JPS6327745A - 残留塩素測定装置 - Google Patents

残留塩素測定装置

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JPS6327745A
JPS6327745A JP61171023A JP17102386A JPS6327745A JP S6327745 A JPS6327745 A JP S6327745A JP 61171023 A JP61171023 A JP 61171023A JP 17102386 A JP17102386 A JP 17102386A JP S6327745 A JPS6327745 A JP S6327745A
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JP
Japan
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solution
test liquid
hypochlorous acid
electrode
inspected
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Application number
JP61171023A
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English (en)
Inventor
Jinkichi Miyai
宮井 迅吉
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DKK TOA Corp
Original Assignee
DKK Corp
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  • Investigating Or Analyzing Non-Biological Materials By The Use Of Chemical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は残留塩素測定装置に関し、更に詳述すると、被
検液中の全遊雛有効塩素濃度を簡便かつ正確に測定する
ことができる装置に関する。
の技術及び発Iが解決しようとする問題点従来、被検液
中の遊離有効塩素(塩素CQ2、次亜塩素酸HOCfl
、次亜塩素酸イオン0CQ−)を測定する目的で種々の
手段が提案されており、例えば次亜塩素酸を測定するた
めに隔膜式残留塩素電極が使用されている。この残留塩
素電極は、揮発性を持つ次亜塩素酸が透過する隔膜を備
えたもので、小型で簡易に作ることができ、かつ駆動部
がなく、しかも特別の試薬を必要としない上、連続的に
測定できるなど、種々の利点を有するため広く実用化さ
れている。
ところで、被検液のpHは通常6〜8であるが、遊離有
効塩素はpH6〜8の範囲では次亜塩素酸と次亜塩素酸
イオンとが平衡し、両者が共存している(下記式(1)
 、 (2)参照)。
)−I OCfl   H”+○cQ−・−(1)従っ
て、上記残留塩素電極を用いてpH6〜8の被検液中の
遊離塩素を測定する場合、その隔膜は次亜塩素酸のみを
透過し、次亜塩素酸イオンを透過しないので、電極は次
!IM塩素酸のみに感応し、このため上記電極によって
はpH6〜8における全遊離有効塩素濃度、即ち次亜塩
素酸と次亜塩素酸イオンとの合計濃度を直接測定するこ
とができない。この場合、次亜塩素酸と次亜塩素酸イオ
ンとの平衡はPHに依存するためpHが一定の被検液で
あれば次亜塩素酸濃度から簡単な演算によって全遊離塩
素濃度を求めることができるが、PHが変動する被検液
ではそれに伴って平衡が移動するため、この方法を採用
することが不可能である。
これに対し、次亜塩素酸電極により全遊離塩素を測定す
る手段として、上記解離平衡がp Hに依存すると共に
、そのMt定数は温度が既知となれば定まることに着目
し、次亜塩素酸電極で被検液中の次亜塩素酸濃度を測定
すると同時に被検液のPH及び温度を検出し、下記式(
3)、即ち〔○ CQ−3=K(T)X[ト■ ○ C
Q )XIOPII  ・・・ (3)により演算で(
OCQ−)(次亜塩素酸イオン濃度)を求め、これによ
り次亜塩素酸と次亜塩素酸イオンとの合計濃度を検出す
ることが提案されている(特公昭59−42693号公
報)。
