JPS63205505A - Ccdエリアイメ−ジセンサによる面積計測方法 - Google Patents
Ccdエリアイメ−ジセンサによる面積計測方法Info
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- JPS63205505A JPS63205505A JP3817887A JP3817887A JPS63205505A JP S63205505 A JPS63205505 A JP S63205505A JP 3817887 A JP3817887 A JP 3817887A JP 3817887 A JP3817887 A JP 3817887A JP S63205505 A JPS63205505 A JP S63205505A
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 12
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 claims description 8
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Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は任意の形状図形の面積の計測方法に関し、特に
CCDエリアイメージセンサを用いて瞬時的に測定しデ
ィジタル的に算出するCCDエリアイメージセンサによ
る面積計測方法に関する。
CCDエリアイメージセンサを用いて瞬時的に測定しデ
ィジタル的に算出するCCDエリアイメージセンサによ
る面積計測方法に関する。
従来、この種の図形の面積計測方法としては、2本のア
ームを回転自由端で結び、一方のアームの他端を計測図
形の外に固定し、他のアーム端で図形周囲を追跡すると
回転自由端に取付けられた小車輪が回転し回転数が面積
を示すアムズラー面積計や、平行紫外線光源とそれに対
向して置かれた受光部(光電管)との間に被測定物を置
き、遮蔽する影の大きさによって生じる受光部の電流変
化から面積を求める光電式面積計、あるいはその他に図
形を円筒側面上にセットし、この円筒を定速度で回転し
ながら点光源を軸方向に微少量回転速度と同期させて移
送し1反射光が計測図形のコントラストによって変化す
るのを光電管で検出し、その検出時間を積算して面積に
変換する光電子増倍管を用いた方式などがある。
ームを回転自由端で結び、一方のアームの他端を計測図
形の外に固定し、他のアーム端で図形周囲を追跡すると
回転自由端に取付けられた小車輪が回転し回転数が面積
を示すアムズラー面積計や、平行紫外線光源とそれに対
向して置かれた受光部(光電管)との間に被測定物を置
き、遮蔽する影の大きさによって生じる受光部の電流変
化から面積を求める光電式面積計、あるいはその他に図
形を円筒側面上にセットし、この円筒を定速度で回転し
ながら点光源を軸方向に微少量回転速度と同期させて移
送し1反射光が計測図形のコントラストによって変化す
るのを光電管で検出し、その検出時間を積算して面積に
変換する光電子増倍管を用いた方式などがある。
上述した従来のアムズラー面積計は図形の周囲をマニュ
アルで追跡しなければならず複雑な図形には向かないと
いう欠点がある。また、光電管や光電子増倍管を用いた
ものは2次電子の発生を必要とするため、反射光にかな
りのエネルギーが要求され、それだけ検出精度が落ち且
つ時間がかかるという欠点がある。
アルで追跡しなければならず複雑な図形には向かないと
いう欠点がある。また、光電管や光電子増倍管を用いた
ものは2次電子の発生を必要とするため、反射光にかな
りのエネルギーが要求され、それだけ検出精度が落ち且
つ時間がかかるという欠点がある。
本発明の目的は上述の問題に対処するため高速且つ光能
率に図形等の面積計測を行うCCDエリアイメージセン
サによる面積計測方法を提供することにある。
率に図形等の面積計測を行うCCDエリアイメージセン
サによる面積計測方法を提供することにある。
一般に電子デバイス技術・テレビ技術の進歩により、画
像入力素子として光−電気変換を行うCCDラインセン
サ・CCDエリアイメージセンサが開発され、CCDエ
リアイメージセンサを受光素子に用いた撮影カメラの高
感度化などが進み一般工業用としても利用価値が見直さ
れている。
像入力素子として光−電気変換を行うCCDラインセン
サ・CCDエリアイメージセンサが開発され、CCDエ
リアイメージセンサを受光素子に用いた撮影カメラの高
感度化などが進み一般工業用としても利用価値が見直さ
れている。
本発明はかかるCCDエリアイメージセンサが撮影カメ
ラの光学計を通して受光面上に結ばれた光学像に対し、
対向した受光素子がその光学像の照度に応じた電気信号
を発生し、各素子の電気信号を順次ストレージ部を経由
し連続的に取出しているのに着目し、計測図形に照度比
をつけたものを撮影カメラのCCDエリアイメージセン
サに描写し、素子単位の信号を取出す段階で整形回路で
二値化その信号数を積算し面積に変換して表示するディ
ジタル的は面積計測法を実現するものである。
