JPS63265109A - 太陽センサ - Google Patents

太陽センサ

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JPS63265109A
JPS63265109A JP62100479A JP10047987A JPS63265109A JP S63265109 A JPS63265109 A JP S63265109A JP 62100479 A JP62100479 A JP 62100479A JP 10047987 A JP10047987 A JP 10047987A JP S63265109 A JPS63265109 A JP S63265109A
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JP62100479A
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Akito Watanabe
章人 渡辺
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NEC Corp
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  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は人工衛星の姿勢制御に用いられる太陽センサに
係り、特に1次元リニアCOD (ChargeCou
plcd Device)を用いた太陽センサの改良に
関する。
(従来の技術) 従来の太陽センサとしては、例えば第5図に示すものが
知られている。第5図において、符号33は適宜厚さの
光学部材であり、この光学部材33の厚さ方向−側面(
受光面)にはスリット32が形成しである。太陽光はこ
のスリット32を介して光学部材33内に導入されて入
射光36となり、この入射光36は光学部材33の前記
−側面に対向する他側面を照射する。この他側面にはグ
レイコードパターン34が形成してあり、入射光36の
うちグレイコードパターン34を通過した光がフォトセ
ル35によって検出される。
即ち、他側面における入射光36の照射位置がグレイコ
ードに符号化される6図示例では0011”と符号化さ
れ、その内容によって太陽がどの方向にあるかが解るよ
うになっている。
(発明が解決しようとする問題点) ところで、人工衛星の1点から太陽をみた角度(これを
太陽のディスクという)は約0.5度であるから、第5
図に示した太陽センサにおいては、入射光36の入射角
度が約0.5度変化したときグレイコードの符号内容が
変化するように、光学部材33の厚さおよびグレイコー
ドパターン34の配置態様が定められている。即ち、グ
レイコードパターンを用いた太陽センサでは角度分解能
は0、5度であり、それ以上の角度分解能を得るには新
たに検出パターンを付加するか、あるいは回折格子を付
加する必要があり、構造が複雑化するという問題点があ
る。
そこで、簡素な構造でもって角度分解能を高めることが
できる太陽センサとして例えば第6図に示すものが提案
され実用化されている。第6図に示す太陽センサは、光
学部材38を挟んだ両側にスリット37と1次元リニア
CCD (以下、単にrCCDJという)39とを直交
配置したもので、CCDの画素間隔が前記0.5°とな
るようにスリット幅および光学部材38の厚さが設定さ
れる。
このCODは撮像指令信号を受けて所定時間の間電荷を
蓄積しクロック信号を受けてその蓄積電荷を順次出力す
ることは良く知られている通りであり、COD出力とス
リット透過光との関係は第7図に示す如くになる。第7
図において、符号41はスリット透過光のCCD39上
の強度分布であり、このスリット透過光41に対するC
CD出力42は強度分布に対応した階段波形となる。
このCCD出力42に対しスレッショルド43が適宜レ
ベルに設定してあり、このスレッショルド43を越えた
出力を出している画素のうちの両端の画素間の中心位置
44にある画素の位置を入射光4nの照射位置と決定す
るのである。
このCCDを用いた太陽センサによれば、照射位置検出
の分解能は0.5画素まで可能であり、角度分解能は約
0.05°と向上する。しかし、この方式においては、
照射位置検出の精度をさらに高めようとすると、即ち角
度分解能をさらに高めるために1画素当りの対応する角
度を小さくすると、CODの画素数は予め定められてい
るので、視野が狭くなるという問題点がある。
本発明は、従来のこのような問題点に鑑みなされたもの
で、その目的は、CODを用いたものにおいて視野を狭
くすることなく角度分解能の向上を図ることができる太
陽センサを提供することにある。
(問題点を解決するための手段) 前記目的を達成するために本発明の太陽センサは次の如
き構成を有する。
即ち、本発明の太陽センサは、太陽光を取り込むための
スリットと; 前記スリットの通過光を受光すべく該ス
リットから適宜距離離隔した位置に該スリットの長手方
向に対して直交配置され駆動クロックを受けて各画素の
画素データを順次出力する1次元リニアCCDと: を
備える太陽センサにおいて; 前記駆動クロックを計数
し前記1次元リニアCODの画素番地を求めるための画
素番地カウンタと; 前記1次元リニアCCDの出力を
受けて画素データの最大値を検出する最大値検出回路と
; 前記画素番地カウンタと前記最大値検出回路の出力
とを受けて最大値を示した画素データの画素番地を記憶
保持する画素番地記憶回路と; 前記1次元リニアCO
Dの出力を受けて画素番地が4n (n=0.1,2.
