JPS63248190A - 半導体レ−ザ - Google Patents
半導体レ−ザInfo
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- JPS63248190A JPS63248190A JP8234487A JP8234487A JPS63248190A JP S63248190 A JPS63248190 A JP S63248190A JP 8234487 A JP8234487 A JP 8234487A JP 8234487 A JP8234487 A JP 8234487A JP S63248190 A JPS63248190 A JP S63248190A
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Links
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Landscapes
- Semiconductor Lasers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、光情報処理に用いる半導体レーザに関する。
半導体レーザをビデオディスクや光ディスクの読み取り
用光源として使用する場合には、雑音特性、特に戻り光
によって誘起される雑音の特性が問題となる。半導体レ
ーザの戻り光誘起雑音を低減するために、従来、種々の
方法が試みられているが中でも出力コヒーレンスの低減
は特に有効である。
用光源として使用する場合には、雑音特性、特に戻り光
によって誘起される雑音の特性が問題となる。半導体レ
ーザの戻り光誘起雑音を低減するために、従来、種々の
方法が試みられているが中でも出力コヒーレンスの低減
は特に有効である。
この方法のひとつとして高周波重畳による半導体レーザ
の低雑音化が大石、茅根、中村1尾島により1983年
秋季応用物理学関係連合講演会予稿集102頁、26a
−P−6r高周波重畳による半導体レーザの低雑音化と
縦モード特性jにおいて提案され有効であることが示さ
れている。
の低雑音化が大石、茅根、中村1尾島により1983年
秋季応用物理学関係連合講演会予稿集102頁、26a
−P−6r高周波重畳による半導体レーザの低雑音化と
縦モード特性jにおいて提案され有効であることが示さ
れている。
これに対して自動振動を生じさせ縦モードをマルチ1ヒ
して低雑音化にする方法が銘木、松本、田村、渡辺、栗
原により電子通信学会技術報告、光量子エレクトロニク
ス0QE84−57.39頁r I SSSレーザの雑
音特性と自己パレス変調の機構」において提案され試み
られている。
して低雑音化にする方法が銘木、松本、田村、渡辺、栗
原により電子通信学会技術報告、光量子エレクトロニク
ス0QE84−57.39頁r I SSSレーザの雑
音特性と自己パレス変調の機構」において提案され試み
られている。
さらに現在ではより多機能化をねらい光ディスク等の読
み取り用光源だけでなく、光ディスク等への光書きこみ
用光源をかねそなえた光情報複合半導体レーザ素子が要
求されつつある。特に光ディスク等への光書きこみ用光
源として用いる場合には安定な基本横モード発振でかつ
大光出力発振に耐える必要がある。かかる複合半導体レ
ーザ素子としては、例えば用野、遠藤、伊藤、桑村、上
野、古瀬により1984年秋季第45回応用物理学会学
術講涜会講演予稿集190頁、15a−R−7、rAI
GaAs BCMレーザアレイ」で発表された如く電
極を分離した独立駆動の二個のレーザをそなえた素子が
提案され試作されている。
み取り用光源だけでなく、光ディスク等への光書きこみ
用光源をかねそなえた光情報複合半導体レーザ素子が要
求されつつある。特に光ディスク等への光書きこみ用光
源として用いる場合には安定な基本横モード発振でかつ
大光出力発振に耐える必要がある。かかる複合半導体レ
ーザ素子としては、例えば用野、遠藤、伊藤、桑村、上
野、古瀬により1984年秋季第45回応用物理学会学
術講涜会講演予稿集190頁、15a−R−7、rAI
GaAs BCMレーザアレイ」で発表された如く電
極を分離した独立駆動の二個のレーザをそなえた素子が
提案され試作されている。
上記高周波重畳を用いる方法では、高周波駆動回路が必
要であるばかりでなく、外部機構へ高周波が漏れる等の
弊害を伴なうという問題がある。
要であるばかりでなく、外部機構へ高周波が漏れる等の
弊害を伴なうという問題がある。
