JPS63290976A - 実装プリント基板のインサ−キットテスト装置 - Google Patents
実装プリント基板のインサ−キットテスト装置Info
- Publication number
- JPS63290976A JPS63290976A JP62125787A JP12578787A JPS63290976A JP S63290976 A JPS63290976 A JP S63290976A JP 62125787 A JP62125787 A JP 62125787A JP 12578787 A JP12578787 A JP 12578787A JP S63290976 A JPS63290976 A JP S63290976A
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- Japan
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- opening groove
- vacuum chamber
- pin
- printed circuit
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims description 10
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims abstract description 15
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 3
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 3
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 1
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 1
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
「産業上の利用分野]
本発明は、実装プリント基板のインサーキラ1テスト装
置に関し、さらに詳細には、実装プリント基板の両面側
にピンベースを設置して、該ピンベースに取付けた複数
のコンタクトプローブの先端部を上記実装プリント基板
の回路上の導通部分と接触させて回路の故障箇所を検査
する装置に係るものである。
置に関し、さらに詳細には、実装プリント基板の両面側
にピンベースを設置して、該ピンベースに取付けた複数
のコンタクトプローブの先端部を上記実装プリント基板
の回路上の導通部分と接触させて回路の故障箇所を検査
する装置に係るものである。
[従来技術とその問題点]
従来、この種のインサーキットテスト装置としては、実
装プリント基板の両側に配置したピンベースを油圧シリ
ング−等の7クチユエーターで駆動して実装プリント基
板に近付け、ピンベースに取付けた複数のコンタクトプ
ローブの先端部を上記実装プリント基板の回路上の導通
部分と接触させて回路の故障箇所を検査するいわゆるプ
レス式の検査装置があった。
装プリント基板の両側に配置したピンベースを油圧シリ
ング−等の7クチユエーターで駆動して実装プリント基
板に近付け、ピンベースに取付けた複数のコンタクトプ
ローブの先端部を上記実装プリント基板の回路上の導通
部分と接触させて回路の故障箇所を検査するいわゆるプ
レス式の検査装置があった。
しかしながら、上記プレス式の検査装置は、コンタクト
プローブの押圧力が不均一で接触不良となり、検査ミス
の原因となったり、作動機構が複雑で大型になる等の問
題、αがあった。
プローブの押圧力が不均一で接触不良となり、検査ミス
の原因となったり、作動機構が複雑で大型になる等の問
題、αがあった。
また従来、ピンベースの実装プリント基板側を真空にし
て、ピンベースを実装プリント基板に近付けるいわゆる
真空式の検査装置があったが、この方式ではピンベース
およびその取付は部分等を気密にしなくてはならず、気
密構造が複雑となる。
て、ピンベースを実装プリント基板に近付けるいわゆる
真空式の検査装置があったが、この方式ではピンベース
およびその取付は部分等を気密にしなくてはならず、気
密構造が複雑となる。
さらに、検査基板に直接接触するコンタクトプローブに
埃り等の不純物が付着する問題点があった。
埃り等の不純物が付着する問題点があった。
■発明の目的]
本発明は、上記従来の問題点を解決するためになされた
もので、その目的とするところは、ピンベース全体を均
一な力で実装プリント基板に近付けることができ、作動
が円滑で構造が簡単な実装プリント基板のインサーキッ
トテスト装置を提供することにある。
もので、その目的とするところは、ピンベース全体を均
一な力で実装プリント基板に近付けることができ、作動
が円滑で構造が簡単な実装プリント基板のインサーキッ
トテスト装置を提供することにある。
[発明の構成]
本発明の実装プリント基板のインサーキットテスト装置
は、実装プリント基板の両面側にピンベースを配置して
、該ピンベースに取付けた複数のコンタクトプローブの
先端部を上記実装プリント基板の回路」−の導通部分と
接触させて回路の故障泣所を検査するものに於いて、上