…)番地、(4n+1)番地、(4n+2 )番地およ
び(4n+3)番地のものについて(4n、4n+1)
(4n+1.4n+2)、(4n+2.4n+3)およ
び(4n+3.4n)の各組番地の画素データに区分し
、それらを前記駆動クロックに従って順次出力する分配
器と; 前記組番地(4n、4n+1)の各画素データ
の値の総和値vl、前記組番地(4n+1.4n+2>
の各画素データの値の総和値V2.前記組番地(4n+
2.4n+3)の各画素データの値の総和値■3および
前記組番地(4n+3.4n)の各画素データの値の総
和値v4をそれぞれ求めるための第1の積分器、第2の
積分器、第3の積分器および第4の積分器と; 前記第
1の積分器の出力v1と前記第3の積分器の出力V、と
の差と演算する第1の演算器および前記第2の積分器の
出力V2と前記第4の積分器の出力v4との差を演算す
る第2の演算器と; 前記第1の演算器の出力と前記第
2の演算器の出力との位相差を検出する位相検出器と;
 前記4n番地の画素を起点画素、前記4n+3番地の
画素を終点画素として起点画素の一端から終点画素の他
端までの区間内において起点画素の一端から照射位置中
心の位置までの距離を前記検出した位相差から求める変
換器と; を備えたことを特徴とするものである。
(作 用) 次に、前記の如く構成される本発明の太陽センサの作用
を第1図乃至第3図を参照して説明する。
第1図において、符号1は太陽光を取り込むためのスリ
ットであり、このスリット1の長手方向にX軸、短手方
向にX軸、スリット1の形成面に垂直方向に2軸をそれ
ぞれ定めである。
太陽方向はZ軸から角度αの向きにあって、このスリッ
ト1を通過した入射光2つがスリット通過光30として
1次元リニアCCD (以下、単にrCCDJという)
3を照射する。CCD 3はスリット1の長手方向に対
し直交配置されるが、両者の離隔距離およびスリット幅
はCCDの1画素の寸法との関係から定められる。
即ち、CCD3の受光面上X軸方向におけるスリット通
過光3oの強度■は、X軸の原点を入射光29とCCD
3の受光面との交点位置に定めるinx 2 と 1 = (7)で表わされその分布は第2図に示す
如くになることは周知の通りであるが、本発明では、I
=OとなるX−一πからX=πまでの長さがCCD3の
2画素となるようにスリット幅およびスリット1とCC
D3間の距離を定めである。
なお、第2図に示す強度分布は最大値I wax −1
に規格化して示しである。
さて、CCD3は所定画素数のものからなるが、画素番
地カウンタは駆動クロックを計数しCCD3の一端側か
ら他端側に向かって各画素の番地を順次求めることを行
う。
求められた画素番地は順次画素番地記憶回路へ送出され
る。一方、最大値検出回路はCCD3の出力を受けて画
素データが入力するたびに今回値が最大値であるか否か
を判定し、最大値が検出されたときその検出信号を画素
番地記憶回路へ送出する。その結果、画素番地記憶回路
では検出信号に応答して画素番地カウンタの出力を取り
込みこれを保持する。即ち、最大値を示した画素データ
の画素番地を記憶保持することを行う。以上の動作によ
って、どの画素にスリット通過光の最大強度位置、換言
すればCCD3の受光面における照射位置中心があるか
が解る。従って、画素番地記憶回路の出力は照射位置中
心が存在する画素を特定する相出力であるということが
できる。
次に、このように特定できた1画素の中でどの位置に照
射位置中心があるかを示す積出力(変換器出力)は次の
如くして行われる。
まず、分配器は、前記1次元リニアCCDの出力を受け
て画素番地が4n (n=0.1,2.…)番地、(4
n+1)番地、(4n+2)番地および(4n+3)番
地のものについて(4n、4n+1)、(4n+1.4
n+2)、(4n+2゜4n+3)および(4n+3.
