JPS6326893B2

JPS6326893B2 -

Info

Publication number: JPS6326893B2
Application number: JP55041608A
Authority: JP
Inventors: Akira Suzuki
Original assignee: YOKOKAWA DENKI KK
Current assignee: YOKOKAWA DENKI KK
Priority date: 1980-03-31
Filing date: 1980-03-31
Publication date: 1988-06-01
Also published as: JPS56137411A

Description

【発明の詳細な説明】この発明は、例えば磁気デイスク装置のヘツド
位置制御系あるいはNC工作機械の位置制御系等
に係り特に可動部の誤動作を位置制御系自体にお
いて検出する誤動作検出方法に関する。

従来、この種の位置制御系においては、可動部
（例えば、磁気デイスク装置における磁気ヘツド）
の誤動作を位置制御系自体で検出する方法とし
て、コイルの巻線を検出する方法がとられてい
た。この方法は検出回路自体の誤動作を押える事
がむづかしく、検出精度をきびしく設定する事が
出来なかつた。又、例えば磁気デイスク装置にお
いては、デイスクの各トラツクにトラツクアドレ
スについての情報を予め記録しておき、この記録
された情報をその都度読出しトラツクアドレスの
確認を行なうという方法等が採られていた。しか
しながら、この方法は、読出しエラーなのか、位
置決めエラーなのかの区別不能方法であるので、
デイスクにおいては両者が併用されていた。

この発明はこのような事情に鑑み、可動部の誤
動作を位置制御系自体において容易に検出するこ
とができる新しい誤動作検出方法を提供するもの
で、可動部の位置に対応して移動する動作位置検
出部の動作範囲の両端部以外の所定位置に、前記
動作位置検出器部が前記所定位置に対し一方側に
有るときと他方側に有るときとで出力信号値が異
なる基準位置検出器を設け、前記可動部に対し移
動命令が与えられた場合は、前記移動命令を実行
する際に前記動作位置検出部が前記基準位置検出
器を横切るか否かを予め判定し、その後において
前記可動部を前記移動命令に従つて実際に移動さ
せ、この結果、前記判定との一致が得られなけれ
ば位置制御系に誤動作があつたと判定するように
したことを特徴とするものである。

以下、この発明による方法の一実施例を図面を
参照し詳細に説明する。

第１図はこの発明による方法を適用した磁気デ
イスク装置のヘツド位置制御系を示す図であり、
第１図イはヘツド１，１が最も外側のトラツク位
置にある場合を示し、また第１図ロは磁気ヘツド
１，１が最も内側のトラツク位置にある場合を示
している。

これらの図において、符号２はデイスクであ
り、このデイスク２の両面には各々同心円状に
200個の磁気トラツク（０トラツク〜199トラツ
ク）が設けられている。この場合、最も外側のト
ラツクが０トラツクであり、最も内側のトラツク
が199トラツクであり、また、符号３はこのデイ
スク２を回転させるためのスピンドルモータであ
る。

磁気ヘツド１，１は各々ヘツドアーム４，４に
取付けられ、このヘツドアーム４，４が共にキヤ
リツジ５に取付けられている。キヤリツジ５は磁
気ヘツド１，１を指定されたトラツクへ移動させ
る（シーク動作）ためのもので、このシーク動作
アクチユエータ６によつて行なわれる。アクチユ
エータ６はキヤリツジ５に取付けられたボイスコ
イル７、このボイスコイル７の移動範囲に磁界を
作る磁石８，８等から構成されるもので、ボイス
コイル７に直流電流を印加すると、印加された直
流電流の方向によつてボイスコイル７が左あるい
は右方向の電磁力を受け、この電磁力によつてキ
ヤリツジ５が左あるいは右方向へ移動される。