記実装プリント基板やピンベースの周囲に、上向開口溝
体と下向開口溝体を向い合せて相互方向に摺動可能に嵌
挿して環状のピンベース駆動装置を構成し、」;配置開
口溝体の摺動部分を気密にして真空室を形成し、該真空
室をバキュームポンプに連通せしめ、さらに上記両開口
溝体に各々ピンベースを取付け、上記真空室内を減圧し
て両ピンベースを相互に近イ」け、そのコンタクトプロ
ーブの先端部を実装プリント基板の導通部分に接触せし
めるようにしだを特徴とするものである。
は、実装プリント基板の両面側にピンベースを配置して
、該ピンベースに取付けた複数のコンタクトプローブの
先端部を上記実装プリント基板の回路」−の導通部分と
接触させて回路の故障泣所を検査するものに於いて、上
記実装プリント基板やピンベースの周囲に、上向開口溝
体と下向開口溝体を向い合せて相互方向に摺動可能に嵌
挿して環状のピンベース駆動装置を構成し、」;配置開
口溝体の摺動部分を気密にして真空室を形成し、該真空
室をバキュームポンプに連通せしめ、さらに上記両開口
溝体に各々ピンベースを取付け、上記真空室内を減圧し
て両ピンベースを相互に近イ」け、そのコンタクトプロ
ーブの先端部を実装プリント基板の導通部分に接触せし
めるようにしだを特徴とするものである。
[実施例1
以下、本発明の一実施例について図面を参照しながら説
明する。
明する。
第1図および第2図において、1は矩形状の基台であっ
て、その」二面周辺部に固定底板2が取付けられている
。該固定底板2上の外方部には外周−3〜 固定枠3が一体的に取付けられ、また該固定底板2」二
の内方部には内周固定枠4が一体的に取付けられていて
、全体として上方に開口した溝構造体(以下、上方開口
溝体という)を構成している。
て、その」二面周辺部に固定底板2が取付けられている
。該固定底板2上の外方部には外周−3〜 固定枠3が一体的に取付けられ、また該固定底板2」二
の内方部には内周固定枠4が一体的に取付けられていて
、全体として上方に開口した溝構造体(以下、上方開口
溝体という)を構成している。
一方、5は可動上板であって、その下側外方部には外周
可動枠6が一体的に取付けられていると共に、内方部に
は内周可動枠7が一体的に取付けられていて、全体とし
て下方に開口した溝構造体(以下、F力開ロ溝体という
)を構成している。
可動枠6が一体的に取付けられていると共に、内方部に
は内周可動枠7が一体的に取付けられていて、全体とし
て下方に開口した溝構造体(以下、F力開ロ溝体という
)を構成している。
8は支軸であって、その上端部は上記可動」1板5に固
着され、下方部は上記固定底板2に貫挿されている。
着され、下方部は上記固定底板2に貫挿されている。
従って、上記下方開口溝体はに方開口溝体の中に嵌挿し
、上記支軸8に支持案内されながら上下に動くことがで
きる。
、上記支軸8に支持案内されながら上下に動くことがで
きる。
上記外周可動枠6の外側先端部にはシール部材9が取付
けられていて、」1記外周固定枠3の内面に密着しなが
ら摺動するようになっている。また、−1一記内周可動
枠7にもシール部材9が取付けられていて、内周固定枠
4の面に密着しながら摺動するようになっている。さら
に、支軸8と固定底板2の挿通穴との間も適宜密封され
ていて、真空室10を形成するようになっている。
けられていて、」1記外周固定枠3の内面に密着しなが
ら摺動するようになっている。また、−1一記内周可動
枠7にもシール部材9が取付けられていて、内周固定枠
4の面に密着しながら摺動するようになっている。さら
に、支軸8と固定底板2の挿通穴との間も適宜密封され
ていて、真空室10を形成するようになっている。
尚、11もシール部材であって、上記外周可動枠6およ
び内周可動枠7が下降し、その先端部と密着して気密を
保つと共に、上記各枠6,7を弾性的に受は止めてクッ
ションの機能も有する。
び内周可動枠7が下降し、その先端部と密着して気密を
保つと共に、上記各枠6,7を弾性的に受は止めてクッ
ションの機能も有する。
従って、上記外周可動枠6および内周可動枠7が下降し
た時点で、真空室10はシール部材9と11により2重
の密封構造となる。
た時点で、真空室10はシール部材9と11により2重
の密封構造となる。
上記支軸8は、第2図から明らかなように、固定底板2
に適宜間隔で挿設配置されており、その開にバネ収容ス
リーブ12が配設されている。該バネ収容スリーブ12
内には、押上バネ13が収容されていて、上記可動上板
5を押上げるようになっている。
に適宜間隔で挿設配置されており、その開にバネ収容ス
リーブ12が配設されている。該バネ収容スリーブ12
内には、押上バネ13が収容されていて、上記可動上板
5を押上げるようになっている。
14は上側ピンベース15用の取付枠であって、その−
側部は枢着軸16を介して上記可動上板5に取付けられ
、仮想線で示すように開くことができるようになってい
る。
側部は枢着軸16を介して上記可動上板5に取付けられ
、仮想線で示すように開くことができるようになってい
る。
]二二数取付枠4の他側部には、(第1図で左側)可動
係合片17が取付けられていて、仮想線状態に回動可能
となっており、−上記可動上板5に取付けられた係合片
18と係脱自在になっている。尚、減圧した時に上側ピ
ンベース15が解放しないように、適宜ロックtfl構
(図示せず)が設けである。
