JPS63228432A - 2ビ−ム式光ピツクアツプ - Google Patents
2ビ−ム式光ピツクアツプInfo
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- JPS63228432A JPS63228432A JP62061112A JP6111287A JPS63228432A JP S63228432 A JPS63228432 A JP S63228432A JP 62061112 A JP62061112 A JP 62061112A JP 6111287 A JP6111287 A JP 6111287A JP S63228432 A JPS63228432 A JP S63228432A
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- grating lens
- light
- optical
- grating
- lens
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概 要〕
入射レーザビームを軸対称に交叉させる第1のグレーテ
ィングレンズとこの交叉ビームを光デイスク上に収束さ
せる第2のグレーティングレンズとの2枚のグレーティ
ングレンズを組合せることにより入射レーザビームの波
長変動の影響を受けに(く収差の少ない良好なビームス
ポットとずれのない安定した合焦性能を実現し得るよう
にした新規に開発されたグレーティングレンズ系におい
て、第1のグレーティングレンズを光軸を含む面により
空間周波数の異なる複数個の領域に分割し、2つのレー
ザ光は第1グレーティングレンズの夫々の第1領域を通
ってグレーティングレンズ系に入射せしめられ、かつ光
ディスクから反射された2つの信号光はグレーティング
レンズ系内を軸対称的に逆行し第1グレーティングレン
ズの夫々の第2領域を通ってグレーティングレンズ系か
ら出射せしめられる。その結果、信号光は第2グレーテ
ィングレンズにより往路と異なる位置に合焦せしめられ
る。従ってこの信号光を例えばハーフミラ−により2つ
のビームに分離し、その一方をフォーカシング用光検出
器に導き、他方をトラッキング用光検出器に導くことに
より、光源レーザの波長変化に伴う焦点位置ずれ並びに
焦点ビーム径の劣化を少なくした検出精度並びに信頼性
の高い光デイスク用ピックアップ装置が実現出来る。
ィングレンズとこの交叉ビームを光デイスク上に収束さ
せる第2のグレーティングレンズとの2枚のグレーティ
ングレンズを組合せることにより入射レーザビームの波
長変動の影響を受けに(く収差の少ない良好なビームス
ポットとずれのない安定した合焦性能を実現し得るよう
にした新規に開発されたグレーティングレンズ系におい
て、第1のグレーティングレンズを光軸を含む面により
空間周波数の異なる複数個の領域に分割し、2つのレー
ザ光は第1グレーティングレンズの夫々の第1領域を通
ってグレーティングレンズ系に入射せしめられ、かつ光
ディスクから反射された2つの信号光はグレーティング
レンズ系内を軸対称的に逆行し第1グレーティングレン
ズの夫々の第2領域を通ってグレーティングレンズ系か
ら出射せしめられる。その結果、信号光は第2グレーテ
ィングレンズにより往路と異なる位置に合焦せしめられ
る。従ってこの信号光を例えばハーフミラ−により2つ
のビームに分離し、その一方をフォーカシング用光検出
器に導き、他方をトラッキング用光検出器に導くことに
より、光源レーザの波長変化に伴う焦点位置ずれ並びに
焦点ビーム径の劣化を少なくした検出精度並びに信頼性
の高い光デイスク用ピックアップ装置が実現出来る。
本発明は光ピックアップ、特にグレーティングレンズ系
を用いた光磁気型および追記型光デイスク用ピックアッ
プ装置に関する。
を用いた光磁気型および追記型光デイスク用ピックアッ
プ装置に関する。
光ディスクのユーザー側で情報の書込みのできる追記型
・光デイスク装置において、情報をピットの形でディス
クに記録したあと、情報が正しく書込まれたか否かを確
認するために読み出しを行なう必要があるが、ディスク
が一周回るのを待たなくてもすむように読み出し用のビ
ームを書き込み用のビームスポットのそばに配する2ビ
ームの光ヘッドが研究されている。
・光デイスク装置において、情報をピットの形でディス
クに記録したあと、情報が正しく書込まれたか否かを確
認するために読み出しを行なう必要があるが、ディスク
が一周回るのを待たなくてもすむように読み出し用のビ
ームを書き込み用のビームスポットのそばに配する2ビ
ームの光ヘッドが研究されている。
一方、光デイスク装置の小型・軽量化、及びアクセス時
間の短縮といった要求から光ヘッドの大幅な小型・軽量
化・さらに低価格化等が望まれている。
間の短縮といった要求から光ヘッドの大幅な小型・軽量
化・さらに低価格化等が望まれている。
かかる要望を充足するべく、近年、ホログラム素子を用
いた光ピックアップの開発が進められており、本瀬出願
人も先に特願昭61−43702号において、ホログラ
ムレンズを用いた新規な2ビーム方式光ピックアップを
提案した。
いた光ピックアップの開発が進められており、本瀬出願
人も先に特願昭61−43702号において、ホログラ
ムレンズを用いた新規な2ビーム方式光ピックアップを
提案した。
この2ビーム方式光ピックアップは第13図に示す如く
、2つの半導体レーザ101 、102からの各レーザ
光110 、111を各々収差を補正して光デイスク媒
体107上のトラックの溝方向に所定距離(d)だけ離
れた2つの集束位IPt、Pzに各々集束させる2つの
ホログラムレンズ103 、104を有し、さらに前記
集束位zp1.p!からの各反射光112 、113を
互いに逆の前記ホログラムレンズ104 、103で受
光し、各検知器105 、106へ導く構成を有する。
、2つの半導体レーザ101 、102からの各レーザ
光110 、111を各々収差を補正して光デイスク媒
体107上のトラックの溝方向に所定距離(d)だけ離
れた2つの集束位IPt、Pzに各々集束させる2つの
ホログラムレンズ103 、104を有し、さらに前記
集束位zp1.p!からの各反射光112 、113を
互いに逆の前記ホログラムレンズ104 、103で受
光し、各検知器105 、106へ導く構成を有する。
半導体レーザ101からのレーザ光110は、ホログラ
ムレンズ103によって光デイスク媒体面107上の集
束位置P1に集光される。
ムレンズ103によって光デイスク媒体面107上の集
束位置P1に集光される。
そして、そこからの反射光112は、もう一方のホログ
ラムレンズ104によって受光され検知器105へ導か
れる。逆に半導体レーザ102からのレーザ光111は
ホログラムレンズ104で集束位置P!に集束され、そ
の反射光113は、逆のホログラムレンズ103によっ
て受光され検知器106へ導かれる。
ラムレンズ104によって受光され検知器105へ導か
れる。逆に半導体レーザ102からのレーザ光111は
ホログラムレンズ104で集束位置P!に集束され、そ
の反射光113は、逆のホログラムレンズ103によっ
て受光され検知器106へ導かれる。
この時、各レーザ光110 、111の波長が異なるた
め、各反射光112 、113が各半導体レーザ102
゜101の位置にもどることはなく、隣接した各検知器
105 、106へ導かれる。
め、各反射光112 、113が各半導体レーザ102
゜101の位置にもどることはなく、隣接した各検知器
105 、106へ導かれる。
斯くして、各光路は空間時に分離されるため、従来の如
き偏光ビームスプリッタやλ/4板を必要とせず、光ピ
ックアップの大幅な軽量、小型化が可能となる。
き偏光ビームスプリッタやλ/4板を必要とせず、光ピ
ックアップの大幅な軽量、小型化が可能となる。
しかるにホログラムは、波長の変化に伴い、回折角が変
化し、従ってレンズ作用を有するホログラム(ホログラ
ムレンズ)は光源の波長がλ。からλ(λ。くλ)に変
