JPS6321040A - 超高速x線ctスキヤナ - Google Patents
超高速x線ctスキヤナInfo
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- JPS6321040A JPS6321040A JP61167304A JP16730486A JPS6321040A JP S6321040 A JPS6321040 A JP S6321040A JP 61167304 A JP61167304 A JP 61167304A JP 16730486 A JP16730486 A JP 16730486A JP S6321040 A JPS6321040 A JP S6321040A
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- Japan
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- ray
- rays
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- scanner
- cathode
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- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/02—Arrangements for diagnosis sequentially in different planes; Stereoscopic radiation diagnosis
- A61B6/03—Computed tomography [CT]
- A61B6/032—Transmission computed tomography [CT]
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/40—Arrangements for generating radiation specially adapted for radiation diagnosis
- A61B6/4021—Arrangements for generating radiation specially adapted for radiation diagnosis involving movement of the focal spot
- A61B6/4028—Arrangements for generating radiation specially adapted for radiation diagnosis involving movement of the focal spot resulting in acquisition of views from substantially different positions, e.g. EBCT
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/04—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
- G01N23/046—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material using tomography, e.g. computed tomography [CT]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J35/00—X-ray tubes
- H01J35/02—Details
- H01J35/04—Electrodes ; Mutual position thereof; Constructional adaptations therefor
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05G—X-RAY TECHNIQUE
- H05G1/00—X-ray apparatus involving X-ray tubes; Circuits therefor
- H05G1/08—Electrical details
- H05G1/70—Circuit arrangements for X-ray tubes with more than one anode; Circuit arrangements for apparatus comprising more than one X ray tube or more than one cathode
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/40—Imaging
- G01N2223/419—Imaging computed tomograph
