JPS63215088A - 半導体レ−ザアレイ装置 - Google Patents
半導体レ−ザアレイ装置Info
- Publication number
- JPS63215088A JPS63215088A JP62049213A JP4921387A JPS63215088A JP S63215088 A JPS63215088 A JP S63215088A JP 62049213 A JP62049213 A JP 62049213A JP 4921387 A JP4921387 A JP 4921387A JP S63215088 A JPS63215088 A JP S63215088A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- layer
- gaas
- waveguides
- grooves
- groove
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/40—Arrangement of two or more semiconductor lasers, not provided for in groups H01S5/02 - H01S5/30
- H01S5/4025—Array arrangements, e.g. constituted by discrete laser diodes or laser bar
- H01S5/4031—Edge-emitting structures
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Semiconductor Lasers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、光通信や光情報処理装置等のレーザ光源に用
いられる半導体レーザアレイ装置に関するものである。
いられる半導体レーザアレイ装置に関するものである。
従来の技術
半導体レーザは、空間的コヒーレンスに優れた光源であ
るため、そのレーザ光の波長(〜0.8μm )程度の
スポット径にまで集光できる。そのために、超高密度の
光デイスクメモリや、高品位のレーザビームプリンタな
どの光源として用いられている。近年、ディスクへの記
録やプリンタの高速化のために、レーザ光出力の高出力
への要求が益々強くなってきた。半導体レーザを高出力
駆動する時の問題点は、光導波路内でのレーザビームの
安定性が悪くなることと、レーザ光の共振器端面でのス
ポット径が小さい(約10μmx0.4μm )ため、
端面での光密度が非常に高くなることである。端面での
光密度が2x1o’w/d以上になると、GaAlAs
系レーザでは、結晶が溶融し、素子が破壊されるに至る
。上記のスポット径を考えると、この時の光出力は8o
mWとなる。
るため、そのレーザ光の波長(〜0.8μm )程度の
スポット径にまで集光できる。そのために、超高密度の
光デイスクメモリや、高品位のレーザビームプリンタな
どの光源として用いられている。近年、ディスクへの記
録やプリンタの高速化のために、レーザ光出力の高出力
への要求が益々強くなってきた。半導体レーザを高出力
駆動する時の問題点は、光導波路内でのレーザビームの
安定性が悪くなることと、レーザ光の共振器端面でのス
ポット径が小さい(約10μmx0.4μm )ため、
端面での光密度が非常に高くなることである。端面での
光密度が2x1o’w/d以上になると、GaAlAs
系レーザでは、結晶が溶融し、素子が破壊されるに至る
。上記のスポット径を考えると、この時の光出力は8o
mWとなる。
この程度の光出力が1個の導波路からなる半導体レーザ
の光出力の限界である。そこで、第4図に示すように、
導波路を複数本並置し、導波路間を光学的に結合させ、
各導波路(以下ストライプと呼ぶ)の発振状態(位相)
に相関を持たせた、マルチストライプのレーザアレイが
考えられる。
の光出力の限界である。そこで、第4図に示すように、
導波路を複数本並置し、導波路間を光学的に結合させ、
各導波路(以下ストライプと呼ぶ)の発振状態(位相)
に相関を持たせた、マルチストライプのレーザアレイが
考えられる。
発明が解決しようとする問題点
レーザアレイの放射パターン(FFP)は、各ストライ
プ内での光の位相によって敏感に変化する。第5図aに
各ストライプ内の電界が同位相の場合の、導波路内の光
分布及びFFPを示す。この場合FFPは単峰性で幅の
狭い(<5°)ビームとなる。しかし隣り合うストライ
プの間の部分で光強度がQとならず、発振しきい値が高
い。第5図すに示す場合は、各ストライプで電界の位相
が180°ずれており、この場合は、ストライプ間の部
分で光強度が0となるため、光損失が少なくなってしき
い値がaの場合よりも低くなる。従って第4図に示すア
レイでは、18o0ずれた位相のモード(反対称モード
)で発振する。ところがこの場合、FFPは双峰性とな
り、単一スポットに絞り込むことができず、光ディスク
等の光源に用いることができない。
プ内での光の位相によって敏感に変化する。第5図aに