4n)の各組番地の画素データに区分し、それらを対応
するものへ、即ち第1.第2.第3および第4の対応す
る各積分器へ前記駆動クロックに従って順次出力する。
これを受けて、第1の積分器では前記組番地(4n、4
n+1>の各画素データの値の総和値V1・、即ち各画
素データの電圧値をそれぞれV411゜V 4a+1と
すればV、=Σ(v a。+ v 4.、、 )を演算
する。同様に、第2の積分器ではV2=Σ(V4n+t
+V411+21を演算し、第3の積分器ではV3=Σ
(V 4n 43 + V 4fi+31を演算し、第
4の積分器ではV 4 = Σ(V 4.+3 + V
 4filを演算する。
例えば、第3図(イ)(ロ)に示す如く、スリット通過
光のピーク位1(即ち、求めようとする照射位置中心の
位置)が4n番地の画素(即ち、起点画素)の左端から
(4n+3)番地の画素(即ち、終点画素)の右端まで
移動した場合を考える。1画素の幅を値1とすると、起
点画素の左端から照射位置中心の位置までの距離は値0
がら値4までの範囲内の値をとる。それをtとすると、
tの各値に対する第1.第2.第3および第4の各積分
器の総和値(電圧値)vl、同V2.同V3および同■
4の値は、第3図(ハ)〜(へ)に示す如く、ある直流
レベルbの上下に振動する波形となる。最大振幅をaと
すると、総和値vI、同■2゜同v3および同V4は次
の式(1)〜開式(4)でそれぞれ近似的に表わすこと
ができる。
Vl = b + asin(Q)      −−−
−−−−・(1)V2 = b −a 5in(Q) 
     −−−−−−−−−(2)V3 = b −
a 5in(’?)      −・・−−−−−−−
(3)V4 = b + a cos(撃)     
 −−−−−−−−(4)そこで、前記第1の積分器の
出力■1と前記第3の積分器の出力v3との差を演算す
る第1の演算器では、 Vl−v3= 2 asin<’?)    −−−−
−(5)を求め、また前記第2の積分器の出力V2と前
記第4の積分器の出力v4との差を演算する第2の演算
器では、 V4−V2 = 2 asin(9)    −一−−
−−−−−(6)を求める。そして、前記第1の演算器
の出力と前記第2の演算器の出力との位相差を検出する
位相検出器では、式(5)と同(6)とから、v −■ θ= jan (村マ中> = <zf>   −、、
−、−、−・−(7)その結果、変換器では、前記検出
した位相差θ(=−7,から、Lの値を求める。即ち、
tの値は次の式(8)で求めることができる。
L =L、、、−・・−−−−一−−−−・−・・−(
8)π 式(8)で与えられるしの値は、前記4n番地の画素を
起点画素、前記4n+3番地の画素を終点画素として起
点画素の一端(図示例では左端)から終点画素の他端(
図示例では右端)までの区間内において起点画素の左端
から照射位置中心の位置までの距離を示すものである。
図示例に従って説明する0図示例では、L=1の位置に
照射位置中心があるがら、Vt=b+a。
V2 =b、V3 =b−a、V4 =bとなり、V1
’J 3 == 2 a 、 V 4  V 2 =O
となる。従って、θ=コ「が求まり、式(8)がらL=
1となる。
この場合、前記狙出力は4n番地または(4n+1)番
地のいずれかを指定しているが、L=1ということで照
射位置中心は4n番地の画素と(4n+1)番地の画素
の境界位置にある′と判定できる。同様にして、例えば
、L=2.01が求まったとすると、粗出力が示す画素
番地は(4n+2)番地であり、照射位置中心は(4n
+2)番地の左端から0.01の位置にあるということ
になる。
このように、本発明の太陽センサによれば、隣接する画
素の各画素データの総和値が近似的に正弦波信号と余弦
波信号で示されることに着目し、照射位置中心が存在す
る画素のその照射位置中心の位置を、照射位置中心が存
在する画素を含む4個の画素からなる画素領域内の起点
画素の一端からの距離として求めるようにしたので、照
射位置中心の位置が1画素内のいずれの位置にあるか正
確に求めることができる。そして、本発明では、CCD
の1画素遍太陽のディスクとを対応付けることは不要で
あるので、従来の如く視野が問題となることはない。即
ち、本発明によれば、広い視野でもって高精度な角度分
解能を得ることを可能にする太陽センサを提供できる効
果がある。
(実 施 例) 以下、本発明の実施例を図面を参照して説明する。
第4図は本発明の一実施例に係る太陽センサを示す、こ
の太陽センサは、スリット1と、光学部材2と、CCD
3と、クロック発生器4と、画素番地カウンタ5と、最
大値検出回路6と、画素番地ラッチ回路7と、積分器8
〜同11と、分配器12と、引算器13および同14と
、位相検出器15と、変換器16とを基本的に備える。
