JPS6326580A - Ｌｓｉ試験装置 - Google Patents
Ｌｓｉ試験装置Info
- Publication number
- JPS6326580A JPS6326580A JP17052286A JP17052286A JPS6326580A JP S6326580 A JPS6326580 A JP S6326580A JP 17052286 A JP17052286 A JP 17052286A JP 17052286 A JP17052286 A JP 17052286A JP S6326580 A JPS6326580 A JP S6326580A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- test
- lsi
- test program
- identification signal
- program
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 49
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 12
- 230000006870 function Effects 0.000 description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 description 3
- 230000008054 signal transmission Effects 0.000 description 2
- 235000006732 Torreya nucifera Nutrition 0.000 description 1
- 244000111306 Torreya nucifera Species 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000008520 organization Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はＬＳＩ試験装置に関する。
従来のＬＳＩ試験装置は異なる機能のＬＳＩを試験する
場合それぞれの被試験ＬＳＩに応じた専用のテストプロ
グラムを用意するか又は被試験ＬＳＩの種別に関する情
報を手作業によってテストプログラムに対して与え、テ
ストプログラム内の分岐を制御するようになっていた。
場合それぞれの被試験ＬＳＩに応じた専用のテストプロ
グラムを用意するか又は被試験ＬＳＩの種別に関する情
報を手作業によってテストプログラムに対して与え、テ
ストプログラム内の分岐を制御するようになっていた。
従来技術によるＬＳＩ試験装置の構成を第４図に示す。
上述した従来のＬＳＩ試験装置は被試験ＬＳＩの種別を
自動的に判別する手段を持たない為、異なる機能のＬＳ
Ｉを試験する度にテストプログラムを換えるか、又は手
操作入力により被試験ＬＳＩの種別に関する情報をテス
トプログラムに対して与えてやらなければならない。従
って、機能の異なった多数のＬＳＩを試験すると著しく
作業効率が低下するという欠点がある。
自動的に判別する手段を持たない為、異なる機能のＬＳ
Ｉを試験する度にテストプログラムを換えるか、又は手
操作入力により被試験ＬＳＩの種別に関する情報をテス
トプログラムに対して与えてやらなければならない。従
って、機能の異なった多数のＬＳＩを試験すると著しく
作業効率が低下するという欠点がある。
本発明のＬＳＩ試験装置は、複数の被試験ＬＳＩの種別
に応じた識別信号を受け入れる識別信号受け入れ手段と
被試験ＬＳＩに共通なテストプロダラムを収容する共通
テストプログラム記憶手段と、前記被試験ＬＳＩの識別
信号によシ前記共通テストプログラムを被試験ＬＳＩの
種別に応じたテストプログラムに編成するテストプログ
ラム編成手段を有する。
に応じた識別信号を受け入れる識別信号受け入れ手段と
被試験ＬＳＩに共通なテストプロダラムを収容する共通
テストプログラム記憶手段と、前記被試験ＬＳＩの識別
信号によシ前記共通テストプログラムを被試験ＬＳＩの
種別に応じたテストプログラムに編成するテストプログ
ラム編成手段を有する。
次に本発明について図面を参照して説明する。
第１図に本発明によるＬＳＩ試験装置の構成を示す。被
試験ＬＳＩｌ−１はアダプター１−２を介して測定用ハ
ードウェア１−３に接続されている。
試験ＬＳＩｌ−１はアダプター１−２を介して測定用ハ
ードウェア１−３に接続されている。
この測定用ハードウェアを通して、被試験ＬＳＩの識別
信号が識別信号入力手段１−４へ伝えられる。一方、補
助記憶装置１−７に格納されたテストプログラム１−８
はテストプログラムメモリー１−６に送られ、続いてテ
