JPS63300986A - 光又は放射線入射位置検出装置 - Google Patents
光又は放射線入射位置検出装置Info
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- JPS63300986A JPS63300986A JP62136572A JP13657287A JPS63300986A JP S63300986 A JPS63300986 A JP S63300986A JP 62136572 A JP62136572 A JP 62136572A JP 13657287 A JP13657287 A JP 13657287A JP S63300986 A JPS63300986 A JP S63300986A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、マルチワイヤー読み出し回路による検出器、
シンチレーションカメラのように複数個の検出器を持つ
検出器等のような複数個の出力を有する位置検出器にお
いて、各検出器出力を相互比較することにより最大出力
信号をもつ検出器を識別し、高速に入射位置を検出する
ことのできる光又は放射線入射位置検出装置に関するも
のである。
シンチレーションカメラのように複数個の検出器を持つ
検出器等のような複数個の出力を有する位置検出器にお
いて、各検出器出力を相互比較することにより最大出力
信号をもつ検出器を識別し、高速に入射位置を検出する
ことのできる光又は放射線入射位置検出装置に関するも
のである。
従来、２Ｄ−マルチワイヤーの位置検出法としては、主
として重心位置演算方式、ディレィ・ライン方式、コイ
ンシデンス・エンコード方式およびデュアル・コンパレ
ータ方式の４つが用いられている。
として重心位置演算方式、ディレィ・ライン方式、コイ
ンシデンス・エンコード方式およびデュアル・コンパレ
ータ方式の４つが用いられている。
重心位置演算方式は第１２図に示すように、Ｘ方向、Ｘ
方向のそれぞれのワイヤーを抵抗により接続し、両端か
ら得られる出力信号を加算し、この加算値で一端から得
られる信号を除算することにより入射位置を求めている
。
方向のそれぞれのワイヤーを抵抗により接続し、両端か
ら得られる出力信号を加算し、この加算値で一端から得
られる信号を除算することにより入射位置を求めている
。
ディレィ・ライン方式は、予め各ワイヤー毎にディレィ
の重みづけをしておいてワイヤーの出力信号の到達時間
の違いにより、どのワイヤーの位置に信号が入力したが
を識別して位置を求めており、Ｘ方向、Ｘ方向とも同様
に行い、それぞれ識別されたワイヤーの交点として入射
位置を求めている。
の重みづけをしておいてワイヤーの出力信号の到達時間
の違いにより、どのワイヤーの位置に信号が入力したが
を識別して位置を求めており、Ｘ方向、Ｘ方向とも同様
に行い、それぞれ識別されたワイヤーの交点として入射
位置を求めている。
コインシデンス・エンコード方式は、第１３図に示すよ
うにワイヤーを接続し、信号が入った時、接続されたワ
イヤーの出力ライン間のコインシデンスがとれた所（図
ではＸ方向しか示していないが、Ｘ方向も同様）が入射
位置として求められる。
うにワイヤーを接続し、信号が入った時、接続されたワ
イヤーの出力ライン間のコインシデンスがとれた所（図
ではＸ方向しか示していないが、Ｘ方向も同様）が入射
位置として求められる。
デュアル・コンパレータ方式は、第１４図に示すように
、本出願人が先に提案した方式であり、各ワイヤーへの
電子の拡がり分布に対して２つのスレッシュホールドＶ
＋ 、Ｖ ｚを設定し、それぞれこのレベルを越えた
時、出力を１として得られる２つの信号ビットパターン
をＲＯＭ１５．１６の変換テーブルにより入射位置アド
レス情報に変換し、さらにＲＯＭ１７の変換テーブルで
Ｙ方向の位置情報により歪補正して精度のよいＸアドレ
ス信号を得ている。Ｙ方向に対しても同様である。
、本出願人が先に提案した方式であり、各ワイヤーへの