化するとインライン型ホログラムレンズの場合は第14
図に示す如く、焦点距離(光軸方向の位置)が変化する
と供に収差が発生し、また、オフアクシス型ホログラム
レンズの場合には第15図に示す如く焦点距離の変化、
収差の発生に加え焦点位置が光軸から外れてしまう。
化し、従ってレンズ作用を有するホログラム(ホログラ
ムレンズ)は光源の波長がλ。からλ(λ。くλ)に変
化するとインライン型ホログラムレンズの場合は第14
図に示す如く、焦点距離(光軸方向の位置)が変化する
と供に収差が発生し、また、オフアクシス型ホログラム
レンズの場合には第15図に示す如く焦点距離の変化、
収差の発生に加え焦点位置が光軸から外れてしまう。
光ピックアップに用いる半導体レーザは温度変化や駆動
法の変化により、あるいは個体差による中心発振波長の
ばらつき等により周辺温度(0〜50℃)内において±
12nm程度もしくはそれ以上の発振波長の変化が伴う
。即ち、レーザの発振波長は実質上絶えず変化している
と考えることができ、このような半導体レーザの発振波
長の変化が生じると、ホログラムを用いた光ピックアッ
プでは前述の問題が発生し、ビームスポットが劣化する
。そのため光信号の情報の読み出し、および書き込みが
困難となる。第15図に示すオフアクシス型ホログラム
レンズの場合は半導体レーザの波長変化の影響を特に受
は易い。
法の変化により、あるいは個体差による中心発振波長の
ばらつき等により周辺温度(0〜50℃)内において±
12nm程度もしくはそれ以上の発振波長の変化が伴う
。即ち、レーザの発振波長は実質上絶えず変化している
と考えることができ、このような半導体レーザの発振波
長の変化が生じると、ホログラムを用いた光ピックアッ
プでは前述の問題が発生し、ビームスポットが劣化する
。そのため光信号の情報の読み出し、および書き込みが
困難となる。第15図に示すオフアクシス型ホログラム
レンズの場合は半導体レーザの波長変化の影響を特に受
は易い。
ところで、本願出願人は先に、特願昭61−22087
0号明細書において、上述の如き入射光の波長変動があ
ってもその影響を受けずに常に収差のない良好なビーム
スポットを得ることができ且つ正確な安定した合焦性能
を有するグレーティングレンズ光学系を提案した。
0号明細書において、上述の如き入射光の波長変動があ
ってもその影響を受けずに常に収差のない良好なビーム
スポットを得ることができ且つ正確な安定した合焦性能
を有するグレーティングレンズ光学系を提案した。
本発明はこのグレーティングレンズ光学系を利用して上
記の問題点を解消し、軽量、小型、低度という要求は充
足しつつ、尚且つ波長変動の影響を受けにくい高精度に
して借問性の高い光ピンクアップ装置を堤供することを
目的とする。
記の問題点を解消し、軽量、小型、低度という要求は充
足しつつ、尚且つ波長変動の影響を受けにくい高精度に
して借問性の高い光ピンクアップ装置を堤供することを
目的とする。
L記の目的を達成するために、本発明によれば、2つの
半導体レーザからの互いに波長の異なる2つのレーザ光
を各々光信号記録媒体上の異なる位置に集光し、各反射
光を受光することにより情報の記録及び読み出しを行な
う2ビーム方式の光ピックアップにおいて、 前記2つの半導体レーザからの各レーザ光を軸対称に交
叉させる第1のグレーティングレンズと、該第1グレー
ティングレンズを透過した回折光を光信号記録媒体上の
一点に合焦させる第2のグレーティングレンズとが光軸
上に配置され、上記第1グレーティングレンズは光軸を
含む面により空間周波数の異なる少くとも2つの領域に
分割され、2つのレーザ光は第1グレーティングレンズ
の夫々の第1の領域を通り第2グレーティングレンズに
より光信号記録媒体上に収束せしめられ、かつ光信号記
録媒体により反射された2つの信号光は第2グレーティ
ングレンズにより軸対称に交叉されて第1グレーティン
グレンズの夫々の第2領域を通り光検出器に導かれるこ
とを構成上の特徴とする。
半導体レーザからの互いに波長の異なる2つのレーザ光
を各々光信号記録媒体上の異なる位置に集光し、各反射
光を受光することにより情報の記録及び読み出しを行な
う2ビーム方式の光ピックアップにおいて、 前記2つの半導体レーザからの各レーザ光を軸対称に交
叉させる第1のグレーティングレンズと、該第1グレー
ティングレンズを透過した回折光を光信号記録媒体上の
一点に合焦させる第2のグレーティングレンズとが光軸
上に配置され、上記第1グレーティングレンズは光軸を
含む面により空間周波数の異なる少くとも2つの領域に
分割され、2つのレーザ光は第1グレーティングレンズ
の夫々の第1の領域を通り第2グレーティングレンズに
より光信号記録媒体上に収束せしめられ、かつ光信号記
録媒体により反射された2つの信号光は第2グレーティ
ングレンズにより軸対称に交叉されて第1グレーティン
グレンズの夫々の第2領域を通り光検出器に導かれるこ
とを構成上の特徴とする。
半導体レーザの発散光は第1のグレーティングレンズに
入射し、第1のグレーティングレンズによって光軸対称
に交差するように回折し第2のグレーティングレンズに
入射した後、第2のグレーティングレンズによって光デ
イスク上に無収差で集光する。このグレーティングレン
ズ系は後述の如く半導体レーザの発振波長が中心よりす
くなくとも±12nm変化しても、光デイスク上に無収
差で集光する。
入射し、第1のグレーティングレンズによって光軸対称
に交差するように回折し第2のグレーティングレンズに
入射した後、第2のグレーティングレンズによって光デ
イスク上に無収差で集光する。このグレーティングレン
ズ系は後述の如く半導体レーザの発振波長が中心よりす
くなくとも±12nm変化しても、光デイスク上に無収
差で集光する。
このグレーティングレンズ系において、半導体レーザか
らの発散光は第1のグレーティングレンズの第1の領域
に入射し、第1のグレーティングレンズの第1の領域の
空間周波数に従って、軸対称の方向に回折し第2のグレ
ーティングレンズに入射し、その空間周波数に従って回
折し、光デイスク上に集光する。この時の入射光軸は光
ディスクの平面に対し傾斜している。光ディスクからの
反射信号光は、入射光と別経路(軸対称位゛y1)をた
どり第2のグレーティングレンズに入射し、その空間周
波数に従って軸対称の方向に回折し、第1のグレーティ
ングレンズの第2の領域に入射し、その空間周波数に従
って回折し、光検知器に入射する。この時第1のグレー
ティングレンズの第1、第2N域の空間周波数分布が等
しいと信号光が半導体レーザに戻り信号検知が行なえく
なるが第2領域の空間周波数分布は第1領域のそれと異
っているため光検知器に導かれる。
らの発散光は第1のグレーティングレンズの第1の領域
に入射し、第1のグレーティングレンズの第1の領域の
空間周波数に従って、軸対称の方向に回折し第2のグレ
ーティングレンズに入射し、その空間周波数に従って回
折し、光デイスク上に集光する。この時の入射光軸は光
ディスクの平面に対し傾斜している。光ディスクからの
反射信号光は、入射光と別経路(軸対称位゛y1)をた
どり第2のグレーティングレンズに入射し、その空間周
波数に従って軸対称の方向に回折し、第1のグレーティ
ングレンズの第2の領域に入射し、その空間周波数に従
って回折し、光検知器に入射する。この時第1のグレー
ティングレンズの第1、第2N域の空間周波数分布が等
しいと信号光が半導体レーザに戻り信号検知が行なえく
なるが第2領域の空間周波数分布は第1領域のそれと異
っているため光検知器に導かれる。
従って第1グレーティングレンズの第2領域からの出射
光をハーフミラ−等により2つに分割し、反射光(また
は透過光)をフォーカシング用光検出器に導いてフォー
カシング制御を行い、透過光(または反射光)をトラッ
キング用検出器に導いてトラッキング制御を行うことに
より光ピックアップが実現できる。
光をハーフミラ−等により2つに分割し、反射光(また
は透過光)をフォーカシング用光検出器に導いてフォー
カシング制御を行い、透過光(または反射光)をトラッ
