を制御する。
表示を制御する波形データシーケンスを与える取込メモ
リアドレスの区分は、増幅器出力信号が調整可能なトリ
ガレベルに到達した後、調節可能なサンプル数から開始
して取込まれた予め定めた数のサンプルデータ値を含む
よう制御される。これにより、波形のトリガ点を基準と
してオシロスコープのスクリーン上に表示される波形の
「水平位置」が調整できるようにする。
波形表示は波形の最小及び最大値(ピーク)がスクリー
ン上に表示され、波形の両ピーク値間の間隔が最も大き
いとき、周期的入力信号を最もよく表すと考えられてい
る。また、スクリーン上には少くとも完全な1サイクル
の波形が表示されるように水平時間軸を選定するのが好
ましい。一方、表示されるサイクル数が多すぎると11
表示解像度(又は分解能)の限界の為に波形の詳細が不
明瞭になる。トリガレベルは増幅器出力信号の最大及び
最小値間であって、ノイズにより誤ったトリガが生じな
いレベルに設定すべきである。また、波″ 形の水平位
置を調整して波形がよく観測できるように波形のトリガ
点が表示波形の端部にならないよにするのが好ましい。
典型的に、オペレータは人力信号をデジタイズするサン
プリング周期を変更することにより、波形の水平時間軸
を調整し、垂直増幅器の利得を変更することにより、表
示波形の垂直軸を調整し、また垂直増幅器へのオフセン
ト信号入力の大きさを変化して波形の垂直表示位置を調
整して増幅器の出力信号を上下に移動させる。また、オ
ペレータはトリガ信号(一般には垂直増幅器の出力信号
である)と比較してトリガ状態信号を生じさせ、波形デ
ジタイズ動作の停止制御に使用するトリガレベル信号の
大きさを変更することにより、トリガレベルを調整する
こともできる。オペレータは通常デジタイザに位1制御
データを与えることにより水平位置を調整することがで
きる。
これら波形表′示制御パラメータをすべて正しく調整し
て正しい波形表示を得ることは熟練者にとっても必ずし
も容易でなく、また入力信号の特性が事前に全く知られ
ていない場合は特に、いつ正しい波形が表示されている
かを決めるのは容易ではない。入力信号を最初に増幅し
デジタイズすると、例えば垂直オフセット信号が小さす
ぎたり大きすぎる場合には、オシロスコープのスクリー
ン上には実際に何らの波形も表示されない。或いは、サ
ンプリング周期が高すぎると増幅器出力信号の1サイク
ルのごく一部分のみがデジタイズされ、周期的入力信号
は最初一定であるかに見える。また、入力信号は、利得
が低すぎる場合には一定に見える。トリガ信号を不適性
に調整した状態で入力信号を周期的にデジクイズすると
、これにより得られる波形表示は不安定になる。
熟練したオシロスコープ操作者は、サンプリング周期、
垂直増幅器の利得及びオフセント、トリガレベル及び水
平位置を総合的(システマテインク)に調整して、正し
い波形表示が得られるようにする。しかし、未熟練者の
場合には、行わなければならないすべての調整が理解で
きず、また表示波形が正しく入力信号を表しているか否
かが分らない。
オシロスコープは数個の波形を同時に表示できるが、各
波形のパラメータ制御や他の動作機能を別個のフロント
パネルつまみで行うのは実用的ではない。オシロスコー
プによっては多数のファンクションキー(つまみ)又は
スイッチ及び/又はツリー構造の動作メニュを有し、オ
ペレータが2〜3個のつまみ或は押釦のみを用いてオシ
ロスコープの動作を制御するものもある。特定波形の表
示アトリビュート(属性)、即ち表示輝度、位置等を変
えるには、オペレータは最初につまみ、押釦又はメニュ
を用いて調整したい波形を選択し、次に別のつまみ、押
釦又はメニュを用いて変更したい表示波形の特定の属性
を選択し、更に別のつまみ、押釦又はメニュを用いて波
形のその属性を実際に調整する。この決定ツリー構造の
制御システムを採用しているオシロスコープは、表示波
形の調整に必要なフロントパネル上の押i口やつまみの
数を最小にすることができるが、斯るオシロスコープの
波形表示の調節手段はy!練したオシロスコープ操作者
にとっても面倒であり且つ時間を要する。
それ故に、入力信号を正しく表わすように自動的に表示
波形を調整する自動Illオシロスコープの必要性があ
り、その出現が待たれていた。
従って、本発明の主たる目的は、垂直増幅器の利得及び
オフセントを自動的に調整して、斯る増幅器への人力信
号を表す波形の最小及び最大値がオシロスコープのスク
リーン上に正しく表示されるようにする改良した自動調
整オシロスコープを提供することである。
本発明の他の目的は垂直増幅器の出力信号の周期を自動
的に測定してデジタイザのサンプリング周期(又は速度
)を調整して、斯る増幅器の出力信号の所定数の周期が
デジタイズされ且つ表示されるように調整する改良した
自動調整オシロスコープを提供することである。
本発明の別の目的は入力信号のデジタイズ制御■のトリ
ガ比較器を自動的に3JiJlし且つ波形の水平位置を
自動的に調整してトリガ点がオシロスコープのスクリー
ン上の予め定めた位置に表示されるようにする改良した
自動調整オンロスコープを提供することである。
〔発明の概要〕
本発明はコンピュータ内蔵型デジタルオシロスコープで
あって、スクリーン上に入力信号の振幅を時間関数で表
示するものである。入力信号は調整可能な利得及びオフ
セットを有する垂直増幅器の入力にAC又はDC結合の
いずれかを選択して結合される。この垂直増幅器の出力
信号はデジタイズされて順次の出力信号サンプルの振幅
が表す波形データを生じ、これを取込メモリの順次アド
レスにストアする。取込メモリアドレスの特定部分にス
トアした波形データ、シーケンスは、この取込メモリか
ら定期的に読出して波形表示の制御に使用し、順′次デ
ータの振幅は波形の順次区分のスクリーン上の垂直位置
を決定する。この波形データシーケンスを含む取込メモ
リアドレスの区分は、増幅器の出力信号が調整可能な主
トリガレベルに到達した後、調整可能な所定サンプル数
で始まる一定数の取込みサンプルデータ値を含むよう選
択される。これにより、波形のトリガ点を基準にするオ
シロスコープのスクリーン上の表示波形の「水平位置」
調整を行う。
デジタルオシロスコープは「主トリガレベルを含み、入
力信号が調整可能な主トリガレベルを超すとき主トリガ
状態信号を発生すると共に「ウィンド」 (又は遅延)
トリガ比較器を含み、入力信号が調整可能なウィンドト
リガレベルを超すときウィンドトリガ状態信号を発生す
る。垂直増幅器の利得及びオフセント、サンプリング周
期、主及びウィンドトリガレベル、主及びウィンドトリ
ガ比較器のトリガ方向(極性)及び表示波形の水平位置
はオシロスコープ内のコンピュータによる制御装置で調
整される。また、この制御システムは主及びウィンドト
リガレベル信号をモニタするよう構成され、両トリガ比
較器のアーミングと入力信号の結合モードを制御する。
本発明の1つの観点に依ると、制御袋rが垂直増幅器の
利得を自動的に調整して、波形の最小及び最大値がスク
リーン上に正しく表示されるようにする。この為に、制
御装置は先ず人力信号をAC結合モードにし、次に垂直
増幅器のオフセントを0にセットする。制御装置は垂直
増幅器の利得を最初予定値にセットし、主及びウィンド
トリガレベルを、増幅器出力信号が所定上限値を超すと
き主トリガ状態信号を生じ、また垂直増幅器出力信号が
予定下限以下になるときウィンドトリガ状態信号を生じ
るように設定する。この上限はオシロスコープのスクリ
ーン上端のレベル付近であるが、これを超さない値に選
定する。一方、下限はスクリーンの下端レベル付近であ
るがこれ以上のレベルに選定する。
次に、制御装置は主及びウィンドトリガ状態信号を監視
し、制御装置が主及び/又はウィンドトリガ状態信号を
検出するか否かに依って対話しながら増幅器の利得を増
減する。利得増減の方向と量とは予め定めたサーチパタ
ーンに従い、制御装置はデジタイズした波形データシー
ケンスの両ピーク値が所定レンジ内、即ち対応する波形
のピークが主及びウィンドトリガレベルに対応する限界
内のスクリーン上に現れる為の最大利得を決定する。
本発明の別の観点によると、制御装置は垂直増幅器出力
信号の最小及び最大ピークレベルを測定し、その出力信
