JPS6330681B2 - - Google Patents
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- JPS6330681B2 JPS6330681B2 JP56013453A JP1345381A JPS6330681B2 JP S6330681 B2 JPS6330681 B2 JP S6330681B2 JP 56013453 A JP56013453 A JP 56013453A JP 1345381 A JP1345381 A JP 1345381A JP S6330681 B2 JPS6330681 B2 JP S6330681B2
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- JP
- Japan
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- song
- pulse
- inter
- circuit
- record
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Description
【発明の詳細な説明】
本発明はレコードプレヤーの曲間検出装置に関
するものであり、その目的とするところは簡単な
構成でレコード盤の反射率の違いを補償し、常に
確実な曲間検出ができるようにすることにある。
するものであり、その目的とするところは簡単な
構成でレコード盤の反射率の違いを補償し、常に
確実な曲間検出ができるようにすることにある。
一般にレコードプレヤーにおいては複数の曲が
記録された、たとえばLPレコード盤を演奏する
ために曲間検出装置が用いられる。上記の曲間検
出装置としてはトーンアーム又はセンサーアーム
の先端に発光器と受光器を備える光学センサを設
け、上記アームによつて上記光学センサをレコー
ド盤上において径方向に移動させることにより、
レコード盤での反射出力レベルとその音溝と音溝
との間の曲間での反射出力レベルとの差を利用
し、上記レコード盤の音溝と音溝との間の曲間を
光学的に検出するものが知られている。そして、
上述のような光学的な曲間検出装置を用いてレコ
ード盤の曲間を検出する場合、レコード盤からの
反射光が入光される光学センサの出力においてレ
コード盤の音溝での反射出力レベルに比べてレコ
ード盤の曲間での反射出力レベルが大きいことを
利用するため、上記音溝での反射出力レベルより
大きくかつ上記曲間での反射出力レベルより小さ
いところにスレツシヨルドレベルを設定し、この
スレツシヨルドレベル以上の出力があつた場合に
曲間信号パルスを出力して曲間検出を行なうよう
にするのが常である。一方、反射型の光学センサ
を利用して曲間検出する場合、光学センサからの
反射出力はレコード盤の反射率に大きく影響を受
けるものである。すなわち、1枚のレコード盤内
における複数の曲部分でのトラツクピツチが狭く
て反射率がほぼ同一の場合にはほぼ一定した曲間
送りパルスを得ることができるが、1枚のレコー
ド盤内における複数の曲部分でのトラツクピツチ
が狭かつたり、広かつたりして反射率が不揃いの
場合には曲間パルスが大きかつたり、小さかつた
りしてスレツシヨールド電圧を設定しにくい。そ
のため、光学センサからの反射出力は微分回路を
通して急激に変化する曲間送り溝パルスが明確に
判断できるように信号処理するのが常である。こ
のように信号処理すると、曲間送り溝部分の前後
の音溝のトラツクピツチに大きな差がない場合に
は光学センサからの曲間送り溝パルスのピーク値
はほぼ等しく、微分パルスの正負の大きさもほぼ
等しくでき、また曲間送り溝パルスの前後の音溝
のトラツクピツチに大きな差がある場合には光学
センサからの曲間送りパルスのピーク値が大きく
異なり、微分パルスの正負の大きさを明確化でき
る。しかしながら、上述のようにスレツシヨール
ド電圧を固定した曲間検出装置では、スレツシヨ
ールド電圧は微分パルスの正負いずれか一方で固
定しただけのものであるため、特に曲間送り溝の
前後の音溝のトラツクピツチに大きな差のあるレ
コード盤を曲間検出する場合、微分パルスの正負
の大きさが大きく異なつており、曲間送り溝部分
での微分パルスのピーク値が設定したスレツシヨ
ールド電圧よりも小さいことがあり、よつて確実
な曲間検出を行なうことがむずかしいものであつ
た。
記録された、たとえばLPレコード盤を演奏する
ために曲間検出装置が用いられる。上記の曲間検