キング用検出器に導いてトラッキング制御を行うことに
より光ピックアップが実現できる。
グレーティングレンズ系は後述するようにレーザビーム
の波長変動の影響を受けにくく、ある波長範囲内(例え
ば830±12n…)において、光デイスク上の一点に
合焦させることが出来る。
の波長変動の影響を受けにくく、ある波長範囲内(例え
ば830±12n…)において、光デイスク上の一点に
合焦させることが出来る。
[実施例〕
以下、本発明の好ましい実施例につき添付図面を参照し
て詳細に説明する。
て詳細に説明する。
まず初めに、本発明において重要な役割を果たすグレー
ティングレンズ系の構成について第16゜17図を参照
して簡単に説明する。尚、このグレーティングレンズ系
の詳細構造は上記の特願昭61−220870号に開示
されている。
ティングレンズ系の構成について第16゜17図を参照
して簡単に説明する。尚、このグレーティングレンズ系
の詳細構造は上記の特願昭61−220870号に開示
されている。
第16図において、グレーティングレンズ系は第11第
2のインライン型のグレーティングレンズ11 、12
を同一光軸(一点鎖線)上に配置した構成であり、光軸
上の点P(コヒーレント光源)から発散する球面波を第
1のグレーティングレンズ11で光軸側に回折させ、光
軸と一旦交差させた後に、第2のグレーティングレンズ
12によって光軸上の所定の点Qに集束させるようにし
たものである。
2のインライン型のグレーティングレンズ11 、12
を同一光軸(一点鎖線)上に配置した構成であり、光軸
上の点P(コヒーレント光源)から発散する球面波を第
1のグレーティングレンズ11で光軸側に回折させ、光
軸と一旦交差させた後に、第2のグレーティングレンズ
12によって光軸上の所定の点Qに集束させるようにし
たものである。
上記第1のグレーティングレンズ11は、光軸に関して
回転対称の所定の空間周波数分布を有しており、光軸に
関して対称な任意の2点からの回折光が光軸上で交差す
るようにしである。また、上記第2のグレーティングレ
ンズ12は、光軸に関して回転対称の所定の空間周波数
分布を有しており、上記交差した回折光が光軸上の1点
Qに集束するようにしである。
回転対称の所定の空間周波数分布を有しており、光軸に
関して対称な任意の2点からの回折光が光軸上で交差す
るようにしである。また、上記第2のグレーティングレ
ンズ12は、光軸に関して回転対称の所定の空間周波数
分布を有しており、上記交差した回折光が光軸上の1点
Qに集束するようにしである。
上記構成において、第1のインライン型グレーティング
レンズの任意の1点に同一方向から入射した、互いに異
なる波長λ0.λ(λ0〈λ)の2つの光の進路を考え
てみる。まず、第1のインライン型グレーティングレン
ズによって、波長λの光は波長λ0の光よりも大きな角
度で回折されるとともに、これらの回折光はいずれも光
軸と交わった後に、第2のインライン型グレーティング
レンズ上に到達する。これらの光の到達点の光軸からの
距離は波長λの光の方が波長λ0の光よりも遠い0次に
、これらの光は上記第2のインライン型グレーティング
レンズによって回折されるが、この時、波長λの光が波
長λ0の光よりも大きな角度で回折されるので、2つの
光の間隔は次第に狭まっていき、最終的には1点で交わ
る。よって、2つのインライン型グレーティングレンズ
に所定の空間周波数分布を持たせておくことにより、上
記2つの光の交わる点を上記光軸上の指定の1点に置く
ことができる。
レンズの任意の1点に同一方向から入射した、互いに異
なる波長λ0.λ(λ0〈λ)の2つの光の進路を考え
てみる。まず、第1のインライン型グレーティングレン
ズによって、波長λの光は波長λ0の光よりも大きな角
度で回折されるとともに、これらの回折光はいずれも光
軸と交わった後に、第2のインライン型グレーティング
レンズ上に到達する。これらの光の到達点の光軸からの
距離は波長λの光の方が波長λ0の光よりも遠い0次に
、これらの光は上記第2のインライン型グレーティング
レンズによって回折されるが、この時、波長λの光が波
長λ0の光よりも大きな角度で回折されるので、2つの
光の間隔は次第に狭まっていき、最終的には1点で交わ
る。よって、2つのインライン型グレーティングレンズ
に所定の空間周波数分布を持たせておくことにより、上
記2つの光の交わる点を上記光軸上の指定の1点に置く
ことができる。
以上のことは第1のインライン型グレーティングレンズ
のどの点に入射した光についても言うことが出来、しか
も上記空間周波数分布は光軸に関して回転対称としであ
るので、入射した発散球面波光はその波長が変化したと
しても、光軸上の上記所定の1点に集束され、従って収
差や焦点位置ずれが生じることはなくなる。
のどの点に入射した光についても言うことが出来、しか
も上記空間周波数分布は光軸に関して回転対称としであ
るので、入射した発散球面波光はその波長が変化したと
しても、光軸上の上記所定の1点に集束され、従って収
差や焦点位置ずれが生じることはなくなる。
次に、上記グレーティングレンズtt 、 12の空間
周波数分布の具体的な決定方法について、第17図を用
いて以下(i)〜(iv)で述べる。尚、点Pと第1グ
レーティングレンズ11との距離を11.2つのグレー
ティングレンズ11 、12間の距離をd1グレーティ
ングレンズ12と点Qとの距離をz2とする。
周波数分布の具体的な決定方法について、第17図を用
いて以下(i)〜(iv)で述べる。尚、点Pと第1グ
レーティングレンズ11との距離を11.2つのグレー
ティングレンズ11 、12間の距離をd1グレーティ
ングレンズ12と点Qとの距離をz2とする。
(1)まず、点Pを発してグレーティングレンズ11の
最外周の点R1に達する、波長λOの光線を゛考える。
最外周の点R1に達する、波長λOの光線を゛考える。
この光線は、点R1で回折され、グレーティングレンズ
12の中心の点rl(=0)に達し、ここで更に回折さ
れて点Qに達するものとする(第17図中の実線a)。
12の中心の点rl(=0)に達し、ここで更に回折さ
れて点Qに達するものとする(第17図中の実線a)。
すると、上述した光路(P→R1→r1→Q)を仮定す
ることにより点R1,rlにおける空間周波数Fl、f
lが決定される。
ることにより点R1,rlにおける空間周波数Fl、f
lが決定される。
(ii)次に、波長がλ0からλ(〉λ0)に変った場
合について考える。点Pから点R1へと進んだ波長λの
光線は、点R1において、波長がλ0のときよりも大き
な角度で回折され、グレーティングレンズ12上の点r
2に達する(破線b)。
合について考える。点Pから点R1へと進んだ波長λの
光線は、点R1において、波長がλ0のときよりも大き
な角度で回折され、グレーティングレンズ12上の点r
2に達する(破線b)。
ここで、波長がλであるときでも点Qに集束するという
条件から、点r2における空間周波数12が決定される
。
条件から、点r2における空間周波数12が決定される
。
(iii )波長がλ0の場合に戻り、点r2で回折さ
れて点Qに達する光線がグレーティングレンズ11上の
どの点から来るのかを逆に求めることが出来る(実線c
)。そのグレーティングレンズ11上の点をR2とする
と、点R2での回折光が点Pに達するという条件から、
点R2における空間周波数F2が決定される。
れて点Qに達する光線がグレーティングレンズ11上の
どの点から来るのかを逆に求めることが出来る(実線c
)。そのグレーティングレンズ11上の点をR2とする
と、点R2での回折光が点Pに達するという条件から、
点R2における空間周波数F2が決定される。
(iv)再び波長がλになった場合を考え、上記(ii
)と同様にしてグレーティングレンズ12上の点r3
(図示せず)とその空間周波数f3を求める。そして波
長をλ0に戻し、上記(iii )と同様にしてグレー
ティングレンズ11上の点R3(図示せず)とその空間
周波数F3を求める。このようにして点Rn(n=1.
