JPS6319944Y2 - - Google Patents
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- JPS6319944Y2 JPS6319944Y2 JP5426882U JP5426882U JPS6319944Y2 JP S6319944 Y2 JPS6319944 Y2 JP S6319944Y2 JP 5426882 U JP5426882 U JP 5426882U JP 5426882 U JP5426882 U JP 5426882U JP S6319944 Y2 JPS6319944 Y2 JP S6319944Y2
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- light beam
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 35
- 210000001747 pupil Anatomy 0.000 description 5
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 3
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 3
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 2
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 2
- 230000005236 sound signal Effects 0.000 description 2
- 230000004075 alteration Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
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Description
【考案の詳細な説明】
本考案は、特に1つの光源を用いてデイスク等
の信号記録媒体に記録された信号を再生し、また
は所望の信号を追加記録できる光学式情報記録再
生装置に関する。
の信号記録媒体に記録された信号を再生し、また
は所望の信号を追加記録できる光学式情報記録再
生装置に関する。
最近、音声信号を光学的に記録再生する光学式
のオーデイオ・デイスクや、映像信号を音声信号
とともに光学的に記録再生する光学式ビデイオ・
デイスク等、情報記録媒体に信号を光学的に記録
再生する装置の開発が盛んである。
のオーデイオ・デイスクや、映像信号を音声信号
とともに光学的に記録再生する光学式ビデイオ・
デイスク等、情報記録媒体に信号を光学的に記録
再生する装置の開発が盛んである。
ところで光デイスクの特徴としては、種々の利
点があるが、そのなかに既にデイスクに記録され
ている情報に加えて、新たな情報を追加記録する
ことができる利点がある。この場合、新たな情報
は、信号記録媒体としてのデイスクに既に記録さ
れた信号トラツクに対してその間隔を一定に保つ
よう、記録される必要がある。ただし光デイスク
の偏心量は通常、数十μmもあり、トラツクピツ
チが数μmであることを考えれば新たに追加記録
しようとする信号トラツクが、既に記録済の信号
トラツクに重なつて正確な記録再生ができなくお
それがあるからである。
点があるが、そのなかに既にデイスクに記録され
ている情報に加えて、新たな情報を追加記録する
ことができる利点がある。この場合、新たな情報
は、信号記録媒体としてのデイスクに既に記録さ
れた信号トラツクに対してその間隔を一定に保つ
よう、記録される必要がある。ただし光デイスク
の偏心量は通常、数十μmもあり、トラツクピツ
チが数μmであることを考えれば新たに追加記録
しようとする信号トラツクが、既に記録済の信号
トラツクに重なつて正確な記録再生ができなくお