出装置としてはトーンアーム又はセンサーアーム
の先端に発光器と受光器を備える光学センサを設
け、上記アームによつて上記光学センサをレコー
ド盤上において径方向に移動させることにより、
レコード盤での反射出力レベルとその音溝と音溝
との間の曲間での反射出力レベルとの差を利用
し、上記レコード盤の音溝と音溝との間の曲間を
光学的に検出するものが知られている。そして、
上述のような光学的な曲間検出装置を用いてレコ
ード盤の曲間を検出する場合、レコード盤からの
反射光が入光される光学センサの出力においてレ
コード盤の音溝での反射出力レベルに比べてレコ
ード盤の曲間での反射出力レベルが大きいことを
利用するため、上記音溝での反射出力レベルより
大きくかつ上記曲間での反射出力レベルより小さ
いところにスレツシヨルドレベルを設定し、この
スレツシヨルドレベル以上の出力があつた場合に
曲間信号パルスを出力して曲間検出を行なうよう
にするのが常である。一方、反射型の光学センサ
を利用して曲間検出する場合、光学センサからの
反射出力はレコード盤の反射率に大きく影響を受
けるものである。すなわち、1枚のレコード盤内
における複数の曲部分でのトラツクピツチが狭く
て反射率がほぼ同一の場合にはほぼ一定した曲間
送りパルスを得ることができるが、1枚のレコー
ド盤内における複数の曲部分でのトラツクピツチ
が狭かつたり、広かつたりして反射率が不揃いの
場合には曲間パルスが大きかつたり、小さかつた
りしてスレツシヨールド電圧を設定しにくい。そ
のため、光学センサからの反射出力は微分回路を
通して急激に変化する曲間送り溝パルスが明確に
判断できるように信号処理するのが常である。こ
のように信号処理すると、曲間送り溝部分の前後
の音溝のトラツクピツチに大きな差がない場合に
は光学センサからの曲間送り溝パルスのピーク値
はほぼ等しく、微分パルスの正負の大きさもほぼ
等しくでき、また曲間送り溝パルスの前後の音溝
のトラツクピツチに大きな差がある場合には光学
センサからの曲間送りパルスのピーク値が大きく
異なり、微分パルスの正負の大きさを明確化でき
る。しかしながら、上述のようにスレツシヨール
ド電圧を固定した曲間検出装置では、スレツシヨ
ールド電圧は微分パルスの正負いずれか一方で固
定しただけのものであるため、特に曲間送り溝の
前後の音溝のトラツクピツチに大きな差のあるレ
コード盤を曲間検出する場合、微分パルスの正負
の大きさが大きく異なつており、曲間送り溝部分
での微分パルスのピーク値が設定したスレツシヨ
ールド電圧よりも小さいことがあり、よつて確実
な曲間検出を行なうことがむずかしいものであつ
た。
本発明はこのような従来の欠点を解消するもの
であり、以下、本発明について実施例の図面と共
に説明する。
であり、以下、本発明について実施例の図面と共
に説明する。
第1図および第2図は本発明の曲間検出装置の
1構成例を示しており、図中、1はたとえばラン
プ、発光ダイオードなどの発光器、2は上記発光
器1と光学的に結合されるたとえばフオトトラン
ジスタなどの受光器であり、これら発光器1およ
び受光器2は図示していないトーンアーム又は他
のセンサアームの先端に設けられて光学センサ3
を構成しており、レコード盤上において径方向に
移動されるときレコード盤に照射された発光器1
からの反射光が受光器2に入るように角度設定さ
れている。4はインバータ5、トランジスタ
TR1,TR2、抵抗R1,R2,R3等より構成される
上記発光器1の駆動回路であり、上記トランジス
タTR2のコレクタと抵抗R3との間に上記発光器
1が接続されている。6はトランジスタTR3,
TR4、抵抗R4〜R7、コンデンサC1,C2等より構
成されるパルス発生回路であり、そのトランジス
タTR4のコレクタからのパルス出力が上記駆動回
路4のインバータ5に印加されている。7は演算
増幅器A1、帰還量調整用可変抵抗器VR1等より
構成される増幅器であり、上記受光器2からの出
力が入力されるようになつている。8は演算増幅
器A2、コンデンサC3、抵抗R8〜R10及び結合コン
デンサC4等より構成されるバンドパスフイルタ
であり、上記増幅回路7からの出力が印加され
る。9はダイオードD1、アナログスイツチ10,
11、演算増幅器A5および抵抗R11〜R13、コン
デンサC5等より構成されるピークホールド回路
であり、上記バンドパスフイルタ8を通つた上記
増幅回路7の出力が加えられる。12はインバー
タ13、ワンシヨツトマルチバイブレータ14,
