JPS63271408A - レ−ザ走査光学系 - Google Patents

レ−ザ走査光学系

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Publication number
JPS63271408A
JPS63271408A JP62107601A JP10760187A JPS63271408A JP S63271408 A JPS63271408 A JP S63271408A JP 62107601 A JP62107601 A JP 62107601A JP 10760187 A JP10760187 A JP 10760187A JP S63271408 A JPS63271408 A JP S63271408A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
laser beam
scanning
lens
laser light
laser
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP62107601A
Other languages
English (en)
Inventor
Minoru Kiyono
稔 清野
Yasuo Kikuchi
菊池 康夫
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Koki Holdings Co Ltd
Original Assignee
Hitachi Koki Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Koki Co Ltd filed Critical Hitachi Koki Co Ltd
Priority to JP62107601A priority Critical patent/JPS63271408A/ja
Publication of JPS63271408A publication Critical patent/JPS63271408A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Facsimile Scanning Arrangements (AREA)
  • Fax Reproducing Arrangements (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は、静電転写式電子写真装置のように電気信号を
受は光により書込、もしくは、読取を行う光学系の構成
に関するものである。
〔発明の背景〕
従来技術について第3図を用いて説明する。
従来レーザ走査を伴う光学装置は、像面110で必要な
ビームを得る機能(レーザ光整形機能)とレーザ光の走
査を行い、かつ、像面110上を一定速度で走査させる
機能と光の走査位誼を検出する機能を持っている。まず
、像面110で必要なビームを得るためには、レーザ発
振器106から発振されたレーザ光1を縮少、拡大、平
行化するためのレンズ101及びミラー102を要する
。さらにそれぞれのレンズ101は、像面130で所定
ビーム径を得るために所定のレンズ間隔を必要とする。
また、レーザ光1を走査するためには、回転多面鏡】0
3が必要であり、かつ、像面110でのレーザ光走査速
度を一定とするためのFθレンズ104が必要となる。
さらに、レーザ光の走査開始位置を検出するためには種
々の方法があるが、レーザ光を直接検出する方法が最も
高精度で検出できるため、光検出器105を使用するの
が一般的である。このため、走査中のレーザ光の一部を
光検出器1f)5に導く必要が出てくる。
レーザ光を走査するという機能上、レーザ光の走査エリ
ア1()7内には、物体が存在してはならない。このた
め、光学装置内には必ず走査空間が必要となる。また、
光検出器105の実装位置については、レーザ光の書込
(または読取)の電気的制御方法を簡便に行うために、
回転多面鏡103と像面110までの距離と、回転多面
鏡103と光検出器105までの距離を等しく設定しな
ければならない。従来は前記光学装置の具備すべき機能
毎に部品を実装していたため、レーザ光整形エリア10
8、レーザ光走査エリア107、レーザ光検出エリア1
09を必要とし、光学装置全体が大きくなっていた。
〔発明の目的〕
本発明の目的は、上記した従来技術の欠点をなくし、こ
の種の光学部品の実装密度を向上することにより、装置
全体の大きさを縮少することである。
〔発明の概要〕
本発明は、レーザ光が近接平行光でなHれば相互干渉が
発生しない点に着目し、レーザ光同士を交差させること
によりレーザ光通過空間を縮少するように工夫したもの
である。
〔発明の実施例〕
第1図、第2図に本発明の一実施例を示す。
第1図において、電気信号をもとにレーザ光1を回折さ
せて、レーザ光1の通過方向を変えるための光変調素子
2(以下AOMと言う)と、前記AOM2を通過後のレ
ーザ光1を所定の大きさに拡大するための第3レンズ3
、及び第4レンズ4と、前記第4レンズ4を通過後のレ
ーザ光1を所定の角度で反射するためのミラー5と、前
記ミラー5により反射されたレーザ光lを反射し、かつ
、走査する回転多面鏡6と、走査するレーザ光1の入射
角0に対し最終像面での到達位置(像高)1が、レンズ
の焦点路*/とするとj=/θとなるように加工された
Fθレンズ7と、走査するし外 一ザ光の走査開始側に位置し、走査範囲前にレーザ光1
を反射するためのインタラブドミラー8と、前記インタ
ラブドミラー8により反射したレーザ光lをさらに反射
し、光の走査開始位置を検出するための光検出器9(以
下BDと言う)にレーザ光lを導くためのBDミラーp
とからなる光学系において、 第3レンズ3、第4レンズ4との間を通過するレーザ光
1とF0レンズ7を通過したレーザ光】とは、レーザ光
1の走査平面n内で交差しており、互いの交差角度は6
0’から90°の範囲である。
また、BDミラーIJとBD9との間を通過するレーザ
光1とFθレンズ7を通過したレーザ光1ともレーザ光
1の走査平面内で交差しており、互いの交差角度も6C
)0から90°の範囲である。
このように、光学部品を配することにより、F0レンズ
7を通過したレーザ光1の走査空間と、同一平面内を通
過することにより、従来走査のみに使用されていた空間
内で、レーザ光1の整形、及び、BD9への導入を実施
することができるようになり、レーザ光1を整形するた
めの空間、BD9への導入空間を削減することができる
一方、Fθレンズ7からBD9へのレーザ光lの光路長
LOは、Fθレンズ7から像面までの距離L1とは従来
電気的制御を容易にするため、LO=LJとなるように
配されている。前記の如く、光学部品の高密度化を進め
ると、前記Lo = L 1の制限条件が成りたたなく
なり、Lo(ムとなる。このため、本実施例では、イン
タラブドミラー8を配することにより、インタラブドミ
ラー8とBDミラーA5との間の光路長L2を設け、ム
=ムとなるようにしている。
本実施例では、第3レンズ3、第4レンズ4を通過する
レーザ光1とFθレンズ7を通過したレーザ光lが交差
するように構成したが、AOM2直後に配さ第1たコ1
1メートレンズv後で交差するように実装しても同様の
効果が期待できる。ただし、コリメートレンズシ後の光
路長が長いことは、不要空間を必要とすることとなり、
実装密度が低下する。
本実施例では、Fθレンズ7を通過したレーザ光1の走
査平面U内で交差するようにしであるが、同様の配置で
交差せずに近接させても同様の効果を得ることができる
。ただし、レーザ光1を同一平面内で通過させないこと
は、高さ方向の不要空間を必要とすることになり、実装
密度が低下する。
〔発明の効果〕
本発明によれば、レーザ光を走査平面と同一平面内で交
差するようにしたので、実装密度を向上させ、装置全体
の大きさを大幅に縮少させることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明になる光学系の一実施例を示す平面図、
第2図は第1図の1−1線部分断面図、第3図は従来の
光学系を示す平面図である。 3は第3レンズ、4は第4レンズ、5はミラー、6は回
転多面鏡、7はFθレンズ、8はインタラブドミラー、
9は光Jm出器、101 B D ミ9−テある。 特許出願人の名称  日立工機株式会社すl躬 才3の