キヤリツジ５の側面にはインダクトシン移動ス
ケール１０が取付けられ、またこのインダクトシ
ン移動スケール１０に対面する位置にインダクト
シン固定スケール１１がシヤーシ等に固定されて
配置されている。インダクトシン固定スケール１
１のインダクトシン移動スケール１０に対向する
面には、周知のように、くし歯状の銅箔パターン
が形成されており、この銅箔パターンには高周波
電流が印加されている。また、インダクトシン移
動スケール１０の表面には１ターンの銅箔パター
ンが形成されている。そして、キヤリツジ５が移
動し、これに伴ないインダクトシン移動スケール
１０がインダクトシン固定スケール１１に沿つて
移動すると、インダクトシン移動スケール１０の
銅箔パターンに交流電流が誘起される。この交流
電流は波形変換回路９（第３図参照）によつて変
換され、第２図イに示す鋸歯状の位置検出信号と
され出力される。そして、この鋸歯状の位置検出
信号に基づいて第３図に示す電気回路がキヤリツ
ジ５の位置を検知するようになつている。またこ
の場合、波形変換回路９の出力のゼロクロス点
Ｃ，Ｃ……が各々デイスク２の各トラツク位置に
対応している。

前記キヤリツジ５の下部には、その長辺がキヤ
リツジ５の移動距離よりわずかに長いシヤツタ１
２が取付けられ、またこのシヤツタ１２の左端１
２ａの移動距離、すなわち、第１図に示す距離Ｌ
の中間にフオトセンサ１３がシヤーシ等に固定さ
れて配置されている。そして、キヤリツジ５が第
１図イにおいて左方向へ移動し、磁気ヘツド１，
１が丁度99トラツクと100トラツクの中間に位置
した時、フオトセンサ１３の光がシヤツタ１２に
よつて遮断され、以後磁気ヘツド１，１が199ト
ラツクに達するまで、引続いてフオトセンサ１３
の光がシヤツタ１２によつて遮断される。これに
より、フオトセンサ１３は磁気ヘツド１，１が０
トラツク〜99トラツク上に位置している時は“ロ
ー”レベルの信号を出力し、100トラツク〜199ト
ラツク上に位置している時は“ハイ”レベルの信
号を出力する。

上述したシヤツタ１２およびフオトセンサ１３
は磁気ヘツド１，１の基準位置を検出するための
ものである。すなわち、インダクトシン可能スケ
ール１０およびインダクトシン固定スケール１１
によるヘツド位置検出においては、磁気ヘツド
１，１の相対的位置関係（移動開始前の位置と移
動終了後の位置との関係）は検知できるものの、
絶対的位置を検知することは不可能である。ま
た、この実施例においてはヘツド位置検出にイン
ダクトシンを用いているが、ヘツド位置検出には
この他、オプテイカルスケールによるものあるい
はデイスク面上に記録されたサーボ情報に基づい
て検出するもの等種々の機構が採用されている。
しかしながら、これらのいずれの機構において
も、通常絶対位置を検出することは不可能であ
る。そこで、磁気ヘツドの絶対位置を検出するた
めの基準位置検出器あるいは基準位置を書いたト
ラツク（サーボの場合）が必要となる。この実施
例においては、上述したように磁気ヘツド１，１
が99トラツクから100トラツクにかけて移動する
時に、フオトセンサ１３の出力が“ロー”レベル
から“ハイ”レベルに変化し、また100トラツク
から99トラツクにかけて移動する時にフオトセン
サ１３の出力が“ハイ”レベルから“ロー”レベ
ルに変化する。したがつて、このフオトセンサ１
３の出力変化に基づいて磁気ヘツドの絶対位置を
検出することができる。

