JPS63241445A - 押込硬さ試験装置 - Google Patents
押込硬さ試験装置Info
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- JPS63241445A JPS63241445A JP7815687A JP7815687A JPS63241445A JP S63241445 A JPS63241445 A JP S63241445A JP 7815687 A JP7815687 A JP 7815687A JP 7815687 A JP7815687 A JP 7815687A JP S63241445 A JPS63241445 A JP S63241445A
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- JP
- Japan
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- indenter
- sample
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
本発明は、圧子に試験荷重を負荷し、その時の圧子の試
料表面への押込深さがら試料の硬さを求める押込硬さ試
験装置に関する。
料表面への押込深さがら試料の硬さを求める押込硬さ試
験装置に関する。
［従来の技術］
四角錐等の鋭利な先端部をもつ圧子を試験片の表面に押
し込み、その時の圧子の押込み深さと荷重から表面硬度
を求める押込硬さ試験が硬度測定法の一つとして採用さ
れている。この押込硬さ試験を行なう装置では、試料を
試料台上に載置し、定位置にある試料に対し圧子を下降
させ、圧子が試料表面に接触した点を検出し、この点の
荷重を試料荷重の０点とするとともに、その後の圧子の
変位を押込深さとして検出している。
し込み、その時の圧子の押込み深さと荷重から表面硬度
を求める押込硬さ試験が硬度測定法の一つとして採用さ
れている。この押込硬さ試験を行なう装置では、試料を
試料台上に載置し、定位置にある試料に対し圧子を下降
させ、圧子が試料表面に接触した点を検出し、この点の
荷重を試料荷重の０点とするとともに、その後の圧子の
変位を押込深さとして検出している。
［発明が解決しようとする問題点］
上記従来の押込硬さ試験装置では、圧子が試料表面に接
触すると試料の抵抗で圧子の速度が低下することから、
圧子の速度が一定速度以下に派速した時点を接触点とし
て検出していたので、実際の接触時点との間に誤差を生
していた。また、圧子の負荷手段としては、電子天秤等
が使用されており、負荷伝達部のバネ常数が付加される
ため、天秤等の負荷出力と実際に圧子に加えられる荷重
との間にも差が生じていた。例えば第２図の荷重と変位
の関係を示す特性図において、Ａ曲線が従来法による場
合を示す。同図において、実際に圧子が試料に接触した
時点の変位および荷重はり。
触すると試料の抵抗で圧子の速度が低下することから、
圧子の速度が一定速度以下に派速した時点を接触点とし
て検出していたので、実際の接触時点との間に誤差を生
していた。また、圧子の負荷手段としては、電子天秤等
が使用されており、負荷伝達部のバネ常数が付加される
ため、天秤等の負荷出力と実際に圧子に加えられる荷重
との間にも差が生じていた。例えば第２図の荷重と変位
の関係を示す特性図において、Ａ曲線が従来法による場
合を示す。同図において、実際に圧子が試料に接触した
時点の変位および荷重はり。
、Ｐｏであるが、測定される点としては、圧ｒ−接触の
検知誤差が加わったり５．天秤の変位に要する荷重（図
中の破線か示す）が加わったＰｌとなり、押込終了時の
変位および荷重の測定点はＤ２、Ｐ４となる。これら測
定値による測定硬度値Ｈ４はＨ＋ ＝ Ｋ ／ （Ｄ
２ Ｄ ＋）２ ・（ｐ４−ｐ＋）となるか、理論値
Ｈｏは、変位点Ｄ２に対し天秤の変位に要する荷重Ｐ２
を考慮してＨｏ−（Ｋ／（Ｄ２−Ｄｏ）２） ・ （
Ｐ４−Ｐ２）となる。したがって従来装置による測定で
は、接触点検出に誤差を含み荷重測定については補正が
必要であり、正確な硬度測定を行なうことができないと
いう問題点があった。また、一定荷重増加速度での硬度
測定を行なうことはできるか、変位の定速負荷を行なう
ことができないという問題点もあった。
検知誤差が加わったり５．天秤の変位に要する荷重（図
中の破線か示す）が加わったＰｌとなり、押込終了時の
変位および荷重の測定点はＤ２、Ｐ４となる。これら測
定値による測定硬度値Ｈ４はＨ＋ ＝ Ｋ ／ （Ｄ
