JPS63232168A - チツプ状電子部品用キヤリアテ−プとそれを用いたチツプ状電子部品の測定方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 この発明は、リードレスのチップ状電子部品を収納して
装着機に供給するためのキャリアテープと、このテープ
を用いて電子部品の電気的な特性を測定する測定方法に
関するものである。

〈従来の技術と問題点〉 従来リードレスのチップ状電子部品を収納して装着はに
供給するため、第５図ないし第７図の如く、一定間隔で
送り孔１を設けたテープ本体２にチップ状電子部品Ａを
収納するキャビティ３をエンボス加工によって形成し、
キャビティ３の開口面をテープ本体２上に貼付けたカバ
ーテープ４で閉鎖したキャリアテープ５が用いられてお
り、このキャリアテープ５には、第５図に示したようキ
ャビティ３に孔のない密閉タイプと、第６図と第７図の
ように、キャビティ３の底部に孔６を設けたタイプのも
のが使用に供されている。

なお、キャビティ３の底部に孔６を設けたタイプの孔６
は、部品装着時に孔６の部分で下からガイドピンを挿入
して電子部品Ａを押上げ、キャビティ３内から電子部品
Ａを、吸着による取出し作業が円滑に行なえるようにす
るものである。

ところで、チップ状電子部品を製造してユーザに供給す
る側は、キャリアテープ５に収納した電子部品Ａの品質
保証の義務があるが、従来のキャリアテープ５では透明
材質の材料を用いている場合、収納後において外観的な
保証は可能であるが、電気的な性能については、テープ
本体２上に貼着したカバーテープ４を剥がし、電子部品
Ａを取出して測定する以外に方法がなかった。

従って、手数と時間がかかり、またカバーテープの粘着
力低下を伴うことになり、特に長期間保存した後の両測
定や同形異特性部品の品名利足などが必要な場合に不便
であるという問題がある。

〈発明の目的〉 この発明は上記のような問題点を解決するためになされ
たものであり、カバーテープを剥がすことなく内部に収
納した電子部品の電気的な測定が行なえるキャリアテー
プとこのキャリアテープを用いて電子部品の電気的な測
定が簡単且つ容易に行なえる測定方法を提供することを
目的とする。

〈問題点を解決するための手段〉 上記のような問題点を解決するため、この発明のキャリ
アテープは、キャビティの複数個所で、内部に収納した
チップ状電子部品の外部引出電極と対応する位置に測定
用の孔を設けた構造としたものである。

上記問題点を解決するこの発明の測定方法は、キャビテ
ィに測定用の孔を設けたキャリアテープを用い、キャビ
ティの孔に測定ピンを挿入してチップ状電子部品の外部
引出電極に接触させ、カバーテープを外さずにチップ状
電子部品の電気的な測定を行なうようにしたものである
。

く作用〉 キャビティ内にチップ状電子部品を収納したキャリアテ
ープにおいて、キャビティに設けた測定用の孔に測定用
金属ピンを挿入し、このピンを上記電子部品の各外部引
出端子と接触させれば、カバーテープを剥がすことなく
キャビティ内の電子部品に対する電気的な測定が行なえ
る。

〈実施例〉 以下、この発明の実施例を添付図面の第１図ないし第４
図にもとづいて説明する。

図示のように、チップ状電子部品Ａを収納するキャリア
テープ１１は送り孔１２を一定間隔で設けたテープ本体
１３に一定の間隔でキャビティ１４をエンボス加工によ
って形成し、電子部品Ａを納めたキャビティ１４の開口
面をテープ本体１３上に貼付けたカバーテープ１５によ
って閉鎖すると共に、キャビティ１４の複数個所で電子
部品Ａの外部引出電極と対応する位置に測定用の孔１６
を設けて構成されている。

前記キャビティ１４内に収納するリードレスのチップ状
電子部品Ａとしては、第２図と第３図の場合、素子を収
納した筒状ケースＡ１の両端に外部引出電極８となる金
属キャップを嵌着した積層コンデンサを例示しており、
また第４図は圧電基板Ａ２の一面側に入出力端子Ｂ１、
Ｂ２とアース端子Ｂ、を設けた電子部品を示している。