ラの光学計を通して受光面上に結ばれた光学像に対し、
対向した受光素子がその光学像の照度に応じた電気信号
を発生し、各素子の電気信号を順次ストレージ部を経由
し連続的に取出しているのに着目し、計測図形に照度比
をつけたものを撮影カメラのCCDエリアイメージセン
サに描写し、素子単位の信号を取出す段階で整形回路で
二値化その信号数を積算し面積に変換して表示するディ
ジタル的は面積計測法を実現するものである。
すなわち、本発明のCCDエリアイメージセンサによる
面積測定方法は背影に対しコントラストを付けた被計測
図形の光学像を、光学系とCCDエリアイメージセンサ
を組込んだ撮影カメラの受光面に投影し、このCCDエ
リアイメージセンナから得られる被測定図形像の出力信
号を波形整形回路により二値化したパルス信号に変換し
てパルス信号数をカウントする動作を繰返し積算するこ
とにより被測定図形の面積を得るように構成される。
面積測定方法は背影に対しコントラストを付けた被計測
図形の光学像を、光学系とCCDエリアイメージセンサ
を組込んだ撮影カメラの受光面に投影し、このCCDエ
リアイメージセンナから得られる被測定図形像の出力信
号を波形整形回路により二値化したパルス信号に変換し
てパルス信号数をカウントする動作を繰返し積算するこ
とにより被測定図形の面積を得るように構成される。
次に、本発明の実施例について図面を参照して説明する
。
。
第1図は本発明な一実施例を説明するための面積計測装
置のブロック図である。
置のブロック図である。
第2図(a)、(b)はそれぞれ本発明における図形走
査時の計測図および信号波形図である。
査時の計測図および信号波形図である。
第1図に示すように、撮像カメラ1に対向して背影面と
コントラストをつけた計測図形2をセットする。撮影カ
メラ1は機内に設けたCCDエリアイメージセンサ3の
受光面に計測図形全体を投影されるように、レンズ系4
の調整とそのレンズ系4の位置を調整する。但し工程の
一部としてオンラインで使用する場合には、計測図形2
を写すためのサイズ、すなわち有効エリア5を決めて撮
影カメラ1と計測図形2との位置を固定する。また、計
測図形サイズと計測精度によっては、撮影カメラ1と計
測図形2の有効エリア5との相対位置をハードウェア上
で左右・上下方向に段階的にづらせ全体を走査させる。
コントラストをつけた計測図形2をセットする。撮影カ
メラ1は機内に設けたCCDエリアイメージセンサ3の
受光面に計測図形全体を投影されるように、レンズ系4
の調整とそのレンズ系4の位置を調整する。但し工程の
一部としてオンラインで使用する場合には、計測図形2
を写すためのサイズ、すなわち有効エリア5を決めて撮
影カメラ1と計測図形2との位置を固定する。また、計
測図形サイズと計測精度によっては、撮影カメラ1と計
測図形2の有効エリア5との相対位置をハードウェア上
で左右・上下方向に段階的にづらせ全体を走査させる。
一方、このCCDエリアイメージセンサ3は、第2図(
a)に示すように、50μm平方サイズの画素20が5
60個あり、受光面に照射された光量によってイメージ
部6が検出した照度により各画素の電荷が変化し、一定
照度を境界にした明暗により0N−OFF状態に二値化
分離させる。
a)に示すように、50μm平方サイズの画素20が5
60個あり、受光面に照射された光量によってイメージ
部6が検出した照度により各画素の電荷が変化し、一定
照度を境界にした明暗により0N−OFF状態に二値化
分離させる。
このイメージ部6で検出された二値化状態はクロック信
号によりストレージ部7に移送され記録される。ストレ
ージ部7の状態は後段の処理ブロックが必要とするタイ
ミングにリードアウトでき、イメージ部6の検出動作と
以前に検出したイメージのリードアウト動作とが並列処
理される。従って、CCDエリアイメージセンサ3の受
光面上に結ばれた光学像の照度差によりイメージ部6に
光学像の明暗に対応する電荷像が形成され、これをスト
レージ部7を経由し順次リードアウトして行く、このリ
ードアウトの段階で、コントラストにより区分された計
測図形2を走査している時にはその光学像内に存在する
第2図(a)に示す画素20は第2図(b)に示す“1
”の信号21を出力し、計測図形2以外を走査している
時には該当する画素20は第2図(b)に示す0”の信
号21を出力する。
号によりストレージ部7に移送され記録される。ストレ
ージ部7の状態は後段の処理ブロックが必要とするタイ
ミングにリードアウトでき、イメージ部6の検出動作と
以前に検出したイメージのリードアウト動作とが並列処
理される。従って、CCDエリアイメージセンサ3の受
光面上に結ばれた光学像の照度差によりイメージ部6に
光学像の明暗に対応する電荷像が形成され、これをスト
レージ部7を経由し順次リードアウトして行く、このリ
ードアウトの段階で、コントラストにより区分された計
測図形2を走査している時にはその光学像内に存在する
第2図(a)に示す画素20は第2図(b)に示す“1
”の信号21を出力し、計測図形2以外を走査している
時には該当する画素20は第2図(b)に示す0”の信
号21を出力する。
