JPS63254751A - 半導体装置 - Google Patents

半導体装置

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Publication number
JPS63254751A
JPS63254751A JP62089089A JP8908987A JPS63254751A JP S63254751 A JPS63254751 A JP S63254751A JP 62089089 A JP62089089 A JP 62089089A JP 8908987 A JP8908987 A JP 8908987A JP S63254751 A JPS63254751 A JP S63254751A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
semiconductor device
ceramic substrate
metal
base
semiconductor element
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP62089089A
Other languages
English (en)
Inventor
Masahide Yamauchi
山内 眞英
Tetsuo Kobayashi
小林 徹夫
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP62089089A priority Critical patent/JPS63254751A/ja
Publication of JPS63254751A publication Critical patent/JPS63254751A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W90/00Package configurations
    • H10W90/701Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts
    • H10W90/731Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of die-attach connectors
    • H10W90/734Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of die-attach connectors between a chip and a stacked insulating package substrate, interposer or RDL

Landscapes

  • Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、高出力の半導体装置に関するものである。
〔従来の技術〕
第2図は従来の高出力の半導体装置を示す断面図である
。第2図において、1はCuなどの熱伝導のよい金属か
らなるベース、2はベース1の裏面に設けたスタッドで
あり、スタッド2はベース1と同一材の金属によって構
成されている。3はベース1の表面にA g Cuろう
などのろう材4によって接着されたBooなどの良熱伝
導誘電体からなるセラミック基板、5はセラミック基板
3の表面にA u −S iなどの半田6によって接着
されたSi材などの半導体素子である。
次に、以上のように構成された従来の半導体装置の作用
について説明する。外部からリード、金属細線(図示せ
ず)を経て半導体素子5に電力が供給されると、一部は
外部へ信号として取出されるが、残りは半導体素子5か
ら熱として放出される。高出力の半導体装置では、半導
体素子5から放出される熱を、どのようにして低熱伝導
体を通して外部に取出すかが、半導体素子5の信頼性に
大きな影響を与えるが、半導体素子5で発生した熱が半
田6、セラミック基板3、ろう材4、ベース1を介して
外部放熱体に伝わらせている。
!発明が解決しようとする問題点〕 従来の半導体装置は、以上のように構成され、Cuなど
の熱伝導のよい金属ベース1を使用することが、半導体
素子5で発生した熱を外部に伝えろために必要であり、
ベース1の材料は、半導体素子5のSi材およびセラミ
ック基板3のBeO材に比べて熱膨張係数が非常に大き
いため、半導体装置全体を低温に保持すると、第3図に
例示するように、各部材が反って半導体素子5やセラミ
ック基板3が割れるという問題点があった。
この発明は、上記のような問題点を解決するためになさ
れたもので、高い熱伝導性を確保できるものでありなが
ら、半導体素子およびセラミック基板の割れを防止でき
る高出力の半導体装置を得ることを目的としている。
〔問題点を解決するための手段〕
この発明に係る半導体装置は、金属ベースの裏面と金属
スタッドの間にセラミック基板と同一材または熱膨張係
数の近いセラミック板を介在させたものである。
〔作用〕
この発明における半導体装置は、金属ベースの表面側の
セラミック基板と、上記金属ベースの裏面側のセラミッ
ク材との熱膨張係数が等しくまたは近くなっているので
、半導体素子が低温に保持されろとともに、全体の反り
が軽減され、半導体素子およびセラミック基板に発生す
る、応力も軽減され、これらが割れにくくなる。
〔実施例〕
以下、この発明の一実施例を第1図について説明する。
第1図において、1は金属ベース、2は金属スタッド、
3はセラミック基板、4はろう材、5は半導体素材、6
は半田であり、これらは第2図に示す従来の半導体装置
と実質的に同様である。7ばBeOなどの熱良導体から
なるセラミック板であり、セラミック板7は、セラミッ
ク基板3と同一材で構成され、上記ベース1の裏面に設
けた凹部1aに嵌められ、ろう材4と同材質のろう材8
によってベース1の裏面側に接着されている。、また、
セラミック板7の裏面にろう材4,8と同材質のろう材
9によって金属スタッド2が接着されている。
次に、この実施例の半導体装置の作用について説明する
。外部からリード、金属細II(図示せず)を経て半導
体素子5に電力が供給されると一部は外部へ信号として
取出され、残りは半導体素子5から熱として放出される
。この熱は、半田6.5セラミツク基板3、ろう材4、
ベース1を介して外部放熱体に放熱される。この際にベ
ース1がCuなどの熱伝導性のよい金属で構成している
ので、良好な熱伝導性を確保できる。また、ベース1の
表面側と裏面側に熱膨張係数が相等しいセラミック基板
3とセラミック板7が接着しであるので、半導体装置を
低温に保持しても、この装置を構成する各部材が反りに
<<、このため半導体素子5およびセラミック基板3に
発生する応力も軽減され、これらが割れにくい。
なお、この発明において、セラミック板は、セラミック
基板と必ずしも同一材でなくても、セラミック基板と熱
膨張係数が近いものであればよく、この場合でも上記実
施例と同様な効果が得られる。
〔発明の効果〕
以上説明したように、この発明によれば、セラミック基
板と同一材またはこれと熱ll1l!!張係数が近いセ
ラミック板を金属ベースの裏面側に挿入接合し、上記セ
ラミック板に金属スタッドを固着したので、半導体素子
およびこの素子を表面に接着し裏面が上記ベースに接着
された上記セラミック基板の割れを防止することができ
、信頼性の高い半導体装置が得られるという効果がある
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例による半導体装置を示す断
面図、第2図は従来の半導体装置を示す断面図、第3図
は低温状態の第2図の半導体装置の断面図である。 1・・・ベース、2・・・スタッド、3・・セラミック
基板、4,8.9・・・ろう材、5・・半導体素子、6
・・半田、7・・・セラミック板。 なお、図中同一符号は同−又は相当部分を示す。 代理人 大台 増進(ほか2名) 第1図 / :  A”−、二二(; 2コλ7・vF%− 3コt、2ぐ゛ソ249孟( 7、′乞うS%27a 第2図 、6 第3図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 半導体素子を表面に接着したセラミック基板の裏面に金
    属ベースを接着した半導体装置において、上記金属ベー
    スの裏面に上記セラミック基板と同一材または熱膨張係
    数が近いセラミック板を介して金属スタッドを固着した
    ことを特徴とする半導体装置。
JP62089089A 1987-04-10 1987-04-10 半導体装置 Pending JPS63254751A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP62089089A JPS63254751A (ja) 1987-04-10 1987-04-10 半導体装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP62089089A JPS63254751A (ja) 1987-04-10 1987-04-10 半導体装置

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Publication Number Publication Date
JPS63254751A true JPS63254751A (ja) 1988-10-21

Family

ID=13961148

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP62089089A Pending JPS63254751A (ja) 1987-04-10 1987-04-10 半導体装置

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