この構成において画素番地カウンタ5、最大値検出回路
6および画素番地ラッチ回路7は照射位置中心が存在す
る1画素を特定する粗出力を求める回路、また分配器1
2以降は特定した1画素中のどの位置に照射位置中心が
あるかを定める積出力を求める回路となっている。
制御信号発生回路17は、各種の制御信号を発生するも
ので、CCD3に対し撮像信号25を、画素番地カウン
タ5に対しリセット信号26を、最大値検出回路6に対
しクリア信号27をそれぞれ出力する。
クロック発生器4は、CCD3の駆動クロックを発生す
るもので、この駆動クロックは画素番地カウンタ5と分
配器12とにも供給されている。
スリット1とCCD3との配置関係は、前述した第1図
に示す如くであり、両者の離隔距離は光学部材2の厚さ
で設定される。そして、CCD3の受光面上長手方向に
おけるスリット通過光の強度分布は前述した第2図に示
す如くであり、第2図においてI=OとなるX=−πか
らX=πまでの長さが当該CCD3の2画素となるよう
にスリット幅および光学部材2の厚さを調整設定しであ
る。なお、光学部材2は屈折率が1以上のものからなる
CCD3は所定画素数のものからなり、撮像信号25が
指定する期間露光され、その期間内に各画素に蓄積゛さ
れた電荷(画素データ)が駆動クロックに従って順次最
大値検出回路6と分配器12とへ出力される。
画素番地カウンタ5は、駆動クロックを計数しCCD3
の一端側から他端側に向かって各画素の番地を順次求め
、それを画素番地ラッチ回路7へ送出する。
最大値検出回路6は、CCD3から画素データが入力す
るたびに今回値が最大値であるか否かを判定し、最大値
が検出されたときその検出信号を画素番地ラッチ回路7
へ送出する。
その結果、画素番地ラッチ回路では、最大値検出信号に
応答して画素番地カウンタの出力、即ち最大値を示した
画素データの画素番地を取り込み、それを粗出力として
保持出力する。
次に、分配器12は、CCD3から順次入力する画素デ
ータの中、画素番地が4n (n=o、1゜2、…)番
地、(4n+1>番地、(4n+2)番地および(4n
+3 >番地のものについて(4n、4n+1)、(4
n+1.4n+2)。
(4n+2.4n+3)および(4n+3,4n)の各
組番地の画素データに区分し、それらを対応する積分器
へ、例えば組番地(4n; 4n+1)の各画素データ
を積分器8へ、組番地(4n+1゜4n+2)の各画素
データを積分器9へ、組番地(4n+2.4n+3)の
各画素データを積分器10へ、組番地(4n+3.4n
)の各画素データを積分器11へ前記駆動クロックに従
って順次分配出力する。
積分器8では、組番地(4n、4n+1)の各画素デー
タの値(電圧値)をそれぞれV4n。
V 4n+1とすれば、V1=Σ(V 4゜+ v 4
.、、 )を演算し、総和値V、を求め、それを引算器
13の一方の入力へ与える。同様に、積分器9では、v
2=Σ(V 41141 + V 4n+2 )を演算
シ、tiH1v2を引算器14の一方の入力へ与える。
積分器10では、V、= z(V4,2+V4fi+、
lを演算し、総和値V3を引算器13の他方の入力へ与
える。
積分器11は、v4=Σ(V 41143 + V 4
n )を演算し、総和値■4を引算器14の他方の入力
に与える。ここで求められた総和値Vl〜同v4は、第
3図(ハ)〜(へ)に示す如く、正弦波信号または余弦
波信号となり、式(1)〜式(4)で示される。
引算器13では式(5)で示す演算が、引算器14では
式(6)で示す演算がそれぞれ行われ、その演算結果は
位相検出器15へ与えられる。
位相検出器15では式(7)の演算を行って位相差θ(
=Li、、)を求め、それを変換器16へ送出する。
その結果、変換器16では式(8)によってしの値を求
め、それを積出力として送出する。
前述した通り、式(8)で与えられるしの値は、前記4
n番地の画素を起点画素、前記4n+3番地の画素を終
点画素として起点画素の一端(図示例では左端)から終
点画素の他端(図示例では右端)までの区間内において
起点画素の左端から照射位置中心の位置までの距離を示
すものである。
具体的に言えば、前記粗出力で特定された1画素の中の
どの位置に照射位置中心があるかを示すものである。
(発明の効果) 以上詳述したように、本発明の太陽センサによれば、隣
接する画素の各画素データの総和値が近似的に正弦波信
号と余弦波信号で示されることに着目し、照射位置中心
が存在する画素のその照射位置中心の位置を、照射位置
中心が存在する画素を含む4個の画素からなる画素領域
内の起点画素の一端からの距離として求めるようにした
ので、照射位置中心の位置が1画素内のいずれの位置に
あるか正確に求めることができる。
そして、本発明では、CODの1画素と太陽のディスク
とを対応付けることは不要であるので、従来の如く視野