電子の拡がり分布に対して２つのスレッシュホールドＶ
＋ 、Ｖ ｚを設定し、それぞれこのレベルを越えた
時、出力を１として得られる２つの信号ビットパターン
をＲＯＭ１５．１６の変換テーブルにより入射位置アド
レス情報に変換し、さらにＲＯＭ１７の変換テーブルで
Ｙ方向の位置情報により歪補正して精度のよいＸアドレ
ス信号を得ている。Ｙ方向に対しても同様である。
しかしながら、重心位置演算方式は位置分解能を高稜度
にすることができるが、位置演算を必要とするため応答
速度の点で問題がある。又、Ａ／Ｄ変換器を用いてディ
ジタル演算を行うにしても、高速なＡ／Ｄ変換器を使う
必要があり、経済性の点で問題がある。
にすることができるが、位置演算を必要とするため応答
速度の点で問題がある。又、Ａ／Ｄ変換器を用いてディ
ジタル演算を行うにしても、高速なＡ／Ｄ変換器を使う
必要があり、経済性の点で問題がある。
ディレィ・ライン方式はディレィをもうけて位置を弁別
しているため、原理的に応答速度を上げることはできな
い。
しているため、原理的に応答速度を上げることはできな
い。
コインシデンス・エンコード方式は多数本のワイヤーで
の位置検出には有利であるが、ＰＭＴ内部での電子拡が
りが大きい場合には、信号弁別のレベルの設定によって
は多数本のコインシデンスがとれてしまう可能性がある
。
の位置検出には有利であるが、ＰＭＴ内部での電子拡が
りが大きい場合には、信号弁別のレベルの設定によって
は多数本のコインシデンスがとれてしまう可能性がある
。
デュアル・コンパレータ方式は応答速度がＲＯＭにより
制限されてしまう。
制限されてしまう。
本発明はかかる事情に鑑みてなされたもので、高速で入
射位置を検出でき、しがも回路構成は簡単で経済性の点
でも優れた光又は放射線入射位置検出装置を提供するこ
とを目的とする。
射位置を検出でき、しがも回路構成は簡単で経済性の点
でも優れた光又は放射線入射位置検出装置を提供するこ
とを目的とする。
そのために本発明の光又は放射線入射位置検出装置は、
２次元配列された複数個の検出器と、各検出器同士の出
力を相互比較する第１のコンパレータ群と、各検出器か
らの検出信号、及びスレッシュホールドレベル信号が入
力される第２のコンパレータ群とを備え、検出器出力が
スレッシュホールドレベル以上のときの第１のコンパレ
ータ群出力から入射位置を求めることを特徴とする。
２次元配列された複数個の検出器と、各検出器同士の出
力を相互比較する第１のコンパレータ群と、各検出器か
らの検出信号、及びスレッシュホールドレベル信号が入
力される第２のコンパレータ群とを備え、検出器出力が
スレッシュホールドレベル以上のときの第１のコンパレ
ータ群出力から入射位置を求めることを特徴とする。
本発明は、２次元配列された検出器出力の隣同士の出力
を相互比較することにより、出力信号のピークを有する
検出器を検出することにより光又は放射線入射位置を安
価な構成で、超高速で検出することができる。
を相互比較することにより、出力信号のピークを有する
検出器を検出することにより光又は放射線入射位置を安
価な構成で、超高速で検出することができる。
以下、２Ｄ−マルチワイヤーＰＭＴを用いた場合の実施
例を図面を参照して説明する。
例を図面を参照して説明する。
第１図は本発明による光又は放射線入射位置検出装置の
検出原理を示す図、第２図は入射位置とコンパレータ出
力の関係を示す図で、Ａは電子の分布拡がり分布曲線、
＃１〜＃９はワイヤーアノード、２１〜２８はコンパレ
ータである。
検出原理を示す図、第２図は入射位置とコンパレータ出
力の関係を示す図で、Ａは電子の分布拡がり分布曲線、
＃１〜＃９はワイヤーアノード、２１〜２８はコンパレ
ータである。
図において、図示しないＰＭＴに入射した光はその位置
で光電変換され、増幅され、例えば曲線Ａのような電子
拡がりをもってワイヤーに入力する。隣り合ったワイヤ
ーのコンパレータのリファレンス入力を、第２図に示す
ように一方向に決めて比較を行うと、コンパレータ出力