15、抵抗R14,R15、コンデンサC6,C7等より
構成される位相器であり、上記パルス発生回路6
からのパルス出力が加えられて適度に位相が調節
され、その出力がサンプリングパルスとして上記
ピークホールド回路9に加えられる。16は正負
両方の曲間送り溝パルスを作成し、この正負両方
の曲間送り溝パルスを用いてそれぞれ別個にパル
ス判定するパルス判定回路であり、上記ピークホ
ールド回路9からの出力が加えられる。17はワ
ンシヨツトマルチバイブレータ20、抵抗R21,
R22、コンデンサR9等よりなる出力回路であり、
上記信号処理回路16からの出力が加えられて曲
間信号を出力する。ここで、上記パルス判定回路
16は第2図に示すように抵抗R16とコンデンサ
C9でなる微分回路21、演算増幅器A4、インバ
ータ22、2つのコンパレータ23,24および
オア回路25等より構成されている。
1構成例を示しており、図中、1はたとえばラン
プ、発光ダイオードなどの発光器、2は上記発光
器1と光学的に結合されるたとえばフオトトラン
ジスタなどの受光器であり、これら発光器1およ
び受光器2は図示していないトーンアーム又は他
のセンサアームの先端に設けられて光学センサ3
を構成しており、レコード盤上において径方向に
移動されるときレコード盤に照射された発光器1
からの反射光が受光器2に入るように角度設定さ
れている。4はインバータ5、トランジスタ
TR1,TR2、抵抗R1,R2,R3等より構成される
上記発光器1の駆動回路であり、上記トランジス
タTR2のコレクタと抵抗R3との間に上記発光器
1が接続されている。6はトランジスタTR3,
TR4、抵抗R4〜R7、コンデンサC1,C2等より構
成されるパルス発生回路であり、そのトランジス
タTR4のコレクタからのパルス出力が上記駆動回
路4のインバータ5に印加されている。7は演算
増幅器A1、帰還量調整用可変抵抗器VR1等より
構成される増幅器であり、上記受光器2からの出
力が入力されるようになつている。8は演算増幅
器A2、コンデンサC3、抵抗R8〜R10及び結合コン
デンサC4等より構成されるバンドパスフイルタ
であり、上記増幅回路7からの出力が印加され
る。9はダイオードD1、アナログスイツチ10,
11、演算増幅器A5および抵抗R11〜R13、コン
デンサC5等より構成されるピークホールド回路
であり、上記バンドパスフイルタ8を通つた上記
増幅回路7の出力が加えられる。12はインバー
タ13、ワンシヨツトマルチバイブレータ14,
15、抵抗R14,R15、コンデンサC6,C7等より
構成される位相器であり、上記パルス発生回路6
からのパルス出力が加えられて適度に位相が調節
され、その出力がサンプリングパルスとして上記
ピークホールド回路9に加えられる。16は正負
両方の曲間送り溝パルスを作成し、この正負両方
の曲間送り溝パルスを用いてそれぞれ別個にパル
ス判定するパルス判定回路であり、上記ピークホ
ールド回路9からの出力が加えられる。17はワ
ンシヨツトマルチバイブレータ20、抵抗R21,
R22、コンデンサR9等よりなる出力回路であり、
上記信号処理回路16からの出力が加えられて曲
間信号を出力する。ここで、上記パルス判定回路
16は第2図に示すように抵抗R16とコンデンサ
C9でなる微分回路21、演算増幅器A4、インバ
ータ22、2つのコンパレータ23,24および
オア回路25等より構成されている。
このような構成の曲間検出装置においては、パ
ルス発生回路6からのパルス出力によつて発生器
1がパルス駆動され、レコード盤面からの反射光
を受光器2で受けてその反射出力を増幅回路7に
加える。そして、上述の反射出力は上記増幅回路
7で増幅したのちにバンドパスフイルタ8を通し
てピークホールド回路9に加えて、ピーク値をホ
ールドする。このように光学センサ3を構成する
発光器1をパルス駆動すると、発光器1に加える
電流を大きく設定することができるために発光輝
度を高くでき、受光器2での感度を高めることが
できる。そして、ピークホールド回路9を用いて
受光器2からの反射出力をピークホールドするこ
とにより、信号検出をより確実なものとすること
ができる。又、バンドパスフイルタ8をいること
により外乱光の影響を低減して曲間検出をよりよ
いものとすることができる。つぎに、上記ピーク
ホールド回路9の出力はパルス判定回路16に加
えて曲間送りパルスを判定する。ここで、上記パ
ルス判定回路16は、いま、その入力端18に第
3図aに示すピークホールド回路9からの反射出