一方、自動振動を生じさせる方法では、層厚や溝幅なと
のレーザ構造に対して自動振動の特性がきわめて敏感に
依存することが予想され、このため安定な自動振動を示
すデバイスの収率は低くなる欠点を有している。更に、
光書き込みに必要な大光出力動作は不可能である。また
、複合半導体レーザ素子では前記例を含めこれまでに提
案されたものは単に二つのレーザをならべただけであり
、光情報処理複合半導体レーザ素子に要求されている光
書きこみ用としての大光出力発振光源と低雑音特性を有
する読み取り用光源とをかねそなえていなかった。
のレーザ構造に対して自動振動の特性がきわめて敏感に
依存することが予想され、このため安定な自動振動を示
すデバイスの収率は低くなる欠点を有している。更に、
光書き込みに必要な大光出力動作は不可能である。また
、複合半導体レーザ素子では前記例を含めこれまでに提
案されたものは単に二つのレーザをならべただけであり
、光情報処理複合半導体レーザ素子に要求されている光
書きこみ用としての大光出力発振光源と低雑音特性を有
する読み取り用光源とをかねそなえていなかった。
本発明の目的は上記諸欠点を除去し安定な自励振動を生
じ低雑音特性を持つ読み取り用光源を有すると共に安定
な基本横モード発振を維持し大光出力発振が可能な光書
きこみ用光源をら持つ、制御性および再現性のすぐれた
複合半導体レーザを提供することにある。
じ低雑音特性を持つ読み取り用光源を有すると共に安定
な基本横モード発振を維持し大光出力発振が可能な光書
きこみ用光源をら持つ、制御性および再現性のすぐれた
複合半導体レーザを提供することにある。
本発明の半導体レーザは、共振器の長手方向に第1の凸
部領域と該第1の凸部領域の凸部よりも幅の広い凸部を
有する第2の凸部領域とを平行に形成した半導体基板上
に、第1のクラッド層を備え、該第1のクラッド層に隣
接して互いにバンドギャップの異なる数十原子層からな
る二種の超薄膜層を交互に積み重ねた多重量子井戸の活
性層を。
部領域と該第1の凸部領域の凸部よりも幅の広い凸部を
有する第2の凸部領域とを平行に形成した半導体基板上
に、第1のクラッド層を備え、該第1のクラッド層に隣
接して互いにバンドギャップの異なる数十原子層からな
る二種の超薄膜層を交互に積み重ねた多重量子井戸の活
性層を。
備え、該活性層に隣接して該活性層よりも屈折率が小さ
くクラッド層よりも屈折率が大きい材質からなるガイド
層を備え、該ガイド層に隣接して該ガイド層と反対の導
電型を有し該ガイド層よりも屈折率の小さい材質からな
る第2のクラッド層を備えた多層構造を有し、各成長層
は該第1と第2との凸部領域の凸部に沿って一様な層厚
で成長されており、該第1の凸部領域の両層射面近傍で
は不純物を該凸部の活性層内まで拡散してその活性層を
混晶化するとともに該第2の凸部領域の両層射面近傍で
は不純物を第2の凸部領域の凸部の中央部をのぞいたそ
の外側部で活性層内まで拡散してその活性層を混晶化し
た形態を有し、共振器の長手方向において両層射面近傍
の各々の不純物拡散領域からそれぞれ少なくともキャリ
ア拡散長以上はなれた共振器中央領域でかつ該第1と第
2の凸部領域の凸部に位置する領域に電流注入領域を設
けたことを特徴とする。
くクラッド層よりも屈折率が大きい材質からなるガイド
層を備え、該ガイド層に隣接して該ガイド層と反対の導
電型を有し該ガイド層よりも屈折率の小さい材質からな
る第2のクラッド層を備えた多層構造を有し、各成長層
は該第1と第2との凸部領域の凸部に沿って一様な層厚
で成長されており、該第1の凸部領域の両層射面近傍で
は不純物を該凸部の活性層内まで拡散してその活性層を
混晶化するとともに該第2の凸部領域の両層射面近傍で
は不純物を第2の凸部領域の凸部の中央部をのぞいたそ
の外側部で活性層内まで拡散してその活性層を混晶化し
た形態を有し、共振器の長手方向において両層射面近傍
の各々の不純物拡散領域からそれぞれ少なくともキャリ
ア拡散長以上はなれた共振器中央領域でかつ該第1と第
2の凸部領域の凸部に位置する領域に電流注入領域を設
けたことを特徴とする。
以下図面を参照して本発明の詳細な説明丈る。
第1図は本発明の一実施例の斜視図、第2図、第3図、
第4図、および第5図はそれぞれ第1図のA−A’ 、
B−B’ 、 C−C’ 、 D−D’断面図である
、まず、第6図に示すように(100)面を平面とする
n型GaAs基板10上にSiO□膜11全11フォト
レジスト法で(011)方向に幅2μmと幅6μmの2