は、図示するように入力信号の電子の拡がりのピークを
もつワイヤー５の前後で変化することが分かる。このよ
うにコンパレータ出力の変化したワイヤー５のところが
、信号入力位置となる。なお、全てのワイヤーについて
同時に比較しているため、信号入力から離れたワイヤー
のコンパレータ出力はバラつくが、これはスレッシュホ
ールド■、により無効とすればよい。つまり、有効なコ
ンパレータ出力の変化点を求めることにより入射位置を
検出することができる。
で光電変換され、増幅され、例えば曲線Ａのような電子
拡がりをもってワイヤーに入力する。隣り合ったワイヤ
ーのコンパレータのリファレンス入力を、第２図に示す
ように一方向に決めて比較を行うと、コンパレータ出力
は、図示するように入力信号の電子の拡がりのピークを
もつワイヤー５の前後で変化することが分かる。このよ
うにコンパレータ出力の変化したワイヤー５のところが
、信号入力位置となる。なお、全てのワイヤーについて
同時に比較しているため、信号入力から離れたワイヤー
のコンパレータ出力はバラつくが、これはスレッシュホ
ールド■、により無効とすればよい。つまり、有効なコ
ンパレータ出力の変化点を求めることにより入射位置を
検出することができる。
第３図は１６Ｘ１６ワイヤーの２Ｄ−マルチワイヤーＰ
ＭＴを使った場合の本発明による光又は放射線入射位置
検出装置の実施例の回路構成を示す図、第４図は第３図
の場合の信号検出のロジックを説明するための図である
。図中、＃０〜＃１５はワイヤーアノード、１００〜１
１５は増幅器、３００〜３１５はスレッシュホールド信
号との比較用コンパレータ、３２１〜３３５は隣り同士
の検出器出力の比較用コンパレータ、４０はラッチ回路
、５０１〜５１５はエクスクル−シブＯＲ回路、６００
〜６１５はＡＮＤ回路、７０はエンコーダ、８０はラン
チ回路である。
ＭＴを使った場合の本発明による光又は放射線入射位置
検出装置の実施例の回路構成を示す図、第４図は第３図
の場合の信号検出のロジックを説明するための図である
。図中、＃０〜＃１５はワイヤーアノード、１００〜１
１５は増幅器、３００〜３１５はスレッシュホールド信
号との比較用コンパレータ、３２１〜３３５は隣り同士
の検出器出力の比較用コンパレータ、４０はラッチ回路
、５０１〜５１５はエクスクル−シブＯＲ回路、６００
〜６１５はＡＮＤ回路、７０はエンコーダ、８０はラン
チ回路である。
図において、ワイヤーアノード＃１〜＃１５から得られ
る信号は、増幅器１００〜１１５で増幅した後、コンパ
レータ３００〜３１５で所定レベル以上の場合のみ信号
出力が得られ、ランチ回路４０でラッチされる。また、
コンパレータ３２１〜３３５で隣り同士の検出器出力信
号を、図のように一方向に決めて比較し、その出力を同
様にラッチする。
る信号は、増幅器１００〜１１５で増幅した後、コンパ
レータ３００〜３１５で所定レベル以上の場合のみ信号
出力が得られ、ランチ回路４０でラッチされる。また、
コンパレータ３２１〜３３５で隣り同士の検出器出力信
号を、図のように一方向に決めて比較し、その出力を同
様にラッチする。
今、第４図に示すような人力があったとすると、コンパ
レータ３２１〜３３５からは図のような出力が得られ、
この隣り合う出力同士をエクスクル−シブ０Ｒ５０１〜
５１４で比較し、エクスクル−シブＯＲ出力が「１」と
なる所、即ち、コンパレータ出力がｒＯＪ−ｒｌＪとな
る箇所を検出する。この場合、ピークの変化点にあるワ
イヤーだけ「１」となり、スレッシュホールド比較出力
とのＡＮＤをとってやれば、１６本のワイヤーの１本を
選択することができる。そして、スレッシュホールドレ
ベル以上の有効な出力であれば、エンコーダ７０でアド
レス信号に変換し、ランチ回路８０で４ビツトのＸアド
レス信号として出力する。
レータ３２１〜３３５からは図のような出力が得られ、
この隣り合う出力同士をエクスクル−シブ０Ｒ５０１〜
５１４で比較し、エクスクル−シブＯＲ出力が「１」と