力が加えられるものとすると、その反射出力は微
分回路16にて微分され、演算増幅器A4で増幅
されて第3図bに示す微分パルスに変換される。
上記演算増器A4からの出力パルスはその一方が
インバータ22を介してコンパレータ23の一方
の入力端に加えられ、その他方が直接コンパレー
タ24の一方の入力端に加えられる。上記コンパ
レータ23,24はその他方の入力端に予じめ設
定した所定のスレツシヨールド電圧が加えられて
おり、これらインバータ23,24では第3図
b,cに示すパルス比較が行なわれる。そして、
上記コンパレータ23,24の出力はオア回路2
5に加えられて、その出力端19に第3図dに示
す判定パルスが出力される。つまり、上記パルス
判定回路16は曲間送り溝パルスの正負のいずれ
においても所定のスレツシヨールド電圧と比較し
て、その結果をオア回路25で論理和を取るよう
に構成してある。したがつて、アームによつて光
学センサ3をレコード盤上で移動させるとき、そ
の光学センサ3にて検出した曲間送りパルスの正
負両方を個々に所定のスレツシヨールド電圧で判
定し、そのオアを取るので、曲間送り溝の前後に
トラツクピツチの狭い音溝とトラツクピツチの広
い音溝が存在するレコード盤の場合でも、曲間送
り溝パルスは正負いずれかで判読することがで
き、その結果常に正しい曲間検出を行なうことが
できる。そして、出力回路17に設けたワンシヨ
ツトマルチバイブレータ20はチヤタリング防止
のために効果のあるものである。
ルス発生回路6からのパルス出力によつて発生器
1がパルス駆動され、レコード盤面からの反射光
を受光器2で受けてその反射出力を増幅回路7に
加える。そして、上述の反射出力は上記増幅回路
7で増幅したのちにバンドパスフイルタ8を通し
てピークホールド回路9に加えて、ピーク値をホ
ールドする。このように光学センサ3を構成する
発光器1をパルス駆動すると、発光器1に加える
電流を大きく設定することができるために発光輝
度を高くでき、受光器2での感度を高めることが
できる。そして、ピークホールド回路9を用いて
受光器2からの反射出力をピークホールドするこ
とにより、信号検出をより確実なものとすること
ができる。又、バンドパスフイルタ8をいること
により外乱光の影響を低減して曲間検出をよりよ
いものとすることができる。つぎに、上記ピーク
ホールド回路9の出力はパルス判定回路16に加
えて曲間送りパルスを判定する。ここで、上記パ
ルス判定回路16は、いま、その入力端18に第
3図aに示すピークホールド回路9からの反射出
力が加えられるものとすると、その反射出力は微
分回路16にて微分され、演算増幅器A4で増幅
されて第3図bに示す微分パルスに変換される。
上記演算増器A4からの出力パルスはその一方が
インバータ22を介してコンパレータ23の一方
の入力端に加えられ、その他方が直接コンパレー
タ24の一方の入力端に加えられる。上記コンパ
レータ23,24はその他方の入力端に予じめ設
定した所定のスレツシヨールド電圧が加えられて
おり、これらインバータ23,24では第3図
b,cに示すパルス比較が行なわれる。そして、
上記コンパレータ23,24の出力はオア回路2
5に加えられて、その出力端19に第3図dに示
す判定パルスが出力される。つまり、上記パルス
判定回路16は曲間送り溝パルスの正負のいずれ
においても所定のスレツシヨールド電圧と比較し
て、その結果をオア回路25で論理和を取るよう
に構成してある。したがつて、アームによつて光
学センサ3をレコード盤上で移動させるとき、そ
の光学センサ3にて検出した曲間送りパルスの正
負両方を個々に所定のスレツシヨールド電圧で判
定し、そのオアを取るので、曲間送り溝の前後に
トラツクピツチの狭い音溝とトラツクピツチの広
い音溝が存在するレコード盤の場合でも、曲間送
り溝パルスは正負いずれかで判読することがで
き、その結果常に正しい曲間検出を行なうことが
できる。そして、出力回路17に設けたワンシヨ
ツトマルチバイブレータ20はチヤタリング防止
のために効果のあるものである。
第4図はパルス判定回路の他の実施例を示して
いる。第4図において、41はピークホールド回
路9の出力が加えられる入力端、42は抵抗R41
とコンデンサC41でなり上記ピークホールド回路
9の出力を波形整形する微分回路、43は上記微
分回路42の出力を増幅する演算増幅器、44は
上記演算増幅器43の出力を反転するインバー
タ、45は上記インバータ44の出力をサンプル