本のストライプ状のSiO2膜を100μm1ilIシ
て残し他の部分に窓をあけ深さ1.0μmエツチングす
る。この時(011)方向においては、5i02膜11
を残した領域が凸状の順メサの構造となり幅の狭い第1
の凸部領域12と幅の広い第2の凸部領域13とが形成
される。
第4図、および第5図はそれぞれ第1図のA−A’ 、
B−B’ 、 C−C’ 、 D−D’断面図である
、まず、第6図に示すように(100)面を平面とする
n型GaAs基板10上にSiO□膜11全11フォト
レジスト法で(011)方向に幅2μmと幅6μmの2
本のストライプ状のSiO2膜を100μm1ilIシ
て残し他の部分に窓をあけ深さ1.0μmエツチングす
る。この時(011)方向においては、5i02膜11
を残した領域が凸状の順メサの構造となり幅の狭い第1
の凸部領域12と幅の広い第2の凸部領域13とが形成
される。
次にこのSiO□膜11全11した後n形AeO,45
G a (1,55A S第1クラッド層14を1.5
.czm成長し、アンドープのGaAsを50人、アン
ドープのA I! 0.2 G ao、g A sバリ
ヤ一層を30人交互に成長してGaAs層7層とバリヤ
一層6層とからなる多重量子井戸活性層15を形成した
後p形A e 0.35G a o、65A sガイド
層16を1.0μm、n形A !! 6.450 a
(1,55A S第2クラッド層17を0.8μm、n
形GaAsキャップ層18を0.5μmMOcVD法で
連続成長する。この場合、活性層の発振波長は0.77
〜0,78μmとなる。
G a (1,55A S第1クラッド層14を1.5
.czm成長し、アンドープのGaAsを50人、アン
ドープのA I! 0.2 G ao、g A sバリ
ヤ一層を30人交互に成長してGaAs層7層とバリヤ
一層6層とからなる多重量子井戸活性層15を形成した
後p形A e 0.35G a o、65A sガイド
層16を1.0μm、n形A !! 6.450 a
(1,55A S第2クラッド層17を0.8μm、n
形GaAsキャップ層18を0.5μmMOcVD法で
連続成長する。この場合、活性層の発振波長は0.77
〜0,78μmとなる。
上記成長において従来から行なわれている液相成長は各
成長層ごとに各組成を制御したメルトを容易して基板を
移動して各層を成長していく方法であるため本発明の如
き多層構造の成長はきわめて困難であるばかりでなく各
組成各層圧を制御することは不可能である。これに対し
てMOCVD法は有機金属を用いた気相成長法であるの
で混合ガスの組成を変化させることで任意の組成の層を
任意の多層に容易に成長させることができるので本発明
の構造の成長を制御よく容易に行うことができる。更に
MOVCD法では薄膜成長が可能でありかつ精密な膜厚
制御性を兼ね備えているので上記の如き層厚の薄い多重
量子井戸活性層15を膜厚の制御よく成長することがで
きる。XMOCVD法では各組成の微粒子が結合しなが
ら成長していくので成長の面方位依存性はなくどの方向
にも一様な厚さで成長する。従って本発明の構造の如く
凸状基板上に多層成長させても凸部の形状に沿って一様
な層厚の層が成長していく。
成長層ごとに各組成を制御したメルトを容易して基板を
移動して各層を成長していく方法であるため本発明の如
き多層構造の成長はきわめて困難であるばかりでなく各
組成各層圧を制御することは不可能である。これに対し
てMOCVD法は有機金属を用いた気相成長法であるの
で混合ガスの組成を変化させることで任意の組成の層を
任意の多層に容易に成長させることができるので本発明
の構造の成長を制御よく容易に行うことができる。更に
MOVCD法では薄膜成長が可能でありかつ精密な膜厚
制御性を兼ね備えているので上記の如き層厚の薄い多重
量子井戸活性層15を膜厚の制御よく成長することがで
きる。XMOCVD法では各組成の微粒子が結合しなが
ら成長していくので成長の面方位依存性はなくどの方向
にも一様な厚さで成長する。従って本発明の構造の如く
凸状基板上に多層成長させても凸部の形状に沿って一様
な層厚の層が成長していく。
次にn形GaAsキャップ層18をSiO2膜で被膜し
た後、フォトレジスト法で第1の凸部領域ではその両反
射面において長さ20μm幅6μmのストライプ状の窓
をあけ、第2の凸部領域ではその両反射面において凸部
中央を4μm除いたその両端に幅5μm長さ20μmの
ストライプ状の窓を二本平行にあけ、Z!1を第1クラ
ッド層14の途中まで拡散する(第1凸部のZ rr拡