それがあるからである。
これを解決するものとして記録時に記録用ビー
ム以外にトラツキング用ビームを発し、トラツキ
ングビームで既に記録された信号トラツクあるい
は予め記録されたトラツキング用トラツク(プリ
グループ)を追跡しながら記録用ビームで記録し
ていく光学式情報記録再生装置が提案されつつあ
る。即ち第1図および第2図に示すように、平面
半円状の透過部50と、平面半円状のハーフミラ
ー部51とから形成されたミラー52を用いて1
つの光源53から発せられる光線をトラツキング
用光線54と記録用光線55との2光線に分離す
るものである。しかしながら、この従来のミラー
52は構造が複雑になるばかりか光源53からの
ハーフミラー部51に対する入射位置51Aを正
確に定めなければならない。この為、半導体レー
ザなどの拡散光源は使用できない。またこの構造
のものは1つのミラー52を用いて光源53から
の入射光又は反射光の光路をトラツキング方向
(即ちデイスクの進行方向に対して左右方向)に
補正するトラツキングミラーの役割をさせるのは
ほぼ不可能である。そのうえ、トラツキング用ビ
ームにてデイスクへの信号の追加記録乃至は再記
録をしないように、ハーフミラー部51の反射率
を精密にしなければならない。しかもハーフミラ
ー部51の反射率分だけ、光源からの光線の記録
光量が減り、その分、パワーの高い光源を必要と
する。
ム以外にトラツキング用ビームを発し、トラツキ
ングビームで既に記録された信号トラツクあるい
は予め記録されたトラツキング用トラツク(プリ
グループ)を追跡しながら記録用ビームで記録し
ていく光学式情報記録再生装置が提案されつつあ
る。即ち第1図および第2図に示すように、平面
半円状の透過部50と、平面半円状のハーフミラ
ー部51とから形成されたミラー52を用いて1
つの光源53から発せられる光線をトラツキング
用光線54と記録用光線55との2光線に分離す
るものである。しかしながら、この従来のミラー
52は構造が複雑になるばかりか光源53からの
ハーフミラー部51に対する入射位置51Aを正
確に定めなければならない。この為、半導体レー
ザなどの拡散光源は使用できない。またこの構造
のものは1つのミラー52を用いて光源53から
の入射光又は反射光の光路をトラツキング方向
(即ちデイスクの進行方向に対して左右方向)に
補正するトラツキングミラーの役割をさせるのは
ほぼ不可能である。そのうえ、トラツキング用ビ
ームにてデイスクへの信号の追加記録乃至は再記
録をしないように、ハーフミラー部51の反射率
を精密にしなければならない。しかもハーフミラ
ー部51の反射率分だけ、光源からの光線の記録
光量が減り、その分、パワーの高い光源を必要と
する。
本考案は上述の如き点に鑑みてなされたもので
その目的とするところは、簡単な構成で1つの光
源からの光線を記録再生用光線とトラツク追従用
のトラツキング用光線とに一定の偏位量で分離し
て、トラツク間隔を正確に保ちながら記録用トラ
ツクに所望の情報を記録できるような光学式情報
記録再生装置を提供するのにある。
その目的とするところは、簡単な構成で1つの光
源からの光線を記録再生用光線とトラツク追従用
のトラツキング用光線とに一定の偏位量で分離し
て、トラツク間隔を正確に保ちながら記録用トラ
ツクに所望の情報を記録できるような光学式情報
記録再生装置を提供するのにある。
以下本考案の第1実施例を第3図乃至第8図に
従つて説明する。
従つて説明する。
1は光源で、この光源1としては半導体レーザ
等の拡散光源を用いるほか、He−Neレーザ等の
ガスレーザによる単一光源、または之に限らず光
線を発するものが使用される。
等の拡散光源を用いるほか、He−Neレーザ等の
ガスレーザによる単一光源、または之に限らず光
線を発するものが使用される。
2は光源1からの光線イを後段の光学系に平行
光線ロとして送るためのコリメータレンズであ
る。3は本実施例を構成する光学的手段で、この