以上が第１図に示す実施例の機械的構成であ
る。ところで、この実施例が従来の磁気デイスク
装置におけるヘツド位置制御系と異なる点は、フ
オトセンサ１３の位置である。すなわち、従来の
ヘツド位置制御系においてはフオトセンサ１３が
第１図において一点鎖線にて示す位置Ａに設けら
れていた。そして、磁気ヘツド１，１が１〜199
トラツクの位置にある時はフオトセンサの光がシ
ヤツタ１２によつて遮断され、磁気ヘツド１，１
が０トラツクの位置に達した時始めてフオトセン
サの光がシヤツタ１２によつて遮断されなくな
り、これにより、磁気ヘツド１，１の絶対位置を
検知するようになつていた。

一方、この実施例においては、前述したように
シヤツタ１２の左端１２ａの移動距離Ｌの丁度中
間にフオトセンサ１３が位置している。そして、
更に重要なことは、このフオトセンサ１３が磁気
ヘツド１，１の絶対位置を検出する機能の他に、
磁気ヘツド１，１の誤動作（すなわち、キヤリツ
ジ５の誤動作）を検出するための位置検出器とし
ての機能をも兼ね備えていることである。

次に、第３図を参照し上述した位置制御系の電
気回路について説明する。なお、この図において
第１図の各部と同一の部分には同一の符号が付し
てある。また、以下の説明において“１”信号、
“０”信号とは各々２値論理レベルにおける信号
を示す。

第３図においてインダクトシン可動スケール１
０の出力は波形変換回路９において変換された後
波形整形回路２０へ供給される。波形整形回路２
０は鋸歯状の波形変換回路９の出力をパルス信号
に変換するもので、第２図イに示す波形変換回路
９の出力が供給されると、そのゼロクロス点Ｃ，
Ｃ……において第２図ロに示す細いパルス信号を
発生し、トラツクアドレスカウンタ２１のクロツ
ク端子CKへ供給する。トラツクアドレスカウン
タ２１は磁気ヘツド１，１の現在アドレスを記憶
しているもので、プリセツト可能なアツプ／ダウ
ンカウンタであり、アツプ／ダウン指定端子UD
およびプリセツト端子PSを有している。そして、
アツプ／ダウン指定端子UDに“１”信号が供給
されると、波形整形回路２０の出力をアツプカウ
ントし、“０”信号が供給されると、同回路２０
の出力をダウンカウントし、またプリセツト端子
PSに“１”信号が供給されると、トラツクアド
レスカウンタ２１内に予め設定されている数値が
プリセツトされる。

一方、フオトセンサ１３の出力は波形整形回路
２２へ供給される。波形整形回路２２はフオトセ
ンサ１３の出力を整形するもので、フオトセンサ
１３の出力が所定のスレシヨルドレベルTHより
大の時は“１”信号を出力し、小の時は“０”信
号を出力する（第４図参照）。そして、この波形
整形回路２２の出力は誤動作検出回路２３および
リストア回路２４へそれぞれ供給される誤動作検
出回路２３は磁気ヘツド１，１の誤動作を検出す
る回路である。すなわち、この誤動作検出回路２
３は、トラツクアドレスカウンタ２１の出力、ト
ラツクアドレスレジスタ２５の出力および波形整
形回路２２の出力に基づいて磁気ヘツド１，１の
誤動作を検出し、検出出力を警報器（ランプ、ブ
ザー等）２６へ供給する。なお、この誤動作検出
方法については後に詳述する。トラツクアドレス
レジスタ２５は外部装置から供給される目的アド
レス（磁気ヘツド１，１がシークすべき目的のト
ラツクアドレス）が記憶されるもので、その出力
は誤動作検出回路２３および比較回路２７へ供給
され、またそのリセツト端子Ｒに“１”信号が供
給されるとリセツトされる。比較回路２７は、ト
ラツクアドレスカウンタ２１の出力（現在アドレ
ス）とトラツクアドレスレジスタ２５の出力（目
的アドレス）とを比較するもので、現在アドレス
＞目的アドレス、の場合は端子T₂から“１”信
号を出力し、現在アドレス＜目的アドレス、の場
合は端子T₂から“０”信号を出力し、また、現
在アドレス＝目的アドレス、の場合は端子T₁か
ら“０”信号を出力する。なお、現在アドレス≠
目的アドレスの場合は端子T₁から“１”信号が
出力される。