散領域19.第2凸部のZn拡散領域20)。この時Z
nを拡散した部分の多重量子井戸活性層では無秩序化が
おこりAeGaAsの混晶になる(第1凸部領域の混晶
領域21.第2凸部の混晶領域22)。この無秩序化す
る現象は超格子の特徴としてレイディック(W、D、L
aidig)、ホロニヤツク(N、Ho 1onyak
)、カムラス(D、Camras)、 ヘス(K、He
5s)。
た後、フォトレジスト法で第1の凸部領域ではその両反
射面において長さ20μm幅6μmのストライプ状の窓
をあけ、第2の凸部領域ではその両反射面において凸部
中央を4μm除いたその両端に幅5μm長さ20μmの
ストライプ状の窓を二本平行にあけ、Z!1を第1クラ
ッド層14の途中まで拡散する(第1凸部のZ rr拡
散領域19.第2凸部のZn拡散領域20)。この時Z
nを拡散した部分の多重量子井戸活性層では無秩序化が
おこりAeGaAsの混晶になる(第1凸部領域の混晶
領域21.第2凸部の混晶領域22)。この無秩序化す
る現象は超格子の特徴としてレイディック(W、D、L
aidig)、ホロニヤツク(N、Ho 1onyak
)、カムラス(D、Camras)、 ヘス(K、He
5s)。
コールマン(、J、J、Co l eman)、ダブカ
ス(P、D、Dapkus)、バーディーン(J。
ス(P、D、Dapkus)、バーディーン(J。
B a r d e e n )がアプライド・フィジ
ックス・レターズ(Applied Physics
Letters)誌、1981年、38巻、N0110
.776頁から778頁にわたって[不純物拡散による
AlAs−GaAs超格子の無秩序化(Disorde
r of an AlAs−GaAs 5up
erlattice byi m p u r i
t y d i f f u s i o n )
Jと題して、AlGa−GaAs超格子に不純物(Z
rl)拡散するとAeGaとGaAsとが混晶化してA
e G a A sになることを発表している。
ックス・レターズ(Applied Physics
Letters)誌、1981年、38巻、N0110
.776頁から778頁にわたって[不純物拡散による
AlAs−GaAs超格子の無秩序化(Disorde
r of an AlAs−GaAs 5up
erlattice byi m p u r i
t y d i f f u s i o n )
Jと題して、AlGa−GaAs超格子に不純物(Z
rl)拡散するとAeGaとGaAsとが混晶化してA
e G a A sになることを発表している。
次にS i 02膜を除去洟、再びn形GaAsキャッ
プ層18表面上にSi○2膜23膜形3した後フォ)・
レジスト法で第1凸部領域12と第2凸部領域13とに
一致しかつ共振器の長て方向において前記Zn#A散領
域19.20の端からそれぞれ10μmはなれた共振器
中央領域に幅4μmのストライプ状の窓を二本平行にあ
けZnをその拡散フロントがガイド層16内にくるよう
に拡散する(第1凸部領域のZn拡散領域24.第2凸
部領域のZn拡散領域25)。この後成長表面側にp形
オーミックコンタクト26.基板側にn形オ−ミックコ
ンタクト27をつけると本実施例の半導体レーザを得る
(第1図、第2図、第3図、第4図、第5図)。
プ層18表面上にSi○2膜23膜形3した後フォ)・
レジスト法で第1凸部領域12と第2凸部領域13とに
一致しかつ共振器の長て方向において前記Zn#A散領
域19.20の端からそれぞれ10μmはなれた共振器
中央領域に幅4μmのストライプ状の窓を二本平行にあ
けZnをその拡散フロントがガイド層16内にくるよう
に拡散する(第1凸部領域のZn拡散領域24.第2凸
部領域のZn拡散領域25)。この後成長表面側にp形
オーミックコンタクト26.基板側にn形オ−ミックコ
ンタクト27をつけると本実施例の半導体レーザを得る
(第1図、第2図、第3図、第4図、第5図)。
次にこのようにして製作した本発明の半導体レーザの動
作および作用について説明する。第1図の構造において
、電極26から注入された電流はキャップ層18および
第2クラッド層17のZn拡散領域24と25とを通り
、ガイド層16を介して第1凸部領域12と、第2凸部
領域13との活性層15に注入される。活性層15に注
入されたキャリアは活性層の水平横方向に拡散していき
利得分布を形成しレーザ発振を開始する。本構造では電
流は共振器中央部においてZn拡散領域24.25を通
って注入されるので側皮射面近傍のZn拡散領域19.