光学的手段3は2つのプリズム4A,4Bを接合
したビームスプリツター4の光源1側の側面に頂
角αで屈折率nの楔プリズム5を接合した構成と
なつている。コリメータレンズ2によつて入射さ
れる光源1からの平行光線ロを、中央の楔プリズ
ム5を通ることにより光軸Xに平行な軸X′に対
して一定な屈折角度θで屈折されてトラツク追従
用に供せられる第1光線6と、楔プリズム5を通
らずにビームスプリツター4を通つてデイスク7
に対す信号の記録再生用に供せられる第2光線8
とに分離される。
光線ロとして送るためのコリメータレンズであ
る。3は本実施例を構成する光学的手段で、この
光学的手段3は2つのプリズム4A,4Bを接合
したビームスプリツター4の光源1側の側面に頂
角αで屈折率nの楔プリズム5を接合した構成と
なつている。コリメータレンズ2によつて入射さ
れる光源1からの平行光線ロを、中央の楔プリズ
ム5を通ることにより光軸Xに平行な軸X′に対
して一定な屈折角度θで屈折されてトラツク追従
用に供せられる第1光線6と、楔プリズム5を通
らずにビームスプリツター4を通つてデイスク7
に対す信号の記録再生用に供せられる第2光線8
とに分離される。
楔プリズム5の半径rは後記対物レンズ10の
瞳半径Rとの比r/Rが0.3<r/R<0.6程度に
なるように選定される。これは0.3≧r/Rの時
は対物レンズ10を通過した第1光線6のNA
(開口度)が小さすぎること。また0.6≦r/Rの
時は楔プリズム5によるビームスプリツター4へ
の遮蔽効果が大きすぎて回折リングが強くなりす
ぎるからである。
瞳半径Rとの比r/Rが0.3<r/R<0.6程度に
なるように選定される。これは0.3≧r/Rの時
は対物レンズ10を通過した第1光線6のNA
(開口度)が小さすぎること。また0.6≦r/Rの
時は楔プリズム5によるビームスプリツター4へ
の遮蔽効果が大きすぎて回折リングが強くなりす
ぎるからである。
9はビームスプリツター4からの入射光、及び
後記デイスク7からの反射光に対して位相変化を
生じさせる1/4波長板、10は対物レンズである。
15,16は前記光学的手段3の対応位置、光軸
Xに対して上方又は下方にレンズ17を介して設
けられた2つの受光素子で、このうち1つの受光
素子15は2分割されておりデイスク7に形成さ
れたピツト12のトラツク追従用の第1光線6を
受光するためのもの、また他の受光素子16はデ
イスク7に記録した信号の再生用又はデイスク7
への情報の記録用としての第2光線8を受光する
ためのものである。
後記デイスク7からの反射光に対して位相変化を
生じさせる1/4波長板、10は対物レンズである。
15,16は前記光学的手段3の対応位置、光軸
Xに対して上方又は下方にレンズ17を介して設
けられた2つの受光素子で、このうち1つの受光
素子15は2分割されておりデイスク7に形成さ
れたピツト12のトラツク追従用の第1光線6を
受光するためのもの、また他の受光素子16はデ
イスク7に記録した信号の再生用又はデイスク7
への情報の記録用としての第2光線8を受光する
ためのものである。
本考案の一実施例は上述の構成で、光源1から
照射された光は、コリメータレンズ2を通ると平
行光線ロとなる。そして平行光線ロのうち光学的
手段3の楔プリズム5を通過した光は第4図に示
すように平行光線のまま光軸Xに平行な平行軸
X′に対して一定な屈折角度θだけ屈折され第1
光線6となる。この屈折角度θは楔プリズム5の
頂角α、その屈折率nとした場合にθ≒α(n−
1)の関係で決定される。他面、楔プリズム5を
通らない周辺の平行光線はビームスプリツター4
を通過した後も光軸Xに対して平行光線のまま第
2光線8となり、第1光線6と分離される。
照射された光は、コリメータレンズ2を通ると平
行光線ロとなる。そして平行光線ロのうち光学的
手段3の楔プリズム5を通過した光は第4図に示
すように平行光線のまま光軸Xに平行な平行軸
X′に対して一定な屈折角度θだけ屈折され第1