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- Analytical Chemistry (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、臓ふ等の診断のための動的状態の観察、ある
いは混相流などの流れの計4111に利用するのに適し
た超高速X線CTスキャナに関するものである。
いは混相流などの流れの計4111に利用するのに適し
た超高速X線CTスキャナに関するものである。
[従来の技術]
従来のX!5tCTスキャナは、中心に配(dした被測
定物を囲む円周Fから上記被Jlll定物に対してX線
を投射し、そのX線をX線検出器で検出して。
定物を囲む円周Fから上記被Jlll定物に対してX線
を投射し、そのX線をX線検出器で検出して。
L記被測定物の断面の撮影を行うようにしているが、X
線の走査を機械的に行っており、走査速度は速くとも数
秒を要するため、対象物の動的な撮影は不可能であり5
例えば臓器の動的な変化を把握したり、管路内の流体の
流れの状態を動的に把握する場合などには、利用するこ
とができない。
線の走査を機械的に行っており、走査速度は速くとも数
秒を要するため、対象物の動的な撮影は不可能であり5
例えば臓器の動的な変化を把握したり、管路内の流体の
流れの状態を動的に把握する場合などには、利用するこ
とができない。
これに対し、最近、電子ビームを電気的に走査し、1断
面を20ミリ秒程度で1影できる装置が開発されている
が、電子ビームを走査するためには、原理的に、補機を
含めた装置が大型化すると同時に、ビームを位置精度よ
くターゲットに衝突させるのが困難である。
面を20ミリ秒程度で1影できる装置が開発されている
が、電子ビームを走査するためには、原理的に、補機を
含めた装置が大型化すると同時に、ビームを位置精度よ
くターゲットに衝突させるのが困難である。
[発明が解決しようとする問題点]
本発明の目的は、fiu述したように電子ビームを電気
的に走査することなく、X線の発生点を電気的に高速走
査して、被測定物の1断面の撮影時間を超高速化し、そ
れによって臓器の動態撮影や管内の波体の流れの動的な
計測などに利用できるようにした超高速X線CTスキャ
ナを得ることにある。
的に走査することなく、X線の発生点を電気的に高速走
査して、被測定物の1断面の撮影時間を超高速化し、そ
れによって臓器の動態撮影や管内の波体の流れの動的な
計測などに利用できるようにした超高速X線CTスキャ
ナを得ることにある。
[問題点を解決するための手段]
上記目的を達成するため、本発明は、中心に配δした被
測定物を囲む円周ヒから上記被測定物に対してX線を投
射し、そのX線をX線検出器で検出して、上記被測定物
の断面の撮影を行うようにしたX線CTスキャナにおい
て、上記xlを投射するためのX線発生装置として、陰
極と陽極を構成するターゲットとの間にグリッドを配設
したX線発生装置を用い、このX線発生装置の多数を、
上記被測定物を囲む円周上に配列させ、これらのX線発
生装置におけるグリッドに、陰極と陽極のJullにX
線を得るための電圧を印加した状態で、陰極から陽極に
向かう゛電子ビームを抑制するためにグリッドに印加さ
れていたグリッドバイアス重圧を順次一時的に解除する
X線発生制御装置を接続したことを特徴とするものであ
る。
測定物を囲む円周ヒから上記被測定物に対してX線を投
射し、そのX線をX線検出器で検出して、上記被測定物
の断面の撮影を行うようにしたX線CTスキャナにおい
て、上記xlを投射するためのX線発生装置として、陰
極と陽極を構成するターゲットとの間にグリッドを配設
したX線発生装置を用い、このX線発生装置の多数を、
上記被測定物を囲む円周上に配列させ、これらのX線発
生装置におけるグリッドに、陰極と陽極のJullにX
線を得るための電圧を印加した状態で、陰極から陽極に
向かう゛電子ビームを抑制するためにグリッドに印加さ
れていたグリッドバイアス重圧を順次一時的に解除する
X線発生制御装置を接続したことを特徴とするものであ
る。
[作 用1
被測定物を囲む円周上のX線発生装置において、陰極と
陽極の間に必要強度のX線を得るための゛を圧を印加し
た状態で、陰極から陽極へ向かう゛電子ビームを抑制す
るために印加されていたグリッドバイアス厄圧を順次解
除し、陽極に衝突した゛電子ビームによりX線を発生さ
せる。このグリt・ドへイアスの解除を、設置したX線
発生装置について順次緑返すことにより、X線発生点を
高速に走査することが可能となり、被測定物の1断面の
撮影lI′?間をa高速化することができる。
陽極の間に必要強度のX線を得るための゛を圧を印加し
た状態で、陰極から陽極へ向かう゛電子ビームを抑制す
るために印加されていたグリッドバイアス厄圧を順次解
除し、陽極に衝突した゛電子ビームによりX線を発生さ
せる。このグリt・ドへイアスの解除を、設置したX線
発生装置について順次緑返すことにより、X線発生点を
高速に走査することが可能となり、被測定物の1断面の
撮影lI′?間をa高速化することができる。
[実施例]
第1図及び第2図は、本発明に係る超高速X線CTスキ
ャナの実施例を示している。ここに例示したX線CTス