20まで流れこみ無効電流になる割合はきわめて少ない
。特に本発明の構造では側皮射面近傍のZn拡散領域1
9.20は共振器中央領域の電流注入領域からキャリア
拡散長以上はなれているので、活性層に注入されたキャ
リアがZn拡散領域19.20まで拡散していく割合も
きわめて少ない。特に活性層上部のガイド層16の抵抗
を比較的高くすると側皮射面近傍のZn拡散領域19.
20に流れこむ電流は無視できる程になる。一方、光は
活性層15がらしみ出し垂直方向に広がる。活性層15
に隣接して屈折率の比教的高いガイド層16があるので
、光はこのガイドff16にひきこまれる。その結果光
の垂直方向の広がりはより助長される。
作および作用について説明する。第1図の構造において
、電極26から注入された電流はキャップ層18および
第2クラッド層17のZn拡散領域24と25とを通り
、ガイド層16を介して第1凸部領域12と、第2凸部
領域13との活性層15に注入される。活性層15に注
入されたキャリアは活性層の水平横方向に拡散していき
利得分布を形成しレーザ発振を開始する。本構造では電
流は共振器中央部においてZn拡散領域24.25を通
って注入されるので側皮射面近傍のZn拡散領域19.
20まで流れこみ無効電流になる割合はきわめて少ない
。特に本発明の構造では側皮射面近傍のZn拡散領域1
9.20は共振器中央領域の電流注入領域からキャリア
拡散長以上はなれているので、活性層に注入されたキャ
リアがZn拡散領域19.20まで拡散していく割合も
きわめて少ない。特に活性層上部のガイド層16の抵抗
を比較的高くすると側皮射面近傍のZn拡散領域19.
20に流れこむ電流は無視できる程になる。一方、光は
活性層15がらしみ出し垂直方向に広がる。活性層15
に隣接して屈折率の比教的高いガイド層16があるので
、光はこのガイドff16にひきこまれる。その結果光
の垂直方向の広がりはより助長される。
、 本発明の構造では活性層15は第3図に見られ
゛たように、水平横方向においてはガイド層16にはさ
みこまれている。従って活性層15の光は水平横方向で
は屈折率の高い活性層15に集光し正の屈折率分布にも
とすく正の屈折率ガイディング機構が作りつけられてい
る。一般に活性層の両端が屈折率の低いクラッド層では
さみこまれている場合には正の屈折率分布が大きくなり
すぎてその結果−次槽モード発振が低励起レベルで生じ
るおそれがあるのでこれを抑圧するため活性層の幅を狭
く限定する必要がある。これに対して本発明の構造では
活性層両端に隣接したガイド層の影響を受ける。ガイド
層の屈折率はクラッド層より大きく活性層との屈折率差
は比較的小さいので活性層水平横方向に作りつけられる
正の屈折率分布の高さを比較的小さくすることができ安
定な基本横モード発振を広範囲にわたる電流注入領域で
維持することができる。
゛たように、水平横方向においてはガイド層16にはさ
みこまれている。従って活性層15の光は水平横方向で
は屈折率の高い活性層15に集光し正の屈折率分布にも
とすく正の屈折率ガイディング機構が作りつけられてい
る。一般に活性層の両端が屈折率の低いクラッド層では
さみこまれている場合には正の屈折率分布が大きくなり
すぎてその結果−次槽モード発振が低励起レベルで生じ
るおそれがあるのでこれを抑圧するため活性層の幅を狭
く限定する必要がある。これに対して本発明の構造では
活性層両端に隣接したガイド層の影響を受ける。ガイド
層の屈折率はクラッド層より大きく活性層との屈折率差
は比較的小さいので活性層水平横方向に作りつけられる
正の屈折率分布の高さを比較的小さくすることができ安
定な基本横モード発振を広範囲にわたる電流注入領域で
維持することができる。
本発明の構造においては、第1凸部領域12上の活性層
で発振したレーザ光に対してその共振器長で方向側反射
面近傍の活性層は、Zn拡散により混晶化してAeGa
Asになり透明なウィンドウ構造になっている。本発明
の構造の第1凸部領域上の活性層は前述の如く共振器中
央部分の励起領域においてその両端がガイド層16には
さまれているので光は安定した正の屈折率ガイディング
