JPS63257708A - 焦点位置検出方法 - Google Patents

焦点位置検出方法

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JPS63257708A
JPS63257708A JP9081787A JP9081787A JPS63257708A JP S63257708 A JPS63257708 A JP S63257708A JP 9081787 A JP9081787 A JP 9081787A JP 9081787 A JP9081787 A JP 9081787A JP S63257708 A JPS63257708 A JP S63257708A
Authority
JP
Japan
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focus position
image
contrast
position detection
processing device
Prior art date
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Pending
Application number
JP9081787A
Other languages
English (en)
Inventor
Makoto Shinoda
誠 信田
Masaichi Baba
馬場 政一
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、画像認識する顕微鏡装置における焦点位置検
出方法に係り、特に閣、識対象の反射率の変化が大きい
場合でも高精度な焦点検出を可能とする焦点位置検出方
法に関する。
〔従来の技術〕
顕微鏡装置にgいて、画像認識するための焦点合わせ方
法は、従来特開昭56−74208号に記載のように成
されていた。まず、この方法を以下に説明する。
従来方法による焦点合わせを行う装置の構成は。
認識対象を観測する九学系に加え、該九学系の合焦位置
に前後する位置に合焦する九字系、及びイメージセンサ
から成る。該前後する位置で合焦するイメージセンナの
検出信号全処理することで載置台の移動量を決め、自動
焦点合わせを行なうものである。こ\で示す方法の特徴
は、認識対象によりパターン数や明るさが変化しても一
定精度で1動合焦することである。まず、合焦用両イメ
ージセンサで得られる画像信号を処理して得られるコン
トラスト信号A、Bは、各イメージセンサの合焦位置で
最大値となジ、焦点がすれるに伴ないその値が減少する
。これらコントラスト信号の差(、(−1)は、同程度
に焦点ずれした場合零となる。(A−B=Φ)になる位
置と認識対象を観測てる光学系の焦点位置とを合致させ
る、しかし、対象によりパターン数や明るさが変化した
場合側コントラスト信号A、Bは増減してしまい、A−
E=0となる位置がずれてしまう。そこで上記従来方法
では、両コントラスト信号A。
Bの和(,4+B)で正規化する事で位置ずれを補正す
る。つまジ、(A−B) /A十B== 0となる位置
を合焦位置とする。
〔発明が解決しようとする問題点〕
上記従来方法は、簡易であるがパターンコントラストが
変動した場合には、和信号のみで正規化し切れずに1合
焦位置ずれを生ずる問題があった。
本発明の目的は、パターンのコントラスト変動が生じた
場合でも高精度で自動焦点位置検出する方法を提供する
ことにある。
〔問題点を解決するための手段〕
上記目的は、対象物に一一の2つのストライプパターン
を投影し、その投影像から2つのコントラストを算出し
、q+反射率と上記2つのコントラストとの関係をテー
ブル化し、ある対象物の合焦位置検出でる場合に上記テ
ーブルを参照してコントラスト関数を正規化することに
より、達成される。
〔作用〕
(A−B)/ 従来方法で使用する正規化コントラスト(,4+B)は
、対象物の反射率が変化すると正規化しきれずに変化し
てしまう。そこで、あらかじめ反射率の変化に対し、正
規化コントラストの変化を求めて表にしておき、実際に
焦点ずれを検出する際にその表を参照して正規化コント
ラストを補正すれば高精度の焦点検出が可能となる。
〔実施例〕
以下、本発明の一実施例を図に基づいて説明する。
第1図は本発明に係る焦点位置検出方法の一実施例を示
す構成図である。光源1,2はI・ロゲンランプのよう
に可視光領域での分光特性がほぼ一様なものを使用する
。光源1からの元はレンズ5を介して2つのパターンマ
スク7a、74f透過照明し、半透鏡8 、10.対物
レンズ11ヲ介して対象物12上に縞パターン7a 、
 7kを投影する。ここで、ノくターンマスク74.7
には、第2図に示すように明部ば光を透過し、暗部は遮
断する特性を持つ。対象物12に投影された明暗の縞パ
ターンは対物レンズ11、半透鏡10.13を介しイメ
ージセンサ16の受光面A′に結像する。このセンサ1
6からの出力信号18をAD変換器20によりディジタ
ル信号22にし、画像処理装置25に入力する。画像処
理装置25は。
画像信号221に処理し、インターフェイス回路27を
通じ、対象物12の載置台60を移動させる。以上の様
に自動焦1点合わされた対象物12を観察する場合には
、画像処理装置23からインターフェイス回路26を介
してシャッタ5を位置4寿から位置44に移し光路を切
替えろ。そして光源2の元をレンズ6゜ミラー9.半透
鏡8,10.対物レンズ11ヲ介して対象物12を照明
する。照明された対象物12t一対物レンズ11.半透
鏡10,15を介してイメージセンサ14の受光面Aに
結像する。イメージセンサからの信号15は、AD変換
器17によりディジタル化され画像処理装置26で画像