リストア回路２４はヘツド１，１のリストア
時、すなわちヘツド１，１を０トラツクに戻す時
に用いられる回路である。ボイスコイル駆動回路
２８はボイスコイル７を駆動する回路である。す
なわち、このボイスコイル駆動回路２８は、その
入力端子I₁，I₂に共に“１”信号供給されると、
出力端子T₁が正、T₂が負の直流電圧をボイスコ
イル７へ供給し、これによりボイスコイル７を第
１図において左方向へ駆動し、また、入力端子
I₁，I₂に各々“１”信号、“０”信号が供給され
ると、出力端子T₁が負、T₂が正の直流電圧をボ
イスコイル７へ供給し、これによりボイスコイル
７を第１図において右方向へ駆動する。また、入
力端子I₁に“０”信号が供給される時は、出力端
子T₁，T₂から直流電圧が出力されず、したがつ
て、ボイスコイル７は停止状態となる。

次に、第１図および第３図に示すヘツド位置制
御系の動作について説明する。

最初に、ヘツド１，１が通常のシーク動作を行
なう場合について説明する。

外部装置から目的アドレスがトラツクアドレス
レジスタ２５に供給されると、同目的アドレス
は、比較回路２７においてトラツクアドレスカウ
ンタ２１の出力、すなわち磁気ヘツド１，１の現
在アドレスと比較される。そして、目的アドレス
＞現在アドレスの場合は比較回路２７の出力端子
T₁、T²から各々“１”信号が出力され、オア回
路２９，３０を介してボイスコイル駆動回路２８
の入力端子I₁，I₂へ供給される。この結果、ボイ
スコイル駆動回路２８の出力端子T₁，T₂から、
T¹＝正、T₂＝負の直流電圧が出力され、これに
よりボイスコイル７が第１図において左方向へ駆
動される。ボイスコイル７が左方向へ駆動され、
キヤリツジ５が左方向へ移動すると、これに伴な
いインダクトシン固定スケール１０も左方向へ移
動し、この結果、第２図イに示す鋸歯状の位置検
出信号が波形変換回路９から出力される。この鋸
歯状の電流は、波形整形回路２０において第２図
ロに示すパルス信号に変換され、トラツクアドレ
スカウンタ２１のクロツク端子CKへ供給される。
この時、トラツクアドレスカウンタ２１のアツ
プ／ダウン指定端子UDには、比較回路２７の端
子T₂から“１”信号が供給されており、したが
つてトラツクアドレスカウンタ２１は波形整形回
路２０の出力をアツプカウントする。そして、磁
気ヘツド１，１が目的アドレスに対応するトラツ
ク位置に到達すると、トラツクアドレスカウンタ
２１の出力とトラツクアドレスレジスタ２５の出
力とが一致し、これにより比較回路２７の端子
T₁から“０”信号が出力され、この“０”信号
がオアゲート２９を介してボイスコイル駆動回路
２８の入力端子I₁へ供給される。しかして、ボイ
スコイル駆動回路２８の出力端子T₁，T₂から直
流電圧が出力されなくなり、ボイスコイル７が停
止する。

また、目的アドレス＜現在アドレスの場合は比
較回路２７の出力端子T₁，T₂から各々“１”信
号、“０”信号が出力され、これにより、ボイス
コイル７が第１図において右方向へ駆動されると
共に、トラツクアドレスカウンタ２１が波形整形
回路２０の出力をダウンカウントする。そして、
磁気ヘツド１，１が目的アドレスに対応するトラ
ツク位置に到達すると、トラツクアドレスカウン
タ２１の出力とトラツクアドレスレジスタ２５の
出力とが一致し、これにより比較回路２７の出力
端子T₁から“０”信号が出力され、ボイスコイ
ル７が停止する。

