JPS63211545A - 光導電膜 - Google Patents

光導電膜

Info

Publication number
JPS63211545A
JPS63211545A JP4229687A JP4229687A JPS63211545A JP S63211545 A JPS63211545 A JP S63211545A JP 4229687 A JP4229687 A JP 4229687A JP 4229687 A JP4229687 A JP 4229687A JP S63211545 A JPS63211545 A JP S63211545A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
added
region
film
oxide
selenium
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP4229687A
Other languages
English (en)
Inventor
Tsuyoshi Kaneko
金子 強
Masahiro Fujino
藤野 昌宏
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sony Corp filed Critical Sony Corp
Priority to JP4229687A priority Critical patent/JPS63211545A/ja
Publication of JPS63211545A publication Critical patent/JPS63211545A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Image-Pickup Tubes, Image-Amplification Tubes, And Storage Tubes (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、光導電型撮像管のターゲットに用いられる光
導電膜に関するものであり、特にセレンを主材料とし所
謂サチコンのターゲットに用いられる光導電膜の膜構造
の改良に関するものである。
〔発明の概要〕
本発明は、セレンを主体としテルル及び深い電子捕獲準
位を形成する物質(例えばヒ素)を添加してなる光導電
膜に対し、セレンの中で負の空間電荷を形成する酸化物
を含有せしめるとともに、当該酸化物が含有される領域
の位置及び膜厚を所定の値に設定することにより、 いわゆるハイライト焼付きを低減しようとするものであ
る。
〔従来の技術〕
非晶質セレンは光1m性を示し、n型導電性の信号電極
と組み合わ゛せることにより、フォトダイオード型の光
導電性ターゲットを作成することができる。かかるター
ゲットを使用した撮像管は所謂サチコンとして広く知ら
れている。
この場合、セレンは長波長光(赤色光)に対する感度を
持たないので、セレン層の一部にテルルを添加する方法
がとられている。ただし、テルルの組成比が膜厚方向に
一定であると、充分な赤色感度をとった場合に残像や焼
付きが増加するので、通常は光入射側にだけテルルを適
当な濃度に添加することによりこれらの問題を解決して
いる。
一方、上記テルルが添加される領域やこれよりも光入射
側のセレン層には、ヒ素が添加されセレンの熱安定性が
高められるとともに、テルルの添加領域の前記光入射側
とは反対側(走査側)の領域には、セレンの中で電子を
捕獲する深い準位を形成すると考えられる物W(例えば
ヒ素)と、セレン中で電子を捕獲して負の空間電荷を形
成するための物¥t(例えばMoO3)が添加されてお
り、これによって焼付きを低減するとともに増悪効果を
高めている。
〔発明が解決しようとする問題点〕
ところで、一般に前述のセレンの中で深い電子捕獲学位
を形成する物質であるヒ素は、テルルが添加される領域
の直後に例えば一様な勾配で減少するように添加され、
またセレンの中で負の空間電荷を形成する物質であるM
ob、は、前記ヒ素の添加領域と重ねて、あるいは当該
領域の直後に一様な分布となるように添加されている。
しかしながら、ヒ素の添加領域と近接してMob。
を添加した膜構造の光導電膜を使用した撮像管では、残
像、解像度等撮像管として通常要求される特性は良好で
あり、例えば1倍光量での長時間焼付きは少ないものと
なるが、特に100倍光以上の所謂ハイライト光での焼
付き(ハイライト焼付き)が強く残ってしまう傾向にあ
る。
また、ハイライト焼付きを低減させるために前述のMo
b、を添加しないと、感光部が電界不足となるため、ネ
ガ焼付きが生じやすくなり、通常のターゲット電圧では
使用できなくなるという問題が生ずる。あるいは、Mo
O3を添加する領域の幅を狭めることによってもハイラ
イト焼付きは低減するが、やはりMoO3を除いた場合
と同様に電界不足となる。
そこで本発明は、かかる従来の実情に鑑みて提案された
ものであって、電界不足を招来することなくハイライト
焼付きを低減することを目的とし、感度が高く長時間焼
付き、ハイライト焼付きのいずれも少ない光導電膜を提
供することを目的とする。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明等は、上述の目的を達成せんものと長期に亘り鋭
意検討を重ねた結果、セレン中で電子を捕獲して負の空