号が最小及び最大ピークレベル間のレベルに到達したと
き、主トリガ状態信号が了サート(assert)され
るように主トリガレベルを自動調整する。デジクイズし
た波形データシーケンスのピーク値を、対応する波形の
両ピーク値がスクリーン上に現れるレンジ内となるよう
利得設定を調整した後、制御装置は主トリガ状態信号を
監視し、サーチパターンに従って主トリガレベルを対話
しながら増減して、垂直増幅器の出力信号の上限が主ト
リガ状態信号をアサートする最大トリガレベルを決定す
る。同時に、制御装置はウィンドトリガ状態信号を監視
して、垂直増幅器出力信号の低ピークがウィンドトリガ
状態信号をアサートさせる最小トリガレベルを決定する
。その後、制御装置は主トリガレベルを、このようにし
て決めた最大及び最小トリガレヘルの中間値に調整する
本発明の更に別の観点によると、制御装置は主及びウィ
ンドトリガ比較器をセットして、垂直増幅器出力信号が
同じ予定限界値を超すとき夫々のトリガ状態信号を出力
するが、ウィンドトリガ比較器をアーミングして主トリ
ガ状態信号が7サートされた後のみにウィンドトリガ状
態信号を生しるようにする。よって、主及びウィンドト
リガ状態信号は垂直増幅器の1サイクル分だけ離れてア
、サートされる。主及びウィンドトリガ状態信号は両信
号間の時間差を示すデータを発生するよう構成されたタ
イマ(測定手段)に人力して入力信号の周期を指示する
。その後、制御装置はサンプリング周期を調整して、増
幅器出力信号の予定サイクル数が表示されるようにする
本発明の他の観点に依ると、制御装置は垂直増幅器のオ
フセットを調整して、デジクイズした波形データシーケ
ンスのピーク振幅が、垂直増幅器への入力信号をDC結
合としたときスクリーン上に表示される範囲内となるよ
うにする。入力信号をAC結合にしている間に入力信号
の周期を測定し、増幅器の利得を調整した後、制御装置
は入力信号を垂直増幅器にDC結合してサンプリング周
期を、所定サイクル数(好ましくは約10)の増幅器出
力信号がデジタイズされるように設定する。その後、制
御装置は各調整後毎に得られる波形データシーケンスを
監視しながら対話的に垂直増幅器のオフセットを調整し
て、波形データシーケンス内の各データの値のすべてが
、それが作る波形の対応部分をスクリーンの上下限界に
表示されるようになるようにする。
本発明の更に他の観点に依ると、制御装置はスクリーン
上の波形の水平位置を調整して、波形のトリガ点がスク
リーン上の予め定めた位置、好ましくはスクリーンの左
端から少し右へ寄った位置に表示され、これによりトリ
ガ現象が観測できるようになる。
(実施例〕 、第1図は本発明が実施可能なコンピュータ制御型デジ
タルオシロスコープαωの1例の正面図を示し、このオ
シロスコープには主シャーシ叫とフロントパネルαOと
を有し、フロントパネル041上には制御つまみ0[O
,スクリーンaη、押釦0櫛及び3個1組のプラグイン
ユニット(20) 、 (22)及び(24)がある。
各プラグインユニット(20)乃至(24)はオシロス
コープのハードウェア(H/W)サブシステムをなし、
フロントパネルα褐の対応する開口を介して主シャーシ
Q21内に取外し自在に挿入取付けられる。
これらプラグインユニットはシャーシα乃内の他のH/
Wと背面配線部を介して相互接続され、垂直入力チャン
ネルH/−を含み人力信号を受けてもよい。
各プラグインユニットは独自のフロントパネルを有し、
別の押釦、制御つまみ及びジャック類が取付けられてい
る。
スクリーンαηはオシロスコープにより作られる波形、
メニュ、データ及びその他の図形及び文字を表示する。
波形は垂直チャンネル入力信号を表し、水平軸は主水平
時間M (23)又はウィンド水平時間軸(25)のい
ずれでもよい。ウィンド水平時間軸による波形は主水平
時間軸で表示される波形と同し入力信号の一部分である
。図示の如く、主軸による表示波形のうちウィンド軸に
対応する波形部分はハイライト (高輝度)とする。
このオシロスコープはCRTスクリーン07)の周辺部
に配置した光源と受光素子群より成る「タッチスクリー
ン」側を含んでおり、入力データをオシロスコープに入
力する為にオペレータの指で触れるスクリーン上の位置
を示す。このタッチスクリーン091は例えばオペレー
タがスクリーン上に表示されたメニュから希望のものを
選択して、このメニュ選択によりオシロスコープを各種
動作モードに構成する際に有用である。格子(又は目盛
線)(21)をスクリーン間上に重ねて、スクリーン上
に表示される波形に沿う2点間の垂直及び水平変位をオ
ペレータが測定するのを支援する。
第2図は第1図のオシロスコープθO)のブロック図で
ある。被測定デバイスにより生じ且つプラグインユニッ
ト(20)乃至(24)のジャンクに接、続されたプロ
ーブ00を介してオシロスコープ00)に人力される入
力信号は、プラグインユニット内の垂直増幅器及び比較
器により予めコンディショニングく調整)を行い、デジ
タイザ装置(30)への垂直チャンネル及び]・リガ人
力として印加される。このデジタイザ装置(30)はプ
ラグインユニットから選択した垂直チャンネルの信号を
デジクイズし、一連の垂直入力信号サンプルの大きさを
表わす波形データシーケンスを作り、これら波形データ
シーケンスをメモリ管理ユニット (以下1’1Mtl
 という)(34)を介して波形メモリ(32)に記憶
する。MMU (34)は波形メモリ(32)への競合
するアクセス要求を調停する。このMMU (34)の
詳細は本願出願人の出願ムこ係る特願昭62−2423
86号明細書に開示しているので、これを参照されたい
MMU (34)を介して、表示コントローラ(36)
は波形メモリ(32)にストアした波形データシーケン
スを取出し、このシーケンスを用いてオシロスコープ表
示用命令を作り、その命令を表示メモリ(38)内にス
トアする。表示コントローラ(36)は表示メモリ(3
8)から定期的に情報を取出して表示ドライバ(40ン
に送り、命令に基づいてオシロスコープ0ωのCRTス
クリーンαη上に表示を生じる。
またMMU(34)は制御n、データ及びアドレス線を
含むコンピュータバス(45)を介して執行マイクロコ
ピュータ (μC) (44)に波形メモリ(32)へ
の読出し及び書込みアクセスを行わせる。執行μC(4
4)は好ましくはインテル社製80286型マイクロプ
ロセツサ(μP)を含み、且つ高速演算動作の為のイン
テル社製80287型演算コプロセツサ及び高速I10
100為の82258型直接メモリアクセス(DMA)
コントローラを含んでいてもよい。執行μC(44)は
続出専用メモリ(ROM) (46)に記憶しているソ
フトウェア(S/讐、ファームウェアという場合もある
)の制御下で動作し、一時データ記憶用にRAM(48
)を使用する。 ROM(46) とRAM(48)と
はバス(45)を介してアクセスされる。μC(44)
は例えばプラグインユニット(20)乃至(24)、デ
ジタイザ装!(30)及び表示コントローラ(36)の
制?inを含む多くの機能を実行する。μC(44)は
バス(45)を介してプラグインユニット(20)乃至
(24)に制御入力信号を与える。このバス(45)に
はバスI10インターフェース(1/F)回路(50)
を介してプラグインユニ7)が接続される。μC(44
)は更にデジタイザ装置(30)を制御卸シ、その動作
モードはバス(45)から送られる命令であり、MMU
 (34)を介して波形メモリ(32)内に記憶され、
記憶された命令はその後デジタイザ(30)により波形
メモリ(32)から読出される。
μC(44)は聞υ(34)に対してメモリ(32)か
らの選択された波形シーケンスを得て表示コントローラ
(36)に送るよう告げて、表示コントローラ(36)
がどの記憶波形データシーケンスを表示するか決める。
また、μC(44)は、表示制御データを波形メモリ(
32)に記憶し且つMMU(34)に対してそのデータ
を表示コントローラ(36)へ送るよう命令することに
より、スクリーンα刀上のメニュ、図形及びデータ表示
を制御する。
プラグインユニット(20)乃至(24)の各フロント
パネル上にあるつまみ、押釦、又はスイッチの操作、オ