ストプログラム編成手段によって識別信号入力手段を通
して伝えられたＬＳＩ識別信号に従い、被試験ＬＳＩに
応じたテストプログラムに再編成される。又、補助記憶
装置１−７に格納されたテストバタンファイルｌ−９は
テストバタンメモリ１−１０に送られる。テスト制御部
は前記の再編成されたテストプログラムに基き、テスト
バタンメモリに記憶されたテストバタンを使って測定用
ハードウェアを制御し、ＬＳＩの試験を行う。被試験Ｌ
ＳＩの識別信号を発生し、識別信号入力手段へ伝える方
法として、第２図及び第３図にその例を示す。
信号が識別信号入力手段１−４へ伝えられる。一方、補
助記憶装置１−７に格納されたテストプログラム１−８
はテストプログラムメモリー１−６に送られ、続いてテ
ストプログラム編成手段によって識別信号入力手段を通
して伝えられたＬＳＩ識別信号に従い、被試験ＬＳＩに
応じたテストプログラムに再編成される。又、補助記憶
装置１−７に格納されたテストバタンファイルｌ−９は
テストバタンメモリ１−１０に送られる。テスト制御部
は前記の再編成されたテストプログラムに基き、テスト
バタンメモリに記憶されたテストバタンを使って測定用
ハードウェアを制御し、ＬＳＩの試験を行う。被試験Ｌ
ＳＩの識別信号を発生し、識別信号入力手段へ伝える方
法として、第２図及び第３図にその例を示す。
共に被試験ＬＳＩと、測定用ハードウェアの仲立ちを行
うアダプター１−２に前記被試験ＬＳＩの識別信号発生
及び識別信号入力手段への伝達機能を持たせたものであ
る。第２図の例では測定用ハードウェアの入出力端子２
−５の未使用端子に該当するアダプタ側の端子を２−１
に示す様に、ＧＮＤ又はＶＣＣＫ接続し、その組合せを
測定用ハードウェアを利用して識別信号入力手段へ伝達
させる。第３図の例は概ね第２図の例と同様であるが、
第２図の例では測定用ハードウェアの入出力端子２−５
の未使用端子を利用しているのに対し、第３図の例では
測定用ハードウェア３−４にＬＳＩ識別信号受入用端子
３−６を設けたものである。尚第２図、第３図はＬＳＩ
識別信号発生及び伝達方法の一例を示したもので、他の
方法によっても実現できることは言うまでもない。
うアダプター１−２に前記被試験ＬＳＩの識別信号発生
及び識別信号入力手段への伝達機能を持たせたものであ
る。第２図の例では測定用ハードウェアの入出力端子２
−５の未使用端子に該当するアダプタ側の端子を２−１
に示す様に、ＧＮＤ又はＶＣＣＫ接続し、その組合せを
測定用ハードウェアを利用して識別信号入力手段へ伝達
させる。第３図の例は概ね第２図の例と同様であるが、
第２図の例では測定用ハードウェアの入出力端子２−５
の未使用端子を利用しているのに対し、第３図の例では
測定用ハードウェア３−４にＬＳＩ識別信号受入用端子
３−６を設けたものである。尚第２図、第３図はＬＳＩ
識別信号発生及び伝達方法の一例を示したもので、他の
方法によっても実現できることは言うまでもない。
以上説明した様に、本発明によるＬＳＩ試験装置は、被
試験ＬＳＩの種別を自動的に識別し、テストプログラム
を編成する手段を有している為、機能の異なった複数の
ＬＳＩを試験する場合、テストプログラムの交換、変更
、又は手操作による品種の選択などの必要がなく、極め
て効率良く試験することができる効果がある。
試験ＬＳＩの種別を自動的に識別し、テストプログラム
を編成する手段を有している為、機能の異なった複数の
ＬＳＩを試験する場合、テストプログラムの交換、変更
、又は手操作による品種の選択などの必要がなく、極め
て効率良く試験することができる効果がある。
第１図は本発明によるＬＳＩ試験装置の構成を示したも
の、第２図、第３図はＬＳＩ識別信号発生及び伝達方法
の例を示したもの。 第４図は従来技術によるＬＳＩ試験装置の構成を示した
図である。 １−１．４−１・・・・・・被試験ＬＳＩ、ｌ−２，４
−２・・・・・・アダプター、１−３．４−３°°゛・
・°測定用ハードウェア、１−４・・・・・・識別信号
受入手段、１−５・・・・・・テストプログラム編成手
段、１−６．４−６・・・・・・テストプログラムメモ
リー、１−７．４−７・・・・・・補助記憶装置、ｌ−
８，４−８・・・・・・テストプログラムファイル、１
−９．４−９・・・・・・テストバタンファイル、１−
１０．４−１０・・・・・・テストバタンメモリ、１−
１１．４−１１・・・・・・テスト制御部、２−１．３
−１・・・・・・ＬＳＩ識別信号発生部、２−２．３−
２・・・・・・被試験り、８ Ｉ、 ２−３ 、３−３
・・・・・・アダプター、２−４．３−４・・・・・・
測定用ハードウェア、２−５．３−５・・・・・・測定
用ハードウェアの入出力端子、３−６・・・・・・ＬＳ
Ｉ識別信号受入用端子。 宅配 ＩＷｉ 井 ２ 図 ７１Ｊ ｌ ｋ】 茅 ３ 回
