JPS63208731A - 光フアイバの後方ラマン散乱光測定装置 - Google Patents
光フアイバの後方ラマン散乱光測定装置Info
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- JPS63208731A JPS63208731A JP4036787A JP4036787A JPS63208731A JP S63208731 A JPS63208731 A JP S63208731A JP 4036787 A JP4036787 A JP 4036787A JP 4036787 A JP4036787 A JP 4036787A JP S63208731 A JPS63208731 A JP S63208731A
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 30
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- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Light Guides In General And Applications Therefor (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野コ
本発明は光ファイバに単色光を入射しその後方ラマン散
乱光を測定する装置に関するものである。
乱光を測定する装置に関するものである。
［従来の技術］
単色光を物質に当てて散乱させると、散乱光にその物質
に固有な量だけ波長が変わった光が混ざるという現象が
ラマン効果として知られている。この現象は、光子のエ
ネルギの一部が物質に吸収されるか、あるいは物質のエ
ネルギが光子に加わって起こるもので、前者の場合、う
マン効果を受けた散乱光の波長は物質に当てた単色光の
波長λ。よりもλ、たけ長くなり（ストークス光）、後
者の場合、ラマン効果を受けた散乱光の波長はλ。より
もλ８だけ短くなる（アンチストークス光）。λ 、λ
８は物質に固有なｍであり、固体の場合、光子とのエネ
ルギ授受により、格子撮動の変化等の現象が起こる。し
たがって、ラマン効果を受けた散乱光を知ることにより
物質の種類、物性、状態等を知ることができる。
に固有な量だけ波長が変わった光が混ざるという現象が
ラマン効果として知られている。この現象は、光子のエ
ネルギの一部が物質に吸収されるか、あるいは物質のエ
ネルギが光子に加わって起こるもので、前者の場合、う
マン効果を受けた散乱光の波長は物質に当てた単色光の
波長λ。よりもλ、たけ長くなり（ストークス光）、後
者の場合、ラマン効果を受けた散乱光の波長はλ。より
もλ８だけ短くなる（アンチストークス光）。λ 、λ
８は物質に固有なｍであり、固体の場合、光子とのエネ
ルギ授受により、格子撮動の変化等の現象が起こる。し
たがって、ラマン効果を受けた散乱光を知ることにより
物質の種類、物性、状態等を知ることができる。
例えばストークス光強度Ｉ３とアンチストークス光強度
Ｉ、はブランク定数を佑、ボルツマン定数をに、物質と
光との間で授受されるエネルギの振動数をω・とすると
、それぞれ ■ １、ｏｃ１／（ｅｘｐ （ｆＩω； ／ｋＴ） −１）
１ａｃ−ｃ１／（１−ｅｘｐ（−ｆｉω、 ／ｋＴ））
と絶対温度Ｔの関数となり、またストークス光強度とア
ンチストークス光強度の比も Ｉａ／ｌ３ −（（ω０＋ω１）／（ω０−ω、））４８″ｘｐ（−
Ｗω、 ／ｋＴ）と絶対温度Ｔの関数となる。ただし、
ω０は入射光の撮動数である。したがってストークス光
強度とアンチストークス光強度のいずれか一方あるいは
両方を測定することにより、これらの散乱光を発生して
いる物質の温度を測定することができる。
Ｉ、はブランク定数を佑、ボルツマン定数をに、物質と
光との間で授受されるエネルギの振動数をω・とすると
、それぞれ ■ １、ｏｃ１／（ｅｘｐ （ｆＩω； ／ｋＴ） −１）
１ａｃ−ｃ１／（１−ｅｘｐ（−ｆｉω、 ／ｋＴ））
と絶対温度Ｔの関数となり、またストークス光強度とア
ンチストークス光強度の比も Ｉａ／ｌ３ −（（ω０＋ω１）／（ω０−ω、））４８″ｘｐ（−
Ｗω、 ／ｋＴ）と絶対温度Ｔの関数となる。ただし、
ω０は入射光の撮動数である。したがってストークス光
強度とアンチストークス光強度のいずれか一方あるいは
両方を測定することにより、これらの散乱光を発生して
いる物質の温度を測定することができる。
この原理を応用すると、光ファイバに光を入射させ、光