シロスコープの主フロントパネル上のつまみ(1mや押
jo Q81の操作又はタッチスクリーンθ9の動作に
より生じる入力信号は、110回路(50)により検知
し、それに応じて執行μP(44)に指示データを伝達
する。斯るデータに応して、μP (44)はオシロス
コープの各サブシステムを構成して動作モードを選択す
る。
タッチスクリーン叫は好ましくはスクリーン01の上端
部に配列している11個の発行ダイオード(LED)と
スクリーンaηの左端に配列している22個のLEDよ
り構成されている。これらLEDはスクリ ′−ンa1
の直前で11X22本の光線の網目を形成するよう配置
している。他方、33個の光検知器をスクリーンの下端
と右端に配列して対向する各14口の光がスクリーンの
端部に到達するときLEDの光線を検出する。オシロス
コープが指でスクリーンに触れ(又は接近す)ると、指
は1以上の光線が、それを検出する光検出器へ到達する
のを阻止する。
各光検出器は対応するLEDの生じる光線を現に検出し
ているか否かを示す状態出力信号を生じる。
110回路は走査回路(50)を含み、光検出器が生じ
る出力信号を監視し、その状態を示すデータを蓄積する
。走査器の結果少くとも1つの光検出器が出力信号の状
態変化を検知すると、割込み信号を執行μC(44)に
送って、その走査動作を停止する。
μC(44)が割り込み信号を受けると、走査器が蓄積
したすべてのデータを読み、このデータからオペレータ
がスクリーンに触れたか否か、またどこに触れたかを決
定する。一度μCが走査データを取込み且つ処理すると
、μCは走査器に割込停止命令を送って、これにより走
査動作の開始を告げる。
μC(44)はスクリーン071を矩形タッチゾーン(
接触区域)の格子とみなし、水平及び垂直光線の各交点
は別の接触区域の中心をなす。μC(44)がT10回
路(50)の入力データからオペレータが特定の接触区
域に触れたと決定すると、接触した領域がスクリーン上
に表示されているメニュ内にあるか否かを確める。もし
メニュ内にあり、接触区域が選択可能なメニュを含んで
いれば、μCはオシロスコープの動作状態をこの選択に
応じて変更する。もしオペレータが触れた区域が表示メ
ニュ境界内ではないとμC(44)が決定すると、μC
は波形メモリ(34)のデータから、表示波形の一部が
オペレータの触れた接触区域を通っているか否かを決め
る。もし特定波形の一部がこの接触区域を通過すると、
オペレータはこの波形を選択したと推定され、μC(4
4)はこの特定波形をオペレータが選択した波形として
用い、オペレータ選択波形に関連する動作を行うようオ
シロスコープを構成する。このタッチスクリーンと一体
に使用するH/W及びS/Hについては同日付の別の特
許出願「タッチスクリーン制御機器の制御Vf!認表示
方法」に開示している。
本発明による自動調整オシロスコープ00)は入力信号
のデジタイズに使用する垂直利得、垂直オフセット、サ
ンプリング速度(周期)、トリガレベル及びトリガ点を
自動的に調節して、デジタイズした波形データにより表
わされる入力信号波形が正しくスクリーン07)上に表
示されるようにする。
このオシロスコープの動作を説明する為に、プラグイン
ユニット(20)乃至(24)の1以上のものに含まれ
ている典型的な垂直入力チャンネルについて説明する必
要がある。
第3図はプラグインユニットの典型的な垂直入力チャン
ネルのブロック図を示す。入力信号はプローブ結合回路
(60)を介して垂直増幅器(62)の入力端に印加さ
れる。この増幅器(62)で増幅された出力信号は第2
図のデジタイザ装置 (30)への垂直入力信号の1つ
としてマルチプレクサ(MU×’) (64)を介して
伝達される。同じプラグインユニットの別の垂直入力チ
ャンネルの垂直増幅器による出力信号はMUX (64
)への別の入力信号となる。垂直増幅器(62)の出力
信号は他の垂直増幅器の出力信号と共に他のMIX (
66)へ入力され、デジタイザ装置のトリガ入力信号の
1つとして選択される。
プローブ結合回路(60)はコンデンサ(68)を含み
、入力信号をスイッチ(70)を介して増幅器(62)
の非反転入力端子にAC結合する。他のスイッチ(72
)がコンデンサ(68)に並列接続され、スイッチ(7
0)を介して入力信号を増幅器(62)の非反転入力端
子にDC結合することもできる。スイッチ(70)は増
幅器(62)の非反転入力を選択的に接地して増幅器の
校正をすることができるようにする。スイッチ(70)
及び(72) 0) スイy チ位置は)l[IX (
64)及び(66) ノスイッチ位置と共にレジスタ(
74)に記憶するデータで制御する。このデータは11
0回路(50)を介して第2図のμC(44)から供給
される。レジスタ(74)の1つに記憶したデータはデ
ジタル・アナログ変換器(DAC) (76)の入力と
なり、入力データの大きさに応じてオフセット信号を生
じる。このオフセット信号は垂直増幅器(62)の反転
入力に供給され、その出力信号をオフセント信号の大き
さに応して上下に移動する。このオフセット信号は正負
いずれかの極性である。また、レジスタ(74)の1つ
に記憶されたデータは別のDAC(77)にも入力され
て垂直増幅器(62)の利得制御信号を住じる。
第4図は第2図のデジタイザ装置(30)内のトリガ回
路の詳細ブロック図である。第3図の間χ(66)が作
る出力信号は他のプラグインユニットの同様MUXが作
る出ノj信号と共に第4図の間X (7B)及び(80
)に入力する。MIX(7B)はその入力の選択した1
つを主トリガ信号として主トリガ比較器(82)の非反
転入力として伝達する。他方MUX (80)はその入
力の1つをウィンドトリガ信号としてウィンドトリガ比
較器(84)の非反転入力端に入力する。デジタイザ装
置内のμC(86)は肛X (7B)及び(8o)のス
イッチ位置をホ制御し、データ入力を1対のレジスタ(
88) 及び(90)に供給する。レジスタ(88)に
記憶したデータはDAC(92)に入力し、レジスタ(
90)に記憶すルテータはDAC(94) ニ入力する
。DAC(92)はその入力データの大きさく正又は負
)に応して主トリガレベル信号出力を生し、この主トリ
ガレベル信号は、比較器(82)の反転入力に印加され
る。
同様に、[1AC(94)はレジスタ(90)からの入
力データの大きさに比例するウィンドトリガ状態信号を
出力し、このトリガレヘル信号を比較R3(84)の反
転入力端に入力する。
μC(86)は比較器(82)及び(84月こ対して感
知(センス)信号を与えて、トリガ信号入力が夫々のト
リガレベル入力以上又は以下に超すとき、出力をアサー
トするか否か比較器に告げる。また、μC(86)は比
較器(B2)が主トリガ状態信号をアーサトする回数を
計数するカウンタ(95)の計数限界を設定する。この
アサート数が計数限界に到達すると、カウンタ(95)
は比較器(84)に印加する「ホールド・オフ」信号を
デアサートする。このホールドオフ信号はアサートされ
ると比較器(84)がそのウィンドトリガ状態出力信号
をアサートするのを阻止する。
第5図は第2図のデジタイザ装置(3o)内の付属回路
のブロック図を示す。第3図のMUX(64)で得た出
力信号は、他のプラグインユニットの同様MU×が作る
出力信号と一緒に第5図の1対のMUX(96)及び(
98)に入力される。MIX (96)は一定間隔でサ
ンプリングする主デジタイザ(100)に出力信号を入
力する。各サンプルの信号の大きさをデジタルデータに
変換し、順次取込んだデータを各取込サイクル中に取込
メモリの順次のアドレスに記憶する。主デジタイザは連
続的に動作し、を込メモリ内の前に取込んだデータを順
次の取込サイクル中に取込んだ新しいデータと置換する
。取込メモリアドレスの特定部分に記憶した波形データ
シーケンスは取込メモリから定期的に続出され、メモリ
管理ユニット(開υ)へ送って波形表示の制御に使用す
る。この波形データシーケンスを含む取込メモリアドレ
ス区分を選択して、主トリガ状態信号が現在の取込サイ
クル中に最初にアサートされた後、調節可能なサンプル
数から開始する一定数のサンプルデータを含むようにす