でガイディングされて進行する。また混晶領域21であ
るウィンドウ部分の屈折率はガイド層16よりは大きい
のでウィンドウ領域の水平横方向両端はガイド層16に
はさまれており正の屈折率分布で光はガイディングされ
また垂直方向においてもウィンドウ部分に集光して進行
するので、ウィンドウ領域で光が広がることもない。こ
うしてウィンドウ領域を進行した光は損失をうけること
もなく反射面に達し、反射面で反射された光は混晶領域
21に隣接した活性層に効率よくはいり再励起されるの
で低閾値、高効率でレーザ発振をすることができる。
で発振したレーザ光に対してその共振器長で方向側反射
面近傍の活性層は、Zn拡散により混晶化してAeGa
Asになり透明なウィンドウ構造になっている。本発明
の構造の第1凸部領域上の活性層は前述の如く共振器中
央部分の励起領域においてその両端がガイド層16には
さまれているので光は安定した正の屈折率ガイディング
でガイディングされて進行する。また混晶領域21であ
るウィンドウ部分の屈折率はガイド層16よりは大きい
のでウィンドウ領域の水平横方向両端はガイド層16に
はさまれており正の屈折率分布で光はガイディングされ
また垂直方向においてもウィンドウ部分に集光して進行
するので、ウィンドウ領域で光が広がることもない。こ
うしてウィンドウ領域を進行した光は損失をうけること
もなく反射面に達し、反射面で反射された光は混晶領域
21に隣接した活性層に効率よくはいり再励起されるの
で低閾値、高効率でレーザ発振をすることができる。
本実施例の構造では、側皮射面近傍がレーザ発振光に対
してバンドギャップの広いウィンドウになっているので
、光学損傷(COD)の生じる光出力レベルを著しく上
昇させることができる。すなわち、通常の半導体レーザ
ではキャリア注入による励起領域となる活性層端面が反
射面として露出しており、そこでは表面再結合を生じ空
乏層(ヒしてバンドギャップが縮小している。大光出力
発振をさせると、この縮小したバンドギャップにより光
の吸収を生じ、そこで発熱して融点近くまで温度が上昇
し、ついには光学損傷を生じる。これに対し本実施例の
構造では側皮射面近傍は非励起領域になっているばかり
でなく、レーザ発振光を透過して発振するので、反射面
部分での光の吸収がなく光学損傷の生じる光出力レベル
を1桁以上上昇させることができ、大光出力発振が可能
となる。従って第1凸部領域では大光出力発振をする。
してバンドギャップの広いウィンドウになっているので
、光学損傷(COD)の生じる光出力レベルを著しく上
昇させることができる。すなわち、通常の半導体レーザ
ではキャリア注入による励起領域となる活性層端面が反
射面として露出しており、そこでは表面再結合を生じ空
乏層(ヒしてバンドギャップが縮小している。大光出力
発振をさせると、この縮小したバンドギャップにより光
の吸収を生じ、そこで発熱して融点近くまで温度が上昇
し、ついには光学損傷を生じる。これに対し本実施例の
構造では側皮射面近傍は非励起領域になっているばかり
でなく、レーザ発振光を透過して発振するので、反射面
部分での光の吸収がなく光学損傷の生じる光出力レベル
を1桁以上上昇させることができ、大光出力発振が可能
となる。従って第1凸部領域では大光出力発振をする。
一方本発明の構造において、第2凸部領域13ではその
共振器長で方向反射面近傍は凸部中央部分は活性層のま
まであるがその両端は混晶領域22になっている。混晶
領域22のA&GaAsの屈折率は活性層そのものより
低いので第2の凸部領域13上の活性層で発振したレー
ザ光ではこの両図射面近傍では凸部中央の活性層に集光
して進行する。共振器中央部分では前述の様に光は屈折
率ガイディング機構でガイディングされているので安定
な発振を維持することができる。ところで両図射面近傍
の凸部中央の活性層は非励起領域になっておりレーザ発
振光に対して150cm−’〜200cm−1程度の吸
収領域になる。この吸収領域に光は集光して進行するの
で、この第1凸部領域は共振器長で方向に可飽和吸収体
をもっていることになる。その結果、自励振動が生じ軸
モードが多モード化し軸モードのコヒーレンスが低減す