フアイバ内で発生するラマン散乱光（ストークス光、ア
ンチストークス光）を測定することにより、光ファイバ
の温度を測定することができ、入射光をパルス状の光と
し、光フアイバ内で発生したうマン散乱光の後方散乱光
（入射光の進行方向と反対向きの光）の出射までに要す
る時間を測定することにより、光ファイバの長さ方向の
温度分布を測定することも考案されている（特願昭６０
− １１３５９号）。
フアイバ内で発生するラマン散乱光（ストークス光、ア
ンチストークス光）を測定することにより、光ファイバ
の温度を測定することができ、入射光をパルス状の光と
し、光フアイバ内で発生したうマン散乱光の後方散乱光
（入射光の進行方向と反対向きの光）の出射までに要す
る時間を測定することにより、光ファイバの長さ方向の
温度分布を測定することも考案されている（特願昭６０
− １１３５９号）。
従来の光ファイバへの入射光学系と後方散乱光測定のた
めの出射光学系の構成を第２図に示す。
めの出射光学系の構成を第２図に示す。
入射光学系は光源１から出射した光を光学フィルタ２を
通し、特定波長λ。以外の光を取り除き、これを方向性
結合器３を通した後、光ファイバ４に入射させるもので
ある。出射光学系は光ファイバ４から出射された光を方
向性結合器３を通した後、ハーフミラ−５で二分し、一
方を光学フィルタ６と受光器７とからなるストークス光
強度測定系に導く共に、他方を光学フィルタ８と受光器
９とからなるアンチストークス光強度測定系に導くもの
である。
通し、特定波長λ。以外の光を取り除き、これを方向性
結合器３を通した後、光ファイバ４に入射させるもので
ある。出射光学系は光ファイバ４から出射された光を方
向性結合器３を通した後、ハーフミラ−５で二分し、一
方を光学フィルタ６と受光器７とからなるストークス光
強度測定系に導く共に、他方を光学フィルタ８と受光器
９とからなるアンチストークス光強度測定系に導くもの
である。
［発明が解決しようとする問題点〕
このような測定系を用いれば、入射光波長λ。
とλ および−λ、だけ波長の異なる光ファイバ内で発
生したストークス光およびアンチストークス光の測定を
行なうことができる。しかしなが−ら、上記測定系では
測定の効率が小さい。
生したストークス光およびアンチストークス光の測定を
行なうことができる。しかしなが−ら、上記測定系では
測定の効率が小さい。
まず、光フアイバ４内への入射光強度■ＩＮを考える。
光源１より出射される波長λ。の光強度をＩｏ、光学フ
ィルタ２の透過率をρ２、方向性結合器３の理論的効率
をρ３（−０，５＞ 、方向性結合器３の過剰損失をρ
３１、光源１の広がりと光フフイバ４の入射口径等を考
慮した空間的な結合効率ρ、１とすると、光ファイバ４
への入射光強度■■には、 ＩＩＮ”ρ２×ρ３×ρ３１Ｘρ、Ｘ ■ｏ−（１）と
なる。また、受光器７へ入射される中心波長λ０＋λ、
の光強度’ｓａは、光学ファイバ４より出射される被測
定光（中心波長λ。＋λ、のストークス光）の強度をＩ
、方向性結合器３の理ＬＩＴａ 論的効率をρ３、方向性結合器３の過剰損失をρ 、
ハーフミラ−５の理論効率をρ５２ａ （＝ ０．５） 、ハーフミラ−５の過剰損失をρ５ａ
、光学フィルタ６の透過前率をρ６ａ１光ファイバ出射
光の空間的広がりや受光器７の受光面積等に起因する空
間的な結合効率をρ とすると、２ａ ’ｓａ″″ρ３ｘρ３２ａｘρ５ｘρ５ａｘρ６ａ×ρ
ｓ２ａ ×ｌ０ＵＴａ ”’ （２：
Ｊとなり、方向性結合器３とハーフミラ−５の理論効率
がいずれも０，５であることを考慮すると、（１）式、
＋２１式はそれぞれ １、Ｎ−０，５ｘρ２Ｘρ３１Ｘρｓｌ×ＩＯ−（：１
）ＩＳａ＝ ０．２５ Ｘρ３２．×ρ５．×ρ６ａ×
ρｓ２ａ ×ｌ０ＵＴａ ・・’ ”
となる。ＩＩＮと’ｓａは光学フィルタ６．８や方向性
結合器３等の光学的透過効率と光源１と受光器７．９間
の空間的結合効率の他に、方向性結合器３とハーフミラ
−５の理論効率に影響されており、これらの理論効率は
総合で０．１２５と非常に小ざいものであった。
ィルタ２の透過率をρ２、方向性結合器３の理論的効率
をρ３（−０，５＞ 、方向性結合器３の過剰損失をρ
３１、光源１の広がりと光フフイバ４の入射口径等を考
慮した空間的な結合効率ρ、１とすると、光ファイバ４
への入射光強度■■には、 ＩＩＮ”ρ２×ρ３×ρ３１Ｘρ、Ｘ ■ｏ−（１）と
なる。また、受光器７へ入射される中心波長λ０＋λ、
の光強度’ｓａは、光学ファイバ４より出射される被測
定光（中心波長λ。＋λ、のストークス光）の強度をＩ