2,3.・・・)がグレーティングレンズ11の中心に
達するまで上記(11)及び(iii )の過程を繰り
返すことにより、グレーティングレンズ11 、12に
おける半径方向の空間周波数分布が決定される。なお、
第2のグレーティングレンズ12の径は、点rnの位置
で決定される。
)と同様にしてグレーティングレンズ12上の点r3
(図示せず)とその空間周波数f3を求める。そして波
長をλ0に戻し、上記(iii )と同様にしてグレー
ティングレンズ11上の点R3(図示せず)とその空間
周波数F3を求める。このようにして点Rn(n=1.
2,3.・・・)がグレーティングレンズ11の中心に
達するまで上記(11)及び(iii )の過程を繰り
返すことにより、グレーティングレンズ11 、12に
おける半径方向の空間周波数分布が決定される。なお、
第2のグレーティングレンズ12の径は、点rnの位置
で決定される。
以上のようにしてグレーティングレンズ11 、12の
空間周波数分布を決定することにより、点Pから発した
光が、基準となる波長λ0とは異なる波長λであっても
、これを無収差で点Qに集束させることが出来る。
空間周波数分布を決定することにより、点Pから発した
光が、基準となる波長λ0とは異なる波長λであっても
、これを無収差で点Qに集束させることが出来る。
本発明は上述の如きグレーティングレンズ光学系を利用
して光ピックアップ装置を実現したものであり、光信号
記録媒体として光ディスクを例にとり第1図以下を参照
して本発明の詳細な説明する。
して光ピックアップ装置を実現したものであり、光信号
記録媒体として光ディスクを例にとり第1図以下を参照
して本発明の詳細な説明する。
本発明によれば各ビーム110.111 (第13図
)に対し第1.2図に示す如く第1グレーティングレン
ズ11は光軸を含む面により2つに分割される。このこ
とを第3.4図を参照して詳しく説明する。第3図にお
いて第1グレーティングレンズ11、第2グレーティン
グレンズ12は夫々回折角の異なる、即ち空間周波数の
異なる2つの領域11A1.11B1.12A1、12
B、に分割される。尚、第2グレ′−ティングレンズ1
2の第1、第2領域12A1、12B+は第1グレーテ
ィングレンズ11に合わせて便宜上第1.第2領域に分
割したものであり、この第1.第2領域12A1.12
B、は空間周波数は同一であってもよい。即ち第2グレ
ーティングレンズ12は必ずしも2つの領域に分割する
必要はない(その理由は後述)。
)に対し第1.2図に示す如く第1グレーティングレン
ズ11は光軸を含む面により2つに分割される。このこ
とを第3.4図を参照して詳しく説明する。第3図にお
いて第1グレーティングレンズ11、第2グレーティン
グレンズ12は夫々回折角の異なる、即ち空間周波数の
異なる2つの領域11A1.11B1.12A1、12
B、に分割される。尚、第2グレ′−ティングレンズ1
2の第1、第2領域12A1、12B+は第1グレーテ
ィングレンズ11に合わせて便宜上第1.第2領域に分
割したものであり、この第1.第2領域12A1.12
B、は空間周波数は同一であってもよい。即ち第2グレ
ーティングレンズ12は必ずしも2つの領域に分割する
必要はない(その理由は後述)。
このように構成したグレーティングレンズ系の第1グレ
ーティングレンズ11の第1領域11Aに第1の半導体
レーザ101から光軸Z(第3図)に対して傾斜した角
度でビーム110を当てると、それによりビームは軸対
称に交差するように曲げられて第2グレーティングレン
ズ12の第1領域12A+に入射する。そしてこのビー
ムは更に第2グレーティングレンズ12により曲げられ
、光デイスク107上の一点0に収束せしめられる。第
1、第2グレーティングレンズ11 、12の空間周波
数は半導体レーザ101からのレーザビームが上述の光
路をたどるように設計される。点0に斜めから入射した
ビーム112はそこで軸対称方向に反射され、第2グレ
ーティングレンズ12の第2領域12B1に入射する。
ーティングレンズ11の第1領域11Aに第1の半導体
レーザ101から光軸Z(第3図)に対して傾斜した角
度でビーム110を当てると、それによりビームは軸対
称に交差するように曲げられて第2グレーティングレン
ズ12の第1領域12A+に入射する。そしてこのビー
ムは更に第2グレーティングレンズ12により曲げられ
、光デイスク107上の一点0に収束せしめられる。第
1、第2グレーティングレンズ11 、12の空間周波
数は半導体レーザ101からのレーザビームが上述の光
路をたどるように設計される。点0に斜めから入射した
ビーム112はそこで軸対称方向に反射され、第2グレ
ーティングレンズ12の第2領域12B1に入射する。
そして往きのビーム110とは全く軸対称的に曲げられ
、第1グレーティングレンズ11の第2領域11B+
に入射する。
、第1グレーティングレンズ11の第2領域11B+
に入射する。
ここで、第1グレーティングレンズ11の第1領域11
A+ と第2領域11B+ とが同一の空間周波数を有
すると第1グレーティングレンズ11の第2領域11B
1に入射した反射ビーム(信号光)112は半導体レー
ザ101に戻ってしまい、信号光の検出ができない。そ
のため、第1グレーティングレンズ11の第2領域11
B、はその第1N域11A。
A+ と第2領域11B+ とが同一の空間周波数を有
すると第1グレーティングレンズ11の第2領域11B
1に入射した反射ビーム(信号光)112は半導体レー
ザ101に戻ってしまい、信号光の検出ができない。そ
のため、第1グレーティングレンズ11の第2領域11
B、はその第1N域11A。
と異なる空間周波数を有するように設計されている。そ
の結果、第1グレーティングレンズ11の第2領域11
B1に入射した信号光112は半導体レーザ101とは
異なる位置の光検出器105に投射せしめられる。第1
グレーティングレンズ11の第2N域の空間周波数は光
検出器105の位置に応じて決定される。
の結果、第1グレーティングレンズ11の第2領域11
B1に入射した信号光112は半導体レーザ101とは
異なる位置の光検出器105に投射せしめられる。第1
グレーティングレンズ11の第2N域の空間周波数は光
検出器105の位置に応じて決定される。
上述の記載から明らかな如く、第2グレーティングレン
ズ12においては往きのビーム11oと反射ビーム11
2とは全く軸対称的となっていてよく、従って第2グレ
ーティングレンズ12の第1、第2領域は第1グレーテ
ィングレンズに合わせて往きのビーム110が通過する
部分を第1領域、反射ビーム112が通過する部分を第
2領域と名づけたが、全く同一の空間周波数を有する同
一のグレーティングレンズでよい。
ズ12においては往きのビーム11oと反射ビーム11
2とは全く軸対称的となっていてよく、従って第2グレ
ーティングレンズ12の第1、第2領域は第1グレーテ
ィングレンズに合わせて往きのビーム110が通過する
部分を第1領域、反射ビーム112が通過する部分を第
2領域と名づけたが、全く同一の空間周波数を有する同
一のグレーティングレンズでよい。
以上のことは第2半導体レーザ102からの第2のビー
ム111についても全く同様に行われる。即ち、第5図
に示す如く、第1グレーティングレンズ11は光軸Z(
第3図)を含む平面により空間周波数の異なる第1、第
2領域11Ax、liBgに分割され、それに合わせて
第2グレーティングレンズ12も名目上の第1、第2領
域12 A z、 12 B tに分割される。光ディ
スク107の点0′で反射された信号光113は第2グ
レーティングレンズ12の第2領域11Bgを介して第
1グレーティングレンズ11の第2領域11Btにより
第2半導体レーザ102とは異なる位置に設けられる第
2光検出器とビーム112のビーム収束の場合と信号光
検知の場合とを別経路をたどらせることにある。
ム111についても全く同様に行われる。即ち、第5図
に示す如く、第1グレーティングレンズ11は光軸Z(
第3図)を含む平面により空間周波数の異なる第1、第
2領域11Ax、liBgに分割され、それに合わせて
第2グレーティングレンズ12も名目上の第1、第2領
域12 A z、 12 B tに分割される。光ディ
スク107の点0′で反射された信号光113は第2グ
レーティングレンズ12の第2領域11Bgを介して第
1グレーティングレンズ11の第2領域11Btにより