次に、ヘツド１，１のリストア動作について説
明する。なお、このリストア動作は、電源投入時
あるいは何らかの理由でヘツド１，１がシークミ
スを行なつた時に行なわれる。図示しない制御回
路からリストア信号（リストアを命ずる信号）が
リストア回路２４へ供給されると、リストア回路
２４は、まず比較回路２７をデイスエーブル状態
にすると共に、入力端子I₁に供給されている波形
整形回路２２の出力を調べる。そして、同出力が
“０”信号の場合（ヘツド１，１が０〜99トラツ
クにある場合）は、出力端子T₁，T₂から各々
“１”信号を出力する。これらの“１”信号は
各々オアゲート２９，３０を介してボイスコイル
駆動回路２８の入力端子I₁，I₂へ供給され、これ
により、ボイスコイル７が第１図において左方向
へ駆動される。ボイスコイル７が左方向へ移動
し、これに伴ないシヤツタ１２が左方向へ移動
し、同シヤツタ１２の左端１２ａがフオトセンサ
１３を横切ると、波形整形回路２２の出力が
“０”→“１”へ変化し、この変化がリストア回
路２４によつて検出される。リストア回路２４
は、上記変化検出後最初のトラツク（すなわち、
100トラツク）にヘツド１，１が到達した時点で、
出力端子T₁から“０”信号を出力すると共に、
出力端子T₂から“１”信号を出力し、さらに比
較回路２７をエネーブル状態とする。上記出力端
子T₁から出力された“０”信号はオアゲート２
９を介してボイスコイル駆動回路２８の入力端子
I₁へ供給され、これによりボイスコイル７が停止
する。上記出力端子T₃から出力された“１”信
号はトラツクアドレスレジスタ２５のリセツト端
子Ｒおよびトラツクアドレスカウンタ２１のプリ
セツト端子PSへ供給され、これにより、トラツ
クアドレスレジスタがリセツトされ、またトラツ
クアドレスカウンタ２１に数値「100」がプリセ
ツトされる。そして、比較回路２７がエネーブル
状態となると、前述した通常のシーク動作が行な
われ、、磁気ヘツド１，１がトラツクアドレスレ
ジスタ２５の指定するトラツク、すなわち０トラ
ツクへ戻される。

一方、リストア回路２４において波形整形回路
２２の出力を調べた結果が“１”信号の場合（ヘ
ツド１，１が100〜199トラツクにある場合）は、
リストア回路２４がその出力端子T₁，T₂から
“１”信号、“０”信号を各々出力し、これにより
ボイスコイル７が第１図において右方向へ駆動さ
れる。そして、シヤツタ１２の左端１２ａがフオ
トセンサ１３を通過し、これにより波形整形回路
路２２の出力が“１”→“０”へ変化すると、リ
ストア回路がこの変化を検知し、変化検出後最初
のトラツク（すなわち、99トラツク）にヘツド
１，１が到達した時点で、出力端子T₁，T₃から
“０”信号、“１”信号を各々出力し、また比較回
路２７をエネーブル状態とする。出力端子T₁か
ら“０”信号が出力されると、ボイスコイル７が
停止し、また出力端子T₃から“１”信号が出力
されると、トラツクアドレスレジスタ２５がリセ
ツトされる一方、トラツクアドレスカウンタ２１
に数値「99」がプリセツトされる。そして比較回
路２７がエネーブル状態になると、通常のシーク
動作が行なわれ、ヘツド１，１が０トラツクに戻
される。

このように、第３図に示す回路は波形整形回路
２２の出力変化に基づいて基準トラツク位置（す
なわち、99トラツクまたは100トラツク）を検出
し、この検出結果にしたがつてヘツド１，１を０
トラツクに戻している。

