JPS6321979B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は、円盤状記録担体の光学的追跡装置
に係り、特にそのトラツク追跡のための制御装置
に関するものである。

従来、この種の装置として第１図に示すものが
あつた。図によつてその動作を構成とともに説明
する。光源１を出たレーザ光２はビームスプリツ
タ３、λ／４板４を通りトラツキングミラー５に
より直角に曲げられる。直角に曲げられたレーザ
光２は集光レンズ６により円盤状記録担体（デイ
スク）７上のトラツク８に焦点が結ばれる。この
トラツク８より反射されたレーザ光２は再び焦点
レンズ６を通り、トラツキングミラー５により反
射され、λ／４板４を経てビームスプリツタ３に
入射される。レーザ光２は、今度はビームスプリ
ツタ３により直角に曲げられ、２分割の光検知器
９、および光検知器１０に入射する。両光検知器
９，１０の出力はアンプ１１により加算され、信
号出力１２として取り出される。ここで、トラツ
ク８上に照射されたレーザ光２の位置のトラツク
８中心からのずれ量と、光検知器９，１０上の光
強度分布をあらわすと第２図Ａ，Ｂの実線で示す
ようになる。第２図Ａはトラツク８中心にレーザ
光２が照射された場合を示し、第２図Ｂはレーザ
光２の照射位置がトラツク８中心より一方へずれ
た場合を示している。もちろんレーザ光２の照射
位置が反対方向にずれた場合には逆の特性を示
す。

このようなことから光検知器９および光検知器
１０の出力の差を増幅する差動アンプ１３の出力
は第３図の実線で示すようになり、トラツク８の
中心とレーザ光２照射位置とのずれ量に比例した
量となる。この差動アンプ１３の出力をアクチユ
エータ駆動回路１４を介してトラツキングアクチ
ユエータ１５に加える。トラツキングアクチユエ
ータ１５は入力に応じてトラツキングミラー５を
回動するので、トラツク８中心とレーザ光２照射
位置とのずれを補正することができる。

ところが上記の従来装置には次のような欠点が
あつた。すなわち、トラツキングミラー５は第１
図の実線矢印のように動くので、その傾きにより
レーザ光２の光検知器９，１０上での位置が平行
移動してしまい、第２図上で点線で示したような
特性となつてしまうのである。この現象が生ずる
と、トラツク８中心とレーザ光２照射位置とのず
れ量と差動アンプ１３の出力の関係を示す特性が
第３図の点線で示すものとなり、レーザ光２がト
ラツク８中心に照射されていても差動アンプ１３
の出力は零とならず、誤つた出力をトラツキング
アクチユエータ１５に与えることとなりトラツク
ずれを生ずる。

この発明は上記のような従来のものの欠点を除
去するためになされたもので、２つの光検知器の
出力を各々高周波成分と低周波成分とに分け、
各々低周波成分の電圧レベルを高周波成分の振幅
電圧レベルで除した後差を取ることにより、トラ
ツキングミラーの傾きによる影響をなくすことの
できる光学式追跡装置を提供することを目的とし
ている。以下、この発明について説明する。

第４図はこの発明の一実施例を示すもので、第
１図と同一のものには同一番号を付してあり、第
１図の符号１〜８の部分は省略してある。

さて、光検知器９の出力は低周波アンプ１６に
より低周波成分のみが増幅される。低周波成分と
は、例えば10KHz以下のものである。一方、光
検知器９の出力は高周波アンプ１７にも入力され
る。高周波成分とは、例えば数十KHz以上のも
のである。その高周波成分のみが増幅され、さら
に振幅検波器１８によりその振幅が検波され電圧
値に変換される。除算器１９においては、低周波
アンプ１６の出力を振幅検波器１８の出力で除す
演算を行う。光検知器１０、低周波アンプ２０、
高周波アンプ２１、振幅検波器２２、除算器２３
においてもその動作はまつたく同様である。除算
器１９と除算器２３の出力は差動アンプ１３によ
り減算が行われる。