、方向性結合器３の理ＬＩＴａ 論的効率をρ３、方向性結合器３の過剰損失をρ 、
ハーフミラ−５の理論効率をρ５２ａ （＝ ０．５） 、ハーフミラ−５の過剰損失をρ５ａ
、光学フィルタ６の透過前率をρ６ａ１光ファイバ出射
光の空間的広がりや受光器７の受光面積等に起因する空
間的な結合効率をρ とすると、２ａ ’ｓａ″″ρ３ｘρ３２ａｘρ５ｘρ５ａｘρ６ａ×ρ
ｓ２ａ ×ｌ０ＵＴａ ”’ （２：
Ｊとなり、方向性結合器３とハーフミラ−５の理論効率
がいずれも０，５であることを考慮すると、（１）式、
＋２１式はそれぞれ １、Ｎ−０，５ｘρ２Ｘρ３１Ｘρｓｌ×ＩＯ−（：１
）ＩＳａ＝ ０．２５ Ｘρ３２．×ρ５．×ρ６ａ×
ρｓ２ａ ×ｌ０ＵＴａ ・・’ ”
となる。ＩＩＮと’ｓａは光学フィルタ６．８や方向性
結合器３等の光学的透過効率と光源１と受光器７．９間
の空間的結合効率の他に、方向性結合器３とハーフミラ
−５の理論効率に影響されており、これらの理論効率は
総合で０．１２５と非常に小ざいものであった。
第２図の方向性結合器３の代わりに光スィッチを用いる
場合、光スィッチの理論効率は１であり、総合の理論効
率は０．５となるが、測定感度を上げるためには、さら
に理論効率の小さいことが望ましく、また、光スィッチ
を用いる場合、光スイツチ駆動用の高速電気回路が必要
であり、また、過剰損失が方向性結合器よりも大きいと
いう欠点があった。
場合、光スィッチの理論効率は１であり、総合の理論効
率は０．５となるが、測定感度を上げるためには、さら
に理論効率の小さいことが望ましく、また、光スィッチ
を用いる場合、光スイツチ駆動用の高速電気回路が必要
であり、また、過剰損失が方向性結合器よりも大きいと
いう欠点があった。
本発明の目的は、前記した従来技術の欠点を解消し、理
論効率が大きく、しかも、光スイツチ駆動用の高速電気
回路等を必要としない新規な光ファイバの後方ラマン散
乱光測定装置を提供することにある。
論効率が大きく、しかも、光スイツチ駆動用の高速電気
回路等を必要としない新規な光ファイバの後方ラマン散
乱光測定装置を提供することにある。
［問題点を解決するための手段］
本発明は、光源より出射された光を中心波長λ０の光を
選択的に透過または反射する第１の干渉フィルタに入射
させ、第１の干渉フィルタから透過または反射された中
心波長λ。の光を受光すべく光ファイバの端面を配設し
、この端面より出射してくる光ファイバからの後方散乱
光を第１の干渉フィルタに逆方向に入射させ、第１の干
渉フィルタで反射または透過された光を受光して中心波
長λ１の光を選択的に透過または反射する第２の干渉フ
ィルタを設けると共に、第２の干渉フィルタの透過側ま
たは反射側に第２の干渉フィルタで透過または反射され
た中心波長λ１の光を受光する受光器を設けたものであ
る。
選択的に透過または反射する第１の干渉フィルタに入射
させ、第１の干渉フィルタから透過または反射された中
心波長λ。の光を受光すべく光ファイバの端面を配設し
、この端面より出射してくる光ファイバからの後方散乱
光を第１の干渉フィルタに逆方向に入射させ、第１の干
渉フィルタで反射または透過された光を受光して中心波
長λ１の光を選択的に透過または反射する第２の干渉フ
ィルタを設けると共に、第２の干渉フィルタの透過側ま
たは反射側に第２の干渉フィルタで透過または反射され
た中心波長λ１の光を受光する受光器を設けたものであ
る。
［作 用］
光源より出射された光は、第１の干渉フィルタを透過（
または反射）して中心波長λ。の単色光に選別され光フ
ァイバに入射する。光ファイバから出射された後方散乱
光のうち中心波長λ。のレイリー散乱光は第１の干渉フ
ィルタを透過（または反射）しそれ以外の波長域の光は
第１の干渉フィルタで反射（または透過）して第２の干
渉フィルタに入射する。第２の干渉フィルタに入射した
後方散乱光のうち中心波長λ１の光は第２の干渉フィル
タを透過（または反射）して受光器に入射する。第２の
干渉フィルタの透過（または反射）中心波長λ１をスト
ークス光あるいはアンチストークス光の波長域にするこ
とにより、ストークス光あるいはアンチストークス光の
強度が受光器にて測定される。
または反射）して中心波長λ。の単色光に選別され光フ
ァイバに入射する。光ファイバから出射された後方散乱
光のうち中心波長λ。のレイリー散乱光は第１の干渉フ
ィルタを透過（または反射）しそれ以外の波長域の光は
第１の干渉フィルタで反射（または透過）して第２の干
渉フィルタに入射する。第２の干渉フィルタに入射した
後方散乱光のうち中心波長λ１の光は第２の干渉フィル