上述した計測の精度はCCDエリアイメージセンサ3の
画素20に投影される計測図形2上のサイズよりほぼ決
定されるため、高性能化を必要とする場合は撮影カメラ
1のレンズ系4の拡大倍率を上げるかズーム機構の採用
により画素2−0が計測図形2上に占るサイズを微小化
させる。このとき計測図形2全体をCCDエリアイメー
ジセンサ3上に投影できない場合には、計測図形2を固
定するテーブル8を数値制御可能なXYテーブルにし、
−回に投影できる計測図形2上の有効エリア5を考慮し
、−回の計測動作が完了する都度投影位置を有効エリア
5の寸法相当分だけX方向及びY方向にづらして次の計
測動作を行い、計測図形2の全面を走査させる。投影倍
率とテーブル8の動作とは同期化が必要であるため、シ
ステム制御部10はカメラ制御部11とテーブル駆動部
12とを制御し計測精度に対応する撮影カメラ倍率とテ
ーブル駆動ステップサイズを設定する。
画素20に投影される計測図形2上のサイズよりほぼ決
定されるため、高性能化を必要とする場合は撮影カメラ
1のレンズ系4の拡大倍率を上げるかズーム機構の採用
により画素2−0が計測図形2上に占るサイズを微小化
させる。このとき計測図形2全体をCCDエリアイメー
ジセンサ3上に投影できない場合には、計測図形2を固
定するテーブル8を数値制御可能なXYテーブルにし、
−回に投影できる計測図形2上の有効エリア5を考慮し
、−回の計測動作が完了する都度投影位置を有効エリア
5の寸法相当分だけX方向及びY方向にづらして次の計
測動作を行い、計測図形2の全面を走査させる。投影倍
率とテーブル8の動作とは同期化が必要であるため、シ
ステム制御部10はカメラ制御部11とテーブル駆動部
12とを制御し計測精度に対応する撮影カメラ倍率とテ
ーブル駆動ステップサイズを設定する。
更に、前記CCDエリアイメージセンサ3の出力信号は
ノイズカットを目的とする波形整形回路9を経由し積算
カウンター13に送り込まれる。
ノイズカットを目的とする波形整形回路9を経由し積算
カウンター13に送り込まれる。
この積算カウンター13はランダムに入力されてくるパ
ルス信号を一つの図形分の計測動作が完了するまでの間
カウントを続け、完了した段階で演算回路14にディジ
タル信号で送り込む。これにより、演算回路14はシス
テム制御部10がカメラ制御部11とテーブル駆動部1
2とを制御し装置動作させた投影倍率を定数として積算
カウンター13が計数したカウント数を実面積にコンバ
ートすると共に、撮影するCCDエリアセンサイメージ
センサ3の歪補正などを逐次実行し、面積値として算出
された値をディジタルインジケーター15やメーターに
表示する一方、ディジタルプリンターやオンラインでデ
ータを使用するための出力制御部16に伝送することに
より図形等の面積測定が容易に行われる。
ルス信号を一つの図形分の計測動作が完了するまでの間
カウントを続け、完了した段階で演算回路14にディジ
タル信号で送り込む。これにより、演算回路14はシス
テム制御部10がカメラ制御部11とテーブル駆動部1
2とを制御し装置動作させた投影倍率を定数として積算
カウンター13が計数したカウント数を実面積にコンバ
ートすると共に、撮影するCCDエリアセンサイメージ
センサ3の歪補正などを逐次実行し、面積値として算出
された値をディジタルインジケーター15やメーターに
表示する一方、ディジタルプリンターやオンラインでデ
ータを使用するための出力制御部16に伝送することに
より図形等の面積測定が容易に行われる。
本実施例はこのようにして高速且つ高能率な面積測定を
実現できるが、前記波形整形回路9がら演算回路14へ
のディジタル信号の送り込みに関しては、波形整形回路
9の出力信号を直接積分回路に入力し、一つの図形分の
計測動作を完了した段階でA/D変換を行って演算回路
14に送り込むことにより実現することもできる。
実現できるが、前記波形整形回路9がら演算回路14へ
のディジタル信号の送り込みに関しては、波形整形回路
9の出力信号を直接積分回路に入力し、一つの図形分の
計測動作を完了した段階でA/D変換を行って演算回路
14に送り込むことにより実現することもできる。
以上説明したように、本発明は計測図形に照度比をつけ
たものを撮影カメラのCCDエリアイメージセンサに描
写し、これを素子単位の信号を取出す段階で整形回路に
より二値化しその信号数を積算し面積に変換して表示す
ることにより、短時間に且つ効率よく面積計測を行なう
ことができる効果がある。
たものを撮影カメラのCCDエリアイメージセンサに描
写し、これを素子単位の信号を取出す段階で整形回路に
より二値化しその信号数を積算し面積に変換して表示す
ることにより、短時間に且つ効率よく面積計測を行なう
ことができる効果がある。
例えば、めっき工程などでめっき電流を設定する前工程
としての面積計測、地図またはレイアウトなど作成部門
での面積計測、顕微鏡その他光学機器で観察した検査物
などの面積計測など、特に高能率の面積計測を必要とし
、しかもそれらデータをコンピュータなどを用いて集録
または分析する場合に特に有効となる。
としての面積計測、地図またはレイアウトなど作成部門