ホールドしかつ曲間送り溝パルス毎にリセツトす
るサンプルホールド兼リセツト回路であり、抵抗
R44とコンデンサC42でなる積分回路とダイオード
D41より構成されている。46は上記サンプルホ
ールド兼リセツト回路45の出力と上記インバー
タ44の出力を比較するコンパレータであり、上
記インバータ44の出力は抵抗R45を介してコン
パレータ46に加えられる。上記コンパレータ4
6の一方の入力はダイオードD42にて所定の電圧
だけもち上げられている。47は上記演算増幅器
43の出力をサンプルホールドしかつ曲間送り溝
パルス毎にリセツトするサンプルホールド兼リセ
ツト回路であり、抵抗D47とコンデンサC43でなる
積分回路とダイオードD43より構成されている。
48は上記サンプルホールド兼リセツト回路47
の出力と上記演算増幅器43の出力を比較するコ
ンパレータであり、上記演算増幅器43の出力は
抵抗R48を介してコンパレータ48に加えられ
る。上記コンパレータ48の一方の入力はダイオ
ードD44にてもち上げられている。49は上記コ
ンパレータ46,48の出力が加えられるオア回
路であり、ダイオードD45,D46と抵抗R50にて構
成されている。50は上記オア回路49の出力端
である。このような構成において、いま、入力端
41に第5図aに示すピークホールド回路9の出
力が加えられるものとすると、その出力は微分回
路42にて微分されて演算増幅器43にて増幅さ
れて第5図bに示す微分パルスに変換される。上
記演算増幅器43の出力はインバータ44にて反
転されて第5図cに示す反転微分パルスとなり、
サンプルホールド兼リセツト回路45に加えられ
る。この時、上記サンプルホールド回路45はイ
ンバータ44からの負パルスでダイオードD41が
オンされることによりコンデンサC42のチヤージ
電圧が急激に放電され、上記ダイオードD41がオ
フされることにより上記コンデンサC42に抵抗R44
を通して順次充電される。その結果、上記サンプ
ルホールド兼リセツト回路45はその出力端に第
5図dに示す電圧が得られ、この電圧をスレツシ
ヨールド電圧としてコンパレータ46に加える。
そして、上記コンパレータ46は上記インバータ
44からの出力と上記スレツシヨールド電圧を比
較して第5図eに示すパルス信号を出力する。一
方、上記演算増幅器43の出力はサンプルホール
ド兼リセツト回路47に加えられる。この時、上
記サンプルホールド兼リセツト回路47は演算増
幅器43からの負パルスでダイオードD43がオン
することによりコンデンサC43のチヤージ電圧が
急激に放電され、上記ダイオードD43がオフされ
ることにより上記コンデンサC43に抵抗R47を通し
て順次充電される。その結果、上記サンプルホー
ルド兼リセツト回路47はその出力端に第5図f
に示す電圧が得られ、この電圧をスレツシヨール
ド電圧としてコンパレータ48に加える。そし
て、上記コンパレータ48は上記演算増幅器43
の出力と上記スレツシヨールド電圧を比較して第
5図gに示すパルス信号を出力する。上記コンパ
レータ46,48からのパルス信号はそれぞれオ
ア回路49に加えられて論理和が取られることに
より、その出力端50に第5図hに示す曲間パル
ス信号を出力する。したがつて、光学センサ3か
らの反射出力はその曲間送り溝パルスの正負いず
れかでそれぞれ独立して判読することができ、こ
れらの判読結果の論理和をとるために曲間送り溝
の前後にトラツクピツチが大きく異なる音溝をも
つレコード円盤の場合でも常に正しい曲間を検出
することができる。
いる。第4図において、41はピークホールド回
路9の出力が加えられる入力端、42は抵抗R41
とコンデンサC41でなり上記ピークホールド回路
9の出力を波形整形する微分回路、43は上記微
分回路42の出力を増幅する演算増幅器、44は
上記演算増幅器43の出力を反転するインバー
タ、45は上記インバータ44の出力をサンプル
ホールドしかつ曲間送り溝パルス毎にリセツトす
るサンプルホールド兼リセツト回路であり、抵抗
R44とコンデンサC42でなる積分回路とダイオード
D41より構成されている。46は上記サンプルホ
ールド兼リセツト回路45の出力と上記インバー
タ44の出力を比較するコンパレータであり、上
記インバータ44の出力は抵抗R45を介してコン
パレータ46に加えられる。上記コンパレータ4
6の一方の入力はダイオードD42にて所定の電圧
だけもち上げられている。47は上記演算増幅器
43の出力をサンプルホールドしかつ曲間送り溝