なる所、即ち、コンパレータ出力がｒＯＪ−ｒｌＪとな
る箇所を検出する。この場合、ピークの変化点にあるワ
イヤーだけ「１」となり、スレッシュホールド比較出力
とのＡＮＤをとってやれば、１６本のワイヤーの１本を
選択することができる。そして、スレッシュホールドレ
ベル以上の有効な出力であれば、エンコーダ７０でアド
レス信号に変換し、ランチ回路８０で４ビツトのＸアド
レス信号として出力する。
なお、上記説明ではＸ方向のみの検出回路を示している
が、Ｘ方向も同様であり、本実施例は電子法がりがワイ
ヤー間を比較していった場合ピークを１つしかもたない
時有効である。
が、Ｘ方向も同様であり、本実施例は電子法がりがワイ
ヤー間を比較していった場合ピークを１つしかもたない
時有効である。
第５０は種々な電子法がり分布波形を示す図である。
第５図（イ）は、ワイヤーの左端での出力が最も大きい
場合で、第３図に示すような相互比較では、コンパレー
タ出力は全て「１」となり、第５図（ロ）の場合は、ワ
イヤーの右端での出力が最も大きい場合で、コンパレー
タの出力は全て「０」となる。このように、ワイヤーの
端が最も大きい場合には、前述したようなピークの変化
点はあられれないが、全てがｒｌＪであるか、全てが「
０」であるかにより左端、または右端を入射位置として
検出する。この場合、第５図（ロ）の場合は、「０」を
反転して「１」として利用すればよい。
場合で、第３図に示すような相互比較では、コンパレー
タ出力は全て「１」となり、第５図（ロ）の場合は、ワ
イヤーの右端での出力が最も大きい場合で、コンパレー
タの出力は全て「０」となる。このように、ワイヤーの
端が最も大きい場合には、前述したようなピークの変化
点はあられれないが、全てがｒｌＪであるか、全てが「
０」であるかにより左端、または右端を入射位置として
検出する。この場合、第５図（ロ）の場合は、「０」を
反転して「１」として利用すればよい。
第５図（ハ）は電子法がりにゆらぎをもつ場合であり、
第５図（ニ）は真のダブルイベントの場合であり、何れ
もエンコーダ７０で除外されてしまうことになる。
第５図（ニ）は真のダブルイベントの場合であり、何れ
もエンコーダ７０で除外されてしまうことになる。
次に、第５図（ハ）の場合の検出方法について、第６図
〜第７図により説明する。
〜第７図により説明する。
第６図は電子法がりにゆらぎをもつ場合の検出方法を示
す原理図である。
す原理図である。
ゆらぎの条件として、１つおきのワイヤーを比較してい
ったとき、図の曲線Ｂ、Ｃが得られるが、これらのピー
クがそれぞれ１つである場合、これらのピークの１つを
検出することにより入射位置の検出が可能である。なお
、これ以上のゆらぎも、２つ以上毎のワイヤーを比較す
ることにより検出可能である。
ったとき、図の曲線Ｂ、Ｃが得られるが、これらのピー
クがそれぞれ１つである場合、これらのピークの１つを
検出することにより入射位置の検出が可能である。なお
、これ以上のゆらぎも、２つ以上毎のワイヤーを比較す
ることにより検出可能である。
第７図は１つおきのワイヤーを比較する場合の本発明の
実施例を示す図、第８図は第７図の場合におけるロジッ
クを示す図で、第３図と同一符合は同一内容を示してい
る。なお、３４１〜３５４はコンパレータ、４０１〜４
１５はインバータ、４２１〜４３４はアンド回路である
。
実施例を示す図、第８図は第７図の場合におけるロジッ
クを示す図で、第３図と同一符合は同一内容を示してい
る。なお、３４１〜３５４はコンパレータ、４０１〜４
１５はインバータ、４２１〜４３４はアンド回路である
。
第３図の場合の回路構成との違いは、１つおきのワイヤ
ーにもコンパレータ３４１〜３５４を入れて電子法がり
のゆらぎをほぼ吸収している点である。即ち、第８図（
イ）に示すような電子法がりである場合、隣同士のワイ
ヤー出力を比較するコンパレータ３２１〜３２５は、図
示するように（０，０，１，０，１，１，１，１）とな
り、１つおき、即ち偶数番目毎、及び奇数番目毎のコン
パレータ３４１〜３５４の出力は、それぞれ（０゜０．