光線6となる。この屈折角度θは楔プリズム5の
頂角α、その屈折率nとした場合にθ≒α(n−
1)の関係で決定される。他面、楔プリズム5を
通らない周辺の平行光線はビームスプリツター4
を通過した後も光軸Xに対して平行光線のまま第
2光線8となり、第1光線6と分離される。
そして第1光線6、第2光線8ともに1/4波長
板9を通ることによつてそれぞれ1/4波長づつ位
相変化され、次いで対物レンズ10を透過するこ
とによつてデイスク7に一定間隔と一定角度の変
位で集光され、第7図に示すように個別のスポツ
トA,Bがデイスク7に照射される。そして第1
光線6のスポツトAは後述するようにデイスク7
に既に記録されたトラツク追従用に供せられ、ま
た第2光線8のスポツトBはデイスク7に既に記
録されたピツト12の再生用又は記録用に供せら
れる。この場合、スポツトAとスポツトBの偏位
量Pは、対物レンズ10の焦点距離とすれば、
第1光線6が光軸Xに平行なX′軸に対して屈折
角度θだけ屈折されて照射されるから、P=
tanθ……式()となる。また光軸Xを回転軸
としてピツクアツプが回転する場合には、第1光
線6と第2光線8とのそれぞれのスポツトA,B
の中心とを結んだ線Hと、第2光線8のスポツト
Bの中心を通り半径方向に伸びる線分H′との挾
角βも同様に回転する。
板9を通ることによつてそれぞれ1/4波長づつ位
相変化され、次いで対物レンズ10を透過するこ
とによつてデイスク7に一定間隔と一定角度の変
位で集光され、第7図に示すように個別のスポツ
トA,Bがデイスク7に照射される。そして第1
光線6のスポツトAは後述するようにデイスク7
に既に記録されたトラツク追従用に供せられ、ま
た第2光線8のスポツトBはデイスク7に既に記
録されたピツト12の再生用又は記録用に供せら
れる。この場合、スポツトAとスポツトBの偏位
量Pは、対物レンズ10の焦点距離とすれば、
第1光線6が光軸Xに平行なX′軸に対して屈折
角度θだけ屈折されて照射されるから、P=
tanθ……式()となる。また光軸Xを回転軸
としてピツクアツプが回転する場合には、第1光
線6と第2光線8とのそれぞれのスポツトA,B
の中心とを結んだ線Hと、第2光線8のスポツト
Bの中心を通り半径方向に伸びる線分H′との挾
角βも同様に回転する。
従つて既に記録されている信号再生用のピツト
12と新たに情報を記録するためのピツト12′
とのトラツクピツチTPは、楔プリズム5の頂角
αと前記挾角βが判れば、 TP=tan{α−(n−1)}・cosβ……()に
よつて任意に決定できる。
12と新たに情報を記録するためのピツト12′
とのトラツクピツチTPは、楔プリズム5の頂角
αと前記挾角βが判れば、 TP=tan{α−(n−1)}・cosβ……()に
よつて任意に決定できる。
このように楔プリズム5によつて屈折された第
1光線6のスポツトAと楔プリズム5を通らない
第2光線8のスポツトBとはそれぞれデイスク7
上において分離状態で照射され、それぞれの反射
光が再び対物レンズ10を通り、1/4波長板9で
位相変化された後にビームスプリツター4によつ
て入射光と分離されて反射される。それから反射
光は光学的手段3の対応位置に設けられたレンズ
17によつて集光されてそれぞれ受光素子15,
16に個別に受光され、デイスク7に照射された
変調率に応じて電気信号に変換される。
1光線6のスポツトAと楔プリズム5を通らない
第2光線8のスポツトBとはそれぞれデイスク7
上において分離状態で照射され、それぞれの反射
光が再び対物レンズ10を通り、1/4波長板9で
位相変化された後にビームスプリツター4によつ
て入射光と分離されて反射される。それから反射
光は光学的手段3の対応位置に設けられたレンズ
17によつて集光されてそれぞれ受光素子15,
16に個別に受光され、デイスク7に照射された
変調率に応じて電気信号に変換される。
こうして第1光線6のスポツトAでピツト12