第2半導体レーザ102とは異なる位置に設けられる第
2光検出器とビーム112のビーム収束の場合と信号光
検知の場合とを別経路をたどらせることにある。
尚、以上の説明から判る如く、添字Aは往きのビームに
対応し、添字Bは反射ビームに対応する。
対応し、添字Bは反射ビームに対応する。
また、添字1は第1グレーティングレンズ11に対応し
、添字2は第2グレーティングレンズ12に夫々対応す
る。従って、例えばIIA+は第1グレーティングレン
ズ11の往きのビーム110の通る第1領域を示すこと
になる。
、添字2は第2グレーティングレンズ12に夫々対応す
る。従って、例えばIIA+は第1グレーティングレン
ズ11の往きのビーム110の通る第1領域を示すこと
になる。
第1.2図は上記の基本構想に基づく本発明の基本構成
を示すものである。
を示すものである。
第1図は2つの半導体レーザ101 、102からの往
きのビーム110 、111に対する構成を示し、第2
図は光ディスク107からの反射ビーム112 、11
3に対する構成を示す。
きのビーム110 、111に対する構成を示し、第2
図は光ディスク107からの反射ビーム112 、11
3に対する構成を示す。
一般に、2ビーム方式の光ピックアップによる光ディス
クへの情報の書き込み、読み出し法としては、波長λ1
の第1のビームで書き込み、消去、トラック方向に距離
dだけ後の波長λ2の第2のビームで読み出しく再生)
を行ない、正しく書き込みが行なわれたか否かを調べる
。読み出しだけの場合は、どらの波長を用いても行なう
ことができる。従って、第1図において紙面左右方向(
X方向)がトラック溝方向とすると、第1ビーム110
に対する光デイスク上の合焦点を0とすると、第2ビー
ム111に対する光デイスク上の合焦点はOよりトラッ
ク方向にdだけずれたO′点となるように設計される。
クへの情報の書き込み、読み出し法としては、波長λ1
の第1のビームで書き込み、消去、トラック方向に距離
dだけ後の波長λ2の第2のビームで読み出しく再生)
を行ない、正しく書き込みが行なわれたか否かを調べる
。読み出しだけの場合は、どらの波長を用いても行なう
ことができる。従って、第1図において紙面左右方向(
X方向)がトラック溝方向とすると、第1ビーム110
に対する光デイスク上の合焦点を0とすると、第2ビー
ム111に対する光デイスク上の合焦点はOよりトラッ
ク方向にdだけずれたO′点となるように設計される。
dは一般にd=10〜20μmである。
そのため第1ビーム110(λ1)に対する第1グレー
ティングレンズ11の第1、第2領域11A、。
ティングレンズ11の第1、第2領域11A、。
11B1の光軸2を通る分割中心(0に相当)に対し、
第2ビーム111(λりに対する第1グレーティングレ
ンズ11の第1、第2領域の光軸2′を通る分割中心(
0’に相当)は光ディスクのトラック方向(X方向)に
dだけずらされている。平面図でみたこの位置関係を第
6図に示す。尚、第6図においては第2ビーム111に
対する第1、第2領域11At、11B、を第1ビーム
iioに対する第1、第2領域11A1、11B+に対
し直交する配置構成としであるが、これはその分割中心
0,0′がトラック方向(X方向)にdだけずれていれ
ば十分であり直交させることは必ずしも必要でない。
第2ビーム111(λりに対する第1グレーティングレ
ンズ11の第1、第2領域の光軸2′を通る分割中心(
0’に相当)は光ディスクのトラック方向(X方向)に
dだけずらされている。平面図でみたこの位置関係を第
6図に示す。尚、第6図においては第2ビーム111に
対する第1、第2領域11At、11B、を第1ビーム
iioに対する第1、第2領域11A1、11B+に対
し直交する配置構成としであるが、これはその分割中心
0,0′がトラック方向(X方向)にdだけずれていれ
ば十分であり直交させることは必ずしも必要でない。
以上のトラック方向のずれ配置は第2グレーティングレ
ンズ12についても全く同様である。
ンズ12についても全く同様である。
実際の製造に際しては、第1グレーティングレンズ11
を形成する基板上に適当なマスク等を用いて4つの領域
11A1、11B、11Az、118gを第6図に示す
如き配置に形成してもよく、あるいは11A1、11B
I、IIA!、11Btに相当する4つのグレーティン
グレンズを同一平面に図示の如く配置してもよい。第2
グレーティングレンズ12についても同様である。第1
領域11/’1、12A1、および第2領域11B1、
12B+の空間周波数は例えば830nmを中心波長と
して設計され、第1領域11A2.12A2および第2
領域11 B t、12A、zの空間周波数は例えば7
B0nmを中心波長として設計される。
を形成する基板上に適当なマスク等を用いて4つの領域
11A1、11B、11Az、118gを第6図に示す
如き配置に形成してもよく、あるいは11A1、11B
I、IIA!、11Btに相当する4つのグレーティン
グレンズを同一平面に図示の如く配置してもよい。第2
グレーティングレンズ12についても同様である。第1
領域11/’1、12A1、および第2領域11B1、
12B+の空間周波数は例えば830nmを中心波長と
して設計され、第1領域11A2.12A2および第2
領域11 B t、12A、zの空間周波数は例えば7
B0nmを中心波長として設計される。
尚、第1ビーム110.と第2ビームの波長が同じであ
れば、第1ビーム110に対する第1領域11A。
れば、第1ビーム110に対する第1領域11A。
と第2ビーム111に対する第2領域11A2との空間
周波数キは同一でよく、同様に第1ビーム110に対す
る第2領域11B、と第2ビーム111に対する第2領
域11B2との空間周波数は同一でよい。
周波数キは同一でよく、同様に第1ビーム110に対す
る第2領域11B、と第2ビーム111に対する第2領
域11B2との空間周波数は同一でよい。
第1図において、第1半導体レーザ101からの第1発
散光110(λ1)は第1グレーティングレンズ11の
第1N域11A1に所定角度で入射し、その空間周波数
に従って軸対称方向に回折し第2グレーティングレンズ
112の第1領域12A、に入射する。その後第2グレ
ーティングレンズ12の第1領域12A、の空間周波数
に従って回折され光ディスク107の第1焦点0に集光
する。全く、同様に第2半導体レーザ102からの第2
発散光111(λ2)は第1グレーティングレンズ11
の第1領域1IAt。
散光110(λ1)は第1グレーティングレンズ11の
第1N域11A1に所定角度で入射し、その空間周波数
に従って軸対称方向に回折し第2グレーティングレンズ
112の第1領域12A、に入射する。その後第2グレ
ーティングレンズ12の第1領域12A、の空間周波数
に従って回折され光ディスク107の第1焦点0に集光
する。全く、同様に第2半導体レーザ102からの第2
発散光111(λ2)は第1グレーティングレンズ11
の第1領域1IAt。
第2グレーティングレンズ12の第1領域12Atを通
って光ディスク107の第2焦点O′に集光する。
って光ディスク107の第2焦点O′に集光する。
第2図において、第1半導体レーザ101からの集束光
は上述の如く光ディスク107の第1焦点0に対し斜め
に入射し、そこで反射され、反射信号光112となる。
は上述の如く光ディスク107の第1焦点0に対し斜め
に入射し、そこで反射され、反射信号光112となる。
信号光は集束光と軸対称の別経路をたどり第2グレーテ
ィングレンズの第2領域12B1に入射し、その空間周
波数に従って軸対称方向に回折し、第1グレーティング
レンズ11の第2領域11B、に入射し、その空間周波
数に従って回折し、第1光検知器105に導びかれる。
ィングレンズの第2領域12B1に入射し、その空間周
波数に従って軸対称方向に回折し、第1グレーティング
レンズ11の第2領域11B、に入射し、その空間周波
数に従って回折し、第1光検知器105に導びかれる。
第2半導体レーザ102からの集束光111(λ2)は
光ディスク107の第2焦点0′によって反射され反射
信号光113となる。信号光113は第2グレーティン
グレンズの第2領域12B2に入射し、その空間周波数
に従って軸対称の方向に回折され第1グレーティングレ
ンズ11の第2領域11Bgに入射し、その空間周波数
に従って回折し第2光検知器106に導びかれる。
光ディスク107の第2焦点0′によって反射され反射