る。これにより波形のトリガ点に対するオシロスコープ
スクリーン上での波形表示の水平位置が調節できる。
主デジタイザのサンプリング周期はデジタイザ装置μG
 (86)から供給される制御データと信号により制御
される。第4図の比較器(82)の主トリガ状態信号出
力はμC(86)に人力され、いつ主トリガ状態信号が
アサートされたかを決定するようにする。またμC(8
6)はウィンドトリガ状態信号を監視する。第2図のμ
C(44)は、波形メモリ(32)にMMU(34)を
介して命令を記憶し、次にMMU (34)に対してそ
の命令を波形メモリからμC(86)へ転送要求するこ
とにより第5図のデジタイザ装置μC(86)と通信す
る。同様に、デジタイザ装置μG (86)は、波形メ
モリに情報を記憶し、次にこの情報をμC(44)で読
出すことにより第2図のμC(44)に情報を送ること
ができる。
MIX (9B)はその出力信号を、主デジタイザ(1
00)と同様にウィンドデジタイザ(102)に送る。
第4図の比較器(84)が出すウィンドトリガ状態信号
はトリガ入力としてデジタイザ(102)に送り、また
μC(86)にも送る。また、デジタイザ装置μC(8
6)はこれに供給する制御信号及びデータを介してウィ
ンドデジタイザ(102)のサンプリング周期を制御す
る。主デジタイザ(100)は第1図の主水平軸(23
)による波形で表わされる入力信号のデジタイズに使用
され、他方ウィンドデジタイザ(102)は第1図のウ
ィンド水平軸による波形で表わされる入力信号のデジタ
イズに使用する。2つのデジタイザを使用することによ
り、同じ入力信号を同時に異なるサンプリング周期でサ
ンプリングしデジタイズできる。第4図の比較器(82
)及び(84)が作る主及びウィンドトリガ状態信号は
タイマ(104)の「開始」及び「停止」入力端にも入
力して、主及びウィンドトリガ状態信号間の間隔(時間
差)を示す出力データをμC(86)に送る。タイマ(
104)の動作はデジタイザ装置μC(86)の制御信
号によりアーミングしてもよい。
本発明の自動1JfJ整オシロスコープによると、垂直
増幅器の利得とオフセット、各デジタイザのサンプリン
グ周期、主及びウィンドトリガレベル、主及びウィンド
水平位置を自動的に調節して、入力信号を正しく表わす
波形がスクリーン上に表示されるようにする。第2図の
プラグインユニット(20)乃至(24)の1つの垂直
チャンネルへの入力信号を表わす波形がスクリーン上D
上に表示されると、オシロスコープのオペレータは自動
調節(オートセント)動作を作動させてもよい。その為
には、最初にタッチスクリーンを用いて波形選択を行い
、次に第1図のオシロスコープのフロントパネルα荀上
にある押釦Q[Ilの1つを押す。すると、第2図の執
行μG に44)は110回路(50)を介してμCに
入力したタッチスクリーンOgl及び押釦α瞬の入力デ
ータに基づき、オペレータが特定の波形を選択したこと
、オペレータがその波形につきオートセント動作の実行
を要求していると断定する。次に、μC(44)はRO
M(46)に記憶しているオートセットプログラムを走
らせて、μCが垂直利得とオフセット、主及びウィンド
デジタイザのサンプリング周期、トリガレベルと水平位
置を、選択波形の表示を制御する波形データをどのデジ
タイザであるかに応じて最適値に調節させる。
第3図の垂直増幅器(62)の利得は第1図のCRTス
クリーンαηの目盛格子(21)の垂直1目盛当りの電
圧値である利得設定による波形表示目盛で表わす。例え
ば、増幅器(62)の利得を1.OV/DIνに設定す
ると、利得は入力信号が1ボルト変化する毎にスクリー
ンaηに表示される波形の垂直位置が1目盛(DIV)
移動することとなる。本発明の好適実施例によると、各
垂直増幅器の利得は0.001.0.002゜0.00
5.0.01.0402.0.05.0.1.0.2.
0.5.1.0゜2.0.5.0及び10.OV/DI
Vの如<ステップ状に調節できる。この1−2−5の反
復パターンに注目されたい。トリガレベルもまた目盛格
子を基準とする。
例えば、もし利得をIV/DIVに設定し、主トリガ比
較器をIDIVに設定すると、主トリガ比較器は増幅器
入力信号が1ボルトに達したとき主トリガ状態信号を生
じる。
本発明による利得オートセントプログラムの流れ線図を
第6図に示す。本発明の好適実施例によると、オペレー
タはメニュを用い、事前に入力信号レベルがTTL又は
ECLと判っている場合には、執行μCに対してその旨
を伝える。このプログラムを説明すると、ブロック(1
05)ではオペレータがμCに、入力信号がTTL レ
ベルであると事前に指示していたか否かをチェックする
。もし指示していれば垂直利得を自動的に2V/Drν
に設定する(ブロック(106))。これはTTL レ
ベルの信号に最適の利得である。そしてトリガレベルは
0,75D[Vに設定する(ブロック(107))。も
し入力信号レベルがECLレヘレベあるとオペレータが
μCに事前に指示していれば(ブロック(108))、
μCは垂直増幅器の利得をI V/DIVに設定しくブ
ロック(109))、トリガレベルを2DIVに設定す
る (ブロック(110))。
執行μCは110回路(5o)を介して第3図のレジス
タに制御データを送り、第3図の垂直増幅器(62)の
利得を調整する。このデータは増幅器(62)の利得を
所望値に調整するに十分な大きさの利得制御信号をDA
C(77)から生じさせる。もし人力信号レベルがTT
L又はECL レベルであることをオペレータが指定し
なかった場合には、μCはその人力信号の大きさを測定
することにより人力信号に適した利得設定を行う。この
手順はブロック(111)から始まるやμC(,44)
は第2図の110回路(50)を介して制御データを送
り、第3図のレジスタ(74)に記憶させる。このデー
タはスイッチ(72)をオフとし、スイッチ(70)を
下側として入力信号を増幅器(62)の非反転入力にコ
ンデンサ(68)を介してAC結合する。次のブロック
(112)で、μCはデータをし’;スタ(14)L3
sす、MIJX (66)が垂直増幅R5(62)の出
力をトリガ入力信号としてデジタイザに送り、第4図の
デジタイザ装置μC(86)へ命令を送って門tlX 
(78)及び(80)がMIJX (66)の出力を主
トリガ比較器(82)及びウィンドトリガ比較器(84
)のトリガ信号入力として選択する。
ブロック(116)で、執行μCは第3図のレジスタ(
74)の1ツニデータを送って記憶し、DAC(76)
からオフセット信号出力を生じさせ、その結果増幅器(
62)が0オフセントの出力信号を生しるようにする。
(DAC(76)のオフセット信号出力の大きさは通常
Oには設定されないが、増幅器(62)のオフセットの
影台を相殺するに足る値に設定する。)ブロック(11
8)で、μC(44)は110回路(50)を介して第
3図のレジスタ(74)に制御データを送り、このデー
タでDAC(77)が増幅器(62)の利得を1.0ν
/DTVスケールに調節するに足る大きさの利得制御信
号を生じる。この利得及びオフセント設定により、スク
リーン0ηの垂直中央目盛は0ボルト、最も上の目盛線
の信号振幅は5ボルト、最も下の目盛線は一5ボルトを
表わす。
ブロック(120)で、μC(44)は第4図のデジタ
イザ装置μC(86)に命令を送り、トリガ信号入力が
トリガレベル入力を超すとき主トリガ状態信号をアサー
トするよう比較器(82)をセットし、レジスタ(88
)のデータ値を、スクリーン0ηの垂直中心から+4.
75 DIV上が表わすトリガレベル値(即ち+4.7
5ボルト)の主トリガレベル信号をDAC(92)が生
じるよう設定する。ブロック(112)で、μC(44
)はデジタイザ装置μC(86)に命令を送り、第4図
の比較器(84)をセットして、そのトリガ信号入力が
トリガレベル入力以下になるときウィンドトリガ状態信
号をアサートするよう告げる。また、デジタイザ装置μ
C(86)に命令を送ってレジスタ(92)のデータ値
を設定し、比較器(84)がウィンドトリガ状態信号を
アサートするのに入力信号がスクリーン01の垂直中心
線より4.75 DIν下のレベル(即ち−4,75ボ