次に、この発明による誤動作検出方法が適用さ
れる誤動作検出動作について説明する。

例えば、磁気ヘツド１，１の現在位置が50トラ
ツクにあり、また目的のトラツクが150トラツク
であるとすると、トラツクアドレスカウンタ２１
からアドレス「50」が誤動作検出回路２３へ供給
され、またトラツクアドレスレジジタ２５からア
ドレス「150」が同誤動作検出回路２３へ供給さ
れる。そして、これらのアドレス「50」および
「150」から、誤動作検出回路２３はヘツド１，１
のシーク動作途中において波形整形回路２２の出
力が変化することを予め検知することができる。
次いで、シーク動作が開始され、終了するが、こ
の間に波形整形回路２２の出力が変化しなければ
誤動作検出回路２３がヘツド１，１の誤動作を検
出し、警報器２６を駆動する。また、例えばヘツ
ド１，１の現在位置が120トラツクにあり、目的
のトラツクが30トラツクにある場合も同様に、波
形整形回路２２の出力が変化するか否かにより誤
動作検出回路２３がヘツド１，１の誤動作を検出
することができる。また、例えばヘツド１，１の
現在位置が20トラツクにあり、目的のトラツクが
30トラツクの場合、誤動作検出回路２３はヘツド
１，１のシーク動作途中において波形整形回路２
２の出力が変化しないことを予め知ることができ
る。そして、シーク動作開始から終了までの間に
波形整形回路２２の出力が変化した場合、誤動作
検出回路２３がヘツド１，１の誤動作を検出し、
警報器２６を駆動する。

このように、この発明による誤動作検出方法に
おいては、まず現在アドレスおよび目的アドレス
に基づいて、誤動作検出回路が予め波形整形回路
２２の出力が変化するか否か（すなわち、シヤツ
タ１２の左端１２ａがフオトセンサ１３を横切る
か否か）を検知する。そして、この予め検知した
結果と、実際のシーク動作時のの波形整形回路２
２の出力変化とに基づいてヘツド１，１の誤動作
を検出する。すなわち、この発明による方法は現
在アドレス、目的アドレスおよびフオトセンサ１
３の出力（波形整形回路２２の出力）のみによつ
てヘツド１，１の誤動作を検出することができ
る。したがつて、特にパルスモータによつて可動
部（上述した実施例においてはキヤリツジ５）を
駆動する場合に有効である。ただし、この誤動作
検出方法においては、シーク動作途中においてシ
ヤツタ１２の左端１２ａがフオトセンサ１３を横
切らない場合（例えば、現在アドレスが「20」、
目的アドレスが「30」の場合、あるいは現在アド
レスが「150」、目的アドレスが「170」の場合等）
であつて、さらにその誤動作状態においてもシヤ
ツタ１２の左端１２ａがフオトセンサ１３を横切
らない場合（例えば、全々動かない場合）はヘツ
ド１，１の誤動作を検出することができない。し
かし通常の磁気デイスク装置の使用状況のように
種々のシーク動作を次々と行なう過程において異
常が起つた場合は、いずれは誤動作として検出さ
れる。

次に、フオトセンサ１３の位置について考察す
る。まず、第５図においてヘツド１，１の移動範
囲をＬとし、フオトセンサ１３に対応する位置を
Ｈとし、この位置Ｈと最内周トラツクとの間の領
域をL₁、最外周トラツクとの間の領域をL₂、と
する。また、領域L₁に含まれるトラツク数の全
トラツク数に対する割合をＰとすれば、領域L₂
に含まれるトラツク数の全トラツク数に対する割
合は（１−Ｐ）である。しかして、ヘツド１，１
がフオトセンサ１３に対応する位置Ｈを横切る確
率Ｅ、すなわち、領域L₁にあるヘツド１，１が
領域L₂に移動し、または領域L₂にあるヘツド１，
１が領域L₁に移動する確率Ｅは、Ｅ＝2P（１−Ｐ） ……(1) となる。この(1)式を、横軸にＰ、たて軸にＥをと
つた直交座標によつて表わすと、第６図に示すよ
うにＰ＝０、１において横軸を横切り、Ｐ＝1/2
において最大値をとる２次曲線となる。すなわ
ち、ヘツド１，１が位置Ｈを横切る確率（ヘツド
１，１の誤動作を検出できる確率）はＰ＝1/2の
時最大となる。したがつて、この発明による方法
においてはフオトセンサ１３を移動範囲Ｌの丁度
中間に設定した時誤動作を検出する確率を最大に
することができる。