のトラツク(あるいは記録時におけるトラツキン
グ用として予め記録されたプリグループ)を追従
しながら、第2光線8のスポツトBで一定のトラ
ツクピツチTPをもつてデイスク7に記録されて
いるピツト12の再生を行うか又はデイスク7に
新たな情報としてのピツト12′を記録する。勿
論再生時においては記録時より光源1のパワーを
減少させる等して少なくともスポツトBのエネル
ギーを小さくする。
のトラツク(あるいは記録時におけるトラツキン
グ用として予め記録されたプリグループ)を追従
しながら、第2光線8のスポツトBで一定のトラ
ツクピツチTPをもつてデイスク7に記録されて
いるピツト12の再生を行うか又はデイスク7に
新たな情報としてのピツト12′を記録する。勿
論再生時においては記録時より光源1のパワーを
減少させる等して少なくともスポツトBのエネル
ギーを小さくする。
トラツキング用の第1光線6は楔プリズム5に
よつて屈折され、対物レンズ10に対してその光
軸Xのまわりを一部しか通り抜けないためNA
(開口度)が小さくなり遮断周波数は低い。この
ため、デイスク7へのスポツトAが広がり、エネ
ルギー密度は低くなるからトラツキング用として
用いるのが適当である。
よつて屈折され、対物レンズ10に対してその光
軸Xのまわりを一部しか通り抜けないためNA
(開口度)が小さくなり遮断周波数は低い。この
ため、デイスク7へのスポツトAが広がり、エネ
ルギー密度は低くなるからトラツキング用として
用いるのが適当である。
他面、楔プリズム5を通らないビームスプリツ
ター4A,4Bを通り抜けた第2光線8の、デイ
スク7へのスポツトBはその形状が挾くなり、充
分なエネルギー密度を有するから再生用光線又は
記録用光線として使用できる。
ター4A,4Bを通り抜けた第2光線8の、デイ
スク7へのスポツトBはその形状が挾くなり、充
分なエネルギー密度を有するから再生用光線又は
記録用光線として使用できる。
第8図は、楔プリズム5を通り抜ける第1光線
6のエネルギ強度IPと、楔プリズム5を通り抜け
ない周辺の第2光線8のエネルギー強度の計算値
をグラフで示したものである。
6のエネルギ強度IPと、楔プリズム5を通り抜け
ない周辺の第2光線8のエネルギー強度の計算値
をグラフで示したものである。
この場合、縦軸は光軸Xの中心強度を1とした
場合の強度Iを、横軸は光軸Xからの距離を示し
ている。
場合の強度Iを、横軸は光軸Xからの距離を示し
ている。
そして計算式は、
I(u.v)=|A(u.v)|2
|∫∫x 2 +y 2<1(x.y)
・exp(−2πλ(ux+vy))dxdy|2 ……()
で表わせられる。ここにおいて、u,vは像面座
標を回折単位(λ/NA)で示した無次限座標、
x,yは対物レンズ10の瞳半径を1として規格
化した無次限座標、(x.y)は対物レンズ10のレン
ズ収差と、光源1のビームの振幅分布からなる瞳
関数であり、A(u.v)は座標(u,v)における振
幅分布、I(u.v)は強度分布を示す。しかも計算を簡
素化するためにレンズは無収差、レーザ・ビーム
は一様分布、対物レンズ10の半径Rと楔プリズ
ム5の半径rの比r/R=0.5とした。つまり瞳関数 (R)=0(R<0.5)、1(0.5≦R≦1)、0(1
<R)とした。
標を回折単位(λ/NA)で示した無次限座標、
x,yは対物レンズ10の瞳半径を1として規格
化した無次限座標、(x.y)は対物レンズ10のレン
ズ収差と、光源1のビームの振幅分布からなる瞳
関数であり、A(u.v)は座標(u,v)における振
幅分布、I(u.v)は強度分布を示す。しかも計算を簡
素化するためにレンズは無収差、レーザ・ビーム
は一様分布、対物レンズ10の半径Rと楔プリズ
ム5の半径rの比r/R=0.5とした。つまり瞳関数 (R)=0(R<0.5)、1(0.5≦R≦1)、0(1
<R)とした。
第8図からも楔プリズム5を通り抜ける第1光
線6はエネルギー密度が低くなつてトラツキング
用に適しており、他面、楔プリズム5を通らない