パルス毎にリセツトするサンプルホールド兼リセ
ツト回路であり、抵抗D47とコンデンサC43でなる
積分回路とダイオードD43より構成されている。
48は上記サンプルホールド兼リセツト回路47
の出力と上記演算増幅器43の出力を比較するコ
ンパレータであり、上記演算増幅器43の出力は
抵抗R48を介してコンパレータ48に加えられ
る。上記コンパレータ48の一方の入力はダイオ
ードD44にてもち上げられている。49は上記コ
ンパレータ46,48の出力が加えられるオア回
路であり、ダイオードD45,D46と抵抗R50にて構
成されている。50は上記オア回路49の出力端
である。このような構成において、いま、入力端
41に第5図aに示すピークホールド回路9の出
力が加えられるものとすると、その出力は微分回
路42にて微分されて演算増幅器43にて増幅さ
れて第5図bに示す微分パルスに変換される。上
記演算増幅器43の出力はインバータ44にて反
転されて第5図cに示す反転微分パルスとなり、
サンプルホールド兼リセツト回路45に加えられ
る。この時、上記サンプルホールド回路45はイ
ンバータ44からの負パルスでダイオードD41が
オンされることによりコンデンサC42のチヤージ
電圧が急激に放電され、上記ダイオードD41がオ
フされることにより上記コンデンサC42に抵抗R44
を通して順次充電される。その結果、上記サンプ
ルホールド兼リセツト回路45はその出力端に第
5図dに示す電圧が得られ、この電圧をスレツシ
ヨールド電圧としてコンパレータ46に加える。
そして、上記コンパレータ46は上記インバータ
44からの出力と上記スレツシヨールド電圧を比
較して第5図eに示すパルス信号を出力する。一
方、上記演算増幅器43の出力はサンプルホール
ド兼リセツト回路47に加えられる。この時、上
記サンプルホールド兼リセツト回路47は演算増
幅器43からの負パルスでダイオードD43がオン
することによりコンデンサC43のチヤージ電圧が
急激に放電され、上記ダイオードD43がオフされ
ることにより上記コンデンサC43に抵抗R47を通し
て順次充電される。その結果、上記サンプルホー
ルド兼リセツト回路47はその出力端に第5図f
に示す電圧が得られ、この電圧をスレツシヨール
ド電圧としてコンパレータ48に加える。そし
て、上記コンパレータ48は上記演算増幅器43
の出力と上記スレツシヨールド電圧を比較して第
5図gに示すパルス信号を出力する。上記コンパ
レータ46,48からのパルス信号はそれぞれオ
ア回路49に加えられて論理和が取られることに
より、その出力端50に第5図hに示す曲間パル
ス信号を出力する。したがつて、光学センサ3か
らの反射出力はその曲間送り溝パルスの正負いず
れかでそれぞれ独立して判読することができ、こ
れらの判読結果の論理和をとるために曲間送り溝
の前後にトラツクピツチが大きく異なる音溝をも
つレコード円盤の場合でも常に正しい曲間を検出
することができる。
以上のように本発明によれば、曲間送り溝パル
スの正負両方をそれぞれ判読して、それらの判読
結果の論理和を取るようにしたので、曲間送り溝
の前後でトラツクピツチの変動が大きい音溝をも
つレコード盤でも常に正しい曲間検出を行なうこ
とができる利点を有するものである。
スの正負両方をそれぞれ判読して、それらの判読
結果の論理和を取るようにしたので、曲間送り溝
の前後でトラツクピツチの変動が大きい音溝をも
つレコード盤でも常に正しい曲間検出を行なうこ
とができる利点を有するものである。
第1図は本発明のレコードプレヤーの曲間検出
装置の一実施例を示す回路図、第2図は同装置の
要部の回路結線図、第3図はその動作説明図、第
4図は本発明のレコードプレヤーの曲間検出装置
の他の実施例を示す要部の回路結線図、第5図は
その動作説明図である。 1……発光器、2……受光器、3……光学セン
サ、4……駆動回路、6……パルス発生器、7…
…増幅回路、8……バンドパスフイルタ、9……
ピークホールド回路、12……位相器、16……
パルス判定回路、17……出力回路、21,42
……微分回路、44,22……インバータ、2
3,24,46,48……コンパレータ、25,
49……オア回路、45,48……サンプルホー
ルド兼リセツト回路。
装置の一実施例を示す回路図、第2図は同装置の
要部の回路結線図、第3図はその動作説明図、第
4図は本発明のレコードプレヤーの曲間検出装置
の他の実施例を示す要部の回路結線図、第5図は