ルト)に下がらなければならない大きさのトリガレベル
信号をDAC: (94)が生しるようにレジスタ(9
0)のデータ値をセットする。
ブロック(124)で、μC(44)はデジタイザ装置
μC(86)に対して命令を送り、主及びウィンドトリ
ガ状態信号を監視させて、それから約20m5後にμC
(44)はデジタイザ装置μCに対して、主及びウィン
ドトリガ状態信号がアサートされたか否かを示すメツセ
ージを戻すことを要求する。取込・サイクル(ブロック
(126))中に主及びウィンドトリガ状態信号のいず
れもアサートされず、また現在の利得設定が上限になけ
れば(ブロック(130) )、μC(44)は垂直増
幅器利得を3ステツプだけ増加する(ブロック(132
))。
上述したとおり垂直増幅器の利得は、1−2−5ステツ
プで調節可能であることを想起されたい。利得は最初I
V/DIVスケールに設定しているので、3ステツプ進
めると利得は10倍、即ち0.IV/DIVスケールと
なり、0.5及び0.2V/DIVス/y−ルハlHf
す。次に、プログラムはブロック(124)に戻り、こ
こでμC(44)は再度デジタイズ装置μCに対して主
及びウィンドトリガ状態信号を監視するよう指令する。
次の20 ms間に主又はウィンドトリガ状ftFi信
号のいずれかが7サートされたことをデジタイザ装置μ
Cが検出せず、しかも利得が上限値(0,001V/D
IV)に到達していないと、利得を再度3ステップ進め
(0,01V/DIVとし)、プログラムはブロック(
124)に戻る。
このプログラムはプロ、り(124)乃至(132)の
ループを反復し、ループを通る毎に利得を3ステツプ増
加して、ブロック(130)で利得が上限に達するか或
いはブロック(126)で主及びウィンドトリガ状態信
号のアサートの一方又は双方が検出されると終了する。
ブロック(130)で利得が上限に達すると、プログラ
ムは終了する。この場合、入力信号の大きさは最小であ
るので、最大利得設定(0,001V/DIV)とする
。しかし、ブロック(124) テトリガ状態信号が検
知され、且つ利得設定が下限でなければ(ブロック(1
36))、利得を1ステップ下げ(ブロック(138)
)、主及びウィンドトリガ状態信号を再度20m5間監
視する(ブロック(1−40))。
もし主及び/又はウィンドトリガ状態信号がアサートさ
れるとくブロック(142))、プログラムはブロック
(136)に戻る。プログラムはブロック(136)乃
至(142)のループを1陸続して各ループ毎に利得を
1ステップ下げ、利得が下限値(IOV/D[V)に達
するまで(ブロック(136))又は主ウィンドトリガ
信号のいずれもアサートされなくなるまで(ブロック(
142))利得を下げる。いずれの場合も、プログラム
は終了し、利得は最終設定値にとどまる。
よって、第6図に示す利得調節アルゴリズムによると、
垂直増幅器の利得は主又はウィンドトリガ状態信号が検
出されるまで3ステツプ毎に増加し、次にトリガ状態信
号が検出されなくなるまで1ステツプ毎に減少する。こ
の手法により、比較的少ない取込サイクルで正しい利得
設定を実現する。
トリガ状態信号が監視される期間は比較的長く選定しく
例えば(20ms)、入力信号周波数が最低5011z
あれば、入力信号が最低1サイクル監視できるようにす
る。
利得を確立するに際し、トリガレベルを調節して、入力
信号の+側のピーク値がスクリーン中心から+4.75
DIV上の値を超すときのみ主トリガ状態信号がアサー
トされ、また入力信号のm個ピークが−4,75DIV
下の値以下になるときのみにウィンドトリガ状態信号が
アサートされるようにする。
よって、このアルゴリズムにより、第3図の垂直増幅器
の利得を、AC結合とするときスクリーン上の表示波形
の最大及び最小値がスクリーンの目盛の±4.75DI
V間に現れるように設定する。但し、入力信号のAC成
分は垂直増幅器の利得限界内にあるものとする。
μC(44)はプログラムを実行して増幅器の出力信号
の最大及び最小ピーク値を測定し、且つ垂直増幅器の出
力信号のデジタイズ時にはトリガレベルをこの最大及び
最小ピーク値開の中心値に設定し得るようにする。
バイナリサーチ法を使用して、増幅器出力信号の最大ピ
ーク値を求める。ここで、第4図の比較器(82)が作
る主トリガ状態信号は数回の順次取込サイクル中にモニ
タされ、各取込サイクル前にDAC(92)のトリガレ
ベル出力を反復的に増減する。
前の取込サイクル中に主トリガ状態信号が検出されると
、主トリガレベルを増加し、主トリガ状態信号が検出さ
れないと減少する。2〜3回反復すると、[IAC(9
2)の最後のトリガレベル出力は垂直増幅器出力信号の
最大ピークと略等しくなる。同時に、垂直増幅器の出力
信号の最小ピークは比較器(84)が作るウィンドトリ
ガ状態信号をモニタし、20m5の取込サイクルの前に
、先の取込サイクル中にウィンドトリガ状態信号がアサ
ートされたか否かに依りDAC(94)のトリガレベル
出力を順次反復的に増加又は減少して測定する。T)A
C(94)の最終トリガレベル信号出力の大きさは垂直
増幅器出力信号の最小ピーク値と略同じである。
最大及び最小ピーク値のバイナリサーチを行う為に、第
6図の利得設定プログラム中にμC(44)が得た情報
を使用して最小及び最大ピーク値のサーチを行う入力信
号振幅のレンジ低減を図っている。利得設定には、垂直
増幅器の利得を3ステツプ毎に主又はウィンドトリガ状
態信号が検出されるまで増加し、その後1度に1ステツ
プずつ下げてトリガ状態信号が検出されないようにして
いたことを想起されたい。利得を調節する毎にトリガレ
ベルも調節して、人力信号の最大ピーク値が+4.75
DIVのレベルを超したときのみ主トリガ状態信号がア
サートされ、入力信号の最小ピーク値が−4,750I
Vのレベル以下に下ったときのみウィンド状態トリガ信
号がアサートされるようにする。
また、利得設定は!−2−5の反復パターンであり、利
得設定を増減すると、利得の変化は2 (1から2へ又
は5から10への変化)又は2.5(2から5への変化
)であることを想起されたい。
もし王トリガ状態信号が最後の利得低減に先立つ取込サ
イクル中にアサートされると、最後の利得低減後の波形
表示の最大ピーク値は+4.7501νと+4.75/
2.50IVのレベル間におさまるので、ピーク値のバ
イナリサーチはこの範囲に限定する。
最後の利得低減の直前の取込サイクル中に主トリガ状態
信号がアサートされないと、最後の利得低減後の表示波
形の最大ピーク値はOと4.75/2DIv間になけれ
ばならない。この場合、最大ピーク値のバイナリサーチ
はこの範囲に限定する。同様に、もしウィンドトリガ状
態信号が最後の利得低減前の取込サイクル中にアサート
されると、最後の利得低減後の表示波形の最小ピーク値
は、 4.75DIVと−4,75/2.5Drv間に
あり、最小ピークのハリナリサーチはこの範囲に限定す
る。もしウィンドトリガ状態信号が最終利得低減直前の
取込サイクル中にアサートされないと、最終利得低域後
の表示波形の最小ピーク値はOと−4,75/2DIV
であり、最小ピーク値のバイナリサーチはこの範囲に限
定する。
第7図は入力信号の最大及び最小ピークレベルを決定す
るプログラムの流れ線図である。ブロック(150)か
ら説明する。執行μC(44)は第6図の利得調節アル
ゴリズムの結果から、波形の最大ピーク値が小さい、即
ちOと+4.75/2DIV間であるか否かを決定する
。もしそうであれば、王トリガレベルのバイナリサーチ
は実質的に垂直増幅器の出力信号の最大ピークレベルに
つき、0と+4.75/2DIV格子目盛に対応するレ
ンジで前述したと同様に実行される(ブロック(152
))。他方、垂直増幅器出力信号の最大ピーク値が大き
く、+4.75及び+4.75/2.5DIV間であれ
ば、斯る最大ピーク値に対応するトリガレベルのバイナ
リサーチはその範囲で実行される (ブロック(154
))。ブロック(156)では、実行μP (44)は
利得調節アルゴリズムの動作経過から、波形の最小ピー
ク値が小さい、即ち0乃至−4,75/ZDIV間であ
るか否かを決定する。もしそうであれば、このレンジの
バイナリサーチを実行する (ブロック(158))。