しかしながら、上記特公昭59−42693号公報記載
の方法は、電極以外にPR及び温度の測定機構、更には
演算機構を必要とし、このため装置が′6i雑になると
共に、測定項目が多いのでシステムの結合精度が低下す
るなど、実用上採用するには種々の問題点を有している
本発明は、上記事情に鑑みなされたもので、上述した従
来技術の有する問題点を解消し、隔膜式の次亜塩素酸電
極によって簡便かつ正確に被検液中の全遊離塩素濃度を
測定することができる残留塩素測定装置を提供すること
を目的とする。
問題点を解決するための手段 本発明者は、上記目的を達成するために鋭意研究を行っ
ているうち、下記■〜■の事項を知見した。
■ 上記(1)式の平衡は、被検液のp I−1が6〜
8の範囲では上述したようにHOCQと○CQ−とが共
存し、p Hのわずかな変動によってその比率は変化す
るが、pH3〜5の範囲では○CQ−は全てHOCfl
態に移行し、従って被検液のp Hを3〜Sに調整する
ことにより、全遊離塩素をHOCQとしてHOCQ電極
により検出できる。
■ ■のように被検液のP Hを3〜5にすればI]○
CQ電極で全遊離塩素を測定することができ、このため
例えば連続測定においてP H3〜5の緩衝液をポンプ
を用いて被検液の流れに連続的に注入することも考えら
れるが、このP H調整方法では被検液が緩衝液で希釈
されるため、PII調整前の被検液と調整後の被検液と
では全遊歴有効塩素温度が異なってしまい、PH調整前
の測定すべき濃度を直接検出できない。
■ ■のpH調整方法を採用した場合、希釈比率を正確
に求め、演算によって補正することも考えられるが、そ
のためには被検液及び緩衝液をそれぞれ精密なポンプを
用いて正確に一定の流量で送液する必要があり、従って
装置が複雑かつ高価となって実用的でなくなる。また、
緩衝液の使用量が多くなり、試薬の交換頻度が人きくな
る。
■ 従って、被検液を実質的に希釈することなくPHを
3〜5に調整すれば、被検液は希釈されないので、被検
液中の全遊離有効塩素濃度を直接求めることができ、か
つ高価な精密ポンプを使用する必要がなく、しかも試薬
の使用量を可及的に減らすことができるため、実用的で
簡易な全遊離有効塩素測定用のシステムを得ることがで
きる。
即ち、本発明者は、被検液のpHを3〜5に調整するこ
とにより、全遊離塩素濃度をHOCQ濃度としてHOC
Q電極を用いて測定し得ること、この場合被検液を実質
的に希釈することなく p Hを調整することにより、
演算等を要することなく簡便かつ正確に測定を行うこと
ができることを見い出し、本発明をなすに至ったもので
ある。
従って、本発明は次亜塩素酸が透過する隔膜を備え、そ
の検出端を被検液に浸漬して上記隔膜を透過する被検液
中の次亜塩素酸を検出するようにした次亜塩素酸濃度測
定用電極と、被検液を実質的に希釈することなくこの被
検液のpHを調整するpH調整機構とを具備し、上記p
 H調整機構により被検液のpHを3〜5に調整すると
共に、この被検液中の次亜塩素酸濃度を上記次亜塩素酸
濃度測定用電極により測定するようにしたことを特徴と
する残留塩素測定装置を提供することを目的とする。
作用 本発明装置においては、通常p Hが6〜8で、HOC
Qと0CQ−イオンとが共存している被検液をp H3
〜5に調整するようにしたので、被検液中の00℃−イ
オンが全て)−(OCQに移行し、従ってこのpH調整
後における被検液中のHOCQfi度をHOC12電極
を用いて検出することにより、全遊離有効塩素濃度を検
出することができる。また、被検液を実質的に希釈する
ことなくそのpHを調整するようにしたので、希釈率に
基づく演算を要することなく直接被検液中の全遊離有効
塩素濃度を求めることができるものである。
この場合、被検液のpHを3よりも低くすると、液中の
HOCQがCQ2に移行し、電極の出力が不安定になる
ため、本発明の目的を達成し得ない。
次に実施例を示し1本発明を具体的に説明するが1本発
明は下記実施例に限定されるものではなり1゜ 実施例 第1図は本発明の一実施例に係る残留塩素濃度の連続測
定装置を示すもので、図中1は吸引ポンプ2の作動によ
り内部を被検液が所定流量で流れる被検液流通管である
。また、3は上記ポンプ2の上流側において被検液流通
管1に介装されたPH調整機構で、流通管1を流れる被
検液がこのpH調整機構3に流入し、この機構3によっ
て実質的に希釈されることなく p ?(3〜5に調整