係合片17が取付けられていて、仮想線状態に回動可能
となっており、−上記可動上板5に取付けられた係合片
18と係脱自在になっている。尚、減圧した時に上側ピ
ンベース15が解放しないように、適宜ロックtfl構
(図示せず)が設けである。
17′は上記可動係合片17を操作すると共に取付枠1
4を開くためのハンドルである。
4を開くためのハンドルである。
1!ノは下ff1l+ピンベースであって、上記上側ピ
ンベース15と同様に、複数のスプリングプローブ20
が適宜配置して取付けられている。
ンベース15と同様に、複数のスプリングプローブ20
が適宜配置して取付けられている。
2]は電子回路部品22を取付けた実装プリント基板で
あって、基板セットプレート24の上にセットされた状
態で、上記ピンベース15.19の間に」二下方向に7
リーな状態で置かれている。
あって、基板セットプレート24の上にセットされた状
態で、上記ピンベース15.19の間に」二下方向に7
リーな状態で置かれている。
23は上記実装プリント基板21の位置を正確セットす
るための位置介せビンである。
るための位置介せビンである。
次に、上記実施例の作用について説明する。
まず、基台1側に下側ピンベース1!〕を取付けると共
に、取付枠14に上側ピンベース14を取付けておく、 次に、ハンドル17′を握りながら可動係合片17を仮
想線状態に回動させて係合片18から外し、続いて取付
枠14を枢着軸16を中心に開く。
に、取付枠14に上側ピンベース14を取付けておく、 次に、ハンドル17′を握りながら可動係合片17を仮
想線状態に回動させて係合片18から外し、続いて取付
枠14を枢着軸16を中心に開く。
取付枠14を開いたら、検査すべき実装プリント基板2
1を七ソトシ、再び取付枠14を閉じて、可動係合片1
7を係合片18にロックする。
1を七ソトシ、再び取付枠14を閉じて、可動係合片1
7を係合片18にロックする。
以上の準備作業が完了したら、第3図に示すように、真
空室10に連通した空気抜パイプ10′を通して、適宜
バキュームポンプ(図示せず)により真空室10内を減
圧する。
空室10に連通した空気抜パイプ10′を通して、適宜
バキュームポンプ(図示せず)により真空室10内を減
圧する。
真空室10内が減圧されると、可動上板5、外側可動枠
6および内側可動枠7等から成る下方開口溝体が押上バ
ネ13の反発力に抗して、上方開口溝体内を、第4図に
示す状態にまで下降する。
6および内側可動枠7等から成る下方開口溝体が押上バ
ネ13の反発力に抗して、上方開口溝体内を、第4図に
示す状態にまで下降する。
下方開口溝体の下降に伴って、取付枠14が下降し、第
5図に示すように、−L下のピンベース15.19のス
プリングプローブ2()の先端が電子回路部品22のハ
ング付部分等に圧接され、該スプリングプローブ20を
通して適宜検査回路に導通する。
5図に示すように、−L下のピンベース15.19のス
プリングプローブ2()の先端が電子回路部品22のハ
ング付部分等に圧接され、該スプリングプローブ20を
通して適宜検査回路に導通する。
尚、本発明における環状のピンベース駆動装置は、矩形
に限らず多角形・円形・楕円形等エンドレスに閉じたル
ープ状のものであればいずれの形状でもよい。
に限らず多角形・円形・楕円形等エンドレスに閉じたル
ープ状のものであればいずれの形状でもよい。
また、上記実施例では、下向開口溝体が」二向開ロ溝体
に対して上下方向に動くようになっているが、下向開口
溝体を基台に固定して上向開口溝体を可動にしてもよい
。また、押」ニバネは必ずしも真空室内に設ける必要は
なく、要するに両開口溝体を弾性的に引き離すものであ
れば、どのような構造でもよい。
に対して上下方向に動くようになっているが、下向開口
溝体を基台に固定して上向開口溝体を可動にしてもよい
。また、押」ニバネは必ずしも真空室内に設ける必要は
なく、要するに両開口溝体を弾性的に引き離すものであ
れば、どのような構造でもよい。
[発明の効果1
(1)実装プリント基板やピンベースの周囲に、上向開
口溝体と下向開口溝体を向い合せて相互方向に摺動可能
に嵌挿して環状のピンベース駆動装置を構成し、」二配
置開ロ溝体の摺動部分を気密にして真空室を形成し、該
真空室をバキュームポンプに連通せしめ、さらに−ヒ配
置開ロ溝体に各々ピンベースを各々取イ4け、」−記真
空室内を減圧して両ピンベースを相互に近付けるように
構成したので、ピンベースの周囲に均一な力が同時に作
用し、コンタクトプローブの先端部を実装プリント基板
の導通部分に均等な力で確実に接触せしめることができ
る。
口溝体と下向開口溝体を向い合せて相互方向に摺動可能
に嵌挿して環状のピンベース駆動装置を構成し、」二配
置開ロ溝体の摺動部分を気密にして真空室を形成し、該
真空室をバキュームポンプに連通せしめ、さらに−ヒ配
置開ロ溝体に各々ピンベースを各々取イ4け、」−記真
空室内を減圧して両ピンベースを相互に近付けるように
構成したので、ピンベースの周囲に均一な力が同時に作
用し、コンタクトプローブの先端部を実装プリント基板
の導通部分に均等な力で確実に接触せしめることができ
る。
(2)実装プリント基板やピンベースの周囲にピンベー
スの駆動装置を設けたので、ピンベースおよびその取付
部分等を気密にする必要がなくなり、構造が簡単でコン