その動作説明図である。 1……発光器、2……受光器、3……光学セン
サ、4……駆動回路、6……パルス発生器、7…
…増幅回路、8……バンドパスフイルタ、9……
ピークホールド回路、12……位相器、16……
パルス判定回路、17……出力回路、21,42
……微分回路、44,22……インバータ、2
3,24,46,48……コンパレータ、25,
49……オア回路、45,48……サンプルホー
ルド兼リセツト回路。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 レコード盤に対して照射される発光器とレコ
ード盤に照射された上記発光器からの反射光が入
光される受光器を有し、レコード盤の径方向に移
動される光学センサと、この光学センサからの曲
間送り溝パルスに応じて正負両方にパルスを有す
る曲間パルスを作成する手段と、この手段からの
曲間パルスの正方向を用いてスレツシヨールド電
圧と比較してパルス判定する第1のコンパレータ
と、上記手段からの曲間パルスの負方向を用いて
スレツシヨールド電圧と比較してパルス判定する
第2のコンパレータと、上記第1、第2のコンパ
レータでのパルス判定結果のうち少なくともどち
らか一方がパルスありと判定した時に曲間検出信
号を出力する手段を備えたことを特徴とするレコ
ードプレヤーの曲間検出装置。 2 第1、第2のコンパレータのそれぞれは固定
のスレツシヨールド電圧に対する正負の曲間パル
スの大小比較を行なうように構成したことを特徴
とする特許請求の範囲第1項記載のレコードプレ
ヤーの曲間検出装置。 3 第1、第2のコンパレータのそれぞれは浮動
のスレツシヨールド電圧に対する正負の曲間パル
スの大小比較を行なうように構成したことを特徴
とする特許請求の範囲第1項記載のレコードプレ
ヤーの曲間検出装置。 4 第1、第2のコンパレータのいずれか一方に
インバータにて曲間パルスを反転して加えるよう
に構成したことを特徴とする特許請求の範囲第1
項記載のレコードプレヤーの曲間検出装置。 5 光学センサからの曲間送り溝パルスに応じて
正負両方の曲間パルスを作成する手段は微分回路
で構成したことを特徴とする特許請求の範囲第1
項記載のレコードプレヤーの曲間検出装置。 6 コンパレータからの判定パルスを論理的に曲
間検出パルスはワンシヨツトマルチバイブレータ
を通して出力するようにしたことを特徴とする特
許請求の範囲第1項記載のレコードプレヤーの曲
間検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56013453A JPS57127964A (en) | 1981-01-30 | 1981-01-30 | Detector for inter-recording of record player |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56013453A JPS57127964A (en) | 1981-01-30 | 1981-01-30 | Detector for inter-recording of record player |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS57127964A JPS57127964A (en) | 1982-08-09 |
| JPS6330681B2 true JPS6330681B2 (ja) | 1988-06-20 |
Family
ID=11833556
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56013453A Granted JPS57127964A (en) | 1981-01-30 | 1981-01-30 | Detector for inter-recording of record player |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS57127964A (ja) |
-
1981
- 1981-01-30 JP JP56013453A patent/JPS57127964A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS57127964A (en) | 1982-08-09 |
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