周辺の第2光線8は高いエネルギー密度で、記録
用又は再生用に適していることがわかる。
線6はエネルギー密度が低くなつてトラツキング
用に適しており、他面、楔プリズム5を通らない
周辺の第2光線8は高いエネルギー密度で、記録
用又は再生用に適していることがわかる。
次に第9図乃至第12図に従つて本考案の他の
実施例につき述べる。
実施例につき述べる。
この実施例においては、記録再生用の第2光線
8を受ける受光素子16の中心部分に半径r′の不
感体18を形成するか遮蔽物を形成することによ
つて再生時におけるピツクアツプのM.T.F
(Modulation Transfer Function)を向上させ
ることができる。この場合、受光素子16上にお
けるインフオーカス時のビームの半径をR′とし
て、対物レンズ10の瞳半径Rと楔プリズム5の
半径rとの比に対してr/R=r′/R′の関係を保つよ うに形成する。この場合、デイスク7による反射
光のフアーフイールドパターン(Far Field
Pattern)は、a(x.y.t)=∫∫∞A(u.v)・R(u.v.t)・e
xp
(2πi(ux+vy))dudy……()式から求めるこ
とができる。上記式()においてR(u.v.t)は時刻
tにおけるデイスク7におけるスポツト照射位置
の複素反射率である。
8を受ける受光素子16の中心部分に半径r′の不
感体18を形成するか遮蔽物を形成することによ
つて再生時におけるピツクアツプのM.T.F
(Modulation Transfer Function)を向上させ
ることができる。この場合、受光素子16上にお
けるインフオーカス時のビームの半径をR′とし
て、対物レンズ10の瞳半径Rと楔プリズム5の
半径rとの比に対してr/R=r′/R′の関係を保つよ うに形成する。この場合、デイスク7による反射
光のフアーフイールドパターン(Far Field
Pattern)は、a(x.y.t)=∫∫∞A(u.v)・R(u.v.t)・e
xp
(2πi(ux+vy))dudy……()式から求めるこ
とができる。上記式()においてR(u.v.t)は時刻
tにおけるデイスク7におけるスポツト照射位置
の複素反射率である。
そして、デイスク7からの反射光の強度i(t)
は、i(t)=∫∫g(x.y)|a(x.y.t)|2dx・dy……(
)
から計算することができる。
は、i(t)=∫∫g(x.y)|a(x.y.t)|2dx・dy……(
)
から計算することができる。
この場合、g(x.y)は受光素子16の感度分布で、
ここでも計算の簡素化をはかるために、ピツトの
深さλ/4ピツトの無い部分の複素反射率R(u.v)
=1、ピツトの有る部分の複素反射率R(u.v)=−
1とし、更にピツト12の形状を第10図のよう
に矩形とすれば、それぞれピツト12の幅P′を
0.3μm、或いは0.4μmとした時のM.T.Fは第11
図、第12図にそれぞれ表わせられる。
ここでも計算の簡素化をはかるために、ピツトの
深さλ/4ピツトの無い部分の複素反射率R(u.v)
=1、ピツトの有る部分の複素反射率R(u.v)=−
1とし、更にピツト12の形状を第10図のよう
に矩形とすれば、それぞれピツト12の幅P′を
0.3μm、或いは0.4μmとした時のM.T.Fは第11
図、第12図にそれぞれ表わせられる。
第11図および第12図において横軸Sはdを
ピツト長として、S=(回折単位)/2dで示され
る正規化した空間周波数を示し、そのうえ楔プリ
ズムSを使用しない従来の使用状態でのS=0の
値で正規化している。
ピツト長として、S=(回折単位)/2dで示され
る正規化した空間周波数を示し、そのうえ楔プリ
ズムSを使用しない従来の使用状態でのS=0の
値で正規化している。
Aは楔プリズム5と不感体18とを用いない従
来の使用状態におけるM.T.F特性を示したもの、
Bは楔プリズム5を用い且つ受光素子16に不感
体18を設けた場合の、受光素子16の感度分布