各ストライプ内の電界が同位相の場合の、導波路内の光
分布及びFFPを示す。この場合FFPは単峰性で幅の
狭い(<5°)ビームとなる。しかし隣り合うストライ
プの間の部分で光強度がQとならず、発振しきい値が高
い。第5図すに示す場合は、各ストライプで電界の位相
が180°ずれており、この場合は、ストライプ間の部
分で光強度が0となるため、光損失が少なくなってしき
い値がaの場合よりも低くなる。従って第4図に示すア
レイでは、18o0ずれた位相のモード(反対称モード
)で発振する。ところがこの場合、FFPは双峰性とな
り、単一スポットに絞り込むことができず、光ディスク
等の光源に用いることができない。
問題点を解決するための手段
一導電型のGaAs基板上に、前記一導電型とは反対導
電型の第1のG&人S層が形成され、この第1のGaA
g層に前記基板に達する深さの2本の平行なストライプ
溝が形成され、前記第1のCraAs層の上にダブルヘ
テロp−n接合がありさらにその上方に前記反対導電型
の第2のGaAs層があり、前記第2のGaAs層には
前記ストライプ溝の中間の上方に、前記第2のGa18
層の表面からその直下の層に達する深さで、ストライプ
溝と平行な溝を設けて構成さ几ている。
電型の第1のG&人S層が形成され、この第1のGaA
g層に前記基板に達する深さの2本の平行なストライプ
溝が形成され、前記第1のCraAs層の上にダブルヘ
テロp−n接合がありさらにその上方に前記反対導電型
の第2のGaAs層があり、前記第2のGaAs層には
前記ストライプ溝の中間の上方に、前記第2のGa18
層の表面からその直下の層に達する深さで、ストライプ
溝と平行な溝を設けて構成さ几ている。
作用
溝によって各ストライプに流す電流を別々に制御するこ
とができる。利得は電流に比例するので、片側のストラ
イプに流す電流を他の側より少なくすることにより、隣
り合うストライプの利得を非対称にすることができる。
とができる。利得は電流に比例するので、片側のストラ
イプに流す電流を他の側より少なくすることにより、隣
り合うストライプの利得を非対称にすることができる。
その結果位相の揃った対称モードの方がしきい値が低く
なり対称モードで発振させることができる。
なり対称モードで発振させることができる。
実施例
第1図に本発明の実施例による半導体レーザアレイ装置
を示す。半導体レーザの構造は、p−GaAs基板1上
に、電流狭窄層(n−GaAs) 2 f介して、2本
のストライプ溝1oがあり、この溝より活性層(GaA
、5As) 4に電流が注入さnレーザ発振が起こる。
を示す。半導体レーザの構造は、p−GaAs基板1上
に、電流狭窄層(n−GaAs) 2 f介して、2本
のストライプ溝1oがあり、この溝より活性層(GaA
、5As) 4に電流が注入さnレーザ発振が起こる。
ストライプ間には、コンタクト層(11−GaAs)6
からn−GaAiAS層6に達する溝が設けてあり、こ
の溝によってムuG6Ni電極8を分離しである。
からn−GaAiAS層6に達する溝が設けてあり、こ
の溝によってムuG6Ni電極8を分離しである。
第2図に本発明の半導体レーザアレイ全動作させている
ところを示す。各ストライプに流す電流(I、とI、
)t−別々の電源で制御する。第3図に制御電流工1
”2に対する遠視野像の強度分布(FFP )’i示す
。aは片側のストライプのみを発振させた場合で、半値
幅が約90の放射パターン金示している。またCは、両
方のストライプに同じ値の電流を流した場合で、反対称
モードで発振するためにFFPは双峰性となる。ところ
が、I、kI、 より減らして、片側のストライプの
利得を減少させた場合すでは、利得分布が非対称になる
ため、対称モードで発振し、その結果、FFPは約1°
の半値幅をもつビームとなる。
ところを示す。各ストライプに流す電流(I、とI、
)t−別々の電源で制御する。第3図に制御電流工1
”2に対する遠視野像の強度分布(FFP )’i示す
。aは片側のストライプのみを発振させた場合で、半値
幅が約90の放射パターン金示している。またCは、両
方のストライプに同じ値の電流を流した場合で、反対称
モードで発振するためにFFPは双峰性となる。ところ
が、I、kI、 より減らして、片側のストライプの
利得を減少させた場合すでは、利得分布が非対称になる
ため、対称モードで発振し、その結果、FFPは約1°
の半値幅をもつビームとなる。
発明の効果
本発明によれば、単一スポットに絞れる半導体レーザア
レイが得らn、その実用的効果は犬なるものがある。
レイが得らn、その実用的効果は犬なるものがある。
第1図は本発明の一実施例の半導体レーザアレイ装置の
構造図、第2図はその動作のための電流印加を示す図、
第3図は接合面に水平方向の遠視野像の強度分布を示す
図、第4図は従来の半導体レーザアレイ装置の構造図、
第6図は導波路内の電界分布と遠視野像の強度分布を説
明するための図である。 1・・・・・・p型GaAs基板、2・・・・・・n型
GaAg電流狭窄層、3・・・・・・p型GaAlAs
クラッド層、4・・・・・・GaAlAg活性層、6・
・・・・・n型(raA4Asクラッド層、6・・・・