パクトに構成することができる。
スの駆動装置を設けたので、ピンベースおよびその取付
部分等を気密にする必要がなくなり、構造が簡単でコン
パクトに構成することができる。
(3)駆動機構が真空式なので、全体が同時にかつ即座
に応答し、また押付力の調整が容易である。
に応答し、また押付力の調整が容易である。
第1図は本発明装置の一実施例を示す第2図I−I線に
沿った断面図、第2図は」−側ピンベース用の取付枠を
取除いた場合とセットした場合の半平面図、第3図は第
2図■−■線に沿った拡大断面図、第4図は作動状態を
示す断面図、第5図はその部分拡大断面図である。 1・・・基台、2・・・固定底板、3・・・外周固定枠
、4・・・内周固定枠、5・・・可動」−板、6・・・
外周可動枠、7・・・内周可動枠、8・・・支軸、9・
・・シール部材、10・・・真空室、10’・・・空気
抜パイプ、11・・・クンジョン部材、12・・・バネ
収容スリーブ、13・・・押上バネ、14・・・上側ピ
ンベース、15・・・取付枠、16・・・枢着軸、17
・・・可動係合片、17′・・・ハンドル、18・・・
係合片、19・・・下側ピンベース、20・・・スプリ
ングプローブ、21・・・電子回路部品、22・・・実
装プリント基板、23・・・位置合せビン、24・・・
基板セットプレート。 特許出願人 日本エバレット・ チャールス株式会社
沿った断面図、第2図は」−側ピンベース用の取付枠を
取除いた場合とセットした場合の半平面図、第3図は第
2図■−■線に沿った拡大断面図、第4図は作動状態を
示す断面図、第5図はその部分拡大断面図である。 1・・・基台、2・・・固定底板、3・・・外周固定枠
、4・・・内周固定枠、5・・・可動」−板、6・・・
外周可動枠、7・・・内周可動枠、8・・・支軸、9・
・・シール部材、10・・・真空室、10’・・・空気
抜パイプ、11・・・クンジョン部材、12・・・バネ
収容スリーブ、13・・・押上バネ、14・・・上側ピ
ンベース、15・・・取付枠、16・・・枢着軸、17
・・・可動係合片、17′・・・ハンドル、18・・・
係合片、19・・・下側ピンベース、20・・・スプリ
ングプローブ、21・・・電子回路部品、22・・・実
装プリント基板、23・・・位置合せビン、24・・・
基板セットプレート。 特許出願人 日本エバレット・ チャールス株式会社
Claims (1)
- 実装プリント基板の両面側にピンベースを配置して、該
ピンベースに取付けた複数のコンタクトプローブの先端
部を上記実装プリント基板の回路上の導通部分と接触さ
せて回路の故障箇所を検査するものに於いて、上記実装
プリント基板やピンベースの周囲に、上向開口溝体と下
向開口溝体を向い合せて相互方向に摺動可能に嵌挿して
環状のピンベース駆動装置を構成し、上記両開口溝体の
摺動部分を気密にして真空室を形成し、該真空室をバキ
ュームポンプに連通せしめ、さらに上記両開口溝体に各
々ピンベースを取付け、上記真空室内を減圧して両ピン
ベースを相互に近付け、そのコンタクトプローブの先端
部を実装プリント基板の導通部分に接触せしめるように
したことを特徴とする実装プリント基板のインサーキッ
トテスト装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62125787A JPS63290976A (ja) | 1987-05-25 | 1987-05-25 | 実装プリント基板のインサ−キットテスト装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62125787A JPS63290976A (ja) | 1987-05-25 | 1987-05-25 | 実装プリント基板のインサ−キットテスト装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63290976A true JPS63290976A (ja) | 1988-11-28 |
Family
ID=14918851
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62125787A Pending JPS63290976A (ja) | 1987-05-25 | 1987-05-25 | 実装プリント基板のインサ−キットテスト装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63290976A (ja) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6124674B2 (ja) * | 1977-04-26 | 1986-06-12 | Tokyo Shibaura Electric Co |
-
1987
- 1987-05-25 JP JP62125787A patent/JPS63290976A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6124674B2 (ja) * | 1977-04-26 | 1986-06-12 | Tokyo Shibaura Electric Co |
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