ちなみに、ヘツド１，１の誤動作を検出できな
い確率E′は、 E′＝P²＋（１−Ｐ）²＝１−2P＋2P² ……(2) なる式により求めることができる。

なお、上記説明から容易に判るように、この実
施例においては、ヘツド１，１を基準位置に復帰
させる時間を短くすることができる。すなわち、
ヘツド１，１が０〜99トラツクにあるときは、ヘ
ツド１，１をフオワード方向（デイスク２の中方
向）に移動させ、また、ヘツド１，１が100〜200
トラツクにあるときは、ヘツド１，１をリバース
方向に移動させればよいから、従来のように常に
リバース方向（０トラツク側）に移動させる場合
に比べて復帰時間が短縮される。

また、上記実施例においては、フオトセンサ１
３の異常も検出することができる。

以上説明したように、この発明によれば可動部
の位置を制御する位置制御系において、前記可動
部の位置に対応して移動する動作位置検出部の動
作範囲の両端部以外の所定位置に、前記動作位置
検出器部が前記所定位置に対し一方側に有るとき
と他方側に有るときとで出力信号値が異なる基準
位置検出器を設け、前記可動部に対し移動命令が
与えられた場合は、前記移動命令を実行する際に
前記動作位置検出部が前記基準位置検出器を横切
るか否かを予め判定し、その後において前記可動
部を前記移動命令に従つて実際に移動させ、この
結果、前記判定との一致が得られなければ位置制
御系に誤動作があつたと判定するようにしたの
で、、位置制御系自体において簡単に可動部の誤
動作を検出することができるとともに、基準位置
への復帰時間を短くすることができる。また、こ
の発明においては、従来装置における基準位置検
出器の位置をずらすのみで、容易に実施をするこ
とができる利点が得られる。

【図面の簡単な説明】

第１図イ，ロは共にこの発明の一実施例である
磁気デイスク装置のヘツド位置制御系を示す図、
第２図イは第３図に示す波形変換回路９の出力を
示す波形図、第２図ロは第３図に示す波形整形回
路２０の出力を示す図、第３図は第１図に示すヘ
ツド位置制御系の電気回路を示すブロツク図、第
４図イは第１図、第３図に示すフオトセンサ１３
の出力を示す図、第４図ロは第３図に示す波形整
形回路２２の出力を示す図、第５図はこの発明に
よる誤動作、検出方法によつて可動部の誤動作が
検出される確率Ｅを説明するための図、第６図は
同確率Ｅを表わすグラフである。１……磁気ヘツド、５……キヤリツジ、１２…
…シヤツタ、１３……フオトセンサ。

Claims

【特許請求の範囲】

１可動部の位置を制御する位置制御系におい
て、前記可動部の位置に対応して移動する動作位
置検出部の動作範囲の両端部以外の所定位置に、
前記動作位置検出器部が前記所定位置に対し一方
側に有るときと他方側に有るときとで出力信号値
が異なる基準位置検出器を設け、前記可動部に対
し移動命令が与えられた場合は、前記移動命令を
実行する際に前記動作位置検出部が前記基準位置
検出器を横切るか否かを予め判定し、その後にお
いて前記可動部を前記移動命令に従つて実際に移
動させ、この結果、前記判定との一致が得られな
ければ位置制御系に誤動作があつたと判定するこ
とを特徴とする位置制御系における誤動作検出方
法。