タを透過（または反射）して受光器に入射する。第２の
干渉フィルタの透過（または反射）中心波長λ１をスト
ークス光あるいはアンチストークス光の波長域にするこ
とにより、ストークス光あるいはアンチストークス光の
強度が受光器にて測定される。
［実施例］
以下に本発明の実施例を第１図に基づき説明する。図示
するように、この実施例では、透過中心波長λ。の第１
の干渉フィルタ１１と、透過中心波長λ。−λ８の第２
の干渉フィルタ１２と、透過中心波長λ。＋λ、の第３
の干渉フィルタ１３との３つの干渉フィルタからなる光
学系に特長がある。
するように、この実施例では、透過中心波長λ。の第１
の干渉フィルタ１１と、透過中心波長λ。−λ８の第２
の干渉フィルタ１２と、透過中心波長λ。＋λ、の第３
の干渉フィルタ１３との３つの干渉フィルタからなる光
学系に特長がある。
レーザー等の光源１から出射された光を第１の干渉フィ
ルタ１１に入射させ、これを透過した中心波長λ。の光
の光軸上に光ファイバ４の端面を置き、光ファイバ４に
この中心波長λ。の光を入射させるようにする。この入
射光により光フアイバ４内で発生した後方散乱光は入射
光と逆向きに光ファイバ４の端面から出射され、第１の
干渉フィルタ１１に光ａ１からの光とは逆方向に入射す
る。
ルタ１１に入射させ、これを透過した中心波長λ。の光
の光軸上に光ファイバ４の端面を置き、光ファイバ４に
この中心波長λ。の光を入射させるようにする。この入
射光により光フアイバ４内で発生した後方散乱光は入射
光と逆向きに光ファイバ４の端面から出射され、第１の
干渉フィルタ１１に光ａ１からの光とは逆方向に入射す
る。
第１の干渉フィルタ１１に入射した後方散乱光のうち、
光ファイバ４への入射光と同一波長λ。
光ファイバ４への入射光と同一波長λ。
のレイリー散乱光は第１の干渉フィルタ１１を透過する
が、λ。近傍以外の波長の光は第１の干渉フィルタ１１
で反射される。この反射光の光軸上に第２の干渉フィル
タ１２を設置し、反射光を第２の干渉フィルタ１２に入
射させる。第２の干渉フィルタ１２の透過光の中心波長
はアンチストークス光の中心波長と同じλ。−λ、に選
んであるので、光フアイバ４内で発生した後方散乱光の
うち、アンチストークス光のみが第２の干渉フィルタ１
２を透過して、透過光の光軸上に置かれた受光器９に入
射する。受光器９で受光されたアンチストークス光は電
気信号に変換され、その強度が測定される。
が、λ。近傍以外の波長の光は第１の干渉フィルタ１１
で反射される。この反射光の光軸上に第２の干渉フィル
タ１２を設置し、反射光を第２の干渉フィルタ１２に入
射させる。第２の干渉フィルタ１２の透過光の中心波長
はアンチストークス光の中心波長と同じλ。−λ、に選
んであるので、光フアイバ４内で発生した後方散乱光の
うち、アンチストークス光のみが第２の干渉フィルタ１
２を透過して、透過光の光軸上に置かれた受光器９に入
射する。受光器９で受光されたアンチストークス光は電
気信号に変換され、その強度が測定される。
第２の干渉フィルタ１２を透過せずに反射した光は、反
射光の光軸上に置かれた第３の干渉フィルタ１３に入射
する。第３の干渉フィルタ１３の透過光の中心波長はス
トークス光の中心波長と同じλ０＋λ、に選んであるの
で、光フアイバ４内で発生した後方散乱光のうち、スト
ークス光のみが第３の干渉フィルタ１３を透過して、透
過光の光軸上に置かれた受光器７により電気信号に変換
され、アンチストークス光強度が測定される。
射光の光軸上に置かれた第３の干渉フィルタ１３に入射
する。第３の干渉フィルタ１３の透過光の中心波長はス
トークス光の中心波長と同じλ０＋λ、に選んであるの
で、光フアイバ４内で発生した後方散乱光のうち、スト
ークス光のみが第３の干渉フィルタ１３を透過して、透
過光の光軸上に置かれた受光器７により電気信号に変換
され、アンチストークス光強度が測定される。
なお、上記実施例では、光源の広がりや光ファイバの入
射口径の寸法等から決まる空間的結合効率はあまり良く
ないが、これを改善するためにはレンズの使用が考えら
れる。例えば、光源１と第１の干渉フィルタ１１の間に
光源１から出射される光を平行光線になおすレンズを挿
入し、光ファイバ４と第１の干渉フィルタ１１の間に平
行光線を集光するレンズを置き、また、受光器７および
９の前面にも集光用のレンズを置けばよい。
射口径の寸法等から決まる空間的結合効率はあまり良く
ないが、これを改善するためにはレンズの使用が考えら
れる。例えば、光源１と第１の干渉フィルタ１１の間に