認識される。ここで、イメージセンサ14.16と縞パ
ターンの位置関係″f、説明する。縞パターン7a、7
4f位置Bに置いて対象物12を照明した場合、対物レ
ンズ11により合焦されイメージセンサ14の受光面A
に結像される、イメージセンサ16の受光面A′は、上
記受光面Aと光学的に等価な位置に置かれる。焦点検出
てる場合には、縞パターン7a、7kを、位置Bから前
後にずれた位fiiVcsかれ、投影像がイメージセン
サ16で観察される。このイメージセンサ16の出力信
号18をディジタル化し、画像処理装置26で処理され
焦点位置検出される。
ここで、焦点位朧検出アルゴリスムを実行1−る画像処
理装置25について説明する。第6図、第7図はそれぞ
れその装置の外観構成、電気的構成を示したものである
。イメージセンサ16から入力された画像電気イh号1
8は、インターフェイス回路20でA/D変換され補助
画像処理装置26a内の画像メモリ56に格納されると
同時にインターフェイス回路55ヲ介し、モニタ50に
表示される。画像メモリ56に格納されたデータを専用
回路54でコントラスト検出される。画像処理装置25
kにおいては、CPU50はプログラムメモリ57に格
納されているプログラムに従って焦点位置検出アルゴリ
ズムを実行し、インターフェイス回路26.27を介し
、シャッタ及び焦点合わせステージ50ヲ制御する。
なお、フロッピー駆動装置51はそのフロッピーディス
クに記憶されている各種ブロクラムをプログラムメモリ
57にロードするためのものであV、また、ギーボード
52は操作内容や各種データを入力でるためであり、そ
の入力内容はCRT上に表示されることにより確認され
るものとなっている。
次に、画像処理装置23で実行される焦点位置検出アル
ゴリズムを第5図に従い説明する。第3図(a)に示す
ように、まずイメージセンサ16で画像人力する。この
信号IBfA/DK換器20でディジタル信号22にし
、画像処理装置25に入力される。ここで、画像処理装
置25に入力される信号22を第4図に示す。この図で
範囲1の信号は、縞パターン7tLの投影像をイメージ
センナで受光した画(信号波形であり、範囲2の信号は
、縞パターン7kによる信号波形である。範囲1の信号
から得られろコントラストUa’ir、範囲2の信号か
らコントラス)ebi画像処理25で検出処理する。次
に第3図(a)に示すように1以上で検出されたコント
ラストCa、Cbの和Pを算出する、この和Pにより第
5図(ネ)に示すテーブルを参照し係数Kを求める。
そして、次式で正規化コントラストC3を求める。
この値C3により第3図CG)図に示すコントラスト関
数表を参照し、焦点ずれ量2を求める。ここで。
第3図(G)K示したコントラスト関数を第5図で説明
する。この図で°横軸は焦点位置を示し、縦軸はコント
ラスト値を示す。この図に、各焦点位置でのコントラス
トCA、CB及び正規化コントラストCsfプロットし
て−Jar)、ここで示したコントラスト関数C3の値
が零となる位置z0が合焦位置とする。
この図でイメージセンサ16から得られる信号を処理し
て得られる合焦位置Z0でのイメージセンサ14の画像
信号から画像認′Rを行なう。
〔発明の効果〕
本発明によれば、対象物により反射率が変化しそのパタ
ーンのコントラストが変化した場合でも高精度な焦点位
置検出を可能に一″fる効果がある。
また、対象物自体にパターンが存在しない場合でも全(
支障なく、焦点位置検出が可能である。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係る焦点位置検出方法の一笑施例を示
す構成図、第2図は第1図におけるパターンマスクの配
置を示す正面図、第5図は焦点位置検出アルゴリズムを
示す流れ図、第4図は画像処理装置への入力波形を示す
図、第5図はコントラスト関数を示す図、第6図は画像
処理装置の外観図、第7図は画像処理装置の構成ブロッ
ク図である。 1.2・・・光源、      5.6・・・レンズ。 76.7k・・・パターンマスク。 8、9.10.13・・・半透鏡。 11・・・対物レンズ、25・・・画像処理装置。 代理人弁理士 小 川 勝 勇 2( 躬2023−・−4tJ限l (の)        (し) 第 3 国 (αン 第 4肥 躬50

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、明部と暗部を周期的に組合せた縞パターンマスクに
    よる光パターンを認識対象物に投影結像し、認識対象物
    からの反射光パターンに対応した明暗情報を得、この明
    暗情報のコントラストから対象物体面と顕微鏡合焦面と
    の位置関係を検出する焦点位置検出方法において、あら
    かじめ得られた対象物の反射率変化に対するコントラス
    トの変化特性表を参照することで前記明暗情報から得ら
    れる対象物の焦点位置を補正することを特徴とする焦点
    位置検出方法。
JP9081787A 1987-04-15 1987-04-15 焦点位置検出方法 Pending JPS63257708A (ja)

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Publications (1)

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JPS63257708A true JPS63257708A (ja) 1988-10-25

Family

ID=14009147

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