るために反射光に対する雑音はきわめて低く低雑音特性
が得られる。従って本発明の半導体レーザ素子は第2の
凸部領域では光読み取りに必要な低雑音レーザになる。
共振器長で方向反射面近傍は凸部中央部分は活性層のま
まであるがその両端は混晶領域22になっている。混晶
領域22のA&GaAsの屈折率は活性層そのものより
低いので第2の凸部領域13上の活性層で発振したレー
ザ光ではこの両図射面近傍では凸部中央の活性層に集光
して進行する。共振器中央部分では前述の様に光は屈折
率ガイディング機構でガイディングされているので安定
な発振を維持することができる。ところで両図射面近傍
の凸部中央の活性層は非励起領域になっておりレーザ発
振光に対して150cm−’〜200cm−1程度の吸
収領域になる。この吸収領域に光は集光して進行するの
で、この第1凸部領域は共振器長で方向に可飽和吸収体
をもっていることになる。その結果、自励振動が生じ軸
モードが多モード化し軸モードのコヒーレンスが低減す
るために反射光に対する雑音はきわめて低く低雑音特性
が得られる。従って本発明の半導体レーザ素子は第2の
凸部領域では光読み取りに必要な低雑音レーザになる。
なお上記実施例ではn形GaAs基板を用いたがpnを
反転させても本発明は実現できる。また本実施例はA
e G a A s / G a A sダブルへテロ
接合結晶材料について説明したが、その池の結晶材4′
4例えばI nGaP/AeI nP、I nGaAs
P、/T nGaP、I nGaAsP、/r nP。
反転させても本発明は実現できる。また本実施例はA
e G a A s / G a A sダブルへテロ
接合結晶材料について説明したが、その池の結晶材4′
4例えばI nGaP/AeI nP、I nGaAs
P、/T nGaP、I nGaAsP、/r nP。
Aj?GaAsSb、/GaAsSb等数多くの結晶材
11の半導体レーザにも本発明は適用できる。
11の半導体レーザにも本発明は適用できる。
本発明の半導体レーザは以上に説明したように、光書き
込み用光源に要求さiする安定な基本横モード大光出力
発振が可能なレーザ共振器と、自励振動が可能であり低
雑音特性を有する共振器とを持っている。大光出力発振
レーザ共振器である第1凸部領域と低雑音特性をもつレ
ーザ共振器である第2凸部領域とは数μm程度まで近づ
けることができ同一レンズで百出射光を集光させること
ができる。また、両方のレーザ共振器とも共振器中央で
は光は透過的にBH槽構造よってガイディンされさらに
両図射面近傍でもストライプ状のガイディング機構があ
るので共振器中央領域の活性領域と両層射面で反射され
た光とのカツプリングン効果も大きく低閾値、高効率の
発振をすることができる。
込み用光源に要求さiする安定な基本横モード大光出力
発振が可能なレーザ共振器と、自励振動が可能であり低
雑音特性を有する共振器とを持っている。大光出力発振
レーザ共振器である第1凸部領域と低雑音特性をもつレ
ーザ共振器である第2凸部領域とは数μm程度まで近づ
けることができ同一レンズで百出射光を集光させること
ができる。また、両方のレーザ共振器とも共振器中央で
は光は透過的にBH槽構造よってガイディンされさらに
両図射面近傍でもストライプ状のガイディング機構があ
るので共振器中央領域の活性領域と両層射面で反射され
た光とのカツプリングン効果も大きく低閾値、高効率の
発振をすることができる。
第1図は本発明の一実施例の斜視図、第2図。
第3図、第4図および第5図はそれぞれ第1図のA−A
’ 、B−B’ 、C−C’ 、D−D’断面図、第6
図は本実施例において基板を形成した時の断面図である
。 10−−− n形GaAs基板、1l−3i02膜、1
2・・・第1凸部領域、13・・・第2凸部領域、14
・・・n形A I Ll、45G a O,55A S
第1クラッド層。 15・・・多重量子井戸活性層、16・・・p形A e
0.35Gao、65A3ガイド層、17 ・−・n
形A 120.45G aO,55AS第2クラッド層
、18−・−n形GaAsキャップ層、lj、20,2
4.25・・・Z n拡散頭載、21.22・・・混晶