された後、ここから流出するようになっている。更に、
4は上記pH調整機構3の下流側において流通管1に介
装された次亜塩素M電極装置で、この装置4においては
検出端に次亜塩素酸が配設された次亜塩素酸測定用電極
の上記検出端が流通管1を流れる被検液中に浸漬され、
この被検液中の次亜塩素酸tAf:、を検出するように
なっている。
上記装置によって被検液中の遊離有効塩素濃度を連続測
定する場合、ポンプ2を作動させて流通管1に被検液を
流すものである。これにより、pH調整機構3で通常p
H6〜8の中性領域にある被検液が実質的に希釈される
ことな(p H3〜5の酸性領域に連続的に調整され、
遊離塩素が全てHOCflに移行した後、このH○CΩ
濃度が電極装置4で検出される。従って1本装置によれ
ば、被検液中の遊離塩素濃度を簡便かつ確実に連続測定
し得るものである。
なお、この場合上記と同様の電極装置をp H調整機構
3の上流側において流通管1に介装することにより、p
H調整前における被検液中のHOCfl濃度を求め、こ
のpH調整前のHOCR濃度と上述したようにして検出
したP Fr調整後のHO(、Q!3度とから演算によ
ってpH調整前の被検液の0CQ−濃度を求めることが
できる。
本発明において、上記pH調整機構の構成に特に制限は
なく1例えば塩酸蒸気等の酸性ガスを被検液中にバブリ
ングするようにしたもの、シリコーン膜や微多孔性のP
TFE膜チューブ等のイオン非浸透性でかつ酸性試薬を
透過させる膜を用い。
この膜を通してサンプルを実質的に希釈することなくそ
の中に酸性試薬を添加するようにしたもの等の公知の機
構を採用することもできるが、陽イオン交換膜からなる
チューブを用いたpH調整機構を用いることが特に好ま
しい。
即ち、第2図は上記陽イオン交換膜チューブを用いたp
H調節機構3の一例を示すもので1図中5は試薬容器、
6はこの容器5内に注入された酸性試薬である。この試
薬6中には被検液流通管1に介装された陽イオン交換膜
チューブ7が浸漬されており、被検液が上記チューブ7
内を流れる間に試薬6中の水素イオンがチューブ7の陽
イオン交換膜からなる周壁を通って被検液中に移行し、
これにより被検液が実質的に希釈されることなく最小限
の使用試薬量で確実にp H3〜5に調整されるもので
ある。
この場合、酸性試薬6の種類に限定はなく、酸性の液で
あればいずれのものも使用し得るが、特に酢酸、プロピ
オン酸等を用いることが好ましく、かつ高純度のものを
用いることが有効である。
また、陽イオン交換膜チューブの種類も制限されない。
具体的には、イオン交換基としてSo、H基を有するフ
ッ素樹脂性のNajion膜チューブ(デュポン社製)
等を好適に使用し得るが、この場合5o3H基のみでは
水分親和性が高く、被検液と試薬との間の濃度差に基づ
く浸透圧によって被検液が逆に試薬中に若干流入するこ
とがある。このため、本発明においては、So、H基を
有する陽イオン交換膜に水分親和性のないC○OH基を
有する陽イオン交換膜を積層するなどした複合陽イオン
交換チューブを用いることが特に好ましく、このように
SO2F基とC0OH栽とを複合的に配した陽イオン交
換膜を用いることにより、被検液が試薬中に流入し、試
薬が希釈されることを確実に防止することができる。
なお、このように陽イオン交換膜チューブを用いて被検
液のpHを調整する場合、チューブを試薬溶液中に浸漬
する方法の他、チューブを試薬の蒸気中に配置する方法
も有効に採用し得、これにより被検液から試薬中への水
分透過を最小限に抑えることができる。
また、本発明において、次亜塩素酸濃度測定用電極の構
成は特に限定されず、例えば電極本体内に電解液が封入
されると共に、7ノード及びカソードが収納され、かつ
その検出端に次亜塩素酸を透過する隔膜が配設された公
知のもの等を好適に使用し得る。
次いで、実験例により本発明の効果を具体的に示す。
大蓼狙1 第1図に示す装置に被検液を長期的に連続的に流してp
H調整を行ったときのp I−I安定性を調べた。この
場合、pH調整機構としては第2図に示したものを使用
した。結果を第3図及び第4図に示す。
第3図は陽イオン交換膜チューブとして長さ200WI
IのN ajion膜チューブを用い、試薬として酢W
!(蒸気)を用いた場合の結果である。なお、被検液流
量は2.5all/minとした。
また、第4図は陽イオン交換膜チューブとしてSO,H
基を持つ交換膜とC○○H基を持つ交換膜とを積層した