での面積計測、顕微鏡その他光学機器で観察した検査物
などの面積計測など、特に高能率の面積計測を必要とし
、しかもそれらデータをコンピュータなどを用いて集録
または分析する場合に特に有効となる。
第1図は本発明の一実施例を説明するための面積計測装
置のブロック図、第2図(a)、(b)はそれぞれ本発
明における図形走査時の計測図および信号波形図である
。 1・・・撮影カメラ、2・・・計測図形、3・・・CC
Dエリアイメージセンサ、4・・・レンズ系、5・・・
有効エリア、6・・・イメージ部、7・・・ストレージ
部、8・・・テーブル、9・・・波形整形回路、10・
・・システム制御部、11・・・カメラ制御部、12・
・・テーブル駆動部、13・・・積算カウンター、14
・・・演算回路、15・・・ディジタルインジケータ、
16・・・出力制御部、20・・・画素、21・・・C
CDエリアセンサ出力信号。
置のブロック図、第2図(a)、(b)はそれぞれ本発
明における図形走査時の計測図および信号波形図である
。 1・・・撮影カメラ、2・・・計測図形、3・・・CC
Dエリアイメージセンサ、4・・・レンズ系、5・・・
有効エリア、6・・・イメージ部、7・・・ストレージ
部、8・・・テーブル、9・・・波形整形回路、10・
・・システム制御部、11・・・カメラ制御部、12・
・・テーブル駆動部、13・・・積算カウンター、14
・・・演算回路、15・・・ディジタルインジケータ、
16・・・出力制御部、20・・・画素、21・・・C
CDエリアセンサ出力信号。
Claims (1)
- 背影に対しコントラストを付けた被計測図形の光学像を
、光学系とCCDエリアイメージセンサを組込んだ撮影
カメラの受光面に投影し、このCCDエリアイメージセ
ンサから得られる被測定図形像の出力信号を波形整形回
路により二値化したパルス信号に変換してそのパルス信
号数をカウントする動作を繰返し積算することにより被
測定図形の面積を得ることを特徴とするCCDエリアイ
メージセンサによる面積計測方法、
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3817887A JPS63205505A (ja) | 1987-02-20 | 1987-02-20 | Ccdエリアイメ−ジセンサによる面積計測方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3817887A JPS63205505A (ja) | 1987-02-20 | 1987-02-20 | Ccdエリアイメ−ジセンサによる面積計測方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63205505A true JPS63205505A (ja) | 1988-08-25 |
Family
ID=12518131
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3817887A Pending JPS63205505A (ja) | 1987-02-20 | 1987-02-20 | Ccdエリアイメ−ジセンサによる面積計測方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63205505A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5229840A (en) * | 1991-05-28 | 1993-07-20 | Marel H.F. | Apparatus and method to measure and monitor the coating of objects |
| CN104048604A (zh) * | 2014-06-23 | 2014-09-17 | 深圳市巨兆数码有限公司 | 电池尺寸光学测量方法及其系统 |
| CN109029333A (zh) * | 2018-07-18 | 2018-12-18 | 浙江地科土地勘测规划设计有限公司 | 一种土地面积校对方法 |
-
1987
- 1987-02-20 JP JP3817887A patent/JPS63205505A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5229840A (en) * | 1991-05-28 | 1993-07-20 | Marel H.F. | Apparatus and method to measure and monitor the coating of objects |
| CN104048604A (zh) * | 2014-06-23 | 2014-09-17 | 深圳市巨兆数码有限公司 | 电池尺寸光学测量方法及其系统 |
| CN109029333A (zh) * | 2018-07-18 | 2018-12-18 | 浙江地科土地勘测规划设计有限公司 | 一种土地面积校对方法 |
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