光源１から出射される光を平行光線になおすレンズを挿
入し、光ファイバ４と第１の干渉フィルタ１１の間に平
行光線を集光するレンズを置き、また、受光器７および
９の前面にも集光用のレンズを置けばよい。
また上記実施例において、干渉フィルタ１１゜１２．１
３の透過光の中心波長を適宜変えて、光源１と受光器９
の設定位置を交換したり、あるいは光ｆｆ１１と受光器
７の設定位置を交換したりしても、上記と同様な測定が
できる。
３の透過光の中心波長を適宜変えて、光源１と受光器９
の設定位置を交換したり、あるいは光ｆｆ１１と受光器
７の設定位置を交換したりしても、上記と同様な測定が
できる。
また、干渉フィルタ１２．１３の透過光中心波長を変え
ることにより、アンチストークス光を受光器７で、スト
ークス光を受光器って測定することも可能である。更に
、上記実施例の干渉フィルタ１１，１２．１３は特定波
長領域の光のみを選択的に透過する透過型の干渉フィル
タであったが、特定波長領域の光のみ選択的に反射する
反射型の干渉フィルタを用いて光学系を構成するように
してもよい。
ることにより、アンチストークス光を受光器７で、スト
ークス光を受光器って測定することも可能である。更に
、上記実施例の干渉フィルタ１１，１２．１３は特定波
長領域の光のみを選択的に透過する透過型の干渉フィル
タであったが、特定波長領域の光のみ選択的に反射する
反射型の干渉フィルタを用いて光学系を構成するように
してもよい。
［発明の効果］
以上型するに本発明によれば次のような効果を発揮する
ことができる。
ことができる。
（１） 本発明では、従来用いられていた方向性結合
器やハーフミラ−の代わりに干渉フィルタを用いた光学
系としたことにより、理論効率を従来の方法では実現で
きなかった１とすることができ、測定感度を向上するこ
とができる。
器やハーフミラ−の代わりに干渉フィルタを用いた光学
系としたことにより、理論効率を従来の方法では実現で
きなかった１とすることができ、測定感度を向上するこ
とができる。
（２） 同一の干渉フィルタを光分離手段および波長
選択手段として働かせているため、構成部品点数を削減
できると共に各部品間で必要となる光軸調整の箇所を少
なくすることができ、コスト低減ならびにコンパクト化
を実現できる。
選択手段として働かせているため、構成部品点数を削減
できると共に各部品間で必要となる光軸調整の箇所を少
なくすることができ、コスト低減ならびにコンパクト化
を実現できる。
第１図は本発明に係る光ファイバの後方ラマン敗乱光測
定装置の一実施例を示す構成図、第２図は従来の後方ラ
マン散乱光測定装置を示す構成図である。 図中、１は光源、２．６．８は光学フィルタ、３は方向
性結合器、４は光ファイバ、５はハーフミラ−１７，９
は受光器、１１は第１の干渉フィルタ、１２は第２の干
渉フィルタ、１３は第３の干渉フィルタである。
定装置の一実施例を示す構成図、第２図は従来の後方ラ
マン散乱光測定装置を示す構成図である。 図中、１は光源、２．６．８は光学フィルタ、３は方向
性結合器、４は光ファイバ、５はハーフミラ−１７，９
は受光器、１１は第１の干渉フィルタ、１２は第２の干
渉フィルタ、１３は第３の干渉フィルタである。
Claims (2)
- （１）光源より出射された光を中心波長λ＿０の光を選
択的に透過または反射する第１の干渉フィルタに入射さ
せ、第１の干渉フィルタから透過または反射された中心
波長λ＿０の光を受光すべく光ファイバの端面を配設し
、この端面より出射してくる光ファイバからの後方散乱
光を第１の干渉フィルタに逆方向に入射させ、第１の干
渉フィルタで反射または透過された光を受光して中心波
長λ＿１の光を選択的に透過または反射する第２の干渉
フィルタを設けると共に、第２の干渉フィルタの透過側
または反射側に第２の干渉フィルタで透過または反射さ
れた中心波長λ＿１の光を受光する受光器を設けたこと
を特徴とする光ファイバの後方ラマン散乱光測定装置。 - （２）上記第２の干渉フィルタの反射側または透過側に
第２の干渉フィルタで反射または透過された光を受光し
て中心波長λ＿２の光を選択的に透過または反射する第
３の干渉フィルタが設けられると共に第３の干渉フィル
タにより透過または反射された中心波長λ＿２の光を受
光する受光器が設けられていることを特徴とする特許請
求の範囲第１項記載の光ファイバの後方ラマン散乱光測
