JPS6325702A - プロセスの最適制御方法 - Google Patents

プロセスの最適制御方法

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JPS6325702A
JPS6325702A JP16931186A JP16931186A JPS6325702A JP S6325702 A JPS6325702 A JP S6325702A JP 16931186 A JP16931186 A JP 16931186A JP 16931186 A JP16931186 A JP 16931186A JP S6325702 A JPS6325702 A JP S6325702A
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JP
Japan
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absolute deviation
deviation integral
control
output
time
Prior art date
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Pending
Application number
JP16931186A
Other languages
English (en)
Inventor
Katsutomo Hanakuma
花熊 克友
Toru Nagaseko
長迫 透
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Idemitsu Petrochemical Co Ltd
Original Assignee
Idemitsu Petrochemical Co Ltd
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Publication date
Application filed by Idemitsu Petrochemical Co Ltd filed Critical Idemitsu Petrochemical Co Ltd
Priority to JP16931186A priority Critical patent/JPS6325702A/ja
Publication of JPS6325702A publication Critical patent/JPS6325702A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、操業状態のデータをもとに、応答出力の最尤
値と実測値の絶対偏差積分を最小にする無駄時間を求め
、プロセスの動特性を推定しつつプロセス制御を行なう
プロセスの最適制御方法に関する。
[従来の技術] 石油工業、化学工業あるいは製紙工業等のプロセス工業
においては、各種プラント等の制御をプロセス制御によ
って行なっており、その制御方式としては、PID (
比例、a分、微分)lh作による制御方式が広く採用さ
れている。このPID制御方式においては、P動作、!
動作、D動作を調整するために、制御対象となるプロセ
スの動特性を知る必要がある。
従来、プロセスの動特性を推定し、プロセスの制御を行
なう方法としては、特開昭58−207104号に示す
ものが知られている。この方法は、PIDコントローラ
部の出力により得た*mm比出力、この調箇計出力にも
とづいて制御される制御対象の出力とからプロセス特性
を推定し、この推定値をもとにして自動的に求めたPI
Dパラメータが制御対象の特性に大きな影響をおよぼす
プロセスの負荷および制御量を考慮した許容範囲内にあ
るか否かを判断し、許容範囲外であれば許容範囲の上下
限値に制限されたPIDパラメータを使用する方法とし
である。
[解決すべき間に点] しかし、上述した特開昭58−207104号のものは
、操作を行なってから応答するまでの時間、つまり無駄
時間を考慮していないため、プロセスの動物性を正確に
推定することが困難であり、最適なプロセス制御の実現
に問題があった。
本発明は上記の問題点にかんがみてなされたもので、無
駄時間を考慮に入れてプロセスの動物性を正確に推定し
つつ制御を行なうことにより、プロセスの最適な制御を
可能とした制御方法の提供を目的とする。
なお、無駄時間を考慮したプロセス制御装置として特開
昭54−116580号に示−すものがあるが、このプ
ロセス制W′fltIにおいては、操作状態のデータを
もとに無駄時間を決定し、プロセスの動物性を推定する
点についてはなんら触れられていない。
[間m点の解決手段] 本発明のプロセス最適制御方法は、上記の問題点を解決
するため、プロセス伝達5tl数のシステム・パラメー
タである無駄時間を、零の状態から正の方向にずらして
いったときの、所定時間内における応答出力の最尤値と
実測値の絶対偏差精分を求め、この絶対偏差積分を前回
求めた絶対偏差積分と比較し、前回求めた絶対偏差積分
より小さい場合には、無駄時間をさらに正方向に所定量
だけ変化させて前記比較を綴り返すとともに、前回求め
た絶対偏差積分より大きい場合には、前回の無駄時間を
固定しプロセス伝達関数を推定し、この推定値にもとづ
いて決定したPIDパラメータによってプロセスを制御
する方法としである。
[実施例] 以下1本発明の実施例について図面を参照して説明する
第1図は本方法を実施する制御系のブロック図を示す0
図面において、1は制御対象となるプロセスであり、例
えば、第2図に示す蒸留塔における塔底液を加熱する温
度制御系(第2図の一点鎖線部分)をモデルとしである
。こり塔底液の温度制御系は、蒸留塔に供給される原料
の量が変化したすすると、*十分という長い無駄時間の
後に1響が現われるため、最適制御の非常に困難な制御
系である。このプロセス1は後述するPID調節計2か