g(x.y)を0(r′<0.5),1(r′>0.5)とした場合の
本
第2実施例のM.T.F特性を、またCは不感体1
8を設けずに受光素子16の感度分布g(x.y)=1と
し楔プリズム5を用いた時の(第1実施例の)
M.T.F特性を、Dはトラツキング用としての第
1光線6のそれぞれのM.T.F特性を示している。
来の使用状態におけるM.T.F特性を示したもの、
Bは楔プリズム5を用い且つ受光素子16に不感
体18を設けた場合の、受光素子16の感度分布
g(x.y)を0(r′<0.5),1(r′>0.5)とした場合の
本
第2実施例のM.T.F特性を、またCは不感体1
8を設けずに受光素子16の感度分布g(x.y)=1と
し楔プリズム5を用いた時の(第1実施例の)
M.T.F特性を、Dはトラツキング用としての第
1光線6のそれぞれのM.T.F特性を示している。
第11図および第12図から記録再生用の第2
光線8を受光するための受光素子16に不感体1
8又は遮光物を設けた場合にはM.T.Fが向上さ
れているのがわかる。
光線8を受光するための受光素子16に不感体1
8又は遮光物を設けた場合にはM.T.Fが向上さ
れているのがわかる。
上述のように本考案は、1つの光源からの光線
を情報記録媒体に対して記録再生用光線と、トラ
ツク追従用のトラツキング用光線とに一定の変位
量で分離できるため、トラツク間隔を正確に保ち
ながら記録用トラツクに所望の情報を記録でき
る。そのうえ、従来の光学系の一部を形成するビ
ームスプリツターの光源側に楔プリズムを接合し
ただけの簡単な構造で大幅な設計変更をすること
なくトラツキング用光線と記録又は再生用光線と
の2光線を従来のハーフミラーのように入射位置
と反射位置とを精密に設定する等の要求がなく分
離できる。従つて資材費およびコストが安価でそ
のうえ半導体レーザ等の拡散光源を光源として使
用できる。また従来のハーフミラーのように再生
時における記録防止としてその反射率を精密にさ
せる等の配慮を施こさなくても済むため、パワー
の高い光源を用いなくても記録が行えるとともに
再生時のM.T.Fを向上でき、装置の小型化に寄
与できる。
を情報記録媒体に対して記録再生用光線と、トラ
ツク追従用のトラツキング用光線とに一定の変位
量で分離できるため、トラツク間隔を正確に保ち
ながら記録用トラツクに所望の情報を記録でき
る。そのうえ、従来の光学系の一部を形成するビ
ームスプリツターの光源側に楔プリズムを接合し
ただけの簡単な構造で大幅な設計変更をすること
なくトラツキング用光線と記録又は再生用光線と
の2光線を従来のハーフミラーのように入射位置
と反射位置とを精密に設定する等の要求がなく分
離できる。従つて資材費およびコストが安価でそ
のうえ半導体レーザ等の拡散光源を光源として使
用できる。また従来のハーフミラーのように再生
時における記録防止としてその反射率を精密にさ
せる等の配慮を施こさなくても済むため、パワー
の高い光源を用いなくても記録が行えるとともに
再生時のM.T.Fを向上でき、装置の小型化に寄
与できる。
第1図は従来の光学式情報記録再生装置の偏光
器の一例を示した断面図、第2図は正面図、第3
図は本考案の光学式情報記録再生装置の一実施例
を示した断面図、第4図は本実施例を構成する光
学手段の一例を示した断面図、第5図は本実施例
を構成する楔形プリズムと対物レンズとの半径比
を示した正面図、第6図は本実施例を構成する受
光素子の一例を示した平面図、第7図は本実施例
の第1光線と第2光線とのビーム・スポツトがデ
イスクに照射されている状態を示した平面図、第
8図は同じく第1光線と第2光線のスポツト形状
のエネルギー強度の計算値を示したグラフ、第9
図は本考案の他の実施例における受光素子の一例
を示した平面図、第10図は同じくデイスクのピ
ツト形状を示した平面図、第11図はピツト幅が
0.3μmとした時のM.T.F特性を比較した状態のグ
ラフ、第12図はピツト幅0.4μmとした時のM.