１．１）、（０，Ｏ，０，１，１）となる。
ーにもコンパレータ３４１〜３５４を入れて電子法がり
のゆらぎをほぼ吸収している点である。即ち、第８図（
イ）に示すような電子法がりである場合、隣同士のワイ
ヤー出力を比較するコンパレータ３２１〜３２５は、図
示するように（０，０，１，０，１，１，１，１）とな
り、１つおき、即ち偶数番目毎、及び奇数番目毎のコン
パレータ３４１〜３５４の出力は、それぞれ（０゜０．
１．１）、（０，Ｏ，０，１，１）となる。
したがって、隣同士のコンパレータ出力をインバータ４
０１〜４１４により反転し、反転した出力と、隣のコン
パレータ出力とのＡＮＤをとることにより、ＡＮＤ回路
４２１〜４３４の出力は第８図（ロ）に示すようになる
。また、１つおきのコンパレータ出力のｒｏｊ−ｒｌＪ
に変化する位置をエクスクル−シブＯＲで検出し、これ
とＡＮＤ回路４２１〜４３４の出力とのＡＮＤを、ＡＮ
Ｄ回路６０２〜６１３でとることにより出力ｒｌＪとな
るワイヤーを検出することができる。
０１〜４１４により反転し、反転した出力と、隣のコン
パレータ出力とのＡＮＤをとることにより、ＡＮＤ回路
４２１〜４３４の出力は第８図（ロ）に示すようになる
。また、１つおきのコンパレータ出力のｒｏｊ−ｒｌＪ
に変化する位置をエクスクル−シブＯＲで検出し、これ
とＡＮＤ回路４２１〜４３４の出力とのＡＮＤを、ＡＮ
Ｄ回路６０２〜６１３でとることにより出力ｒｌＪとな
るワイヤーを検出することができる。
このように、第３図の回路構成で行ったようなエクスク
ル−シブＯＲを使っていたのでは、コンパレータの変化
点が沢山比るので、インバータとＡＮＤで０→１の変化
点のみ１となるように構成し、１つおきではピークは１
つであるという条件により、エクスクル−シブＯＲを使
用して１つのピークだけ選択する。そして第３図の場合
と同様にスレッシュホールドの処理とエンコードを行い
、入射位置アドレス情報を得ることができる。
ル−シブＯＲを使っていたのでは、コンパレータの変化
点が沢山比るので、インバータとＡＮＤで０→１の変化
点のみ１となるように構成し、１つおきではピークは１
つであるという条件により、エクスクル−シブＯＲを使
用して１つのピークだけ選択する。そして第３図の場合
と同様にスレッシュホールドの処理とエンコードを行い
、入射位置アドレス情報を得ることができる。
第９図、第１０図は本発明による光又は放射線入射０位
置検出装置の具体的応用例を示す図である。
置検出装置の具体的応用例を示す図である。
第９図はモザイクシンチレータと２Ｄ−マルチワイヤー
ＰＭＴとのを組み合わせの構成を示す図、第１０図はモ
ザイクシンチレータとワイヤーが１：１に対応している
ことを示す図である。
ＰＭＴとのを組み合わせの構成を示す図、第１０図はモ
ザイクシンチレータとワイヤーが１：１に対応している
ことを示す図である。
図において、ｘｙ各ワイヤーの交差点上にそのモザイク
シンチレータアレイを１：１に対応するように置く。２
Ｄ−マルチワイヤーＰＭＴ内部でのワイヤーへの電子拡
がりは多少のゆらぎあるが、ワイヤー間を比較していっ
た場合信号の入った近傍のワイヤーでは、ピークは１つ
しかもたないことが仮定でき、第３図に示したような回
路構成により入射位置を検出することができる。もし、
電子拡がりの信号ゆらぎが大きく、この仮定が保証され
ない場合は、前述したように隣同士のワイヤーのコンパ
レータに加え、１つおきのワイヤー間にもコンパレータ
を入れることにより、このゆらぎはほぼ吸収できる。こ
れ以上のゆらぎに対しては、さらにワイヤー間のコンパ
レータを増やしていけば吸収できるが、実用上は１つお
きのコンパレータを入れることにより問題なく、ダブル
イベントとして除去できる。
シンチレータアレイを１：１に対応するように置く。２
Ｄ−マルチワイヤーＰＭＴ内部でのワイヤーへの電子拡
がりは多少のゆらぎあるが、ワイヤー間を比較していっ
た場合信号の入った近傍のワイヤーでは、ピークは１つ