２ Ｄ ＋）２ ・（ｐ４−ｐ＋）となるか、理論値
Ｈｏは、変位点Ｄ２に対し天秤の変位に要する荷重Ｐ２
を考慮してＨｏ−（Ｋ／（Ｄ２−Ｄｏ）２） ・ （
Ｐ４−Ｐ２）となる。したがって従来装置による測定で
は、接触点検出に誤差を含み荷重測定については補正が
必要であり、正確な硬度測定を行なうことができないと
いう問題点があった。また、一定荷重増加速度での硬度
測定を行なうことはできるか、変位の定速負荷を行なう
ことができないという問題点もあった。
［問題点を解決するだめの手段コ
上記問題点を解決するために、本発明は次のような構成
を採用した。
を採用した。
すなわち、本発明にかかる押込硬さ試験装置は、所定位
置に保持される圧子に所定荷重を負荷する負荷手段と、
圧子に加えらえる荷重を検出する荷ｔｆＨ検出手段と、
載置された試料を圧子に当接する方向に移動する可動テ
ーブルと、該可動テーブルを駆動する駆動手段と、試料
台の変位を検出する変位検出手段とを備えてなることを
特徴としている。
置に保持される圧子に所定荷重を負荷する負荷手段と、
圧子に加えらえる荷重を検出する荷ｔｆＨ検出手段と、
載置された試料を圧子に当接する方向に移動する可動テ
ーブルと、該可動テーブルを駆動する駆動手段と、試料
台の変位を検出する変位検出手段とを備えてなることを
特徴としている。
［作 用コ
駆動手段によって移動する可動テーブルに載置された試
料が所定位置に保持された圧子と接触すると荷重検出手
段が荷重を検出するので・、この荷重検出時を接触点と
することができる。まｋ、圧子と試料が接触したのち可
動テーブルをさらに圧子側へ８動させれば圧ｆが試料表
面に押し込まれるが、この時の可動テーブルの変位を変
位検出手段によって検出し、試料の押込深さを求めるこ
とができる。また、荷重検出路によって、試料に加えら
れる荷重を検出することができる。
料が所定位置に保持された圧子と接触すると荷重検出手
段が荷重を検出するので・、この荷重検出時を接触点と
することができる。まｋ、圧子と試料が接触したのち可
動テーブルをさらに圧子側へ８動させれば圧ｆが試料表
面に押し込まれるが、この時の可動テーブルの変位を変
位検出手段によって検出し、試料の押込深さを求めるこ
とができる。また、荷重検出路によって、試料に加えら
れる荷重を検出することができる。
し実施例］
第１図は本発明のｌ実ｈｈ例をあられす概略図である。
この押込硬さ試験装置１は、支点Ａによって支持された
レバー３と基点Ｂによって支持され荷重発生部６の荷重
を圧子２に伝える荷重レバー４とで構成されるロバ−パ
ル機構９を有し、これら両レバー３．４の先端部は、試
料８の直上部に圧子２を保持する垂直方向の圧子保持棒
５に枢着されている。この荷重レバー４、負荷発生部６
等は電子天秤式の負荷機構１０を構成する。また、圧子
保持棒５には圧子２の変位を検出する差動トランス式の
変位検出器７が設けられている。
レバー３と基点Ｂによって支持され荷重発生部６の荷重
を圧子２に伝える荷重レバー４とで構成されるロバ−パ
ル機構９を有し、これら両レバー３．４の先端部は、試
料８の直上部に圧子２を保持する垂直方向の圧子保持棒
５に枢着されている。この荷重レバー４、負荷発生部６
等は電子天秤式の負荷機構１０を構成する。また、圧子
保持棒５には圧子２の変位を検出する差動トランス式の
変位検出器７が設けられている。
試料８はテーブル１２上に載置されるが、テーブル１２
は、載置された試料８を圧子２に対し上下動させる移動
装置１３上に取り付けら打ている。移動装置１３は、枠
体１５内の中央部に電磁コイル部１６が設けられ、この
電磁コイル部１６に生じる１′に磁力によってテーブル
１２を移動させるように構成されている。すなわち、電
磁コイル部１６に１１〈挿されたコア部１８が、電磁コ
イル部１６に生じる電磁力によってテーブル側へ押し上
げられる力を利用するものである。
は、載置された試料８を圧子２に対し上下動させる移動
装置１３上に取り付けら打ている。移動装置１３は、枠
体１５内の中央部に電磁コイル部１６が設けられ、この
電磁コイル部１６に生じる１′に磁力によってテーブル
１２を移動させるように構成されている。すなわち、電
磁コイル部１６に１１〈挿されたコア部１８が、電磁コ
イル部１６に生じる電磁力によってテーブル側へ押し上
げられる力を利用するものである。
この伝達部について説明する。コア部Ｉ８の北端部に形
成した突出部１８ａは、枠体１５の上端部にボルト２２
によって取り付けた円板ばね１９の中央孔に挿入され、
さらに上部の保Ｉ、γ板２４の凹部２４ａに部分的に嵌
合している。これらコア部１８、円板ばね１９、保持板