・・n型GaAsコンタクト層、7・・・・・・510
2絶縁膜、8・・・・・・ムuG6Ni電極、9・・・
・・・ムuZn電極、10・・・・・・ストライプ溝、
11・・・・・・分離溝。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名f−
f−Gごハ、籾 斗−GαハIAs眉 1−−−n−Gaハ1As4 ’F−−3i02 8−−−AuQξN;、堝1モ 第 2 図
構造図、第2図はその動作のための電流印加を示す図、
第3図は接合面に水平方向の遠視野像の強度分布を示す
図、第4図は従来の半導体レーザアレイ装置の構造図、
第6図は導波路内の電界分布と遠視野像の強度分布を説
明するための図である。 1・・・・・・p型GaAs基板、2・・・・・・n型
GaAg電流狭窄層、3・・・・・・p型GaAlAs
クラッド層、4・・・・・・GaAlAg活性層、6・
・・・・・n型(raA4Asクラッド層、6・・・・
・・n型GaAsコンタクト層、7・・・・・・510
2絶縁膜、8・・・・・・ムuG6Ni電極、9・・・
・・・ムuZn電極、10・・・・・・ストライプ溝、
11・・・・・・分離溝。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名f−
f−Gごハ、籾 斗−GαハIAs眉 1−−−n−Gaハ1As4 ’F−−3i02 8−−−AuQξN;、堝1モ 第 2 図
Claims (1)
- 一導電型のGaAs基板上に、前記一導電型とは反対導
電型の第1のGaAs層があり、前記第1のGaAs層
に前記基板に達する深さの2本の平行なストライプ溝が
形成され、前記第1のGaAs層の上にダブルヘテロp
−n接合があり、さらにその上方に前記反対導電型の第
2のGaAs層があり、前記第2のGaAs層には、前
記2本のストライプ溝の中間に対応する位置に、前記第
2のGaAs層の直下の層にまで達する深さの溝が形成
されていることを特徴とする半導体レーザアレイ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62049213A JPS63215088A (ja) | 1987-03-04 | 1987-03-04 | 半導体レ−ザアレイ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62049213A JPS63215088A (ja) | 1987-03-04 | 1987-03-04 | 半導体レ−ザアレイ装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63215088A true JPS63215088A (ja) | 1988-09-07 |
Family
ID=12824694
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62049213A Pending JPS63215088A (ja) | 1987-03-04 | 1987-03-04 | 半導体レ−ザアレイ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63215088A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0556863A3 (ja) * | 1992-02-20 | 1994-01-19 | Sumitomo Electric Industries | |
| US6055256A (en) * | 1996-04-30 | 2000-04-25 | Hitachi, Ltd. | Laser beam printer and semiconductor laser device suitable for a light source thereof |
-
1987
- 1987-03-04 JP JP62049213A patent/JPS63215088A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0556863A3 (ja) * | 1992-02-20 | 1994-01-19 | Sumitomo Electric Industries | |
| US5359619A (en) * | 1992-02-20 | 1994-10-25 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Multi-beam semiconductor laser and method for producing the same |
| US6055256A (en) * | 1996-04-30 | 2000-04-25 | Hitachi, Ltd. | Laser beam printer and semiconductor laser device suitable for a light source thereof |
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