しかもたないことが仮定でき、第３図に示したような回
路構成により入射位置を検出することができる。もし、
電子拡がりの信号ゆらぎが大きく、この仮定が保証され
ない場合は、前述したように隣同士のワイヤーのコンパ
レータに加え、１つおきのワイヤー間にもコンパレータ
を入れることにより、このゆらぎはほぼ吸収できる。こ
れ以上のゆらぎに対しては、さらにワイヤー間のコンパ
レータを増やしていけば吸収できるが、実用上は１つお
きのコンパレータを入れることにより問題なく、ダブル
イベントとして除去できる。
第１１図は、アノードワイヤピッチが４ｆｌの位置検出
型ＰＭＴに４ｎピツチのＢＧＯシンチレータアレイを結
合した検出器（Ｔ線検出器）に本発明の回路構成第３図
を適用して得られた位置弁別結果例を示す図で、γ線入
射位置と位置精度の関係を示している。（但し、Ｘ方向
の８ワイヤーのみを使用。） 図において、ＢＧ○シンチレータは４酊ピツチで配置さ
れているが、同図から分かるように各シンチレータでの
検出の分離が極めて良好になされていることがわかる。
型ＰＭＴに４ｎピツチのＢＧＯシンチレータアレイを結
合した検出器（Ｔ線検出器）に本発明の回路構成第３図
を適用して得られた位置弁別結果例を示す図で、γ線入
射位置と位置精度の関係を示している。（但し、Ｘ方向
の８ワイヤーのみを使用。） 図において、ＢＧ○シンチレータは４酊ピツチで配置さ
れているが、同図から分かるように各シンチレータでの
検出の分離が極めて良好になされていることがわかる。
〔発明の効果］
以上のように本発明によれば、マルチワイヤーの読み出
し回路による検出器、シンチレーションカメラのような
複数個の検出器をもつ検出器等のような複数個の出力を
有する位置検出器において、コンパレータと単純なゲー
トロジックからなる簡単な構成で各ワイヤー（検出器）
への入力信号積分後、超高速（１００ｎｓｅｃ以内）で
位置検出することができる。なお、空間分解能はワイヤ
ー（検出器）のピッチと本数に依存する。
し回路による検出器、シンチレーションカメラのような
複数個の検出器をもつ検出器等のような複数個の出力を
有する位置検出器において、コンパレータと単純なゲー
トロジックからなる簡単な構成で各ワイヤー（検出器）
への入力信号積分後、超高速（１００ｎｓｅｃ以内）で
位置検出することができる。なお、空間分解能はワイヤ
ー（検出器）のピッチと本数に依存する。
第１図は本発明による光又は放射線入射位置検出装置の
検出原理を示す図、第２図は入射位置とコンパレータ出
力の関係を示す図、第３図は１６Ｘ１６ワイヤーの２Ｄ
−マルチワイヤーＰＭＴを使った場合の本発明の一実施
例の回路構成を示す図、第４図は第１図の場合の信号検
出のロジックを説明するための図、第５図は種々な電子
拡がり分布波形を示す図、第６図は電子拡がりにゆらぎ
をもつ場合の検出方法を示す原理図、第７図は１つおき
のワイヤー比較を行う場合の本発明の他の実施例の回路
構成を示す図、第８図は第７図の場合におけるロジック
を示す図、第９図、第１０図は本発明による光又は放射
線入射位置検出装置の具体的応用例を示す図、第１１図
は位置検出型ＰＭＴに４ＮピンチのＢＧＯシンチレータ
アレイを結合した検出器に本発明の回路を適用して得ら
れた位置弁別結果例を示す図、第１２図は重心位置演算
方式による従来の入射位置検出装置を示す図、第１３図
はコインシデンス・エンコード方式による従来の入射位
置検出装置を示す図、第１４閏はデュアルコンパレータ
方式により従来の入射位置検出装置を示す図である。 Ａ・・・電子の分布拡がり分布曲線、＃１〜＃９・・・
ワイヤーアノード、２１〜２８・・・コンパレータ、＃
１〜＃１５・・・ワイヤーアノード、１００〜１１５・
・・増幅器、３００〜３１５・・・スレッシュホールド
信号との比較用コンパレータ、３２１〜３３５・・・隣
り同士の比較用コンパレータ、４０・・・ラッチ回路、
５０１〜５１５・・・エクスクル−シブＯＲ回路、６０
０〜６１５・・・ＡＮＤ回路、７０・・・エンコーダ、