もし最小ピーク値が大きいと、即ち−4,75乃至−4
,75/2.50[Vであれば、最小ピーク値のバイナ
リサーチをこのレンジで実行する (ブロック(160
) )。
ブロック(158)と(160)は第7図中ブロック(
152)と(154)の後に行われるとしているが、同
時に実行してもよいことに注目されたい。即ち、ブロッ
ク(152)又は(154)で最大ピーク値のバイナリ
サーチを行うと同時に、最小ピーク値のバイナリサーチ
がブロック(158)と(160)の1つで実行可能で
ある。一度最小及び最大ピーク値が決定されると、μC
(44)はデジタイザ装置μCに命令を送って主及びウ
ィンドトリガレベルの双方を設定して、パイナリサーチ
工程(ブロック(152))中で使用したif&の主及
びウィンドトリガレベルで示す最大及び最小値間の範囲
の中央のレベルを入力信号が超すとき主及びウィンドト
リガ状態信号が生じるようにしてプログラムを終える。
この時点で入力信号を垂直増幅器にAC結合して利得を
調節し、入力信号を表わす波形がスクリーンのこの垂直
境界内に収まるようにする。その後入力信号を垂直増幅
器にDC結合すると、入力信号中に大きい正又は負のD
C成分が含まれている場合には、垂直増幅器の出力信号
は正又は負方向に大幅に1多動するのでスクリーン力)
ら消えるかも知れない。よって、本発明に依ると、μC
(、+4)はプログラムを実行し、それにより垂直入力
チャンネルをDC結合に切換え垂直増幅器へ供給するオ
フセット信号を調節し、入力(3号中に含まれるDC成
分をオフセントする。
入力信号を垂直増幅器にDC結合した後、μC(44)
はデジタイザが生じ且つ波形メモリに記憶された波形デ
ータシーケンスの値を検査して波形がスクリーン上に現
れるか否かを決める。もしシーケンスデータの絶対値が
大きすぎると、執行μCはこれが作る波形の少くとも1
点がスクリーン上に表示されないことを知る。もしそう
であれば、執行μCは垂直増幅器のオフセット信号を調
節して必要に応じて増幅器出力信号の大きさを上下移動
させて、表示波形の最小及び最大ピーク値が共にスクリ
ーン上に表示されるようにする。
オフセントを調節する為、μC(44)は別のサーチ方
法を採用する。即ち、各データ取込サイクル後に波形デ
ータシーケンスを検査し、垂直オフセットを順次小さい
値で増減して、DC結合した入力信号の波形がスクリー
ンの上下境界内に表示されたことを波形データシーケン
スのデータ値が示すようにする。しかし、このサーチの
実行前に、デジタイザのサンプリング周期を設定して、
これにより作られた波形データシーケンスが入力信号サ
イクルの適当な数(例えば10)を表示するようにする
。サンプリング周期が遅すぎると、入力信号の波形を十
分正しく表示する為の十分なサンプルが各期間中に得ら
れず、またサンプリング周期が速すぎると、完全な波形
サイクルがデジタイズできないかも知れない。正しいサ
ンプリング周期設定を決定する為に、μCは第5図のタ
イマ(104)を用い、入力信号の順次サイクル間の周
期を測定する。一度オフセットが調節されると、デジタ
イザのサンプリング周期は、波形の約3周期がスクリー
ン上に表示されるように調節し、更に水平位置は波形上
のトリガ点がスクリーンの左端から約l0IV位置に表
示され、トリガ点が容易に観測できるようにする。
第8図はDC結合の入力信号の波形がスクリーンに表示
されるようにμC(44)がオフセントを調節する過程
を示す流れ図である。ブロック(164)から始め、μ
C(44)は第4図のデジタイザ装置μC(86)に命
令を送って、主トリガ比較器が主トリガ状態信号をアサ
ートする直後までウィンドトリガ比較器(84)に供給
するホールドオフ信号をアサートする。よって、ウィン
ドトリガ状態信号は主トリガ状態信号を生じさせたトリ
ガ現象の直後に生起する入力信号の最初のトリガ現象で
(即ち、入力信号がウィンドトリガレベルを超したとき
)アサートされる。また、μC(44)はデジタイザ装
置μC(86)に命令を送り、次の取込サイクル(ブロ
ック(166))中に第5図のタイマ(104)が作る
データを取込み、そのデータをμC(44)に戻す。主
及びウィンドトリガレベルは共に、垂直増幅器出力信号
が実測した最小及び最大ピーク値の中間レベルを超すと
きトリガするよう設定されているので、主及びウィンド
トリガ状態信号のアサート間の測定時間差は、増幅器出
力信号が周期的であり、大振幅の高周波の高調波成分や
ノイズ成分を含まない場合には、入力信号の1周期とな
る。
もし増幅器出力信号に大振幅の高調波成分が含まれてい
ると、±及びウィンドトリガ状態信号間の期間は増幅器
出力信号の最低周波数成分の周期より幾分短かくなる。
取込サイクル中に増幅器出力の最低完全な1周期がデジ
タイズされる機会を改善する為に、μC(44)はデジ
タイザ装置μC(86)に命令を送り、デジタイザの取
込サイクルがタイマ(104)で測定した周期の10倍
となるように主デジタイザ(100)のサンプリング周
期を設定するよう告げる(ブロック(168) )。
次に、ブロック(170)でμC(44)はメツセージ
を110回路(50)に送り、レジスタ(74)に適当
なデータをのせて第3図のスイッチ(72)を閉じ、コ
ンデンサ(68)を閉じ、入力信号を垂直増幅器(62
)にDC結合するようにする。次にμC(44)はデジ
タイザμC(86)に命令を送って波形データ取込みを
行い(ブロック(172))、その後ブロック(174
)で波形メモリ内に記憶された波形データシーケンスを
チェックし、データシーケンスが波形の対応する部分が
スクリーンの境界内に表示される範囲内であるか否かを
決定する(ブロック(176))。もしそうでなければ
、μC(44)は前述のバイナリサーチを行い(ブロッ
ク(180))、垂直増幅器に印加した垂直オフセット
信号を順次小さい値で調節して、波形メモリ内に記憶さ
れた波形データシーケンスがスクリーン上の正しい位置
に波形表示が行われていることを示すようにする。その
後プログラムが終了する。
利得およびオフセット設定完了後、第9図に流れ線図で
示すオートセットプログラムを実行して、サンプリング
周期と波形の水平位置を調節し、トリガ点が第1水平目
盛位置で3サイクルの入力信号波形が表示されるように
する。また、このプログラムは第6図のブロック(10
7)及び(110)の後に実行し、利得をTTL又はE
CLレベルに設定する。
第9図を参照して、ブロック(182)から説明する。
ウィンドトリガレベルを主トリガレベルと同じに設定し
、ウィンドトリガホールドオフを1イベントに設定しく
ブロック(184) 、主及びウィンドトリガ状態信号
間の間隔を測定する(ブロック(186))。
次に、デジタイザのサンプリング周期を設定して3周期
分の波形が表示されるようにしくブロック(188))
、デジタイザへの水平位置データ入力を設定してC,R
Tの左端から1目盛位置にトリガ現象が表示されるよう
にする。
前述したとおり、オペレータはスクリーン上の波形に接
触することによりオートセットする波形を選択し、次に
オシロスコープのフロントパネル上の「オートセット」
押釦を押すことによりこのオートセント手順を開始する
。しかし、オペレータは波形を選択してオートセット手
順を別のやり方で行うことも可能である。第2図を参照
すると、各プローブaDは押釦を含み、対応するプラグ
インユニソI1m乃至(24)を介して110回路(5
0)に信号を伝達する。この信号の検出後、110回路
(50)はμC(44)にデータを送り、どの押釦が押
されたかμCが決定できるようにする。μCがプローブ
αυ上の押された押釦を決定すると、それは自動的にそ
のプローブに接続されている入力チャンネルに関連する
波形を選択して、その波形に対するオートセット手順を
開始する。よって、例えばオペレータは測定したい回路
上の任意点にプローブを接続(触)し、そのプローブの
押釦を押すと、オシロスコープは自動的に調節を行い、
オシロスコータに触れることなく適当な波形表示かだき
る。
本発明に依ると、波形選択を行わないでオペレータがオ
ートセット釦を押すと、制御装面は垂直増幅器出力信号
の振幅を順次チェックして、入力信号が印加されている