ここで、差動アンプ１３の出力がレーザ光２の
照射位置のトラツク中心ずれをあらわすことを説
明する。デイスク７（第１図）上でトラツク８は
第６図に示すように長円形のくぼみあるいは突起
であるピツト２４の集りであり、レーザ光２の集
光されたスポツト２５がその上を移動する。この
時に光検知器９および光検知器１０で検知される
光強度をあらわしたものを第５図の曲線α，βに
示す。光検知器９に入射する入射光量の最大レベ
ルをＡ、最小レベルをＢとし、光検知器１０に入
射する入射光量の最小レベルをＣとする。さらに
トラツキングミラー５の傾き角αによる効果をＩ
（α）とすると、 低周波アンプ１６の出力はＡ＋Ｂ／２・Ｉ（α） 振幅検波器１８の出力は（Ａ−Ｂ）・Ｉ（α） 低周波アンプ２０の出力はＡ＋Ｃ／２・Ｉ（−α） 振幅検波器２２の出力は（Ａ−Ｃ）・Ｉ（−α） と各々あらわせるので、 除算器１９の出力は（Ａ＋Ｂ）／２（Ａ−Ｂ） 除算器２３の出力は（Ａ＋Ｃ）／２（Ａ−Ｃ） となる。従つて差動アンプ１３の出力は、 Ａ（Ｂ−Ｃ）／（Ａ−Ｂ）（Ａ−Ｃ）……………(1) となる。ここでトラツク８中心と、スポツト２５
中心とのずれ量をｘ，ａおよびｂを定数とする
と、Ｂ，Ｃはほぼ次のようにあらわせる。

Ｂ＝ax＋ｂ Ｃ＝−ax＋ｂ 従つて第(1)式は、 2a・Ax／（Ａ−ｂ＋ax）（Ａ−ｂ−ax） となる。この関数はｘの微小な範囲では単調増加
関数あるいは単調減少関数である。しかもｘ＝０
のところでは零となり、トラツキングミラー５の
傾きの影響を受けていない。

このようにして、トラツキングミラー５の傾き
による誤差のないレーザ光２の照射位置のトラツ
ク中心ずれ情報が差動アンプ１３の出力より得ら
れ、以下従来例と同様にしてアクチユエータ駆動
回路１４、トラツキングアクチユエータ１５を介
してトラツキングミラー５が回動せられ、レーザ
光２の照射位置のトラツク中心ずれが補正され
る。

なお、この発明の説明にはデイスク７よりレー
ザ光２が反射されるタイプのものを示したが、デ
イスク７を透過して再生するタイプのものにも適
用できることはあきらかである。

以上のようにこの発明の光学式追跡装置を用い
ればトラツキングミラーの傾きの影響を除き、ト
ラツクずれの生じないトラツク追跡が行える利点
がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は従来の光学式追跡装置を説明するため
の構成略図、第２図Ａ，Ｂはトラツク検知の原理
および従来例の問題点を説明するための図、第３
図はトラツク中心とレーザ光照射位置とのずれ量
と差動アンプの出力との関係を示すための図、第
４図はこの発明の一実施例を示すブロツク図、第
５図はこの発明の原理を説明するための光強度の
波形図、第６図は同じくピツトの説明図である。 図中、１は光源、２はレーザ光、３はビームス
プリツタ、４はλ／４板、５はトラツキングミラ
ー、６は集光レンズ、７はデイスク、８はトラツ
ク、９，１０は光検知器、１１はアンプ、１２は
信号出力、１３は差動アンプ、１４はアクチユエ
ータ駆動回路、１５はトラツキングアクチユエー
タ、１６は低周波アンプ、１７は高周波アンプ、
１８は振幅検波器、１９は除算器、２０は低周波
アンプ、２１は高周波アンプ、２２は振幅検波
器、２３は除算器、２４はピツト、２５はスポツ
トである。なお、図中の同一符号は同一または相
当部分を示す。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １ 円盤状記録担体に傾斜角の調整可能なトラツ
   キングミラーを介して光を照射し、その反射光を
   第１と第２の光検知器に入射せしめ、前記両光検
   知器の出力の差を差動アンプでとり、この差動ア
   ンプの出力が零になるようにトラツキングアクチ
   ユエータを駆動して前記トラツキングミラーの調
   整を行う光学式追跡装置において、前記第１の光
   検知器の出力のうち低周波成分の電圧レベルを同
   じく高周波成分の振幅電圧レベルで除しその出力
   を前記差動アンプの一方の入力に加える第１の除
   算器と、前記第２の光検知器の出力のうち低周波
   成分の電圧レベルを同じく高周波成分の振幅電圧
   レベルで除しその出力を前記差動アンプの他方の
   入力に加える第２の除算器とを具備せしめたこと
   を特徴とする光学式追跡装置。