８０・・・ラッチ回路。 出 瀬 人 浜松ホトニクス株式会社（外／名＞
代 理 人 弁理士 蛭 川 晶 信第１図 第２図 第４ 図 第５ 図、イジ第５図
（ロ） 第５図（ハ９ ψψψψψＩψψψψψｌψψψｐ 第１１図 第１２図 第１３図 第１４図
検出原理を示す図、第２図は入射位置とコンパレータ出
力の関係を示す図、第３図は１６Ｘ１６ワイヤーの２Ｄ
−マルチワイヤーＰＭＴを使った場合の本発明の一実施
例の回路構成を示す図、第４図は第１図の場合の信号検
出のロジックを説明するための図、第５図は種々な電子
拡がり分布波形を示す図、第６図は電子拡がりにゆらぎ
をもつ場合の検出方法を示す原理図、第７図は１つおき
のワイヤー比較を行う場合の本発明の他の実施例の回路
構成を示す図、第８図は第７図の場合におけるロジック
を示す図、第９図、第１０図は本発明による光又は放射
線入射位置検出装置の具体的応用例を示す図、第１１図
は位置検出型ＰＭＴに４ＮピンチのＢＧＯシンチレータ
アレイを結合した検出器に本発明の回路を適用して得ら
れた位置弁別結果例を示す図、第１２図は重心位置演算
方式による従来の入射位置検出装置を示す図、第１３図
はコインシデンス・エンコード方式による従来の入射位
置検出装置を示す図、第１４閏はデュアルコンパレータ
方式により従来の入射位置検出装置を示す図である。 Ａ・・・電子の分布拡がり分布曲線、＃１〜＃９・・・
ワイヤーアノード、２１〜２８・・・コンパレータ、＃
１〜＃１５・・・ワイヤーアノード、１００〜１１５・
・・増幅器、３００〜３１５・・・スレッシュホールド
信号との比較用コンパレータ、３２１〜３３５・・・隣
り同士の比較用コンパレータ、４０・・・ラッチ回路、
５０１〜５１５・・・エクスクル−シブＯＲ回路、６０
０〜６１５・・・ＡＮＤ回路、７０・・・エンコーダ、
８０・・・ラッチ回路。 出 瀬 人 浜松ホトニクス株式会社（外／名＞
代 理 人 弁理士 蛭 川 晶 信第１図 第２図 第４ 図 第５ 図、イジ第５図
（ロ） 第５図（ハ９ ψψψψψＩψψψψψｌψψψｐ 第１１図 第１２図 第１３図 第１４図
Claims (3)
- （１）２次元配列された複数個の検出器と、各検出器同
士の出力を相互比較する第１のコンパレータ群と、各検
出器からの検出信号、及びスレッシュホールドレベル信
号が入力される第２のコンパレータ群とを備え、検出器
出力がスレッシュホールドレベル以上のときの第１のコ
ンパレータ群出力から入射位置を求めることを特徴とす
る光又は放射線入射位置検出装置。 - （２）前記第１コンパレータ群は、隣同士の検出器出力
を比較するコンパレータ群からなる特許請求の範囲第１
項記載の光又は放射線入射位置検出装置。 - （３）前記第１のコンパレータ群は、隣同士の検出器出
力を比較する第３のコンパレータ群と、１つ以上おきの
検出器同士の出力を比較する第４のコンパレータ群とか
らなる特許請求の範囲第１項記載の光又は放射線入射位
置検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13657287A JPH0636032B2 (ja) | 1987-05-30 | 1987-05-30 | 光又は放射線入射位置検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13657287A JPH0636032B2 (ja) | 1987-05-30 | 1987-05-30 | 光又は放射線入射位置検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63300986A true JPS63300986A (ja) | 1988-12-08 |
| JPH0636032B2 JPH0636032B2 (ja) | 1994-05-11 |
Family
ID=15178396