信号光113となる。信号光113は第2グレーティン
グレンズの第2領域12B2に入射し、その空間周波数
に従って軸対称の方向に回折され第1グレーティングレ
ンズ11の第2領域11Bgに入射し、その空間周波数
に従って回折し第2光検知器106に導びかれる。
次に具体的なトラックエラー、フォーカスエラー検知に
ついて説明を行なう。
ついて説明を行なう。
半導体レーザからのビームの波長は実質上絶えず変動す
るが、グレーティングレンズ系を用いることにより波長
変化に起因する収差は上述の如く吸収できる。
るが、グレーティングレンズ系を用いることにより波長
変化に起因する収差は上述の如く吸収できる。
光デイスク装置は周知の如く、光デイスク107上のピ
ットからの反射光強度とランドからの反射光強度の差異
があると、干渉した全反射光強度はその差異の度合に応
じて弱められるが、ピットのないランド領域ではこのよ
うな干渉がないので反射光強度は弱められないという現
象を利用して、回折限界近くまで絞ったビームスポット
を用いて、反射光強度を検出することによりピットの有
無、従って光信号を検出するものである。
ットからの反射光強度とランドからの反射光強度の差異
があると、干渉した全反射光強度はその差異の度合に応
じて弱められるが、ピットのないランド領域ではこのよ
うな干渉がないので反射光強度は弱められないという現
象を利用して、回折限界近くまで絞ったビームスポット
を用いて、反射光強度を検出することによりピットの有
無、従って光信号を検出するものである。
第7図に情報再生時(第2半導体レーザ102)の信号
検知法を示す、第1グレーティングレンズ11の第2領
域11B、により回折された回折光(信号光)113は
偏光特性を有する所謂偏光ビームスプリンタホログラム
(PBSホログラム)27を通り、そこで光磁気信号は
光量差信号に変換される。
検知法を示す、第1グレーティングレンズ11の第2領
域11B、により回折された回折光(信号光)113は
偏光特性を有する所謂偏光ビームスプリンタホログラム
(PBSホログラム)27を通り、そこで光磁気信号は
光量差信号に変換される。
即ち、PBSホログラム27はその回折角に応じて透過
光量を制限し、例えば透過光のみを光検知器に導き、光
磁気信号を光量差、即ち光量の強弱により検出する。
光量を制限し、例えば透過光のみを光検知器に導き、光
磁気信号を光量差、即ち光量の強弱により検出する。
PBSホログラム27の透過光(エラー検知光)はハー
フミラ−29により2つに分離され、その一方、例えば
透過光はフォーカシング用光検出器37に導き、そして
他方、例えば反射光はトラッキング用光検出器39に導
く。
フミラ−29により2つに分離され、その一方、例えば
透過光はフォーカシング用光検出器37に導き、そして
他方、例えば反射光はトラッキング用光検出器39に導
く。
フォーカシング用光検出器37及びトラッキング用光検
出器39は例えばそれ自体公知の分割式PINフォトダ
イオードから構成される2分割あるいは4分割光検出器
により構成される。
出器39は例えばそれ自体公知の分割式PINフォトダ
イオードから構成される2分割あるいは4分割光検出器
により構成される。
光ディスクのピットの有無、即ちチャンネル・ピットの
信号はこれら分割光検出器の出力の強弱で識別される。
信号はこれら分割光検出器の出力の強弱で識別される。
第8図(1)はトラッキング用光検出器39を形成する
2分割光検出器の配置構成の一例を示す。
2分割光検出器の配置構成の一例を示す。
例えば光磁気ディスクではトラッキングは光ディスクの
案内溝により行われる。トラッキング用光検出器39を
構成する2分割フォト・ダイオード39a、39bの分
割面は光ディスク107の案内溝、即ち、トラック方向
(X方向)に平行に位置する。
案内溝により行われる。トラッキング用光検出器39を
構成する2分割フォト・ダイオード39a、39bの分
割面は光ディスク107の案内溝、即ち、トラック方向
(X方向)に平行に位置する。
第8図(1)において、光磁気ディスク107に結像す
るビームが案内溝の中心に位置している時は第8図(1
)の(a)に示す如くビームスポットはフォト・ダイオ
ード39a、39bの分割面中心に位置する。尚、(b
)はビームが案内溝の右側(y方向)にずれた場合を示
し、この場合には一方のフォト・ダイオード39bの受
光量が一部暗くなり、反対にビームが案内溝の右側(−
y方向)にずれた場合には(c)に示す如く他方のフォ
ト・ダイオード39aの受光量が一部暗くなる。尚、レ
ーザビームをグレーティングレンズ系内で軸対称に交叉
させるため、収差ビームの位置ずれによる暗い部分は反
転してフォト・ダイオード39a。
るビームが案内溝の中心に位置している時は第8図(1
)の(a)に示す如くビームスポットはフォト・ダイオ
ード39a、39bの分割面中心に位置する。尚、(b
)はビームが案内溝の右側(y方向)にずれた場合を示
し、この場合には一方のフォト・ダイオード39bの受
光量が一部暗くなり、反対にビームが案内溝の右側(−
y方向)にずれた場合には(c)に示す如く他方のフォ
ト・ダイオード39aの受光量が一部暗くなる。尚、レ
ーザビームをグレーティングレンズ系内で軸対称に交叉
させるため、収差ビームの位置ずれによる暗い部分は反
転してフォト・ダイオード39a。
39bの分割面の近傍に現れることになる。尚、第2図
に示すトラッキングエラー検出法は両フォト・ダイオー
ド39a、39bの光量差を検出するブツシュ・プル法
を利用したものである。
に示すトラッキングエラー検出法は両フォト・ダイオー
ド39a、39bの光量差を検出するブツシュ・プル法
を利用したものである。
第8図(2)はフォーカシング用光検出器37を構成す
る4分割光検出器の配置構成の一例を示す。4分割光検
出器37はその受光領域が4つに分割されたPINフォ
ト・ダイオード37a、37b。
る4分割光検出器の配置構成の一例を示す。4分割光検
出器37はその受光領域が4つに分割されたPINフォ
ト・ダイオード37a、37b。
37C,37dから構成され、4分割光検出器37は第
8図(1)の(a)に示す如く、合焦状態においてフォ
ト・ダイオード37a、 37b’、37c 、37d
の中心にビームスポットが当たるように配置さ杵る。光
ディスク10が合焦位置から第2グレーティングレンズ
12に近ずくと4分割光検出器37上の信号光のスポッ
トは第8図(1)の(b)に示す如く横長の楕円になり
、逆に遠ざかると(c)に示す如く縦長の楕円となる。
8図(1)の(a)に示す如く、合焦状態においてフォ
ト・ダイオード37a、 37b’、37c 、37d
の中心にビームスポットが当たるように配置さ杵る。光
ディスク10が合焦位置から第2グレーティングレンズ
12に近ずくと4分割光検出器37上の信号光のスポッ
トは第8図(1)の(b)に示す如く横長の楕円になり
、逆に遠ざかると(c)に示す如く縦長の楕円となる。
従って、4分割光検出器37の4個の領域37a。
37b 、 37c 、 37dの光出力の差、即ち(
II + 12)−(13+I4)を測れば合焦状態で
は0”、光ディスクが近すいた場合は<Q、遠ざかった
場合は〉0になる。従って、この誤差信号(It−[2
) −(13+ 14)が0になるように光学系をアク
チュエータ(図示せず)により上下に制御することによ
りフォーカシングが行える。このフォーカシング制御は
ハーフミラ−29によって起こる非点収差を利用した非
点収差法によるものである。
II + 12)−(13+I4)を測れば合焦状態で
は0”、光ディスクが近すいた場合は<Q、遠ざかった
場合は〉0になる。従って、この誤差信号(It−[2
) −(13+ 14)が0になるように光学系をアク
チュエータ(図示せず)により上下に制御することによ
りフォーカシングが行える。このフォーカシング制御は
ハーフミラ−29によって起こる非点収差を利用した非
点収差法によるものである。
第9図に情報再生産時の信号検知法の別の実施例をボす
。この実施例ではハーフミラ−29の反射光をフォーカ
シング用検知光とし、ハーフミラ−29の透過光をフォ
ーカシング用検知光としている。また、トラッキング用
検知器39は第8図の場合と同様に2分割光検出器を用
いてプッシュプル法によって行う。第10図(1)はオ
ントラックを示し、(b)、(C)はそれぞれビームが
−y方向、y方向にずれた場合を示す。この場合も分割