らの出力MYにもとづいてMI御が行なわれ、応答結果
として応答出力PVを出力する。
PID調箇調節計、比較部で求められた制御動作信号、
すなわち、目標値Svとフィードバックされたプロセス
lの応答出力値PVの偏差を入力とし、後述するPID
パラメータにしたがってプロセスlの操作部に操作信号
(調節計出力)MYとして出力するものである。
3はデータサンプリング部で、プロセス1の入出力とな
るrIJm計出力MVと応答出方PVを一定時間サンプ
リングするものである。このデータサンプリング部3で
は、無駄時間をDだけ変化させたときの応答出力PVも
サンプリングする。これらサンプリングされたデータは
、プロセスの伝達関数を推定する推定FAAにおいて用
いられる。プロセス伝達l5SI数の推定部4は、無駄
時間を零の状態から正の方向に変化させていったときの
、所定時間における応答出力の最尤値と実I!A値の絶
対偏差積分を求める。そして、この絶対@差量分を前回
求めた絶対偏差量分と比較し、前回求めた絶対偏差積分
より小さい場合には、無駄時間をさらに正の方向に所定
量だけ変化させて前記比較を繰り返すとともに、前回求
めた絶対偏差量分より大きい場合には前回の無駄時間を
固定しプロセス伝達関数を推定する。
PIDパラメータの決定部5は、プロセス伝達関数の推
定部4における推定結果にもとづいて比例ゲインKp、
精分時間Tf、微分時間Tdの少なくとも一つを変化さ
せ、その変化した値をPID謂箇調節計パラメータとす
る。
次に1本実施例方法を第3図に示すフローチャートにも
とづいて説明する。
■ まず、プロセス1の入出力である*m計出力MVと
応答出力PVを一定時間サンプリングする(301)。
■ 無駄時間をDだけ変化させたときのプロセス1の応
答出力Pvをサンプリングし、謂箇計出力MYとのサン
プリングデータの組み合せを作る(302)。
■ 次に、プロセス伝達関数の推定部4において、カル
マンフィルタアルゴリズムによって、離散値系の方程式
、 最尤値:X(K◆1)−PX(K)+QU(K)より、
PとQを求める(303)。
タタL  X(K) −PV(K−D)U(K)=MI
K) ■ 続いて、最尤値 X(K◆1) −PX(K) +QU(K) ニU(K
) を入力するとともに、実測値X(に◆l)から、最
尤値と実測値の絶対偏差積分(評価v8敗)を求める。
すなわち、実プロセスデータとの差を求める(304)
■ 今回求めた絶対偏差積分Jを、前回求めた絶対偏差
積分JOと比較する(305)。
J < J oのときには無駄時間を正の方向に所定量
(D→口◆1)だけずらしく306)、上述したデータ
のサンプリング(301)と組み合せ(302)、およ
び絶対偏差積分Jの算出(303)、(304)を行な
い、前回求めた絶対偏差積分と比較する。これを、今回
求めた絶対偏差積分が前回求めた絶対偏差積分より大き
くなるまで繰り返す。
■ 今回求めた絶対偏差積分Jが、前回求めた絶対偏差
積分JOより大きいときには、そのときの無駄時間りと
P、Qを記憶する(307)。
これにより、応答出力の最尤値と実a値の絶対偏差積分
が最小のときの無駄時間りと、P、Qが決定される。
■ 次いで、filLk系の方程式を連続系の状態方程
式へ変換する(308)。
X=dx/dt=AX+BU A=JLn P/τ・・・・・・(イ)τ:サンプル時
間B = A Q / (1−P) ・= −(c+)
■ ここで、プロセスの伝達関数の算出を行なう(30
9)。
プロセスモデルは、一般に K e−[S/ (1+TS) で表わされるので、L(無駄時間)とK(プロセスゲイ
ン)およびT(時定数)を求めればよい。
このうち、LはL=Dで、既に決定されている。
また、にとTは。
K=B/A  、T=−1/A  であるので、カルマ
ンフィルタで求められ、既に決定されているPとQを上
記の(イ)式と(0)式に代入することにより求める。
このようにして、プロセス伝達関数すなわちプロセスの
動特性の推定を行なう。
■ 次に、PIDパラメータの決定を行なう(310)
  。
パラメータの決定部5において、プロセス伝達関数推定
部4で算出した伝達関数 K 1! −LS /(14−TS)  にもとづイー
(最適なPIDパラメータを決定する。
PIDパラメータを決定する際のiff則としては1次
のようなものがある。
Cbien、 Braies、 Regwick法0外
乱に対する応答(定値制御)の場合Kp=0.9T/K
L T+=2.4L To≠0.4L O目標値に対する応答(追値制御)の場合1cp=o、
s”r/KI。
TI=L To =0.51 :FS4図は、第2図に示す蒸留塔の塔底制御系の調節
出力と応答出力データから、サンプリング間隔6分、サ
ンプリング待間4時間のデータ列を作り、これによって
プロセスの動特性を推定しつつプロセス制御を行なった
結果のグラフである。このグラフ結果からも明らかなよ
うに、実用上十分なプロセスの動特性を得ることができ
た。
なお1本発明は上述した実施例に限定されるものではな
く、たとえば、無駄時間の長い制御系であれば、上記蒸
留塔の塔底温度制御系以外の制御系に応用することも可
濠である。
[発明の効果] 以上のように未発明によれば、操業状態のデーりをもと
に無駄時間上決定し、プロセスの動特性を推定しつつ最
適なプロセス制御を行なうことができる。また、入力信
号を印加せずに操業状態のままでプロセス特性を決定で
きるので、プロセスを乱す危険がない。
【図面の簡単な説明】
第1図は未発明の一実施例方法を実施する制御系ブロー
、り図、第2図は未実施例方法を応用する蒸留塔の制御
系図、第3図は第1図に示す制御系にもとづいて行なう
本実施例方法のフローチャート、第4図は本実施例方法
を第2図に示す渚留塔の塔底温度制御系に応用した場合
のプロセスの動特性図である。 l:プロセス    2:PID調節計3:データサン
プリング部 4:プロセス伝達関数の推定部 5:パラメータの決定部