領域、23・・・5i02膜、26・・・p形オーミッ
クコンタクト、27・・・n形オーミックコンタクト。 第3 図
’ 、B−B’ 、C−C’ 、D−D’断面図、第6
図は本実施例において基板を形成した時の断面図である
。 10−−− n形GaAs基板、1l−3i02膜、1
2・・・第1凸部領域、13・・・第2凸部領域、14
・・・n形A I Ll、45G a O,55A S
第1クラッド層。 15・・・多重量子井戸活性層、16・・・p形A e
0.35Gao、65A3ガイド層、17 ・−・n
形A 120.45G aO,55AS第2クラッド層
、18−・−n形GaAsキャップ層、lj、20,2
4.25・・・Z n拡散頭載、21.22・・・混晶
領域、23・・・5i02膜、26・・・p形オーミッ
クコンタクト、27・・・n形オーミックコンタクト。 第3 図
Claims (1)
- 共振器の長手方向に第1の凸部領域の該凸部領域の凸部
よりも幅の広い凸部を有する第2の凸部領域とを平行に
形成した半導体基板上に、第1のクラッド層を備え該第
1のクラッド層に隣接して互いにバンドギャップの異な
る数十原子層からなる二種の超薄膜層を交互に積み重ね
た多重量子井戸の活性層を備え、該活性層に隣接して該
活性層よりも屈折率が少さくクラッド層よりも屈折率が
多きい材質からなるガイド層を備え、該ガイド層に隣接
して該ガイド層と反対の導電型を有し該ガイド層よりも
屈折率の少さい材質からなる第2のクラッド層を備えた
多層構造を有し、該第1の凸部領域の両反射面近傍では
不純物を該凸部の活性層内まで拡散してその活性層を混
晶化するとともに該第2の凸部領域の両反射面近傍では
不純物を第2の凸部領域の凸部の中央部をのぞいたその
外側部に活性層内まで拡散してその活性層を混晶化し、
両反射面近傍の各々の前記不純物拡散領域からそれぞれ
少なくともキャリア拡散長以上はなれた共振器中央領域
でかつ該第1と第2の凸部領域の凸部に位置する領域に
電流注入領域を設けたことを特徴とする半導体レーザ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8234487A JPS63248190A (ja) | 1987-04-02 | 1987-04-02 | 半導体レ−ザ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8234487A JPS63248190A (ja) | 1987-04-02 | 1987-04-02 | 半導体レ−ザ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63248190A true JPS63248190A (ja) | 1988-10-14 |
Family
ID=13771948
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8234487A Pending JPS63248190A (ja) | 1987-04-02 | 1987-04-02 | 半導体レ−ザ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63248190A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006024665A (ja) * | 2004-07-07 | 2006-01-26 | Ricoh Printing Systems Ltd | アレイ型半導体レーザ装置 |
-
1987
- 1987-04-02 JP JP8234487A patent/JPS63248190A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006024665A (ja) * | 2004-07-07 | 2006-01-26 | Ricoh Printing Systems Ltd | アレイ型半導体レーザ装置 |
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