線はトラックと平行になるように設置される。第10図
(2)はフォーカシング用光検知器37における光分布
を示す。この第2実施例ではフォーカシングはナイフェ
ツジ36を用いたそれ自体公知のナイフェツジ法を用い
ている。第10図(2)の(a)はオンフォーカスを示
し、(b)。
。この実施例ではハーフミラ−29の反射光をフォーカ
シング用検知光とし、ハーフミラ−29の透過光をフォ
ーカシング用検知光としている。また、トラッキング用
検知器39は第8図の場合と同様に2分割光検出器を用
いてプッシュプル法によって行う。第10図(1)はオ
ントラックを示し、(b)、(C)はそれぞれビームが
−y方向、y方向にずれた場合を示す。この場合も分割
線はトラックと平行になるように設置される。第10図
(2)はフォーカシング用光検知器37における光分布
を示す。この第2実施例ではフォーカシングはナイフェ
ツジ36を用いたそれ自体公知のナイフェツジ法を用い
ている。第10図(2)の(a)はオンフォーカスを示
し、(b)。
(C)はそれぞれディスクが近い場合、遠い場合を示す
。ナイフェツジ36のエツジは例えばX軸上にくるよう
に配置される。フォーカシング用光検知器37は2分割
式のものを用い、その分割線がナイフェツジと平行にな
るように設置される。
。ナイフェツジ36のエツジは例えばX軸上にくるよう
に配置される。フォーカシング用光検知器37は2分割
式のものを用い、その分割線がナイフェツジと平行にな
るように設置される。
第11図は情報記録消去時(第1半導体レーザ101を
利用)の信号検知法を示す。2ビーム方式の光ピックア
ップの場合、情報の記録・消去時の信号検知はトラッキ
ングのみで行えば十分とされている。従って第1グレー
ティングレンズ11の第2領域11B1からの出射光(
信号光)112をハーフミラ−により2分割する必要は
なく、直接トラッキング用光検出器37′に導びけばよ
い。従って、この場合、トラッキング用光検出器37′
は第2図に示す光検出器105に相当する。トラッキン
グ用光検出器37′は第9図に示すトラッキング用光検
出器37と全く同様に2分割光検出器により構成され、
従ってその光分布は第10図(1)と全く同一である。
利用)の信号検知法を示す。2ビーム方式の光ピックア
ップの場合、情報の記録・消去時の信号検知はトラッキ
ングのみで行えば十分とされている。従って第1グレー
ティングレンズ11の第2領域11B1からの出射光(
信号光)112をハーフミラ−により2分割する必要は
なく、直接トラッキング用光検出器37′に導びけばよ
い。従って、この場合、トラッキング用光検出器37′
は第2図に示す光検出器105に相当する。トラッキン
グ用光検出器37′は第9図に示すトラッキング用光検
出器37と全く同様に2分割光検出器により構成され、
従ってその光分布は第10図(1)と全く同一である。
第12図に本発明に係る光ピックアップの具体的構造の
一例を示す。この実施例では、第1グレーティングレン
ズ11と第2グレーティングレンズ12とを直交配置し
その間に折り曲げミラー51を介在させることにより装
置全体の薄型化を図っている。
一例を示す。この実施例では、第1グレーティングレン
ズ11と第2グレーティングレンズ12とを直交配置し
その間に折り曲げミラー51を介在させることにより装
置全体の薄型化を図っている。
尚、Tは光デイスク107上のトラックTを示す。
尚、゛フォーカシング用光検出器或いはトラッキング用
光検出器によりフォーカシングエラーあるいはトラッキ
ングエラーが検出された時の光学系の調整は、例えば光
学系全体を適当なアクチュエ−タ(図示せず)により光
ディスク107に対して所定方向に動かすことにより行
うことができる。
光検出器によりフォーカシングエラーあるいはトラッキ
ングエラーが検出された時の光学系の調整は、例えば光
学系全体を適当なアクチュエ−タ(図示せず)により光
ディスク107に対して所定方向に動かすことにより行
うことができる。
以上の各実施例において、3個の光検出器は上記の単一
、2分割あると1は4分割フォト・ダイオードに限らず
、その他の光検出器を用い得ることは勿論である。
、2分割あると1は4分割フォト・ダイオードに限らず
、その他の光検出器を用い得ることは勿論である。
〔発明の効果)
以上の如く、本発明によれば発振波長の変化の影響を受
けにくい、収差の少ないグレーティングレンズ光学系を
用いることにより、焦点位置ずれ並びに焦点ビーム径の
劣化を起こしにくい、トラッキング制御、フォーカシン
グ制御の作動信頼性の高い、軽量、小型、廉価な高性能
の2ビーム式光ピックアップ装置が実現出来る。
けにくい、収差の少ないグレーティングレンズ光学系を
用いることにより、焦点位置ずれ並びに焦点ビーム径の
劣化を起こしにくい、トラッキング制御、フォーカシン
グ制御の作動信頼性の高い、軽量、小型、廉価な高性能
の2ビーム式光ピックアップ装置が実現出来る。
第1図及び第2図は本発明に係る2ビーム式光ピックア
ップ装置の基本構成を示す図であり第1図はビーム収束
の場合、第2図は信号光収束の場合を夫々示し、第3図
は本発明の基本構想を示す図、第4図は第1のビームに
対する本発明の基本構成を示す図、第5図は第2のビー
ムに対する本発明の基本構成を示す図、第6図は第1グ
レーティングレンズにおける第1ビーム、第2ビームの
2分割領域の幾何学的平面配置関係示す図、第7図は情
報再生時の信号検出方法を示す図、第8図(1)は第7
図に示される2分割型トラッキング用光検出器の3種の
ビーム検出状態を示す図、第8図(2)は第7図に示さ
れるフォーカシング用光検出器を構成する4分割光検出
器の3種のビーム検出状態を示す図、第9図は本発明の
別の実施例を示す第7図と同様の図、第10図(1)は
第9図に示される2分割型トラッキング用光検出器の3
種のビーム検出状態を示す図、第10図(2)は第9図
に示される2分割型フォーカシング用光検出器の3種の
ビーム検出状態を示す図、第11図は情報書き込み、消
去等の信号検出方法を示す図、第12図は本発明に係る
光ピックアップの具体的構造の一例を示す図解図、第1
3図は本願出願人の先願に開示した2ビームホログラム
ピツクアツプの基本構成を示す図、第14図はインライ
ン型ホログラムレンズの焦点ずれを示す図、第15図は
オフアクシス型ホログラムレンズの焦点ずれを示す図、
第16図は本発明において用いられるグレーティングレ
ンズ光学系の基本構成を示す図、第17図は第16図に
示されるグレーティングレンズの空間周波数の決定方法
を説明する図。 11・・・第1グレーティングレンズ、12・・・第2
グレーティングレンズ、37・・・フォーカシング用光
検出器、39・・・トラッキング用光検出器、 101 、102・・・半導体レーザ、105 、10
6・・・検知器、110 、111・・・レーザ光、1
12 、113・・・反射光、11 A + 、11A
z・・・第1領域、11B1、118z・・・第2領
域。 本発明の基本構成を示す図 本発明の基本構成を示す
図(ビーム収束の場合) (信号光収束の場合
)第1図 第2図 第3図 第4図 第2ビームについての本発明の基本構成を示す図第5図 、第6図 情報再生時の信号検出方法を示す図 第7図 (1))ラッキング方 (2)フォーカシング方法法を
示す図 を示す図 第8図 第7図の別の実施例を示す図 第9図 法を示す図 を示す図 第10図 情報書込、消去時の信号検出方法を示す同第11図 元ビノクアノグの構造の→]を示す同 第12図 グレーティングレンズ系の基本構成を示す同第16図 第1.第2グレーティングレンズの空間周波数の決定方
法第17図 従来の2ビームホログラムピ ンクアンプの原理を示す図 第13図 インライン型ホログラムレンズの焦点ずれを示す同第1
4図 オフアクシス型ホログラムレンズの焦点ずれを示す図第
15図
ップ装置の基本構成を示す図であり第1図はビーム収束
の場合、第2図は信号光収束の場合を夫々示し、第3図
は本発明の基本構想を示す図、第4図は第1のビームに
対する本発明の基本構成を示す図、第5図は第2のビー
ムに対する本発明の基本構成を示す図、第6図は第1グ
レーティングレンズにおける第1ビーム、第2ビームの
2分割領域の幾何学的平面配置関係示す図、第7図は情
報再生時の信号検出方法を示す図、第8図(1)は第7
図に示される2分割型トラッキング用光検出器の3種の
ビーム検出状態を示す図、第8図(2)は第7図に示さ