キャナは、中心に配置した被測定物としての配管l内に
おける流体(混相流)の流れを計測するためのもので、
その配管lを囲む円周1二に、所要の分解能を得るに必
要な多数のX線発生装置3,3.・・を配置するため、
配管1の周囲に一部を欠いた円環状の真空容器2を設け
ている。
ャナの実施例を示している。ここに例示したX線CTス
キャナは、中心に配置した被測定物としての配管l内に
おける流体(混相流)の流れを計測するためのもので、
その配管lを囲む円周1二に、所要の分解能を得るに必
要な多数のX線発生装置3,3.・・を配置するため、
配管1の周囲に一部を欠いた円環状の真空容器2を設け
ている。
上記真空容器2内に配置したX線発生装置3,3゜0番
は、それぞれ、陰極5、グリッドB、集束レンズを兼ね
た多段の加速゛電極7.7.・・、及び陽極を構成する
タングステン・ターゲット8を備えたもので、これらに
よって配管1を囲む円周上からその配管lに対してX線
を投射するように構成している。即ち、J:、記陰極と
陽極の間に必要強度のX線を得るための電圧を印加する
と、陰極から陽極へ向かう電子ビームが陽極を構成する
ターゲット8に衝突し、配管lに対して投射されるX線
を発生させる。
は、それぞれ、陰極5、グリッドB、集束レンズを兼ね
た多段の加速゛電極7.7.・・、及び陽極を構成する
タングステン・ターゲット8を備えたもので、これらに
よって配管1を囲む円周上からその配管lに対してX線
を投射するように構成している。即ち、J:、記陰極と
陽極の間に必要強度のX線を得るための電圧を印加する
と、陰極から陽極へ向かう電子ビームが陽極を構成する
ターゲット8に衝突し、配管lに対して投射されるX線
を発生させる。
上記陰極と陽極との間には、例えば、1oOkV程度の
加速用の高電圧を印加するが、巾に両極11J+にその
高゛毛圧を印加したのでは、真空容器2中において放電
する可能性がある。上述した多段の加速電極?、7.・
・は、陰極と陽極との間の高°1ヒ圧により電子ビーム
を一気に加速することなく、その高電圧を多段に分割し
て加速するためのものであり、しかも各加速電極に集束
レンズとしての機能をも持たせて、その集束によりビー
ムの利用効率を高めている。
加速用の高電圧を印加するが、巾に両極11J+にその
高゛毛圧を印加したのでは、真空容器2中において放電
する可能性がある。上述した多段の加速電極?、7.・
・は、陰極と陽極との間の高°1ヒ圧により電子ビーム
を一気に加速することなく、その高電圧を多段に分割し
て加速するためのものであり、しかも各加速電極に集束
レンズとしての機能をも持たせて、その集束によりビー
ムの利用効率を高めている。
各X線発生装223,3.・・において、上記陰極5と
ターゲット8との間に配設したグリッド6は、それぞれ
、X線発生制御装置(図示せず)に接続している。この
X線発生制御装置は、各X線発生装a3,3.・・にお
けるグリ−7ドパイアス電圧を制御することにより、円
周上に配置したX線発生装;+13,3.・・によるX
線の発生点を′電気的に走査し、被測定物の1断面の撮
影蒔間を、例えばloミリ秒以下に超高速化するもので
ある。
ターゲット8との間に配設したグリッド6は、それぞれ
、X線発生制御装置(図示せず)に接続している。この
X線発生制御装置は、各X線発生装a3,3.・・にお
けるグリ−7ドパイアス電圧を制御することにより、円
周上に配置したX線発生装;+13,3.・・によるX
線の発生点を′電気的に走査し、被測定物の1断面の撮
影蒔間を、例えばloミリ秒以下に超高速化するもので
ある。
即ち、上記陰極と陽極の間には、常に、必要強度のxy
iを得るための電圧を印加して、各X線発生装置3.3
.・・におけるグリッド6に、陰極から陽極に向かう電
子ビームを抑M1するためのグリッドバイアス′厄圧を
印加した状態とし、X線発生制御装置による制御で、陰
極から陽極へ向かう電子ビームを抑制するために各X線
発生装置i3,3.φ・におけるグリッドに印加されて
いたグリッドバイアス電圧を、順次一時的に解除し、そ
れに伴って陽極に衝突した゛電子ビームによりX線を発
生させる。そして、このグリッドバイアス電圧の解除を
、設置した各X線発生装:δ3.3.・・について緑返
すことにより、X線発生点を高速に走査することが可能
となる。
iを得るための電圧を印加して、各X線発生装置3.3
.・・におけるグリッド6に、陰極から陽極に向かう電
子ビームを抑M1するためのグリッドバイアス′厄圧を
印加した状態とし、X線発生制御装置による制御で、陰
極から陽極へ向かう電子ビームを抑制するために各X線
発生装置i3,3.φ・におけるグリッドに印加されて
いたグリッドバイアス電圧を、順次一時的に解除し、そ
れに伴って陽極に衝突した゛電子ビームによりX線を発
生させる。そして、このグリッドバイアス電圧の解除を
、設置した各X線発生装:δ3.3.・・について緑返
すことにより、X線発生点を高速に走査することが可能
となる。
配管lを囲む円周とからその配管1に向けて投射したX
線は、反対側に位置する多数のx8検出器IQ、10.