か否かを決定する。もし入力信号が印加されているのが
見つかると、装置は自動的にオートセットを行い、その
入力信号の波形を表示する。
第10図は増幅器出力信号の大きさをチェ7りし、入力
信号があるときオートセットプロセスを開始する為にμ
C(44)が使用するプログラムの流れ線図である。ブ
ロック(192)から説明する。カウンタIを0にセッ
トする。そして、ブロック(194)で主トリガレベル
を0DIVより僅か上に設定し、ウィンドトリガレベル
を0DIVよりわずかに低い値に設定する。垂直入力チ
ャンネル■に関連する垂直増幅器の利得を最大値付近、
好ましくは0.005V/DIVに設定する (ブロッ
ク(196))、そしてその増幅器の出力を主及びウィ
ンドトリガ比較器と主デジタイザの入力として選択する
 (ブロック(198))。
次に、主及びウィンドトリガ状態信号を20m5間モニ
クじ、もしアサートされ条と第6−9図のオートセント
プログラムを実行して入力信号を表わす波形のオートセ
ットを行い(ブロック(208))プログラムを終了す
る。ブロック(202)の後、もしトリガ状態信号がチ
ャンネル■につき検出されないと、■の値を増加し、■
が最大チャンネル数(rmax)になるとプログラムは
ブロック(196)に戻す。このプログラムはブロック
(196)乃至(206)間でループを描いて、波形の
オートセットが完了するが■がImaxを超えたときプ
ログラムを終了する(ブロック(206))。
前述したとおり、「ウィンド」波形は「主」波形の一部
を水平方向に拡大したものであり、且つウィンドデジタ
イザを用いて主デジタイザによりデジタイズしたのと同
じ垂直増幅器出力信号をデジタイズするが、サンプリン
グ周期がより高速である点で相違する。°オペレータは
主波形の一部を手動調節によりウィンド波形とするべく
第1図の制御つまみ00を用い、主波形のハイライト領
域の位置と長さを調整する。μC(44)はサンプリン
グ周期、ウィンドトリガレベル、及びウインドデジタイ
プの水平位置設定を自動的に調節してウィンド波形が主
波形のハイライト領域と対応するようにする。
しかし、本発明に依ると、オペレータがウィンド波形を
選択しオートセット押釦を押すと、第11図の流れ線図
に示すプログラムが実行され、ウィンドデジタイザのサ
ンプリング周期、トリガレベル及び水平位置が自動的に
設定され、選択されたウィンド波形に関連する主波形の
特定部分が表示されるようにする。ブロック(210)
から始めると、μC(44)は最初デジタイザ装置μG
(46)が20m5間主トリガ状態信号を監視し、主波
形がトリガされたか否か決定する。ブロック(212)
でなければ、第6−9図のオートセットプログラムが実
行され、主波形をオートセットする (ブロック(21
4))。もし主波形がトリガされるか(ブロック(21
2))、主波形がオートセントされた後(ブロック(2
14))、主トリガ比較器をセットして主トリガ信号の
前縁でトリガしくブロック(216))、ウィンドトリ
ガ比較器はウィンドトリガ信号の後縁で且つ主トリガレ
ベル信号と同しレベルでトリガされるように設定する 
(ブロック(218))、次に執行μCはデジタイザ装
置μCに命令を送うて第5図のタイマを用いて波形の1
サイクルの前及び後縁間の期間T、を測定する。その後
、主トリガ比較器は、後縁でトリガされるように設定し
くブロック(222))、ウィンドトリガ比較器は前縁
でトリガするように設定され(ブロック(224))、
波形の1サイクルの後縁と前縁間の期間T2を測定する
。第12図は典型的な主波形(232)であり、第11
図のブロック(220)及び(226)で測定した期間
TI及びT2を示す。第11図を参照して、期間T+及
びT2を測定した後、ウィンドトリガ比較器はそれが前
縁又は後縁のいずれでトリガするかを感知し、ウィンド
デジタイザのサンプリング周期を設定して、ウィンド波
形が期間T、又はT2のいずれか狭い方の中に生起する
主波形部分をほぼ覆うようにする(ブロック(228)
)。その後、ウィンドデジタイザの水平位置設定を調節
して、トリガ点がCRTスクリーンの左端から1目盛目
に現れるようにする ()゛ロック(230))。
(発明の効果〕 よって、本発明のオシロスコープは2つのトリガ回路と
関連制御装置を用いることに動作パラメータを自動的に
最適値に調節して、オペレータが選択した波形の表示を
制御する。波形の垂直大きさと位置は垂直増幅器の利得
とオフセットを調節することにより3テ2い、波形の水
平スケールはデジタイザのサンプリング周期を調節する
ことにより行う。また、このオシロスコープはトリガレ
ベル1を自動的に設定して正しいトリガを与えるように
し、且つデジタイザへ入力する水平位置データを調節し
てスクリーン上の波形の水平位置を適宜調節する。また
、オシロスコープは能動入力信号のチュソクができるよ
うに構成されており、これら動作パラメータを自動的に
調節して、各能動入力信号を正しく表わす波形が表示さ
れるようにする。
従って、オペレータの必要操作が最少となり、従来パラ
メータの設定に要した時間が大幅に低減できるので、正
しい波形測定を迅速に行うことができ、且つ比較的未熟
練者も測定ミスを犯す虞れがなく、ヒユーマンインター
フェースの優れたオシロスコープが得られるので、実用
上の効果が顕著である。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明を使用するに好適なオシロスコープの正
面図、第2図は第1図のオシロスコープのブロック図、
第3図は第2図のプラグインユニットの垂直入力チャン
ネルのブロック図、第4図は第2図のデジタイザ装置に
含まれる主及びウィンドトリガ装置のブロック図、第5
図は第2図のデジタイザ装置に含まれる主及びウィンド
デジタイザ装置のブロック図、第6図は第3図の垂直入
力装置の増幅器の本発明による利得調節手順の流れ線図
、第7図は第4図のトリガ装置に使用される主及びウィ
ンドトリガ信号レベル調節用流れ線図、第8図は第3図
の垂直入力装置の増幅器のオフセット入力を調節する流
れ線図、第9図は第5図の主デジタイザのサンプリング
周期及び水平位置設定用流れ線図、第10図は入力信号
を表わす波形の表示パラメータを自動的に調節する第1
図のオシロスコープの入力信号選択用流れ線図、第11
図は第1O図のオシロスコープのスクリーン上に表示す
るウィンド表示波形の表示を自動的に調節する為の流れ
線図、第12図は典型的な波形表示例を示す波形図であ
る。 (62)は増幅器、(82) 、 (84)は比較手段
、(86)は制御手段である。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、被測定入力信号を異なる利得で増幅する増幅器と、
    該増幅器の出力を互に異なる第1及び第2トリガレベル
    と比較して夫々上記出力信号が上記第1トリガレベルを
    超すとき及び上記第2トリガレベル以下となるとき第1
    及び第2トリガ状態信号を出力する比較手段と上記第1
    及び第2トリガ状態信号を受け上記第1又は第2トリガ
    状態信号が検出される迄上記増幅器の利得を増加した後
    、両トリガ状態信号共に検出されない値に利得を低減す
    る制御手段とを具える自動調整オシロスコープ。 2、上記比較手段として遅延掃引型オシロスコープの主
    及び遅延掃引用トリガ回路を使用する特許請求の範囲第
    1項記載の自動調整オシロスコープ。 3、上記第1及び第2トリガレベルはオシロスコープの
    垂直目盛りの上下両端近傍に設定することを特徴とする
    特許請求の範囲第1項記載の自動調整オシロスコープ。
JP62321174A 1986-12-19 1987-12-18 自動調整オシロスコープ Granted JPS63186152A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US944,302 1986-12-19
US06/944,302 US4743844A (en) 1986-12-19 1986-12-19 Self-adjusting oscilloscope