定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4036787A JPS63208731A (ja) | 1987-02-25 | 1987-02-25 | 光フアイバの後方ラマン散乱光測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4036787A JPS63208731A (ja) | 1987-02-25 | 1987-02-25 | 光フアイバの後方ラマン散乱光測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63208731A true JPS63208731A (ja) | 1988-08-30 |
Family
ID=12578669
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4036787A Pending JPS63208731A (ja) | 1987-02-25 | 1987-02-25 | 光フアイバの後方ラマン散乱光測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63208731A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02201131A (ja) * | 1989-01-30 | 1990-08-09 | Tokyo Electric Power Co Inc:The | 光ファイバ式分布形温度センサ |
| JPH02276932A (ja) * | 1989-01-30 | 1990-11-13 | Tokyo Electric Power Co Inc:The | 光ファイバ式分布形温度センサ |
| CN102346145A (zh) * | 2010-07-22 | 2012-02-08 | 索尼公司 | 微粒测定装置 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3207910A (en) * | 1959-03-12 | 1965-09-21 | Int Standard Electric Corp | Photosensitive arrangement for scanning fluorescing identifications |
| JPS51131374A (en) * | 1975-05-12 | 1976-11-15 | Hitachi Ltd | Filter photometer for multi-wave length |
| JPS61270632A (ja) * | 1985-05-25 | 1986-11-29 | Hitachi Cable Ltd | 光ファイバ形温度分布計測装置 |
-
1987
- 1987-02-25 JP JP4036787A patent/JPS63208731A/ja active Pending
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3207910A (en) * | 1959-03-12 | 1965-09-21 | Int Standard Electric Corp | Photosensitive arrangement for scanning fluorescing identifications |
| JPS51131374A (en) * | 1975-05-12 | 1976-11-15 | Hitachi Ltd | Filter photometer for multi-wave length |
| JPS61270632A (ja) * | 1985-05-25 | 1986-11-29 | Hitachi Cable Ltd | 光ファイバ形温度分布計測装置 |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02201131A (ja) * | 1989-01-30 | 1990-08-09 | Tokyo Electric Power Co Inc:The | 光ファイバ式分布形温度センサ |
| JPH02276932A (ja) * | 1989-01-30 | 1990-11-13 | Tokyo Electric Power Co Inc:The | 光ファイバ式分布形温度センサ |
| CN102346145A (zh) * | 2010-07-22 | 2012-02-08 | 索尼公司 | 微粒测定装置 |
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