・・で検出し、これらのxyJ検出器+0.10.−・
に接続した画像解析装置により2周知の手段によって画
像化し、それによって被測定物の断面が撮影される。
線は、反対側に位置する多数のx8検出器IQ、10.
・・で検出し、これらのxyJ検出器+0.10.−・
に接続した画像解析装置により2周知の手段によって画
像化し、それによって被測定物の断面が撮影される。
なお、以上に示した実施例においては、配管1を囲む円
周上の略半周にX線発生装置3,3.・・を配置し、そ
れに対向する位置にX線検出器+0.10゜◆・を配列
させているが、これらは、被測定物の撮影に必要な範囲
内において、被測定物の全周に配置するとか2その一部
に配置するなど、その配置範囲を適宜選定することがで
5る。
周上の略半周にX線発生装置3,3.・・を配置し、そ
れに対向する位置にX線検出器+0.10゜◆・を配列
させているが、これらは、被測定物の撮影に必要な範囲
内において、被測定物の全周に配置するとか2その一部
に配置するなど、その配置範囲を適宜選定することがで
5る。
被測定物を囲む円周上またはその一部に、所定の分解能
を得るに必要な数だけ、陰極、グリッド、加速°逝極、
集束レンズ、ターゲット(陽極)のセトトを配置し、陰
極と陽極の間に必要強度のX線を得るための電圧を印加
した状態で、陰極から陽極へ向かう電子ビームを抑制す
るために印加されていたグリッドバイアス電圧を解除し
、陽極に衝突した゛電子ビームによりX線を発生させる
。
を得るに必要な数だけ、陰極、グリッド、加速°逝極、
集束レンズ、ターゲット(陽極)のセトトを配置し、陰
極と陽極の間に必要強度のX線を得るための電圧を印加
した状態で、陰極から陽極へ向かう電子ビームを抑制す
るために印加されていたグリッドバイアス電圧を解除し
、陽極に衝突した゛電子ビームによりX線を発生させる
。
このグリッドバイアスの解除を、設置した゛電極につい
て繰返すことにより、X線発生点を高速に走査すること
が可能となる。
て繰返すことにより、X線発生点を高速に走査すること
が可能となる。
[発明の効果コ
以上に詳述したように、本発明の超高速X線CTスキャ
ナによれば、x!!の発生点を電気的に高速走査するこ
とにより、臓器の動態撮影が可能となるばかりでなく、
工学的にも、例えば波れの計δIllなどに利用するこ
とができる。また、その装jd全体を非常にコンパクト
に形成することができる。
ナによれば、x!!の発生点を電気的に高速走査するこ
とにより、臓器の動態撮影が可能となるばかりでなく、
工学的にも、例えば波れの計δIllなどに利用するこ
とができる。また、その装jd全体を非常にコンパクト
に形成することができる。
:rS1図は未発明に係る超高速X線CTスキャナの実
施例の要部断面図、第2図はその平面図である。 3・・X線発生装置、5・ψ陰極、 6 日グリッド、 8 ・・ターゲット (陽極)。 IO・・X線検出器。
施例の要部断面図、第2図はその平面図である。 3・・X線発生装置、5・ψ陰極、 6 日グリッド、 8 ・・ターゲット (陽極)。 IO・・X線検出器。
Claims (1)
- 1、中心に配置した被測定物を囲む円周上から上記被測
定物に対してX線を投射し、そのX線をX線検出器で検
出して、上記被測定物の断面の撮影を行うようにしたX
線CTスキャナにおいて、上記X線を投射するためのX
線発生装置として、陰極と陽極を構成するターゲットと
の間にグリッドを配設したX線発生装置を用い、このX
線発生装置の多数を、上記被測定物を囲む円周上に配列
させ、これらのX線発生装置におけるグリッドに、陰極
と陽極の間にX線を得るための電圧を印加した状態で、
陰極から陽極に向かう電子ビームを抑制するためにグリ
ッドに印加されていたグリッドバイアス電圧を順次一時
的に解除するX線発生制御装置を接続したことを特徴と
する超高速X線スキャナ。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61167304A JPS6321040A (ja) | 1986-07-16 | 1986-07-16 | 超高速x線ctスキヤナ |
| US07/031,666 US4866745A (en) | 1986-07-16 | 1987-03-30 | Ultrahigh speed X-ray CT scanner |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61167304A JPS6321040A (ja) | 1986-07-16 | 1986-07-16 | 超高速x線ctスキヤナ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6321040A true JPS6321040A (ja) | 1988-01-28 |
| JPH0560381B2 JPH0560381B2 (ja) | 1993-09-02 |
Family
ID=15847267
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61167304A Granted JPS6321040A (ja) | 1986-07-16 | 1986-07-16 | 超高速x線ctスキヤナ |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4866745A (ja) |