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13657287A Expired - Fee Related JPH0636032B2 (ja) | 1987-05-30 | 1987-05-30 | 光又は放射線入射位置検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0636032B2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0315706A (ja) * | 1989-03-01 | 1991-01-24 | Hamamatsu Photonics Kk | ２次元入射位置検出装置 |
| US5111051A (en) * | 1989-09-14 | 1992-05-05 | Hamamatsu Photonics K. K. | Multi-anode array photomultiplier tube |
| FR2755815A1 (fr) * | 1996-11-08 | 1998-05-15 | Commissariat Energie Atomique | Dispositif et procede de determination de la position presumee d'un evenement par rapport a un ensemble de photodetecteurs, et application aux gamma-cameras |
| JP2004264078A (ja) * | 2003-02-28 | 2004-09-24 | Natl Inst Of Radiological Sciences | 入射位置検出方法及び装置 |
-
1987
- 1987-05-30 JP JP13657287A patent/JPH0636032B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0315706A (ja) * | 1989-03-01 | 1991-01-24 | Hamamatsu Photonics Kk | ２次元入射位置検出装置 |
| US5111051A (en) * | 1989-09-14 | 1992-05-05 | Hamamatsu Photonics K. K. | Multi-anode array photomultiplier tube |
| FR2755815A1 (fr) * | 1996-11-08 | 1998-05-15 | Commissariat Energie Atomique | Dispositif et procede de determination de la position presumee d'un evenement par rapport a un ensemble de photodetecteurs, et application aux gamma-cameras |
| WO1998021607A1 (fr) * | 1996-11-08 | 1998-05-22 | Commissariat A L'energie Atomique | Dispositif et procede de determination de la position presumee d'un evenement par rapport a un ensemble de photodetecteurs, et application aux gamma-c |
| JP2004264078A (ja) * | 2003-02-28 | 2004-09-24 | Natl Inst Of Radiological Sciences | 入射位置検出方法及び装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0636032B2 (ja) | 1994-05-11 |
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