間電荷を形成するための物質の添加領域が前述のハイラ
イト焼付きに大きな影響を与えているとの知見を得て本
発明を完成するに至ったもので、セレンを主体とし膜厚
方向の一部にテルルを添加して感度を増加せしめるとと
もに、前記テルルを添加した領域と隣接する領域に深い
電子捕獲準位を形成する物質を添加してなる光導電膜で
あって、上記深い電子捕獲準位を形成する物質が添加さ
れる領域から1ooo〜3000人離れた位置にセレン
の中で負の空間電荷を形成する酸化物を該酸化物が含有
される領域の膜厚が100〜300人となるように添加
したことを特徴とするものである。
ここで、セレンの中で負の空間電荷を形成する酸化物が
添加される位置は、ハイライト焼付きの関係で決められ
、深い電子捕獲準位を形成する物質が添加される領域か
ら1000Å以上離れていればハイライト焼付きは一定
となり、極めて少ないレベルに抑えられる。これに対し
て、前記距離が例えば500人よりも少ないと、非常に
強いハイライト焼付きを起こす。
一方、セレンの中で負の空間電荷を形成する酸化物が添
加される領域の幅は、電圧−電流特性の立ち上がり電圧
■、の関係から決められ、当該領域の幅を100Å以上
とすることにより前記立ち上がり電圧vkは低いレベル
で殆ど一定となる。この立ち上がり電圧■、が高いとい
うことは電界不足を意味し、酸化物が添加される領域の
幅が100人未満であると電界不足となる。
〔作用〕
セレンの中で負の空間電荷を形成する酸化物が添加され
る令頁域の位置が光入射面に近いと、光吸収によってで
きたエレクトロンがこの添加領域にトラップされ、ハイ
ライト焼付きに悪影響を与える。
これに対して、負の空間電荷を形成する酸化物が添加さ
れる領域の位置を光入射面から離す方向へずらすことに
より、前記エレクトロンのトラップが抑えられ、ハイラ
イト焼付きが低減される。
また、負の空間電荷を形成する酸化物が添加される領域
の幅(膜厚)を100Å以上とすることにより、立ち上
がり電圧■、は低いレベルに抑えられ、電界不足は解消
される。
〔実施例〕
以下、本発明を適用した光導電膜の実施例について、図
面を参照しながら説明する。
先ず、本実施例の光導電膜の説明に先立って、当該光導
電膜が使用される光導電性ターゲットの構成について節
単に説明する。
光導電性ターゲットは、第2図に示すように、ガラス基
板等からなる透光性基板(1)と、Snow等の透明導
電材料からなる透明導電膜(2)、非晶質セレンを主材
料とじテルルにより長波長感度をとった光導電膜(3)
とから構成されるもので、走査側表面には5btS3等
により形成され電子ビームのランディングを補助するビ
ームランディング補助層(4)が設けられている。
上記ビームランディング補助層(4)は、走査電子の注
入を阻止し、暗電流を少なくするとともに、その走査ビ
ームによる二次電子放出を少なくして高速度走査に転換
することを防止している。
かかる構成の光導電性ターゲットでは、入射光は透光性
基板(1)、i3明導電膜(2)を通り、大部分が光導
電膜(3)で吸収され、特にテルル添加領域で電子−正
孔対が発生する。そして、光導電膜(3)にかかる電界
によって、光励起で生じた電子は信号電極である透明導
電膜(2)側へ移動し、正孔は走査側であるビームラン
ディング補助層(4)側へ移動して信号電荷の蓄積が行
われる。このような状態でビームランディング補助層(
4)上を電子ビームで走査すると、電子ビームの電子と
前記正孔とが再結合し、この結果透明導電膜(2)側の
電子が過剰となる。そこで、この電子を出力信号として
透明導電膜(2)から取り出す。
ところで、上述の構成を有する光導電性ターゲットに使
用される光導電膜(3)は、非晶質Seを主材料とし、
TeやAs等の各種物質が添加されるものであるが、添
加物質の膜厚方向での組成比が重要である。例えば、S
e、八s、Teの組成比が膜厚方向で一定であると、充
分な赤感度をとった場合、残像や焼付きが増加するので
、光入射側にだけTeを添加している。
そこで、以下本発明実施例である光導電膜(3)の膜構
造について説明する。
光導電膜(3)の膜組成は、第1図に示すように、大き
く分けて3つの領域に分けられる。
すなわち、長波長光に対する感度を確保するためにTe
が添加される領域(図中領域ii)と、これよりも光入
射側の領域(図中領域i)及び走査側の領域(図中領域
iii )である。
感度を増すためのTeは、透明導電膜(2)との界面に
あたる膜厚ゼロの位置には全く存在せず、6B域iiに
ほぼ均一に添加されている。Teが添加される領域ii
の膜厚あるいはTeの濃度等は、通常の値に設定すれば
良(、特に制約されるものではない。
領域1及び領域iiにはAsが添加されるが、このAs
はSeO熱安定性を高めるものである。
また、領域i及び領域11には、浅い準位を形成すると
考えられる物質を添加し、強い光が入射した後の応答特
性を早くし、長時間動作させた後でも良好な応答特性が
保持できるようにしてもよい。
浅い準位を形成すると考えられる物質としては、例えば
LiF、NaFIMgFt+CaFz+BaFg+^I
Fz+CrF、、Mn)z。
COF z + P b F 21 Ce F 21 
T I F a%のフン化物が例示され、これらの少な
くとも1種を添加すればよい。本実施例では、領域i及
び領域iiにLiFを添加している。
一方、Teが添加される領域iiよりも走査側に位置す