| JP (1) | JPS6321040A (ja) |
Families Citing this family (44)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE4015180A1 (de) * | 1990-05-11 | 1991-11-28 | Bruker Analytische Messtechnik | Roentgen-computer-tomographie-system mit geteiltem detektorring |
| EP0466956A1 (de) * | 1990-07-18 | 1992-01-22 | Siemens Aktiengesellschaft | Computertomograph |
| US5490193A (en) * | 1990-07-23 | 1996-02-06 | Hitachi, Ltd. | X-ray computed tomography system |
| US5438605A (en) * | 1992-01-06 | 1995-08-01 | Picker International, Inc. | Ring tube x-ray source with active vacuum pumping |
| US5305363A (en) * | 1992-01-06 | 1994-04-19 | Picker International, Inc. | Computerized tomographic scanner having a toroidal x-ray tube with a stationary annular anode and a rotating cathode assembly |
| US5268955A (en) * | 1992-01-06 | 1993-12-07 | Picker International, Inc. | Ring tube x-ray source |
| JP2002320610A (ja) * | 2001-02-23 | 2002-11-05 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | X線ct装置とx線ct装置撮影方法 |
| EP1277439A4 (en) * | 2001-02-28 | 2007-02-14 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | TOMODENSITOMETRIC APPARATUS EMITTING X-RAYS FROM A MULTI-RADIATION SOURCE |
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| US8275091B2 (en) | 2002-07-23 | 2012-09-25 | Rapiscan Systems, Inc. | Compact mobile cargo scanning system |
| US8094784B2 (en) | 2003-04-25 | 2012-01-10 | Rapiscan Systems, Inc. | X-ray sources |
| US10483077B2 (en) | 2003-04-25 | 2019-11-19 | Rapiscan Systems, Inc. | X-ray sources having reduced electron scattering |
| GB0309385D0 (en) * | 2003-04-25 | 2003-06-04 | Cxr Ltd | X-ray monitoring |
| US8243876B2 (en) | 2003-04-25 | 2012-08-14 | Rapiscan Systems, Inc. | X-ray scanners |
| GB0309379D0 (en) | 2003-04-25 | 2003-06-04 | Cxr Ltd | X-ray scanning |
| GB0812864D0 (en) | 2008-07-15 | 2008-08-20 | Cxr Ltd | Coolign anode |
| GB0309374D0 (en) * | 2003-04-25 | 2003-06-04 | Cxr Ltd | X-ray sources |
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| US8837669B2 (en) | 2003-04-25 | 2014-09-16 | Rapiscan Systems, Inc. | X-ray scanning system |
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| US7949101B2 (en) | 2005-12-16 | 2011-05-24 | Rapiscan Systems, Inc. | X-ray scanners and X-ray sources therefor |
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