が問題となることはない、即ち、本発明によれば、広い
視野でもって高精度な角度分解能を得ることを可能にす
る太陽センサを提供できる効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図はスリット、COD、入射光、スリット通過光の
関係説明図、第2図はスリット通過光の強度分布図、第
3図は本発明の作用説明図、第4図は本発明の一実施例
に係る太陽センサの構成ブロック図、第5図はグレイコ
ードパターンを用いた従来の太陽センサの構成図、第6
図はCODを用いた従来の太陽センサの要部を示す図、
第7図は第6図に示す従来の太陽センサの動作図である
。 1……スリット、 2……光学部材、 3……CCD、
 4……クロック発生器、 5……画素番地カウンタ、
 6……最大値検出回路、 7……画素番地ラッチ回路
、 8.9,10.11……積分器、  12……分配
器、  13.14……引算器、 15……位相検出器
、 16……変換器、 32……スリット、 33……
光学部材、 器、 32・・・・・・スリット、 33・・・・・・
光学部材、34……グレイコードパターン、  35…
…フォトセル、 37……スリット、 38……光学部
材。 材。 代理人 弁理士  八 幡  義 博 スリ・ソト通通光/)j狡崖吻\午 第 2  図 グレイコードノでターン@眉いた。鐙来め太陽セソ丈第
 6 目

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 太陽光を取り込むためのスリットと;前記スリットの通
    過光を受光すべく該スリットから適宜距離離隔した位置
    に該スリットの長手方向に対して直交配置され駆動クロ
    ックを受けて各画素の画素データを順次出力する1次元
    リニアCCDと;を備える太陽センサにおいて;前記駆
    動クロックを計数し前記1次元リニアCCDの画素番地
    を求めるための画素番地カウンタと;前記1次元リニア
    CCDの出力を受けて画素データの最大値を検出する最
    大値検出回路と;前記画素番地カウンタと前記最大値検
    出回路の出力とを受けて最大値を示した画素データの画
    素番地を記憶保持する画素番地記憶回路と;前記1次元
    リニアCCDの出力を受けて画素番地が4n(n=0、
    1、2、…)番地、(4n+1)番地、(4n+2)番
    地および(4n+3)番地のものについて(4n、4n
    +1)、(4n+1、4n+2)、(4n+2、4n+
    3)および(4n+3、4n)の各組番地の画素データ
    に区分し、それらを前記駆動クロックに従って順次出力
    する分配器と;前記組番地(4n、4n+1)の各画素
    データの値の総和値V_1、前記組番地(4n+1、4
    n+2)の各画素データの値の総和値V_2、前記組番
    地(4n+2、4n+3)の各画素データの値の総和値
    V_3および前記組番地(4n+3、4n)の各画素デ
    ータの値の総和値V_4をそれぞれ求めるための第1の
    積分器、第2の積分器、第3の積分器および第4の積分
    器と;前記第1の積分器の出力V_1と前記第3の積分
    器の出力V_3との差を演算する第1の演算器および前
    記第2の積分器の出力V_2と前記第4の積分器の出力
    V_4との差を演算する第2の演算器と;前記第1の演
    算器の出力と前記第2の演算器の出力との位相差を検出
    する位相検出器と;前記4n番地の画素を起点画素、前
    記4n+3番地の画素を終点画素として起点画素の一端
    から終点画素の他端までの区間内において起点画素の一
    端から照射位置中心の位置までの距離を前記検出した位
    相差から求める変換器と;を備えたことを特徴とする太
    陽センサ。
JP62100479A 1987-04-23 1987-04-23 太陽センサ Pending JPS63265109A (ja)

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JP62100479A Pending JPS63265109A (ja) 1987-04-23 1987-04-23 太陽センサ

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JP (1) JPS63265109A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015163868A (ja) * 2014-01-30 2015-09-10 国立大学法人山口大学 輝度分布センサ

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