の、第２図、第３図はＬＳＩ識別信号発生及び伝達方法
の例を示したもの。 第４図は従来技術によるＬＳＩ試験装置の構成を示した
図である。 １−１．４−１・・・・・・被試験ＬＳＩ、ｌ−２，４
−２・・・・・・アダプター、１−３．４−３°°゛・
・°測定用ハードウェア、１−４・・・・・・識別信号
受入手段、１−５・・・・・・テストプログラム編成手
段、１−６．４−６・・・・・・テストプログラムメモ
リー、１−７．４−７・・・・・・補助記憶装置、ｌ−
８，４−８・・・・・・テストプログラムファイル、１
−９．４−９・・・・・・テストバタンファイル、１−
１０．４−１０・・・・・・テストバタンメモリ、１−
１１．４−１１・・・・・・テスト制御部、２−１．３
−１・・・・・・ＬＳＩ識別信号発生部、２−２．３−
２・・・・・・被試験り、８ Ｉ、 ２−３ 、３−３
・・・・・・アダプター、２−４．３−４・・・・・・
測定用ハードウェア、２−５．３−５・・・・・・測定
用ハードウェアの入出力端子、３−６・・・・・・ＬＳ
Ｉ識別信号受入用端子。 宅配 ＩＷｉ 井 ２ 図 ７１Ｊ ｌ ｋ】 茅 ３ 回
Claims (1)
- 被試験ＬＳＩの種別に応じた識別信号を発生させる識別
信号発生手段と前記識別信号を受け入れる識別信号受け
入れ手段と被試験ＬＳＩに共通なテストプログラムを収
容する共通テストプログラム記憶手段と前記被試験ＬＳ
Ｉの識別信号により前記共通テストプログラムを被試験
ＬＳＩの種別に応じたテストプログラムに編性するテス
トプログラム編成手段を有することを特徴とするＬＳＩ
試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17052286A JPS6326580A (ja) | 1986-07-18 | 1986-07-18 | Ｌｓｉ試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17052286A JPS6326580A (ja) | 1986-07-18 | 1986-07-18 | Ｌｓｉ試験装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6326580A true JPS6326580A (ja) | 1988-02-04 |
Family
ID=15906498
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17052286A Pending JPS6326580A (ja) | 1986-07-18 | 1986-07-18 | Ｌｓｉ試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6326580A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0677827A (ja) * | 1992-07-17 | 1994-03-18 | Asama Erekurafuto Kk | Ａ／ｄ変換器評価装置 |
| US5801972A (en) * | 1996-08-02 | 1998-09-01 | Nec Corporation | Individual test program producing system |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59141077A (ja) * | 1983-01-31 | 1984-08-13 | Ando Electric Co Ltd | 集積回路測定装置 |
-
1986
- 1986-07-18 JP JP17052286A patent/JPS6326580A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59141077A (ja) * | 1983-01-31 | 1984-08-13 | Ando Electric Co Ltd | 集積回路測定装置 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0677827A (ja) * | 1992-07-17 | 1994-03-18 | Asama Erekurafuto Kk | Ａ／ｄ変換器評価装置 |
| US5801972A (en) * | 1996-08-02 | 1998-09-01 | Nec Corporation | Individual test program producing system |
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