２４はこれらに挿通された締結螺子２１によって一体的
に固定される。コア部１８は、板ばね１９の反力に抗し
ながら電磁力によってＬ方へ移動１−る。保持板２４ト
には、スペーサ２５．・・・を介してテーブル設置台２
６が設けられ、これにテーブルＩ２か設置されている。
成した突出部１８ａは、枠体１５の上端部にボルト２２
によって取り付けた円板ばね１９の中央孔に挿入され、
さらに上部の保Ｉ、γ板２４の凹部２４ａに部分的に嵌
合している。これらコア部１８、円板ばね１９、保持板
２４はこれらに挿通された締結螺子２１によって一体的
に固定される。コア部１８は、板ばね１９の反力に抗し
ながら電磁力によってＬ方へ移動１−る。保持板２４ト
には、スペーサ２５．・・・を介してテーブル設置台２
６が設けられ、これにテーブルＩ２か設置されている。
テーブル設置台２Ｇの裏面にはテーブルの変位を検出す
る差動トランス式の変位検出器２８が設けられている。
る差動トランス式の変位検出器２８が設けられている。
上記のように構成された実施例装置における硬度γ１（
１１定について説明する。まず、変位検出器７の出力信
呼に基づいて電子天秤１０を定位置に設定する。次いで
電磁コイル部１６に通電すると、コア部１８は円板ばね
１９の弾性力に抗しなから上昇し、テーブル１２に載置
された試料８が圧子２へ接近していく。この時、電磁コ
イル部１６に生じる７Ｆ磁力と円板ばね１９の反力は等
しい１．さらに、試料８が上シｊ１シ圧子２と接触する
と、変位検出器７が接触を検知する。荷重発生部６のコ
イルが通電され、圧子２に負荷機構ＩＯによって荷重が
加えられる。
１１定について説明する。まず、変位検出器７の出力信
呼に基づいて電子天秤１０を定位置に設定する。次いで
電磁コイル部１６に通電すると、コア部１８は円板ばね
１９の弾性力に抗しなから上昇し、テーブル１２に載置
された試料８が圧子２へ接近していく。この時、電磁コ
イル部１６に生じる７Ｆ磁力と円板ばね１９の反力は等
しい１．さらに、試料８が上シｊ１シ圧子２と接触する
と、変位検出器７が接触を検知する。荷重発生部６のコ
イルが通電され、圧子２に負荷機構ＩＯによって荷重が
加えられる。
この荷重量は荷重発生部６に通電される電流量によって
１ｔ（Ｊ御される。
１ｔ（Ｊ御される。
試料８が圧子２に接触後、試料８はさらに圧子２へ押し
つけらねるが、この時の試料８を押し上げる電磁コイル
１６の電磁力は、円板ばね１９の反力に圧子２の反力（
負荷機構ｌＯによる荷重）を加えたものと等しくなる。
つけらねるが、この時の試料８を押し上げる電磁コイル
１６の電磁力は、円板ばね１９の反力に圧子２の反力（
負荷機構ｌＯによる荷重）を加えたものと等しくなる。
この時５円板ばね１９の反力Ｗと円板ばね１９の変位δ
の関係は、δ＝α・（Ｗａ２／Ｅｔ）（Ｅ ：円板ばね
の縦弾性係数、ｔ：円板ばねの厚さ、ａ：円板ばねの外
側半径、ｂ二円板ばねの内側半径、α：支持方式による
定数（ｂ／ａＪ、４の時、ａ＝０．０４４） ）となる
。したかって、円板ばね１９の反力Ｗに対して圧子に加
わる荷重を非常に小さくすれば、電磁力と円板ばねの変
位はほぼ比例することになる。そこで、電磁コイル１６
の電流を制御することによって円板ばね１９の変位速度
、すなわち試料８の圧子２による押込変位速度を制御す
ることができる。また荷重発生部６への通電は変位検出
器７からの検出信号に応じて行なうことができるので、
ループ式の負荷制御が容易となる。
の関係は、δ＝α・（Ｗａ２／Ｅｔ）（Ｅ ：円板ばね
の縦弾性係数、ｔ：円板ばねの厚さ、ａ：円板ばねの外
側半径、ｂ二円板ばねの内側半径、α：支持方式による
定数（ｂ／ａＪ、４の時、ａ＝０．０４４） ）となる
。したかって、円板ばね１９の反力Ｗに対して圧子に加
わる荷重を非常に小さくすれば、電磁力と円板ばねの変
位はほぼ比例することになる。そこで、電磁コイル１６
の電流を制御することによって円板ばね１９の変位速度
、すなわち試料８の圧子２による押込変位速度を制御す
ることができる。また荷重発生部６への通電は変位検出
器７からの検出信号に応じて行なうことができるので、
ループ式の負荷制御が容易となる。
試料８が圧子２へ押しつけられ、圧子２が試料８の表面
に押込まれる際の荷重は、負荷機構ＩＯの荷「「発生部
６のコイルに通電される電流値によって測定され、圧子
２が試料に押込まれる深さは、変位検出器２８によって
検出されるテーブル１２の変位と、変位検出器７によっ
て検出される圧子２の変位との差から測定される。
に押込まれる際の荷重は、負荷機構ＩＯの荷「「発生部