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS63186152A true JPS63186152A (ja) 1988-08-01
JPH0543993B2 JPH0543993B2 (ja) 1993-07-05

Family

ID=25481154

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP62321174A Granted JPS63186152A (ja) 1986-12-19 1987-12-18 自動調整オシロスコープ

Country Status (3)

Country Link
US (1) US4743844A (ja)
EP (1) EP0272126A3 (ja)
JP (1) JPS63186152A (ja)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0348772U (ja) * 1989-09-20 1991-05-10
JP2004251903A (ja) * 2003-02-18 2004-09-09 Tektronix Japan Ltd 利得及びオフセットの自動設定方法
JP2008122285A (ja) * 2006-11-14 2008-05-29 Yokogawa Electric Corp 波形表示装置
JP2011059106A (ja) * 2009-09-04 2011-03-24 Tektronix Inc 試験測定機器及び方法
JP2012073041A (ja) * 2010-09-27 2012-04-12 Hioki Ee Corp 波形記録装置における動作条件の設定方法および波形記録装置
JP2015513727A (ja) * 2012-02-16 2015-05-14 マイクロソフト コーポレーション 記憶媒体及び処理方法

Families Citing this family (51)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5081592A (en) * 1987-08-05 1992-01-14 Tektronix, Inc. Test system for acquiring, calculating and displaying representations of data sequences
US5029116A (en) * 1987-12-17 1991-07-02 Hitachi Automobile Appliances Sales Company, Ltd. Oscilloscope operation supporting device
US5440676A (en) * 1988-01-29 1995-08-08 Tektronix, Inc. Raster scan waveform display rasterizer with pixel intensity gradation
US5028914A (en) * 1988-06-23 1991-07-02 Motorola, Inc. Method and apparatus for waveform digitization
JPH0245767A (ja) * 1988-06-30 1990-02-15 Tektronix Inc デジタル・オシロスコープの自動調整方法
NL8802345A (nl) * 1988-09-22 1990-04-17 Philips Nv Beeldweergeefinrichting geschikt voor weergave van een oscilloscopische afbeelding op een weergeefscherm voor weergave van een lijn- en rastergewijze opgebouwd beeld.
US5214784A (en) * 1988-11-28 1993-05-25 Tektronix, Inc. Sequence of events detector for serial digital data which selectively outputs match signal in the series which defines detected sequence
US5027058A (en) * 1990-02-26 1991-06-25 Tektronix, Inc. Multi-standard video option for oscilloscope
US5184062A (en) * 1990-05-11 1993-02-02 Nicolet Instrument Corporation Dynamically calibrated trigger for oscilloscopes
US5004975A (en) * 1990-06-28 1991-04-02 Tektronix, Inc. Adjustable electronic graticules for measuring waveform distortions
US5295080A (en) * 1990-08-06 1994-03-15 Tektronix, Inc. Method of operating a buffer memory to provide a trigger pattern by storing a trigger code in preselected areas of the buffer memory
NL9001842A (nl) * 1990-08-20 1992-03-16 Philips Nv Meetinstrument en tijdbasisschakeling geschikt voor toepassing in een dergelijk meetinstrument.
US5138252A (en) * 1990-11-09 1992-08-11 Hewlett-Packard Company Automatic scaling for display of modulation domain measurements
US5155431A (en) * 1991-02-06 1992-10-13 Hewlett-Packard Company Very fast autoscale topology for digitizing oscilloscopes
NL9100409A (nl) * 1991-03-07 1992-10-01 Philips Nv Meetinstrument voor het meten van weer te geven grootheden en pulsverwerkingsinrichting geschikt voor toepassing in een dergelijk meetinstrument.
GB2259574B (en) * 1991-09-12 1995-08-30 Heme Int Ltd Measuring devices
US5375067A (en) * 1992-12-11 1994-12-20 Nicolet Instrument Corporation Method and apparatus for adjustment of acquisition parameters in a data acquisition system such as a digital oscilloscope
US5397981A (en) * 1994-02-28 1995-03-14 Fluke Corporation Digital storage oscilloscope with automatic time base
US5495168A (en) * 1994-09-12 1996-02-27 Fluke Corporation Method of signal analysis employing histograms to establish stable, scaled displays in oscilloscopes
US6263290B1 (en) 1995-02-22 2001-07-17 Michael K. Williams Process and machine for signal waveform analysis
US5929838A (en) * 1996-04-17 1999-07-27 Hewlett-Packard Company Acquisition manager and method for alternating digital oscilloscope operation between fast update rate and long record length
US5999163A (en) * 1996-11-01 1999-12-07 Tektronix, Inc. Digital oscilloscope with high live time recording of signal anomalies and method
US5978742A (en) * 1997-04-04 1999-11-02 Tektronix, Inc. Method and apparatus for digital sampling of electrical waveforms
DE19733388A1 (de) * 1997-08-01 1999-02-04 Siemens Ag Verfahren zur Einstellung einer Triggerschwelle, Anordnung zur Durchführung des Verfahrens sowie digitales Speicheroszilloskop mit einer derartigen Anordnung
US6219029B1 (en) * 1998-04-03 2001-04-17 Tektronix, Inc. Emphasizing infrequent events in a digital oscilloscope having variable intensity rasterizer and variable intensity or color display
US6232764B1 (en) * 1998-06-12 2001-05-15 Tektronix, Inc. Accessory with internal adjustments controlled by host
US6384825B2 (en) * 1998-06-25 2002-05-07 Tektronix, Inc. Method of controlling a sparse vector rasterizer
US6275257B1 (en) * 1998-10-16 2001-08-14 Tektronix, Inc. Holdoff by TV fields
US6301547B2 (en) * 1998-11-02 2001-10-09 Agilent Technologies Inc. Method and apparatus for automatically acquiring a waveform measurement
US6571185B1 (en) 1999-04-20 2003-05-27 Tektronix, Inc. Continually responsive and anticipating automatic setup function for a digital oscilloscope
US6571186B1 (en) * 1999-09-14 2003-05-27 Textronix, Inc. Method of waveform time stamping for minimizing digitization artifacts in time interval distribution measurements
US6615148B2 (en) * 2000-05-17 2003-09-02 Tektronix, Inc. Streaming distributed test and measurement instrument
US6870359B1 (en) * 2001-12-14 2005-03-22 Le Croy Corporation Self-calibrating electrical test probe
US7180314B1 (en) 2001-12-14 2007-02-20 Lecroy Corporation Self-calibrating electrical test probe calibratable while connected to an electrical component under test
JP4064129B2 (ja) * 2002-03-14 2008-03-19 リーダー電子株式会社 波形表示における波形表示位置調整装置
JP4103134B2 (ja) * 2003-02-27 2008-06-18 横河電機株式会社 波形表示装置および波形表示方法
DE102006052745A1 (de) * 2006-08-14 2008-02-21 Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg Oszilloskop-Tastkopf
US8958575B2 (en) * 2007-06-29 2015-02-17 Qualcomm Incorporated Amplifier with configurable DC-coupled or AC-coupled output
WO2009026435A1 (en) * 2007-08-23 2009-02-26 Amherst Systems Associates, Inc. Waveform anomoly detection and notification systems and methods
US8190392B2 (en) * 2008-05-08 2012-05-29 Lecroy Corporation Method and apparatus for multiple trigger path triggering
US20090281758A1 (en) * 2008-05-08 2009-11-12 Lecroy Corporation Method and Apparatus for Triggering a Test and Measurement Instrument
US8386208B2 (en) * 2008-05-08 2013-02-26 Teledyne Lecroy, Inc. Method and apparatus for trigger scanning
US9699446B2 (en) * 2010-04-05 2017-07-04 Tektronix, Inc. Test and measurement device, system, and method for providing synchronized measurement views
US9157943B2 (en) * 2010-08-13 2015-10-13 Tektronix, Inc. Multi-channel frequency domain test and measurement instrument
CN103176011B (zh) * 2011-12-22 2016-09-07 北京普源精电科技有限公司 一种双触发电平的配置方法及示波器
EP2651034B1 (en) * 2012-04-12 2014-08-06 Siemens Aktiengesellschaft Method for determining a trigger level
CN103913620A (zh) * 2013-01-05 2014-07-09 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 电脑电源的电压测试装置及方法
CN103116053B (zh) * 2013-01-31 2015-11-04 福建利利普光电科技有限公司 一种用于测量数字存储示波器的自动量程测量方法
US10261111B1 (en) * 2016-08-12 2019-04-16 Keysight Technologies, Inc. Oscilloscope with digital search triggering
EP3404427B1 (en) * 2017-05-18 2024-11-13 Rohde & Schwarz GmbH & Co. KG Electrical test and measurement device, measurement extension device as well as test and measurement system
CN113219363B (zh) * 2021-03-25 2022-06-10 合肥联宝信息技术有限公司 一种电源噪声测试方法、装置及存储介质

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5855764A (ja) * 1981-09-08 1983-04-02 グラマン・エアロスペ−ス・コ−ポレイシヨン プログラマブル信号解析器
JPS58140473U (ja) * 1982-03-16 1983-09-21 アンリツ株式会社 陰極線管の管面目盛感度設定装置
JPS5923391A (ja) * 1982-07-29 1984-02-06 富士通株式会社 プラズマデイスプレイパネルの駆動回路

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3204144A (en) * 1963-02-05 1965-08-31 California Instr Corp Oscilloscope control circuitry
US3873918A (en) * 1971-11-04 1975-03-25 Coulter Electronics Particle analyzing apparatus including a system for visually displaying a particle size distribution curve on a 100 percent scale irrespective of the quantity of particles sampled by the apparatus
US4096397A (en) * 1977-03-29 1978-06-20 Honeywell Inc. Oscillographic apparatus
CH633889A5 (de) * 1978-11-24 1982-12-31 Bbc Brown Boveri & Cie Digitalvoltmeter mit elektrooptischer anzeige der wellenform.

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5855764A (ja) * 1981-09-08 1983-04-02 グラマン・エアロスペ−ス・コ−ポレイシヨン プログラマブル信号解析器
JPS58140473U (ja) * 1982-03-16 1983-09-21 アンリツ株式会社 陰極線管の管面目盛感度設定装置
JPS5923391A (ja) * 1982-07-29 1984-02-06 富士通株式会社 プラズマデイスプレイパネルの駆動回路

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0348772U (ja) * 1989-09-20 1991-05-10
JP2004251903A (ja) * 2003-02-18 2004-09-09 Tektronix Japan Ltd 利得及びオフセットの自動設定方法
JP2008122285A (ja) * 2006-11-14 2008-05-29 Yokogawa Electric Corp 波形表示装置
JP2011059106A (ja) * 2009-09-04 2011-03-24 Tektronix Inc 試験測定機器及び方法
JP2012073041A (ja) * 2010-09-27 2012-04-12 Hioki Ee Corp 波形記録装置における動作条件の設定方法および波形記録装置
JP2015513727A (ja) * 2012-02-16 2015-05-14 マイクロソフト コーポレーション 記憶媒体及び処理方法
US9552557B2 (en) 2012-02-16 2017-01-24 Microsoft Technology Licensing, Llc Visual representation of chart scaling

Also Published As

Publication number Publication date
EP0272126A2 (en) 1988-06-22
US4743844A (en) 1988-05-10
JPH0543993B2 (ja) 1993-07-05
EP0272126A3 (en) 1989-11-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4743844A (en) Self-adjusting oscilloscope
US5530373A (en) Method and apparatus for determining and selectively displaying valid measurement information
JP2640224B2 (ja) デジタルオシロスコープに表示スケーリングおよびトリガを与えるために入力信号を分析する方法
US4825392A (en) Dual function DMM display
JP3690961B2 (ja) オシロスコープの動作方法
US6246408B1 (en) Graphical system and method for invoking measurements in a signal measurement system
US4162531A (en) Method and apparatus for programmable and remote numeric control and calibration of electronic instrumentation
US4099240A (en) Method and apparatus for programmable and remote numeric control and calibration of electronic instrumentation
JPH0520771B2 (ja)
US4578640A (en) Oscilloscope control
JP4439941B2 (ja) 波形表示装置
US20070027675A1 (en) Spectrum analyzer control in an oscilloscope
CN101413967B (zh) 控制示波器自动化量测的方法
CA1278344C (en) Automatic peak-to-peak amplitude measurement system
JP2533813B2 (ja) スペクトラム・アナライザ
CN109001578B (zh) 一种检测cell面板信号发生器的测试装置和方法
US5387925A (en) Test signal generator position cursors
JP2000039454A (ja) 電子測定機器及びその制御方法
JPH06258356A (ja) 信号波形の最大,最小値測定装置
JPH0723898B2 (ja) 時間間隔−電圧変換器
US6646428B2 (en) Sweep synchronization testing
KR100219392B1 (ko) 기능 검사가 가능한 범용 계측기
JP2597580B2 (ja) 半導体測定装置
CN212159912U (zh) 一种示波器及其控制、采样电路
KR970010005B1 (ko) 터치스크린을 이용한 파형 검사장치

Legal Events

Date Code Title Description
R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20070705

Year of fee payment: 14

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080705

Year of fee payment: 15

EXPY Cancellation because of completion of term
FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080705

Year of fee payment: 15