る領域iiiは、増感補助層としての役割を果たす部分
で、領域iiの直後には深い電子捕獲準位を形成する物
質であるAsが添加される0本例では、Asは領域ii
側では略一定濃度とされるとともに、走査側では所定の
濃度勾配をもって減少するように分布されている。勿論
、Asの濃度分布はこれに限定されるものではなく、膜
厚方向に一様に分布していてもよく、種々の濃度変化を
持っていてもよい、また、Asの代わりに、Sea中で
深い電子捕獲準位を形成すると考えられる物質、ずなわ
ちBi。
Sb、Ge、Sのいずれか、またはAsとこれら元素か
らなる群の中から選ばれた複数の元素を使用してもよい
。Seの中で深い電子捕獲準位を形成する物質の/農度
としては、1〜30%の範囲内であることが好ましい。
上記領域iiには、前述の^Sの他、Sea中で負の空
間電荷を形成する酸化物が添加されるが、本実施例では
、酸化物としてMoO3を用い、MoO3の位置(すな
わち前記A3が添加される領域からこの門00゜が添加
される領域までの距離。)Lを1000〜3000人、
Mob、が添加される領域の幅(IP!厚)Wを100
〜300人としている。なお、Seの中で負の空間電荷
を形成する酸化物としては前記Mob、に限らず、In
zO3やSea、等、通常Sea中で負の空間電荷を形
成する酸化物として使用される酸化物であっても同様の
効果が発現される。
実際、本発明者等は、MoO□の濃度を750ppmと
し、常法に従って前記MoO3の位置りを1850人9
幅Wを100人とした光導電膜(実施例1とする。)、
同様にMo5sの位置りを1850人1幅Wを200人
とした先導を膜(実施例2とする。)、及び門003の
幅Wを150人としそのうちの50人が前記Asが添加
される領域と重なるようにした光導電膜(比較例とする
。)を作成し、これらを第2図に示すような光導電性タ
ーゲットに使用してその焼付き状態を調べた。測定条件
としては、タングステンフィラメントに緑色フィルター
を設け、ピーク波長550nmの光を10秒間照射し、
1分後の値を求めた。また、測定に際しては、入射光の
強さを10倍光、 50倍光。
100倍光、300倍光、1000倍光と変え、各点に
おける焼付量を求めた。結果を第3図に示す。
この第3図より、比較例では特に100倍光におけるハ
イライト焼付きが大きいのに対して、実施例1.実施例
2共にハイライト焼付きは比較例の半分以下に低減して
いることがわかる。また、実施例2の光導電膜を使用し
たものでは、実施例1の光導電膜を使用したものより立
ち上がり電圧■。
が低くなっていた。
そこで、Mob、の幅Wを200人に固定し、入射光の
強さも100倍光と一定にして、MoO3の位TtLと
焼付量の関係を副べた。結果を第4図に示す。
門003の位置りと焼付量の関係では、MoO*の位置
りが500人よりも近いとハイライト焼付きは極端に大
きくなり、toooÅ以上としたときに低いレベルで一
定となった。
さらに、Mob、の位置■7を1850人に固定し、−
〇〇。
の幅Wと立ち上がり電圧Vkの関係を調べた。結果を第
5図に示す。
第5図より、MOO3の幅Wが100Å以上であれば立
ち上がり電圧V、が殆ど一定となり、これに対してMo
b、の幅Wが100人未満であると立ち−Fがり電圧v
kが高くなり電界不足となることがわがっな。
〔発明の効果〕
以上の説明からも明らかなように、本発明においては、
Mob、やInzOs等の負の空間電荷を形成する酸化
物のドープ位置を後方にずらしているので、光吸収によ
って生ずるエレクトロンのトラップが抑えられ、ハイラ
イト焼付きを大幅に低減することができる。
また、Seの中で負の空間電荷を形成する酸化物が添加
される領域の幅(膜厚)を広げているので、立ち上がり
電圧が低い値に抑えられ、電界不足による感度の低下が
解消される。
したがって、本発明によれば、光導電性ターゲットとし
たときに長時間焼付きやハイライト焼付きがいずれも少
なく、且つ感度の高い光導電膜を提供することが可能で
ある。
【図面の簡単な説明】
第1図は光導電膜の膜厚方向での成分分布の一例を示す
特性図、第2図は光導電性ターゲットの構成例を示す模
式図、第3図は本発明を適用した実施例における焼付状
態を比較例のそれと比べて示す特性図、第4図は−00
1の位置りと焼付量の関係を示す特性図、第5図はMo
5sの幅Wと立ち一ヒがり電圧vkの関係を示す特性図
である。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 セレンを主体とし膜厚方向の一部にテルルを添加して感
    度を増加せしめるとともに、前記テルルを添加した領域
    と隣接する領域に深い電子捕獲準位を形成する物質を添
    加してなる光導電膜であって、 上記深い電子捕獲準位を形成する物質が添加される領域
    から1000〜3000Å離れた位置にセレンの中で負
    の空間電荷を形成する酸化物を該酸化物が含有される領
    域の膜厚が100〜300Åとなるように添加したこと
    を特徴とする光導電膜。
JP4229687A 1987-02-25 1987-02-25 光導電膜 Pending JPS63211545A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4229687A JPS63211545A (ja) 1987-02-25 1987-02-25 光導電膜

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4229687A JPS63211545A (ja) 1987-02-25 1987-02-25 光導電膜

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS63211545A true JPS63211545A (ja) 1988-09-02

Family

ID=12632074

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP4229687A Pending JPS63211545A (ja) 1987-02-25 1987-02-25 光導電膜

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS63211545A (ja)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0005543A1 (en) Photosensor
US4007473A (en) Target structures for use in photoconductive image pickup tubes and method of manufacturing the same
US4429325A (en) Photosensor
US4463279A (en) Doped photoconductive film comprising selenium and tellurium
US4330733A (en) Photoconductive target
GB1475723A (en) Photoconductive target of an image pickup tube and method for manufacturing the same
JPS63211545A (ja) 光導電膜
US4563611A (en) Image pick-up tube target
US4007395A (en) Target structure for use in photoconductive image pickup tubes
US4617248A (en) Doped photoconductive film including selenium and tellurium
CA1060568A (en) Photoelectric device
EP0114652A2 (en) Image pickup tube target
US4717854A (en) Image pick-up tube target
US4816715A (en) Image pick-up tube target
JPS61241985A (ja) 赤外線検知装置
US4587456A (en) Image pickup tube target
US4219831A (en) Targets for use in photoconductive image pickup tubes
KR840001698B1 (ko) 광도전성 타케트
JPS6319738A (ja) 撮像管タ−ゲツト
JP4172881B2 (ja) 撮像デバイスとその動作方法
JPS62148966A (ja) 電子写真用感光体
JPS6057655B2 (ja) 撮像管
JPS61193336A (ja) 撮像管タ−ゲツト
JPH0129297B2 (ja)
JPH05225905A (ja) 非晶質セレンを主体とする光導電膜形成方法