長さ130mの複合陽イオン交換膜チューブを用い、試
薬として酢酸を用いた場合の結果である。なお、被検液
流量は1.1d/minとした。
第3図及び第4図の結果より、第2図の示した機構によ
れば被検液のpHを長期に亘って3〜Sの範囲に安定に
調整し得ることが認められる。
なお、第3図のNajionチューブの場合は長期間連
続して被検液を流すと、浸透圧によって被検液から試薬
中に水分が入り込み、試薬が若干希釈されるためにp■
−■に0.5程度のずれを生じるが、P Hは3〜5の
範囲に入っているので実用上何ら問題はない。
これに対し、第4図の複合陽イオン交換膜チューブの場
合はP Hは10日間を通して3.75と殆ど変わらな
い。これは、イオン交換膜の複合化により水分の透過が
抑制され、試薬が希釈されないためであると考えられる
。なお、10日間における酢酸の被検液中への流出量は
わずか9mQであり、第2図の機構によれば被検液を実
質的に希釈することなく最小限の試薬量でpHを良好に
調整し得ることが確認された。
実験例2 実験例1と同様の装置によって被検液中の遊離有効塩素
濃度を測定した。このときのHOCQ電極の検量線の一
例を第5図に示す。また、HOCQ電極の出力が被検液
のPHによってどのように変化するかを示したのが第6
図である。
第5図の結果より、上記装置によって残留塩素濃度を良
好に測定し得ることが認められる。また、第6図の結果
より、pH2以下になるとHOCQ→CΩ2になる反応
で塩素が生じるため指示は異常になるが、pH3〜5の
間では遊離有効塩素の全てがHOCQ gとして安定し
ているので指示が安定であることが分かる。
更に、残留塩素濃度が一定(約2 、5 ppi+)で
p I−1が種々異なる被検液を調製し、この被検液の
残留塩素J良度をそのp )Iを調整することなく測定
した場合、第2図の機構によりpH3〜5に調整した後
測定した場合及びp H5の緩衝液によりpHを調整し
た後の電極出力を調べた。結果の一例を第7図に示す。
なお、第7図においてAはPH9の被検液をそのまま測
定した場合、Bはこの被検液のpHを第2図のV&構に
よって肩整した場合、Cはp H5の、t1衝液によっ
て調整した場合を示す。
第7図の結果より、pH9のときは出力が小さいが、こ
れをp H調整チューブに通すとp Hが3〜5に調整
され、p I−I 5の緩衝液で調整した被検液の示す
標準出力に復帰し、従って上記装置によれば全遊離有効
塩素濃度を安定して測定し得ることが認められる6 発明の詳細 な説明したように、本発明に係る残留塩素測定装置は、
簡便かつ正確に全遊離有効塩素(次亜塩素酸十次亜塩素
酸イオン)を測定し得ると共に。
その構造も簡易で安価に製作できるため、実用的価値が
極めて大きいものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例に係る残留塩素測定装置を示
す概略図、第2図は同側のp■■調が機構を示す概略図
、第3図及び第4図はそれぞれ上記pH調整機構によっ
て被検液のpHを長期間に亘って調整した状態を示すグ
ラフ、第5図は上記測定装置による検量線の一例を示す
グラフ、第6図は上記装置の電極出力とp Hとの関係
を示すグラフ、第7図は被検液のP Hを変化させなが
らその残留塩素濃度を測定した時の電極出力変化を示す
グラフである。 3・・・pH調整機構、4・・・電極装置出願人  電
気化学計器 株式会社 代理人  弁理士 小 島 隆 司 第2図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、次亜塩素酸が透過する隔膜を備え、その検出端を被
    検液に浸漬して上記隔膜を透過する被検液中の次亜塩素
    酸を検出するようにした次亜塩素酸濃度測定用電極と、
    被検液を実質的に希釈することなくこの被検液のpHを
    調整するpH調整機構とを具備し、上記pH調整機構に
    より被検液のpHを3〜5に調整すると共に、この被検
    液中の次亜塩素酸濃度を上記次亜塩素酸濃度測定用電極
    により測定するようにしたことを特徴とする残留塩素測
    定装置。
JP61171023A 1986-07-21 1986-07-21 残留塩素測定装置 Pending JPS6327745A (ja)

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