T.F特性を比較した状態のグラフを示す。 1……光源、3……光学的手段、4……ビーム
スプリツター、5……楔プリズム、6……第1光
線、7……デイスク、8……第2光線、10……
対物レンズ、12,12′……ピツト、18……
不感体、19……感体、A,B……スポツト、1
5,16……受光素子、R……対物レンズ10の
半径、r……楔プリズム5の半径、R′……感体
19の半径、r′……不感体18の半径。
器の一例を示した断面図、第2図は正面図、第3
図は本考案の光学式情報記録再生装置の一実施例
を示した断面図、第4図は本実施例を構成する光
学手段の一例を示した断面図、第5図は本実施例
を構成する楔形プリズムと対物レンズとの半径比
を示した正面図、第6図は本実施例を構成する受
光素子の一例を示した平面図、第7図は本実施例
の第1光線と第2光線とのビーム・スポツトがデ
イスクに照射されている状態を示した平面図、第
8図は同じく第1光線と第2光線のスポツト形状
のエネルギー強度の計算値を示したグラフ、第9
図は本考案の他の実施例における受光素子の一例
を示した平面図、第10図は同じくデイスクのピ
ツト形状を示した平面図、第11図はピツト幅が
0.3μmとした時のM.T.F特性を比較した状態のグ
ラフ、第12図はピツト幅0.4μmとした時のM.
T.F特性を比較した状態のグラフを示す。 1……光源、3……光学的手段、4……ビーム
スプリツター、5……楔プリズム、6……第1光
線、7……デイスク、8……第2光線、10……
対物レンズ、12,12′……ピツト、18……
不感体、19……感体、A,B……スポツト、1
5,16……受光素子、R……対物レンズ10の
半径、r……楔プリズム5の半径、R′……感体
19の半径、r′……不感体18の半径。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 (1) デイスク等の記録媒体上に1つの光源を用い
て所定の信号情報を光学的に記録再生する光学
式情報記録再生装置において、前記光源からの
光線を光学的手段を用いて光軸周りの第1光線
と周辺の第2光線とに分離し、該第1光線を前
記記録媒体上に記録されたトラツクの追従用と
して第1の受光素子で受光し、前記第2光線を
前記第1光線のスポツトから一定距離、離れた
位置に集光させて前記記録媒体の信号の記録再
生用として第2の受光素子で受光することを特
徴とした光学式記録再生装置。 (2) 前記光学的手段は、ビームスプリツタの光源
側に楔形プリズムを接合して形成されたことを
特徴とした実用新案登録請求の範囲第1項記載
の光学式情報記録再生装置。 (3) 前記第2の受光素子の受光器の中心部分を遮
蔽するか或いはその中心部分を不感帯にしたこ
とを特徴とした実用新案登録請求の範囲第1項
又は第2項記載の光学式情報記録再生装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5426882U JPS58159641U (ja) | 1982-04-16 | 1982-04-16 | 光学式情報記録再生装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5426882U JPS58159641U (ja) | 1982-04-16 | 1982-04-16 | 光学式情報記録再生装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58159641U JPS58159641U (ja) | 1983-10-24 |
| JPS6319944Y2 true JPS6319944Y2 (ja) | 1988-06-03 |
Family
ID=30064896
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5426882U Granted JPS58159641U (ja) | 1982-04-16 | 1982-04-16 | 光学式情報記録再生装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58159641U (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60138748A (ja) * | 1983-12-27 | 1985-07-23 | Toshiba Corp | 光学式情報再生装置 |
| JPH0799591B2 (ja) * | 1986-07-18 | 1995-10-25 | キヤノン株式会社 | 光学ヘツド |
| JPH0792927B2 (ja) * | 1986-07-18 | 1995-10-09 | キヤノン株式会社 | 光学ヘツド |
-
1982
- 1982-04-16 JP JP5426882U patent/JPS58159641U/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS58159641U (ja) | 1983-10-24 |
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