れるフォーカシング用光検出器を構成する4分割光検出
器の3種のビーム検出状態を示す図、第9図は本発明の
別の実施例を示す第7図と同様の図、第10図(1)は
第9図に示される2分割型トラッキング用光検出器の3
種のビーム検出状態を示す図、第10図(2)は第9図
に示される2分割型フォーカシング用光検出器の3種の
ビーム検出状態を示す図、第11図は情報書き込み、消
去等の信号検出方法を示す図、第12図は本発明に係る
光ピックアップの具体的構造の一例を示す図解図、第1
3図は本願出願人の先願に開示した2ビームホログラム
ピツクアツプの基本構成を示す図、第14図はインライ
ン型ホログラムレンズの焦点ずれを示す図、第15図は
オフアクシス型ホログラムレンズの焦点ずれを示す図、
第16図は本発明において用いられるグレーティングレ
ンズ光学系の基本構成を示す図、第17図は第16図に
示されるグレーティングレンズの空間周波数の決定方法
を説明する図。 11・・・第1グレーティングレンズ、12・・・第2
グレーティングレンズ、37・・・フォーカシング用光
検出器、39・・・トラッキング用光検出器、 101 、102・・・半導体レーザ、105 、10
6・・・検知器、110 、111・・・レーザ光、1
12 、113・・・反射光、11 A + 、11A
z・・・第1領域、11B1、118z・・・第2領
域。 本発明の基本構成を示す図 本発明の基本構成を示す
図(ビーム収束の場合) (信号光収束の場合
)第1図 第2図 第3図 第4図 第2ビームについての本発明の基本構成を示す図第5図 、第6図 情報再生時の信号検出方法を示す図 第7図 (1))ラッキング方 (2)フォーカシング方法法を
示す図 を示す図 第8図 第7図の別の実施例を示す図 第9図 法を示す図 を示す図 第10図 情報書込、消去時の信号検出方法を示す同第11図 元ビノクアノグの構造の→]を示す同 第12図 グレーティングレンズ系の基本構成を示す同第16図 第1.第2グレーティングレンズの空間周波数の決定方
法第17図 従来の2ビームホログラムピ ンクアンプの原理を示す図 第13図 インライン型ホログラムレンズの焦点ずれを示す同第1
4図 オフアクシス型ホログラムレンズの焦点ずれを示す図第
15図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 2つの半導体レーザ(101、102)からの互いに波
長の異なる2つのレーザ光(110、111)を各々光
信号記録媒体(107)上の異なる位置(O、O′)に
集光し、各反射光(112、113)を受光することに
より情報の記録及び読み出しを行なう2ビーム方式の光
ピックアップにおいて、 前記2つの半導体レーザ(101、102)からの各レ
ーザ光(110、111)を軸対称に交叉させる第1の
グレーティングレンズ(11)と、該第1グレーティン
グレンズを透過した回折光を光信号記録媒体(107)
上の一点に合焦させる第2のグレーティングレンズ(1
2)とが光軸上に配置され、上記第1グレーティングレ
ンズは光軸を含む面により空間周波数の異なる少くとも
2つの領域(11A_1、11B_1、11A_2、1
1B_2)に分割され、2つのレーザ光は第1グレーテ
ィングレンズの夫々の第1の領域(11A_1、11A
_2)を通り第2グレーティングレンズにより光信号記
録媒体上に収束せしめられ、かつ光信号記録媒体により
反射された2つの信号光は第2グレーティングレンズに
より軸対称に交叉されて第1グレーティングレンズの夫
々の第2領域(11B_1、11B_2)を通り光検出
器(37、39、37′)に導かれることを特徴とする
2ビーム式光ピックアップ。
Priority Applications (6)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62061112A JPH073704B2 (ja) | 1987-03-18 | 1987-03-18 | 2ビ−ム式光ピツクアツプ |
| KR1019870010449A KR910002322B1 (ko) | 1986-09-20 | 1987-07-21 | 회절격자렌즈 조립체를 구비하고 있는 광학시스템 |
| CA000546603A CA1309286C (en) | 1986-09-20 | 1987-09-10 | Optical system with grating lens assembly |
| US07/098,532 US4832464A (en) | 1986-09-20 | 1987-09-18 | Optical system with grating lens assembly for correcting wavelength aberrations |
| DE3751442T DE3751442T2 (de) | 1986-09-20 | 1987-09-18 | Optisches System aus Hologrammlinsen. |
| EP87308283A EP0268357B1 (en) | 1986-09-20 | 1987-09-18 | Optical system with grating lens assembly |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62061112A JPH073704B2 (ja) | 1987-03-18 | 1987-03-18 | 2ビ−ム式光ピツクアツプ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63228432A true JPS63228432A (ja) | 1988-09-22 |
| JPH073704B2 JPH073704B2 (ja) | 1995-01-18 |
Family
ID=13161671
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62061112A Expired - Fee Related JPH073704B2 (ja) | 1986-09-20 | 1987-03-18 | 2ビ−ム式光ピツクアツプ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH073704B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5579298A (en) * | 1992-08-12 | 1996-11-26 | U.S. Philips Corporation | Optical scanner having symmetry about an oblique divider |
| US7606123B2 (en) | 2004-06-22 | 2009-10-20 | Sharp Kabushiki Kaisha | Light receiving and emitting integrated device, optical pickup provided therewith, and optical disk apparatus |
-
1987
- 1987-03-18 JP JP62061112A patent/JPH073704B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5579298A (en) * | 1992-08-12 | 1996-11-26 | U.S. Philips Corporation | Optical scanner having symmetry about an oblique divider |
| US7606123B2 (en) | 2004-06-22 | 2009-10-20 | Sharp Kabushiki Kaisha | Light receiving and emitting integrated device, optical pickup provided therewith, and optical disk apparatus |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH073704B2 (ja) | 1995-01-18 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |