JPS6326578A - 集積回路試験器ソケツト - Google Patents

集積回路試験器ソケツト

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Publication number
JPS6326578A
JPS6326578A JP61170372A JP17037286A JPS6326578A JP S6326578 A JPS6326578 A JP S6326578A JP 61170372 A JP61170372 A JP 61170372A JP 17037286 A JP17037286 A JP 17037286A JP S6326578 A JPS6326578 A JP S6326578A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
integrated circuit
contact
contacts
receiving
socket
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP61170372A
Other languages
English (en)
Inventor
Shoichi Teshirogi
手代木　庄一
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP61170372A priority Critical patent/JPS6326578A/ja
Publication of JPS6326578A publication Critical patent/JPS6326578A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02—General constructional details
    • G01R1/04—Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
    • G01R1/0408—Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
    • G01R1/0433—Sockets for IC's or transistors
    • G01R1/0441—Details
    • G01R1/0466—Details concerning contact pieces or mechanical details, e.g. hinges or cams; Shielding

Landscapes

  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔概要〕 可撓性導電体を介して被試験集積回路を接続するように
構成した集積回路試験器ソケットにおいて、可撓性導電
体のうち集積回路の接点および試験器側端の受け端子の
何れにも対向しないものを接地することによりＳＮ比の
改善を図った。
〔産業上の利用分野〕
本発明は集積回路試験器に設けられる集積回路試験器ソ
ケットの改良に関するものである。
集積回路とくに高信頼性を要求されるコンピュータ用等
の集積回路に対しては、製造者側はいうまでもなく購入
者側においても、全数に対し厳しい機能試験を実施する
のが普通である。
このため数量が非常に多くなり、したがって。
この試験にはロボットハンドやコンピュータの導入等に
よって自動化された集積回路試験器を用い。
作業能率の向上を図っている。
集積回路試験器にはソケットを設けており、これに被試
験集積回路を装着するのであるが、対応する端子が電気
的に確実に接続されるとともに。
装着の際に端子に…傷が生じないように構成されている
ことが望ましい。
〔従来の技術〕
第１図は従来例の構成を斜視分解図によって示したもの
である。
３は、被試験集積回路１に等ピッチで平面状に配列され
ている接点２の各々に対応して、平面状に配列される受
け接点、４は弾性絶縁シートであり、５は弾性絶縁シー
ト４の両面にまたがってＵ字状に形成されている可撓性
導電体であり、受け接点３のピッチより短い等ピッチで
、前記対応する接点２と受け接点３とを個別に接続でき
るように配列されている。
すなわち、従来例は、接点２のピッチより短いピッチで
配列されている可撓性導電体５を介し。
被試験集積回路１を受け接点３に対して軽い圧力で一方
向から圧接するだけで９両者の間の電気的接続が確実に
保たれるようにしたものである。
〔発明が解決しようとする問題点〕
可撓性導体５は被試験集積回路ｌの接点２の配列ピッチ
より短い等ピッチで配列−されている。このため、第４
図に示すように、可撓性導体５の中には被試験集積回路
の接点２にも受け接点３にも接しないもの５′が生じ、
このためＳＮ比を損なうという問題点がある。
すなわち本発明の目的は集積回路・試験器ソケットのＳ
Ｎ比を良（することにある。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明による集積回路試験器ソケットは、第１図の原理
図に示すように。
被試験集積回路に等ピッチで平面状に配列される接点２
の各々に対応して平面状に配列される受け接点３と。
弾性絶縁シートの両面にまたがってＵ字状に形成され、
前記ピッチより短い等ピッチで、前記対応する接点２と
受け接点３とを個別に接続できるように配列される可撓
性導電体５とを備える集積回路試験器ソケットにおいて
。
接点２および受け接点３の何れにも対向しない可撓性導
電体６を接地したものである。
〔作用〕
被試験集積回路の接点２にもソケット側の受け接点３に
も接続されない可撓性導体６を、受け接点３に接続され
る図示省略の信号線の接地線、および図示省略の自動試
験回路の筐体とともに接地することにより、集積回路試
験器ソケットのＳＮ比を良くすることができる。
〔実施例〕
第２図に実施例の構成図を示す。
被試験集積回路の接点２にもソケット側の受け接点３に
も接続されない可撓性導体６は、接地線７によって接続
され、番受け接点３に接続される信号線８のシールド線
、および自動試験回路９の筐体とともに接地している。
なお、第２図実施例では、可撓性導体５，６の配列ピッ
チは受け接点３（接点２）の配列ピッチのＡであり、且
つ接点２と対応する受け接点３は。
それぞれ３個の可撓性導体５によって接続され。
また隣接する受け接点３　（接点２）に挟まれた場所に
、接点２にも受け接点３にも接続されない可撓性導体６
が１個ずつ生じている例であるが、この対応関係には色
々な場合があり、必ずしも隣接する受け接点３　（接点
２）に挟まれた場所に、接点２にも受け接点３にも接続
されない可撓性導体６が生ずるとは限らない。
〔発明の効果〕
以上説明したように２本発明にょる集積回路試験器ソケ
ットでは、接点および受け接点の何れにも対向しない導
電体を接地することによってＳＮ比を改善でき、集積回
路の試験の信頼性を商めることができる。
【図面の簡単な説明】
第１図は本発明の原理図。 第２図は実施例の構成図。 第３図は従来例の斜視分解図。 第４図は問題点の説明図である。 図中。 １は被試験築積回路。 ２は被試験築積回路の接点。 ３は受け接点、　　　　　４は弾性絶縁シート。 ５・６は可撓性導体、　　７は接地線を表す。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 　被試験集積回路に等ピッチで平面状に配列される接点
    （２）の各々に対応して平面状に配列される受け接点（
    ３）と、 弾性絶縁シートの両面にまたがってＵ字状に形成され前
    記ピッチより短い等ピッチで前記対応する接点（２）と
    受け接点（３）とを個別に接続できるように配列される
    可撓性導電体（５）とを備える集積回路試験器ソケット
    において、 接点（２）および受け接点（３）の何れにも対向しない
    可撓性導電体（６）を接地したことを特徴とする集積回
    路試験器ソケット。
JP61170372A 1986-07-18 1986-07-18 集積回路試験器ソケツト Pending JPS6326578A (ja)

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JP61170372A JPS6326578A (ja) 1986-07-18 1986-07-18 集積回路試験器ソケツト

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JP61170372A JPS6326578A (ja) 1986-07-18 1986-07-18 集積回路試験器ソケツト

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JPS6326578A true JPS6326578A (ja) 1988-02-04

Family

ID=15903713

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JP61170372A Pending JPS6326578A (ja) 1986-07-18 1986-07-18 集積回路試験器ソケツト

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JP (1) JPS6326578A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009063567A (ja) * 2008-08-22 2009-03-26 Advantest Corp 半導体試験システム

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009063567A (ja) * 2008-08-22 2009-03-26 Advantest Corp 半導体試験システム

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