６のコイルに通電される電流値によって測定され、圧子
２が試料に押込まれる深さは、変位検出器２８によって
検出されるテーブル１２の変位と、変位検出器７によっ
て検出される圧子２の変位との差から測定される。
荷重−変位の特性は第２ン１における特性面ＬａＢによ
って示される。すなわち、試料が圧子に接触した時点り
、から荷重が圧子に加えられ、しかも、圧子に加えられ
る荷重は、負荷機構１０の出力となり、従来のように電
子天秤によって圧子を試料表面へ移動させる際の天秤自
体の初期の変位に要する荷重が加わらないので、荷重測
定において天！ｆのばね定数の補正を必要とせず、荷重
が正確に測定されることになる。また、天秤側で荷重を
検出し時点を接触点とすることから、従来のように接触
検知前の押込深さ誤差（第２図におけるＤＩ−Ｄｏ）を
含まないことになる。したがって測定変位、荷重をＤ３
．Ｐ’３とすれば、本装置による測定硬度値ＨはＨ：＝
（に／ （Ｄ３−ＰＩ））・Ｐ３となり、正確な硬度測
定を行なうことができる。
って示される。すなわち、試料が圧子に接触した時点り
、から荷重が圧子に加えられ、しかも、圧子に加えられ
る荷重は、負荷機構１０の出力となり、従来のように電
子天秤によって圧子を試料表面へ移動させる際の天秤自
体の初期の変位に要する荷重が加わらないので、荷重測
定において天！ｆのばね定数の補正を必要とせず、荷重
が正確に測定されることになる。また、天秤側で荷重を
検出し時点を接触点とすることから、従来のように接触
検知前の押込深さ誤差（第２図におけるＤＩ−Ｄｏ）を
含まないことになる。したがって測定変位、荷重をＤ３
．Ｐ’３とすれば、本装置による測定硬度値ＨはＨ：＝
（に／ （Ｄ３−ＰＩ））・Ｐ３となり、正確な硬度測
定を行なうことができる。
圧子の負荷機構とテーブルの移動機構はそれぞれ独立し
て構成されるので、試料を載置するテーブルと圧子を試
料に押込む機構とがコ字形の機枠に組込まれた従来装置
のように、圧子を試料表面に押込む際、試験機の機枠に
反力が働いて機枠が歪むために生じる変位の測定誤差も
なくすことができ、測定精度を高めることかできる。
て構成されるので、試料を載置するテーブルと圧子を試
料に押込む機構とがコ字形の機枠に組込まれた従来装置
のように、圧子を試料表面に押込む際、試験機の機枠に
反力が働いて機枠が歪むために生じる変位の測定誤差も
なくすことができ、測定精度を高めることかできる。
上記実施例では、テーブルを押し上げる手段を電磁力を
利用したもので構成したが、油圧、スクリュー等を用い
て構成することもできる。
利用したもので構成したが、油圧、スクリュー等を用い
て構成することもできる。
［発明の効果］
上記説明から明らかなように、本発明にかかる押込硬さ
試験装置によれば、圧子と試料の接触時点か正確に検出
でき、しかも電子天秤等の負荷手段によっても圧子に加
えられる荷重を高粒度に検出できる。したがって天秤の
ばね定数を考慮した補正を行なうことなく正確に荷重を
検出できるので、試料の硬度測定を正確に行うことがで
きるようになフた。また、試料側を移動させるので、変
位速度をほぼ一定にした負荷が可能となった。
試験装置によれば、圧子と試料の接触時点か正確に検出
でき、しかも電子天秤等の負荷手段によっても圧子に加
えられる荷重を高粒度に検出できる。したがって天秤の
ばね定数を考慮した補正を行なうことなく正確に荷重を
検出できるので、試料の硬度測定を正確に行うことがで
きるようになフた。また、試料側を移動させるので、変
位速度をほぼ一定にした負荷が可能となった。
第１図は本発明にかかる押込硬さ試験装置の１実施例を
あられす概略図、第２図は従来装置と実施例装置とによ
り、測定される荷重−変位の特性を示す図である。 ■・・・押込硬さ試験装置 ２・・・圧子８・・・試料
】０・・・負荷機構１２・・・テーブル
１３・・・テーブル移動機構１１ｉ・・・電
磁コイル １９・・・円板ばね２８・・・変位検
出器 特許出願人 株式会社 、ａ律製作所 代理人 弁理士 菅 原 弘 志 第１図 第２図 櫨５イ立
あられす概略図、第２図は従来装置と実施例装置とによ
り、測定される荷重−変位の特性を示す図である。 ■・・・押込硬さ試験装置 ２・・・圧子８・・・試料
】０・・・負荷機構１２・・・テーブル
１３・・・テーブル移動機構１１ｉ・・・電
磁コイル １９・・・円板ばね２８・・・変位検
出器 特許出願人 株式会社 、ａ律製作所 代理人 弁理士 菅 原 弘 志 第１図 第２図 櫨５イ立
Claims (1)
- （１）所定位置に保持される圧子に所定荷重を負荷する
負荷手段と、圧子に加えらえる荷重を検出する荷重検出