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)レーザ光を整形するレンズと、レーザ光の進路を
    変更するミラーと、レーザ光を所定範囲で走査する回転
    多面鏡及びFθレンズと、レーザ光の走査開始位置検出
    手段によつて構成されるレーザ走査光学系において、レ
    ーザ光の整形工程もしくは、レーザ光走査工程上の少な
    くとも1ヵ所以上のポイントで各工程上を通過するレー
    ザ光を交差させたことを特徴とするレーザ走査光学系。
  2. (2)前記回転多面鏡により走査するレーザ光の走査面
    と同一平面内にレーザ光整形工程上のレーザ光を通過さ
    せ、かつ走査レーザ光と交差させることを特徴とした特
    許請求範囲第1項記載のレーザ走査光学系。
  3. (3)前記回転多面鏡により走査するレーザ光の一部の
    レーザ光を、少なくとも2枚以上のミラーにより前記走
    査開始位置検出手段まで導くことを特徴とした特許請求
    範囲第1項記載のレーザ走査光学系。
  4. (4)前記走査開始位置検出手段に到達するレーザ光を
    、前記回転多面鏡により走査するレーザ光の走査面とほ
    ぼ同一平面内を通過させ、かつ、走査レーザ光と交差さ
    せることを特徴とした特許請求範囲第1項記載のレーザ
    走査光学系。
JP62107601A 1987-04-30 1987-04-30 レ−ザ走査光学系 Pending JPS63271408A (ja)

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JPS63271408A true JPS63271408A (ja) 1988-11-09

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