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. プロセス伝達関数のシステム・パラメータである無駄時
    間を、零の状態から正の方向にずらしていったときの、
    所定時間内における応答出力の最尤値と実測値の絶対偏
    差積分を求め、この絶対偏差積分を前回求めた絶対偏差
    積分と比較し、前回求めた絶対偏差積分より小さい場合
    には、無駄時間をさらに正方向に所定量だけ変化させて
    前記比較を繰り返すとともに、前回求めた絶対偏差積分
    より大きい場合には、前回の無駄時間を固定しプロセス
    伝達関数を推定することを特徴とするプロセスの最適制
    御方法
JP16931186A 1986-07-17 1986-07-17 プロセスの最適制御方法 Pending JPS6325702A (ja)

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JPS6325702A true JPS6325702A (ja) 1988-02-03

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Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS52148787A (en) * 1976-06-03 1977-12-10 Mitsubishi Heavy Ind Ltd Phase delay detecting compensation method for control system
JPS5465274A (en) * 1977-11-04 1979-05-25 Hideji Hayashibe Device of automatically adjusting pid value of regulator
JPS5739412A (en) * 1980-08-19 1982-03-04 Toshiba Corp Proportional, integral and differentiating control device of sample value
JPS60249069A (ja) * 1984-05-24 1985-12-09 Yokogawa Hokushin Electric Corp ステップ応答測定装置

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