手段と、載置された試料を圧子に当接する方向に移動す
る可動テーブルと、該可動テーブルを駆動する駆動手段
と、試料台の変位を検出する変位検出手段とを備えてな
る押込硬さ試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62078156A JP2737120B2 (ja) | 1987-03-30 | 1987-03-30 | 押込硬さ試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62078156A JP2737120B2 (ja) | 1987-03-30 | 1987-03-30 | 押込硬さ試験装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63241445A true JPS63241445A (ja) | 1988-10-06 |
| JP2737120B2 JP2737120B2 (ja) | 1998-04-08 |
Family
ID=13654055
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62078156A Expired - Fee Related JP2737120B2 (ja) | 1987-03-30 | 1987-03-30 | 押込硬さ試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2737120B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2019514024A (ja) * | 2016-04-04 | 2019-05-30 | ナノメカニックス インコーポレイテッド | 補償型機械試験システム |
| CN116735344A (zh) * | 2023-02-14 | 2023-09-12 | 中国科学院武汉岩土力学研究所 | 一种基于激光位移测距的微米压痕测试方法及微米压痕仪 |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5879249U (ja) * | 1981-11-24 | 1983-05-28 | セイコーエプソン株式会社 | 荷重可変方式硬度計 |
| JPS60115830A (ja) * | 1983-11-29 | 1985-06-22 | Shimadzu Corp | 硬度計 |
| JPS6199039U (ja) * | 1984-12-05 | 1986-06-25 | ||
| JPS6256840A (ja) * | 1985-09-05 | 1987-03-12 | Shinei Seisakusho:Kk | 硬度計 |
-
1987
- 1987-03-30 JP JP62078156A patent/JP2737120B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5879249U (ja) * | 1981-11-24 | 1983-05-28 | セイコーエプソン株式会社 | 荷重可変方式硬度計 |
| JPS60115830A (ja) * | 1983-11-29 | 1985-06-22 | Shimadzu Corp | 硬度計 |
| JPS6199039U (ja) * | 1984-12-05 | 1986-06-25 | ||
| JPS6256840A (ja) * | 1985-09-05 | 1987-03-12 | Shinei Seisakusho:Kk | 硬度計 |
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|---|---|---|---|---|
| JP2019514024A (ja) * | 2016-04-04 | 2019-05-30 | ナノメカニックス インコーポレイテッド | 補償型機械試験システム |
| CN116735344A (zh) * | 2023-02-14 | 2023-09-12 | 中国科学院武汉岩土力学研究所 | 一种基于激光位移测距的微米压痕测试方法及微米压痕仪 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2737120B2 (ja) | 1998-04-08 |
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