上記キャビティ１４に設ける測定用の孔１６は、収納す
る電子部品Ａの外部引出電極Ｂの数に合ぜると共に設け
る位置は第３図のように外部電極Ｂと対応するキャビテ
ィ１４の底面や、第１図と第２図の如くキャビティ１４
の側面の何れでもよい。

また、第４図のように、３端子形の電子部品Ａの場合、
キャビティ１４の底面に測定用の孔１６を３個並べて設
け、中央位置の孔を測定と押上げ用の兼用孔１６ａとし
てもよい。

上記キャビティ１４は、収納する電子部品Ａに対して最
少寸法に形成し、測定用の孔１６が外部引出電極Ｂと正
確に対応するようにする。

前記キャビティ１４内に収納した電子部品Ａの測定に用
いる測定ピンＣは直径１闇程度であり、測定時にキャリ
アテープ１１は送り孔１２を利用して固窓上できるため
、測定ピンＣを正確に外部引出電極Ｂに接触させること
ができ、従ってキャビティ１４に設ける測定用の孔１６
は直径１．５題程度で十分である。

なお、測定ピンＣの直径を細くすれば測定用の孔１６は
更に小さくでき、微少電子部品の場合にも十分に応用で
きる。

キャリアテープ１１のキャビティ１４に収納した電子部
品Ａの電気的な特性の測定を行なうには、送り孔１２を
利用してキャリアテープ１１を固定化した状態で、キャ
ビティ１４に設けた測定用の孔１６に測定ピンＣを挿入
して外部引出電極Ｂと接触させればよく、カバーテープ
１５を剥がすことなく測定が行なえる。

〈効果〉 以上のように、この発明によると、チップ状電子部品を
収納するキャリアテープのキャビティに測定用の孔を外
部引出電極と対応するよう設け、測定ピンを孔に挿入し
て測定するようにしたので、キャリアテープ内に収納し
た電子部品の電気特性の測定がカバーテープを剥がすこ
となく行なえ、測定作業の能率を大幅に向上させること
ができる。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明に係るキャリアテープ本体を示す斜視
図、第２図は電子部品を収納したキャリアテープの測定
状態を示す縦断面図、第３図は同上の他の例を示す縦断
面図、第４図は更に他の例を示す縦断面図、第５図と第
６図は従来のキャリアテープの異なった例を示す斜視図
、第７図は同上における電子部品の収納状態を示す縦断
面図である。 １１・・・キャリアテープ　　　　１２・・・送り孔１
３・・・テープ本体　　　　　　１４・・・キャピテイ
１５・・・カバーテープ　　　　　１６・・・測定用の
孔Ａ−・・電子部品　　　　　　　Ｂ・・・外部引出電
極Ｃ・・・測定用ピン 出願人代理人　　弁理士　　和　１）暗渠１図 に　１：１３　Ｌ　ＩｂＱ　ｕ 第５図 第７図

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. （１）テープ本体にキャビティをエンボス加工し、チッ
   プ状電子部品を収納したキャビティの開口面をテープ本
   体上に貼合せたカバーテープで閉鎖したキャリアテープ
   において、キャビティの複数個所で、内部に収納したチ
   ップ状電子部品の外部引出電極と対応する位置に、測定
   用の孔を設けたことを特徴とするチップ状電子部品用キ
   ャリアテープ。
2. （２）テープ本体にキャビティをエンボス加工し、チッ
   プ状電子部品を収納したキャビティの開口面をテープ本
   体上に貼付けたカバーテープで閉鎖し、キャビティの複
   数個所で、内部に収納したチップ状電子部品の外部引出
   電極と対応する位置に、測定用の孔を設けたキャリアテ
   ープを用い、キャビティの孔に測定ピンを挿入してチッ
   プ状電子部品の外部引出電極に接触させ、カバーテープ
   を外さずにチップ状電子部品の電気的な測定を行なうこ
   とを特徴とするチップ状電子部品用キャリアテープを用
   いたチップ状電子部品の測定方法。