JPS63214620A - 流量測定装置 - Google Patents

流量測定装置

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JPS63214620A
JPS63214620A JP4745287A JP4745287A JPS63214620A JP S63214620 A JPS63214620 A JP S63214620A JP 4745287 A JP4745287 A JP 4745287A JP 4745287 A JP4745287 A JP 4745287A JP S63214620 A JPS63214620 A JP S63214620A
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JP
Japan
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pipe
temperature
fluid
pressure
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JP4745287A
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JPH063393B2 (ja
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Minoru Yabuki
実 矢吹
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Furukawa Electric Co Ltd
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Furukawa Electric Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔技術分野〕 本発明は、流体の流量測定装置に関するものである。
〔従来技術とその問題点〕
流体の流量測定装置としては従来、種々のものが実用に
供されているが、極低温流体の流量を測定できる装置と
しては、まだ信頼性の高いものがない。例えば極低温流
体の流路中に流量測定のための回転機構などを組み込む
ことは熱の流入等による熱ロスが大きく、実現性に乏し
い。また歪ゲージを利用したものもあるが、使用温度範
囲が限られ、信頼性に乏しい。
〔問題点の解決手段とその作用〕
本発明は、上記のような従来技術の問題点を解決した流
体流量測定装置を提供するもので、その構成は、内部を
流れる流体の管摩擦抵抗値が既知のバイブに、その軸線
方向に隔たった2点の流体圧力P+ 、Pzを検出する
手段と、流体の温度Tを検出する手段とを設けると共に
、上記圧力P+、Pgの平均値と温度Tとの関係から流
体の密度ρを求め、かつその密度ρと上記圧力P+ 、
Ptの差との関係から流量を求める演算手段を設けたこ
とを特徴とするものである。
この装置では、バイブ内を流れる流体の圧力と温度を測
定し、その値から流量を演算で求めるようにしているの
で、測定に伴う熱ロスの少ない、使用温度範囲の広い、
信頬性の高い流量測定を行うことが可能である。
〔実施例〕
以下、本発明の実施例を図面を参照して詳細に説明する
第1図および第2図は本発明の一実施例に係る流体流量
測定装置を示す0図において、1はその中を極低温流体
が流れるバイブ、2はその両端に設けた接続用のフラン
ジである。バイブ1の外周には輻射熱の流入を防ぐため
、放射率の高い表面を持つスーパーインシェレーシッン
3が巻かれており、さらにその外周には熱絶縁性の高い
樹脂で作られたスペーサ4を介して外管5が配置されて
いる。バイブ1と外管5の間の空間は、この装置がバイ
ブラインに組み込まれたあとで、真空引きされ、真空に
保たれる。
またバイブ1には、その軸線方向に所定の間隔lをおい
て、圧力検出用の配管6.7が取り付けられている。こ
の配管6.7は外管5の外部に導出され、図示しない圧
力計に接続されている。さらにバイブ1の外周には、第
2図に示すようにカーボン抵抗あるいは白金抵抗などの
温度測定素子8が密着配置されており、これによりパイ
プ1内を通る流体の温度を検出するようになっている。
温度測定素子8のリード線は図示してないが外部の計測
器に接続されている。
いま、配管6.7内の圧力をP+ 、Pz 、その間の
距離を!、バイブ1の内径をdとすると、次のような関
係がある。
dま ただしλ:流体の管摩擦抵抗値 ρ:原流体密度 V:流速 (昭和61年版機械工学便覧A−5流体工学WA5−7
4頁の(239)式より) 管摩擦抵抗値λは、バイブ1の形状、表面状態等により
決まる係数であるから、予め測定しておくものとする。
一方、バイブ1内を流れる流体の流量Qは次式%式% したがって流量Qは、(1)式、(2)式等によれば、
P+、Ptとρ等から計算で求めることができる。
ここで問題となるのは、温度と圧力により変化する密度
ρの存在である。この密度ρと温度T1圧力Pの関係は
予め実験により求めておくものとする。
例えばヘリウムの場合、その関係は次式で表すことがで
きる。
p w @ ””冨53LnP+3・961kl X”
l”−to、 O@4SLMP+1.110331、、
−、−、(3まただし温度Tの単位はK(ケルビン)、
圧力Pの単位はatmである。圧力Pは次式で求めるこ
とができる。つまりP+ 、Pgの平均値である。
P  =  (P + +  P z)/ 2  (a
te)  −・・−−(41(3)式の使用範囲は、 0.5at+w≦P≦10atm 15に≦T≦100OK が両立する範囲である。
圧力1.Oatm 、5.Oatm、10at+sにお
いて、それぞれ温度を15に〜1000 Kの範囲で変
化させた場合、実際に測定したヘリウムの密度ρと、温
度Tと圧力Pの値から(3)式で計算した密度ρ□と、
その誤差率(ρ/ρ□−1)は第1表ないし第3表のと
おりである。計算値ρ工^が実測値ρとよ(合致し、十
分利用できる精度であることが分かる。
したがって、バイブ1内を通るヘリウムの圧力P、、p
gと、温度Tを測定し、それらの値からマイクロコンピ
ュータ等の演算手段により、(3)式、(4)式を利用
して密度ρを求め、さらに(1)式、(2)式等を利用
して流量Qを求める演算を行えば、高精度で流量測定を
行うことができる。
第1表(気圧1.0atm) 第2表(気圧5.Oatm) 第3表(気圧10.Oatm) 〔発明の効果〕 以上説明したように本発明によれば、パイプ内を流れる
流体の圧力と温度を測定して流量を求めるようにしたの
で、装置としての熱ロスが少な(、使用温度範囲が広く
、しかも構造が簡単なため信鯨性が高く、安価な流量測
定装置を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例に係る流量測定装置の縦断面
図、第2図は第1図の■−■線断面図である。 1〜パイプ、3〜スーパーインシユレーシヨン、6・7
〜圧力検出用の配管、8〜温度測定素子。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)内部を流れる流体の管摩擦抵抗値が既知のパイプ
    に、その軸線方向に隔たった2点の流体圧力P_1、P
    _2を検出する手段と、流体の温度Tを検出する手段と
    を設けると共に、上記圧力P_1、P_2の平均値と温
    度Tとの関係から流体の密度ρを求め、かつその密度ρ
    と上記圧力P_1、P_2の差との関係から流量を求め
    る演算手段を設けたことを特徴とする流量測定装置。
  2. (2)特許請求の範囲第1項記載の装置であって、被測
    定流体はヘリウムであり、流体の密度ρは次式から求め
    るようにしたもの。 ρ=e(1.0233LnP+3.9046)×T−(
    0.0045LnP+1.0033)ただしTは絶対温
    度(K) P=(P_1+P_2)/2(atm)
JP4745287A 1987-03-04 1987-03-04 流量測定装置 Expired - Lifetime JPH063393B2 (ja)

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JPS63214620A true JPS63214620A (ja) 1988-09-07
JPH063393B2 JPH063393B2 (ja) 1994-01-12

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2022124375A1 (ja) * 2020-12-09 2022-06-16 京セラ株式会社 気泡率センサおよびこれを用いた流量計ならびに極低温液体移送管
WO2022124377A1 (ja) * 2020-12-09 2022-06-16 京セラ株式会社 気泡率センサ、これを用いた流量計および極低温液体移送管

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WO2022124375A1 (ja) * 2020-12-09 2022-06-16 京セラ株式会社 気泡率センサおよびこれを用いた流量計ならびに極低温液体移送管
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US12625103B2 (en) 2020-12-09 2026-05-12 Kyocera Corporation Void fraction sensor, flowmeter using the same, and cryogenic liquid transfer pipe

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